专利名称：在垂直磁性读通道中的前馈直流恢复的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种在垂直磁性读通道中的前馈DC恢复的方法。该方法主要包括以下步骤(A)通过对输入信号执行第一检测来生成前馈信号，其中，输入信号的DC分量在垂直磁性读通道中被事先滤除，(B)通过对输入信号和前馈信号求和生成恢复信号，求和恢复被事先滤除的DC分量以及(C)通过对恢复信号执行第二检测生成输出信号，其中第一检测是独立于第二检测的。 本发明的目的、特征和优点包括在垂直磁性读通道中提供前馈DC恢复，其可以(i)通过有效地提供无限长脉冲响应来达到比使用有限脉冲响应均衡器的传统方法更好的错误率性能和/或(ii)减少与反馈回路相关联的稳定性问题。
从以下的详细描述以及所附权利要求和附图中，本发明的这些和其他目的、特征以及优点将变得显而易见，在附图中 图1是具有垂直磁性介质系统的传统系统中的前端的示 图2是根据本发明的优选实施例的系统的框图； 图3是数字处理器电路的示例性实施例的详细框图； 图4是系统的示例性实施例的功能框图；以及 图5示出来自系统仿真的实例滤波器参数的多个示图。
具体实施例方式
参考图2，根据本发明的优选实施例示出了系统100的框图。该系统(或装置)IOO主要实施了一种实施垂直记录方案的磁性介质(例如，介质12)的读通道(read channel)。该系统IOO主要包括读头14、前置放大器电路16、电路(或模块)102以及电路(或模块)104。 读头14可以通过感测从垂直记录磁性介质所读取的数据来生成信号。模拟信号(例如，ANG)可以通过电路16生成并提供给电路102。电路102可以生成数字信号(例如，DIG)并将其提供给电路104。反馈信号(例如，FB)可以从电路104返回提供给电路102。电路104可以生成输出信号(例如，OUT)。 读头14可以实施为磁阻读头。可以使用其他技术来实施读头14以满足特定应用标准。由于垂直记录技术，信号READ主要包括大的低频分量。在下文中，低频分量可以称为DC分量。 电路16可以实施为安装在读头14中(上)的前置放大器电路。电路16可以用于将信号READ放大以生成信号ANG。电路16的高通滤波可以使与信号READ相关的信号ANG中的DC分量衰减。 电路102主要实施模拟电路。电路102可以用于(i)调节信号ANG以适应头14的非对称特性，(ii)对信号ANG进行低通滤波，(iii)将信号ANG数字化以生成信号DIG以及(iv)基于反馈信号FB向信号ANG执行反馈DC恢复。信号DIG可以将表示通过头14所感测的数据的离散符号的序列传送到电路104。在一些实施例中，可以在独立于头14/电路16组件的芯片中(上)制造电路102。 电路14可以实施为数字处理器电路。电路104可以用于(i)向电路102生成信号FB以及(ii)转换(检测)信号DIG中所接收的符号序列以再生记录在介质中(上)的数据。电路104可以进一步用于执行前馈DC恢复回路以恢复可以被电路16和/或电路102滤除的信号READ的DC分量。在一些实施例中，可以在独立于电路102和/或头14/电路16组件的另一个芯片中(上)制造电路104。 参考图3，示出电路104的示例性实施例的详细框图。电路104主要包括电路(或模块)110，电路(或模块)112以及电路(或模块)114。该电路可以接收来自电路102的信号DIG。信号(例如，IN)可以由电路110生成并提供给电路112和电路114。电路112可以生成信号OUT。电路114可以生成信号FB和传输到电路112的前馈信号(例如，FF)。
电路110可以实施为均衡电路。电路110可以用于对信号DIG进行频率均衡以生成信号IN。在一些实施例中，可以通过实施有限脉冲响应(FIR)滤波来实现均衡。还可以实施其他均衡技术以满足特定应用标准。 电路112可以实施为检测器电路。电路112可以用于(i)使信号IN中的数据与信号FF中的数据同步，(ii)将事先滤除的DC分量恢复回到信号IN中，(iii)均衡所恢复
5的信号并(iv)基于在信号IN中所接收的DC恢复符号检测最有可能的数据序列以生成信 号0UT。因而，电路112可以称为主检测器电路。在一些实施例中，电路112可以执行维特 比(Viterbi)检测。可以实施其他检测技术以满足特定应用的标准。 电路114主要实施另一个检测器电路。电路114可以用于(i)执行信号IN中的 数据的初步检测，(ii)过滤检测结果以生成信号FF并(iii)过滤检测结果以生成信号FB。 因而，电路114可以称为初步检测器电路。 电路114的作用主要包括对信号IN中所接收的位(bit)做出初步判定并且驱动 内部DC恢复前馈滤波器。由DC恢复滤波器生成的信号FF可以传送从信号READ所过滤的 丢失的DC分量。电路112可以将DC分量添加到信号IN。可以通过主均衡器然后通过电 路112内的主检测器来处理合成信号。因此，主检测器的目标主要是完整的DC目标。电路 112中的延迟线功能可以位于电路110与主均衡器之间，以使信号IN和信号FF同步。上述 的整个DC恢复方案有效地将丢失的DC信号添加到无DC的预均衡信号，从而主检测器可以 忽略读通道的前端中的高通滤波器的存在。 参考图4，示出系统100的示例性实施例的功能框图120。图5主要示出了来自系 统100的仿真的实例滤波器参数的多个示图。系统100主要包括块(或模块)122、块(或 模块)124、块(或模块)126、块(或模块)127、块(或模块)128、块(或模块)130、块(或 模块)132、块(或模块)134、块(或模块)136、块(或模块)137、块(或模块)138、块(或 模块)140、块(或模块)142以及块(或模块)144。如以下所用的，读通道信号主要指流经 系统100的从块122到信号OUT的读数据。 块122可以表示读头14的作用。块122可以根据从垂直磁性介质所感测的数据 来生成初始电信号READ。块124与块126可以表示电路16的作用。高通滤波(HPF)可由 块124执行。高通滤波可以提供所有的先前的高通滤波器中的高截止频率。可变增益放大 (VGA)可以通过块126执行。信号ANG可以通过块126来生成。 块127-132主要表示电路102的作用。块127可以在DC恢复反馈回路的开始处 实施将信号ANG和信号FB相加的求和模块。块128可以用于为头14的磁阻非对称(MRA) 特性提供补偿。在一些实施例中，块128可以实施二次MRA(QMRA)补偿。块130主要用于 实施连续时间滤波(continuous time filter, CTF)的性能。CTF可以提供读通道信号的 波形平滑和相位均衡。模数转换器(ADC)可以由块132执行。块132可以将在信号DIG中 传送的读通道信号从模拟域转换至数字域。 块134-144主要表示电路104的作用。块134可以实施通过均衡信号DIG来生成 信号IN的均衡模块。块134可以实施为有限脉冲响应(FIR)模块。还可以实施其他均衡 技术，以满足特定应用的标准。图5的示图160示出了块134的实例参数的集合。
块136主要实施延迟模块。块136可以用于将信号IN延迟一个时间段。该时间 段可以通过块142和144与延迟匹配。 一旦信号IN被延迟，则可以将其称为延迟信号(例 如，DEL)。可以将信号DEL传输到块139。 块137可以实施另一个求和模块。块137可以用于将信号DEL添加到前馈信号 (例如，FF)以生成恢复信号(例如，RES)。该添加主要是恢复块124、 128、 130和/或140 滤除的读通道信号的DC分量。 块138可以实施为主均衡模块。块138主要用作在主要检测操作之前对信号RES进行均衡。在一些实施例中，块138可以实施为有限脉冲响应滤波器。还可以实施其他均 衡技术，以满足特定应用的标准。图5的示图162示出块138的实例参数的集合。
块140主要实施主检测模块。块140可以用于通过检测从块138所接收的DC恢 复和均衡的数据来生成信号OUT。在一些实施例中，块140可以实施为维特比检测器。还可 以实施其他检测设计，以满足特定应用的标准。在图5的示图164中示出块140的实例参 数的集合。 块142可以实施初步检测模块。块142可以用于通过执行信号IN的初步检测来 生成检测信号(例如，F)。信号F主要经过块144和恢复读通道信号的DC方面(aspect) 的块137开始前馈回路。信号F也可以经过块146至块127开始反馈回路。在图5的示图 166中示出块142的实例参数的集合。 通过块140执行的主要检测可以不同于通过块142执行的初步检测。由于可以恢 复丢失的DC分量以及主要改进块140的信噪比，故主要检测可以具有不同于初步检测的目 标。此外，由于恢复DC分量，主要检测的错误率可能比初步检测的错误率低很多。
块144可以实施为DC恢复(DCR)滤波器。块144主要用作(i)低通滤波器以及 (ii)放大器，以根据检测信号F生成前馈信号FF。在一些实施例中，放大率可以具有大约 2的比例因子。可以实施其他适当的比例因子。 lfe 144可以具有如下所述的脉冲响应。令主要的高通极点(dominant high-pass p o 1 e)(例如，通常在电路10 2中的高通极点)之前的读通道的脉冲响应为h (z)。 一 般地，令主要高通滤波器表述为N(z)/D(z)。因此，块144的理想脉冲响应可以是 h(z)^(D(z)-N(z))/(D(z))hQ(z)，其中A是多项式巻积以及Q(z)是均衡器。在一些实施 例中，块144可以实施为简单的低通滤波器，而不是具有与主要高通滤波器相同的截止频 率的以上表达式中的(D(z)-N(z))/(D(z))。在图5的示图168和170示出了块144的实例 参数的集合。 块146可以实施为另一个DC恢复滤波器。块146主要用于根据检测信号F生成 反馈信号FF。信号F可以形成DC恢复反馈回路的起始点。块146主要恢复MRA失真的丢 失的DC分量，使得由块128执行的MRA修正(correction)可以正确地工作。
前馈回路(例如，块142和块144)和延迟块136主要解决现有解决方案内部的反 因果(anti-causality)问题。因此，系统100可以达到最优错误率性能。最优的错误率性 能一般定义为在(i)读通道中不存在高通滤波器和(ii)均衡器与目标被一起优化时的错 误率。此外，由于DC恢复基于前馈回路，所以本发明在纯反馈技术中常见的稳定性问题方 面是更可靠的。 根据通道条件，例如读头中的磁阻非对称，系统100的仿真结果主要示出本发明 可以达到比以上确定的最优错误率更好的错误率。由于DC恢复方案，良好的错误率通常表 现为具有无限长的脉冲响应的均衡方案。 本发明可以应用于包括带或不带奇偶校验码的后处理器的系统。在这种情况下， 可以除去初步检测器(例如，块142)并且主检测器(例如，块140)可以通过DC恢复前馈 滤波器来驱动DC恢复回路。然后，恢复的DC信号可以用在后处理器内的分支米制计算中 以改进错误率。 根据本说明书的教导，对本领域的技术人员显而易见的是，使用传统的通用数字计算机程序可以执行由图2-5的示图所执行的功能。对相关领域的技术人员也将显而易见
的是，基于本公开的教导，熟练的程序员可以容易地编写适当的软件代码。 本发明也可以通过编写ASIC、 PFGA，或通过将传统分量电路的适当网络互连来实
现，如本文所述，对于本领域的技术人员来说其改进将是显而易见的。 因此，本发明还可以包括计算机产品，该计算机产品可以是包括用于为计算机设 计程序以执行根据本发明的进程的指令的存储介质。该存储介质可以包括，但不限于，包含 软盘、光盘、CD-ROM、磁光盘、ROM、RAM、EPROM、EEPROM、闪存、磁或光学卡的任何类型的磁盘， 或适于存储电子指令的任何类型的介质。 虽然已参考本发明的优选实施例特别示出并描述了本发明，但是本领域的技术人 员应当理解的是，在不背离本发明的范围下，可以做形式和细节的各种修改。
权利要求
一种在垂直磁性读通道中的前馈DC恢复方法，包括以下步骤(A)通过对输入信号执行第一检测生成前馈信号，其中，所述输入信号的DC分量在所述垂直磁性读通道中被事先滤除；(B)通过对所述输入信号和所述前馈信号求和生成恢复信号，所述求和用于恢复事先滤除的所述DC分量；以及(C)通过对所述恢复信号执行第二检测生成输出信号，其中，所述第一检测独立于所述第二检测。
2. 根据权利要求1所述的方法，其中，步骤(A)包括以下子步骤通过对所述输入信号执行所述第一检测生成第一中间信号。
3. 根据权利要求2所述的方法，其中，步骤(A)进一步包括以下子步骤通过对所述第一中间信号进行低通滤波生成所述前馈信号。
4. 根据权利要求2所述的方法，进一步包括以下步骤通过对所述输入信号执行所述第一检测生成第二中间信号。
5. 根据权利要求4所述的方法，进一步包括以下步骤通过对所述第二中间信号进行低通滤波生成反馈信号，其中，所述反馈信号驱动所述垂直磁性读通道中的DC恢复反馈操作。
6. 根据权利要求1所述的方法，其中，步骤(C)包括以下子步骤在所述求和之前，将所述输入信号延迟一段时间，所述一段时间使所述输入信号与所述前馈信号同步。
7. 根据权利要求6所述的方法，其中，步骤(C)进一步包括以下子步骤通过均衡所述恢复信号生成中间信号。
8. 根据权利要求7所述的方法，其中，步骤(C)进一步包括以下子步骤通过对所述中间信号执行所述第二检测生成所述输出信号。
9. 根据权利要求l所述的方法，其中(i)所述第一检测包括第一维特比检测，(ii)所述第二检测包括第二维特比检测，以及(iii)所述第二维特比检测达到比所述第一维特比检测更好的信噪比。
10. 根据权利要求1所述的方法，进一步包括以下步骤通过读取垂直记录在磁性介质中的数据生成读信号；对所述读信号进行高通滤波，以去除所述DC分量；以及在所述高通滤波之后，通过将所述读信号数字化而生成所述输入信号。
11. 一种电路，包括初步检测模块，配置为通过对输入信号执行第一检测生成前馈信号，其中，所述输入信号的DC分量在垂直磁性读通道中被事先滤除；以及主检测模块，配置为(i)通过对所述输入信号和所述前馈信号求和生成恢复信号，所述求和用于恢复事先滤除的所述DC分量，以及(ii)通过对所述恢复信号执行第二检测生成输出信号，其中，所述第一检测独立于所述第二检测。
12. 根据权利要求11所述的电路，其中，所述初步检测模块包括第一检测器，配置为通过对所述输入信号执行所述第一检测生成第一中间信号。
13. 根据权利要求12所述的电路，其中，所述初步检测模块进一步包括第一滤波器模块，配置为通过对所述第一中间信号进行低通滤波生成所述前馈信号。
14. 根据权利要求12所述的电路，其中，所述第一检测器进一步配置为通过对所述输入信号执行所述第一检测生成第二中间信号。
15. 根据权利要求14所述的电路，其中，所述初步检测模块进一步包括第二滤波器模块，配置为通过对所述第二中间信号进行低通滤波生成反馈信号，所述反馈信号驱动所述垂直磁性读通道中的DC恢复反馈操作。
16. 根据权利要求11所述的电路，其中，所述主检测模块包括延迟模块，配置为在所述求和之前将所述输入信号延迟一段时间，所述一段时间使所述输入信号与所述前馈信号同止少。
17. 根据权利要求16所述的电路，其中，所述主检测模块进一步包括求和模块，配置为通过对所述前馈信号与来自所述延迟模块的所述输入信号进行求和而生成所述恢复信号。
18. 根据权利要求17所述的电路，其中，所述主检测模块进一步包括均衡模块，配置为均衡所述恢复信号。
19. 根据权利要求18所述的电路，其中，所述主检测模块进一步包括第二检测器，配置为通过对所述恢复信号执行所述第二检测生成所述输出信号。
20. —种电路，包括用于通过对输入信号执行第一检测生成前馈信号的装置，其中，所述输入信号的DC分量在垂直磁性读通道中被事先滤除；用于通过对所述输入信号和所述前馈信号求和生成恢复信号的装置，所述求和用于恢复事先滤除的所述DC分量；以及用于通过对所述恢复信号执行第二检测生成输出信号的装置，其中，所述第一检测独立于所述第二检测。
全文摘要
本发明公开了一种在垂直磁性介质读通道中的前馈DC恢复的方法。该方法主要包括以下步骤(A)通过对输入信号执行第一检测来生成前馈信号，其中输入信号的DC分量是事先在垂直磁性介质读通道中被滤除的，(B)通过对输入信号和前馈信号求和生成恢复信号，求和将事先被滤除的DC分量恢复以及(C)通过对恢复信号执行第二检测来生成输出信号，其中第一检测独立于第二检测。
文档编号G11B20/10GK101785061SQ200880021769
公开日2010年7月21日 申请日期2008年3月3日 优先权日2007年6月28日
发明者安德烈·维佳夫, 朴钟升, 艾伦·珀佩尔曼 申请人:Lsi公司