图像传感器的otp烧录方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及图像传感器领域，特别涉及一种图像传感器的单次可编程(OTP)存储器的烧录方法。
【背景技术】
[0002]随着图像传感器应用行业的高速发展，高像素，大Pixel成为了市场主要需求和发展方向，单颗芯片的成本也随之变高，良率成为了大规模量产必须考虑的问题。
[0003]而晶圆的差异，制程的影响，工艺的变更等都会引起图像传感器芯片性能上的差异，导致图像传感器良率降低，并且需要卡控版本、批次，增加成本。
[0004]现有的图像传感器芯片中往往自带单次可编程(OTP)存储器，一般采用SKbit?64Kbit的容量，用于烧录White Balance、Lens Shading、VCM(Voice Coil Motor)等参数信息，但由于图像传感器具有差异化，对具体特定参数的需求很难控制，往往会出现的晶圆上图像传感器芯片参数信息的不可控性，导致晶圆批次、版本需要人为进行控制。此外，图像传感器与基带芯片(Baseband)连接后，通过基带芯片对OTP进行读取，现有做法中，驱动参数设置于基带芯片内，造成图像传感器版本的灵活性较差，需要人为进行控制。
【发明内容】
[0005]本发明提供一种图像传感器的OTP烧录方法，
于图像传感器的OTP中烧录对应所述图像传感器的参数信息；在基带芯片驱动图像传感器时，读取所述参数信息；
方式一:基带芯片根据所述OTP中的参数信息更新基带芯片自带的图像传感器驱动参数，再初始化图像传感器，使图像传感器在优化状态下进行工作；
或者，方式二:基带芯片采用自带的驱动参数初始化图像传感器，再将OTP中的参数信息写入图像传感器，部分覆盖或完全覆盖原驱动参数，使图像传感器在优化状态下进行工作。
[0006]优选的，对OTP的参数信息进行预压缩，以节省OTP的存储空间；通过基带芯片对OTP的参数信息进行读取和解压缩。
[0007]优选的，于OTP的参数信息中增加校验纠错信息，对所述OTP的参数信息进行校验纠错。
[0008]优选的，于OTP参数信息中包括:寄存器地址信息、数据信息、特性信息。
[0009]本发明于OTP中烧录有参数信息，其中参数信息包括有不同版本的驱动信息，能增加图像传感器更改驱动的灵活性和图像传感器驱动的兼容性，降低成本。
【附图说明】
[0010]图1为本发明一实施例中图像传感器和基带芯片的模块示意图；
图2为本发明一实施例中图像传感器的OTP的烧录方法； 图3为本发明再一实施例中图像传感器的OTP的烧录方法。
【具体实施方式】
[0011]在以下优选的实施例的具体描述中，将参考构成本发明一部分的所附的附图。所附的附图通过示例的方式示出了能够实现本发明的特定的实施例。示例的实施例并不旨在穷尽根据本发明的所有实施例。可以理解，在不偏离本发明的范围的前提下，可以利用其他实施例，也可以进行结构性或者逻辑性的修改。因此，以下的具体描述并非限制性的，且本发明的范围由所附的权利要求书所限定。
[0012]请参考图1，图1为本发明一实施例中图像传感器和基带芯片的模块示意图；
请参考图1，图1中图像传感器芯片10包括图像传感器11及单次可编程存储器(OTP) 12，单次可编程存储器(0TP)12烧录有所述图像传感器的参数信息，该参数信息包括:白平衡、透镜校正值、驱动信息，还可以包括:寄存器地址信息、数据信息、特性信息，特性信息为某项特性或性能的区分参数，在后续的初始化或者其他操作中根据该特性信息进行不同的处理。图像传感器通过若干总线协议与基带芯片(Baseband)20连接，基带芯片20 (Baseband)包括:静态随机存储器SRAM21(Static Random Access Memory)，SRAM21中存储着图像传感器的驱动参数等信息、在SRAM存储的驱动参数为对应版本的驱动，例如版本A;基带芯片20还包括:寄存器Regi ster22等，通过基带芯片的不同模块对单次可编程存储器OTP进行读取、写入信息等工作。
[0013]请继续参考图2，图2为本发明一实施例中图像传感器的OTP的烧录方法，请同时参考图2、图1，
S200:于图像传感器10的0TP12中烧录对应所述图像传感器的参数信息;在基带芯片20驱动图像传感器时，读取所述参数信息；
S210:基带芯片20根据所述0TP12中的参数信息更新基带芯片20自带的图像传感器驱动参数，再初始化图像传感器，使图像传感器在优化状态下进行工作；
在本实施例中，0TP12的参数信息中包含的驱动信息的优先级高于基带芯片20中自带的图像传感器驱动参数，更新的方式为覆盖或部分覆盖;在完成该更新步骤后，当基带芯片20驱动图像传感器芯片时，读取所述参数信息，所述参数信息包括:白平衡、透镜校正值、驱动信息，还可以包括:寄存器地址信息、数据信息、特性信息，特性信息为针对某型特性或性能的区分参数，在后续的初始化或者其他操作中根据该特性信息进行不同的处理，需要注意的是OTP12的驱动信息多个版本，如版本B、版本C等的驱动信息。特性信息比如:在对图像传感器强光源下的电荷溢出量进行识别时，整体图像传感器会出现一致性的偏差，针对像素单元会溢出至周围区域影响像素的参考电压值，对参考电压值进行分级，例如:分为等级一?等级四，不同的图像传感器对应有不同的等级，之后通过特性信息针对不同等级进行处理。所述优化状态是指:校准后的状态。
[0014]在本实施例中，还可对0TP12的参数信息进行预压缩，以节省0TP12的存储空间；通过基带芯片20对0TP12的参数信息进行解压缩。
[0015]在本实施例中，还可于0TP12的参数信息中增加校验纠错信息，采用基带芯片20对所述0TP12的参数信息进行校验纠错。
[0016]在本实施例中于OTP参数信息中包括:寄存器地址信息和数据信息，通过对寄存器地址信息和数据信息的可控性，可增加更改驱动的灵活性。这样在晶圆上可控的布设相同批次或特定批次的图像传感器。
[0017]请继续参考图3，图3为本发明再一实施例中图像传感器的OTP的烧录方法，请同时参考图3、图1，
S300:于图像传感器10的0TP12中烧录对应所述图像传感器的参数信息;在基带芯片20驱动图像传感器芯片时，读取所述参数信息；
S310:基带芯片20采用自带的驱动参数初始化图像传感器，再将0TP12中的参数信息写入图像传感器10，或者根据预设值选择不同的驱动参数;部分覆盖或完全覆盖原驱动参数，使图像传感器在优化状态下进行工作。
[0018]所述参数信息包括:白平衡、透镜校正值、驱动信息，还可以包括:寄存器地址信息、数据信息、特性信息，特性信息为针对某项特性或性能的区分参数，在后续的初始化或者其他操作中根据该特性信息进行不同的处理，本实施例中的特性信息与上一实施例中的特性信息性质相同。所述的原驱动参数为基带芯片20自带的驱动参数。所述优化状态是指:校准后的状态。
[0019]在本实施例中，还可对0TP12的参数信息进行预压缩，以节省OTP的存储空间；通过基带芯片20对0TP12的参数信息进行解压缩。
[0020]在本实施例中，还可于OTP的参数信息中增加校验纠错信息，采用基带芯片对所述OTP的参数信息进行校验纠错。
[0021 ] 在本实施例中于OTP参数信息中包括:寄存器地址信息和数据信息，通过对寄存器地址信息和数据信息的可控性，可增加更改驱动的灵活性。这样在晶圆上可控的布设相同批次或特定批次的图像传感器。
[0022]请同时参考图1?图3，在读取OTP的参数信息时，白平衡写入静态随机存储器21，透镜校正值写入寄存器22中。
[0023]对于本领域技术人员而言，虽然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论如何来看均应将实施例看作是示范性的，并且是非限制性的。
【主权项】
1.一种图像传感器的OTP烧录方法，其特征在于， 于图像传感器的OTP中烧录对应所述图像传感器的参数信息；在基带芯片驱动图像传感器时，读取所述参数信息； 方式一:基带芯片根据所述OTP中的参数信息更新基带芯片自带的图像传感器驱动参数，再初始化图像传感器，使图像传感器在优化状态下进行工作； 或者，方式二:基带芯片采用自带的驱动参数初始化图像传感器，再将OTP中的参数信息写入图像传感器，部分覆盖或完全覆盖原驱动参数，使图像传感器在优化状态下进行工作。2.根据权利要求1所述的图像传感器的OTP烧录方法，其特征在于，对OTP的参数信息进行预压缩，以节省OTP的存储空间；通过基带芯片对OTP的参数信息进行读取和解压缩。3.根据权利要求1所述的图像传感器的OTP烧录方法，其特征在于，于OTP的参数信息中增加校验纠错信息，对所述OTP的参数信息进行校验纠错。4.根据权利要求1所述的图像传感器的OTP烧录方法，其特征在于，于OTP参数信息中包括:寄存器地址信息、数据信息、特性信息。
【专利摘要】本发明提供一种图像传感器的OTP烧录方法，于图像传感器的OTP中烧录对应所述图像传感器的参数信息；在基带芯片驱动图像传感器时，读取所述参数信息；方式一：基带芯片根据所述OTP中的参数信息更新基带芯片自带的图像传感器驱动参数，再初始化图像传感器，使图像传感器在优化状态下进行工作；或者，方式二：基带芯片采用自带的驱动参数初始化图像传感器，再将OTP中的参数信息写入图像传感器，部分覆盖或完全覆盖原驱动参数，使图像传感器在优化状态下进行工作。
【IPC分类】G06F9/445
【公开号】CN105677434
【申请号】CN201610155114
【发明人】李翔
【申请人】格科微电子（上海）有限公司
【公开日】2016年6月15日
【申请日】2016年3月18日