一种闪存颗粒检测设备的制造方法
【技术领域】
[0001]本发明涉及固态硬盘存储技术领域，特别涉及一种闪存颗粒检测设备。
【背景技术】
[0002]随着信息技术的发展，固态硬盘以其高速的传输速度及优良的性能在存储技术领域得到越来越多的应用。在固态硬盘的制造领域中，每个固态硬盘上使用的闪存颗粒的需求数量非常多，普通的一个固态硬盘上闪存颗粒的数量达到4-16颗之多，闪存颗粒品质的好坏直接影响到固态硬盘的品质。因此，为保证固态硬盘工作的稳定性和数据资料的安全性，专业固态硬盘制造企业必须配有闪存颗粒检测设备用于筛选固态硬盘用的闪存颗粒。
[0003]现有的闪存颗粒检测设备一般包括闪存颗粒检测底板及闪存颗粒固定座，闪存固定座大多采用底座焊接或直接焊接等方式与闪存颗粒检测底板相连接，由于采用焊接的方式闪存颗粒固定座与闪存颗粒检测底板之间拆卸非常困难，如果固态硬盘主控制器对闪存颗粒的要求不同，那么就需要多个针对不同闪存颗粒的检测设备，而相应检测设备上也就需配备更多的闪存颗粒固定座。当闪存颗粒检测底板需要更换时，采用底座焊接式的闪存颗粒检测设备就需要重新购买底座，采用直接焊接式的闪存颗粒检测设备则需要重新购买闪存颗粒固定座，而闪存颗粒固定座价格一般来说非常昂贵，这样就大大增加了企业的生产成本，同时也降低了生产效率。
【发明内容】
[0004]本发明主要解决的技术问题是现有闪存颗粒检测设备因闪存颗粒固定座拆卸困难导致生产成本增加等问题，提供一种闪存颗粒检测设备，闪存颗粒检测底板与闪存颗粒固定座之间采用可拆卸组件连接，大大方便了闪存颗粒固定座的更换，有效降低了固态硬盘企业的生产成本，同时也提高了生产效率。
[0005]为解决上述技术问题，本发明提出了一种闪存颗粒检测设备，包括闪存颗粒固定座及闪存颗粒检测底板，所述闪存颗粒固定座通过可拆卸组件与所述闪存颗粒检测底板连接;其中，所述可拆卸组件包括顶针组件，所述顶针组件包括顶针、弹簧及中空铜柱，所述顶针与所述弹簧为一体成型结构，所述弹簧设置于所述中空铜柱内，其一端与所述中空铜柱相抵;所述顶针的顶端与所述闪存颗粒检测底板相抵;所述中空铜柱固定于所述闪存颗粒固定座上。
[0006]进一步地，所述闪存颗粒固定座上设有固定孔，所述中空铜柱固定于所述固定孔中。
[0007]进一步地，所述闪存颗粒检测底板上设有顶针接触位，所述顶针的顶端与所述顶针接触位相抵接。
[0008]进一步地，所述顶针接触位采用表面镀金的裸铜材质。
[0009]进一步地，所述闪存颗粒固定座上设有定位柱，所述闪存颗粒检测底板上设有定位孔，所述定位柱与所述定位孔的位置相对应。
[0010]进一步地，所述闪存颗粒检测底板上设有螺孔;其中，螺栓与所述螺孔相配合将所述闪存颗粒固定座与所述闪存颗粒检测底板相固定。
[0011]本发明的有益效果是:区别于现有技术的情况，本发明的闪存颗粒检测设备通过采用可拆卸组件连接闪存颗粒检测底板与闪存颗粒固定座，并通过可伸缩的顶针组件使得顶针与闪存颗粒检测底板上的顶针接触位相抵，大大方便了闪存颗粒固定座的更换，实现一个闪存颗粒固定座用于多个闪存颗粒检测底板上，这样就有效降低了固态硬盘企业的生产成本，同时也提高了生产效率，具有结构简单、安拆方便、成本较低及生产效率高等特点。
【附图说明】
[0012]图1为本发明闪存颗粒检测设备一实施例的安装示意图；以及图2为图1中顶针组件的结构示意图。
【具体实施方式】
[0013]下面结合附图详细说明本发明的优选实施例。
[0014]请参阅图1，本发明提供一种闪存颗粒检测设备，包括闪存颗粒固定座I及闪存颗粒检测底板2，闪存颗粒固定座I通过可拆卸组件3与闪存颗粒检测底板2连接。
[0015]图2为可拆卸组件3的结构示意图，可拆卸组件3包括顶针组件，在本实施例中，顶针组件3包括顶针301、弹簧302及中空铜柱303，顶针301与弹簧302为一体成型结构，弹簧302设置于中空铜柱303内，其一端与中空铜柱303相抵;顶针301的顶端与闪存颗粒检测底板2相抵。中空铜柱303固定于闪存颗粒固定座I上，
请继续参阅图1，闪存颗粒检测底板2上设有顶针接触位201，顶针接触位201采用表面镀金的裸铜材质，以增加接触面的硬度和牢固性，保证裸露点的强度，防止其被顶针301顶破。顶针接触位201的位置和数量分别与顶针301—一对应，每个顶针301的顶端均与顶针接触位201相抵接，根据顶针接触位201表面的平整性，顶针301自动做长度调节，以保证顶针接触位201的接触牢固性
如图1所示，在本实施例中，闪存颗粒固定座I上设有定位柱101，闪存颗粒检测底板2上设有定位孔202，定位柱101与定位孔202的位置相对应。闪存颗粒检测底板2上设有螺孔203;其中，螺栓(图中未示)与螺孔203相配合将闪存颗粒固定座I与闪存颗粒检测底板2相固定。在本实施例中，螺孔203的数量为八个，分别对称分布于闪存颗粒检测底板2上。定位柱101的数量为四个，分别对称分布于闪存颗粒固定座I上。定位孔202的为四个，分别对称分布于闪存颗粒检测底板2上。
[0016]请参阅图1，本发明闪存颗粒检测设备的安装过程如下:
首先将顶针组件301的中空铜柱303固定于闪存颗粒固定座I上，然后将闪存颗粒固定座I上的定位柱101卡入闪存颗粒检测底板2上的定位孔202，并使得顶针301的顶端与闪存颗粒检测底板2上的顶针接触位201的表面相接触，最后通过螺栓与螺孔203相配合将闪存颗粒固定座I与闪存颗粒检测底板2相固定，即完成了闪存颗粒检测设备的安装。如需要更换闪存颗粒检测底板2，拧松螺栓，将闪存颗粒固定座I从闪存颗粒检测底板2上拆卸下来，再通过螺栓固定在移到另一块闪存颗粒检测底板上。
[0017]本发明的闪存颗粒检测设备通过采用可拆卸组件连接闪存颗粒检测底板与闪存颗粒固定座，并通过可伸缩的顶针组件使得顶针与闪存颗粒检测底板上的顶针接触位相抵，大大方便了闪存颗粒固定座的更换，实现一个闪存颗粒固定座用于多个闪存颗粒检测底板上，这样就有效降低了固态硬盘企业的生产成本，同时也提高了生产效率，具有结构简单、安拆方便、成本较低及生产效率高等特点。。
[0018]这里本发明的描述和应用是说明性的，并非想将本发明的范围限制在上述实施例中。这里所披露的实施例的变形和改变是可能的，对于那些本领域的普通技术人员来说实施例的替换和等效的各种部件是公知的。本领域技术人员应该清楚的是，在不脱离本发明的精神或本质特征的情况下，本发明可以以其它形式、结构、布置、比例，以及用其它组件、材料和部件来实现。在不脱离本发明范围和精神的情况下，可以对这里所披露的实施例进行其它变形和改变。
【主权项】
1.一种闪存颗粒检测设备，其特征在于，包括闪存颗粒固定座及闪存颗粒检测底板，所述闪存颗粒固定座通过可拆卸组件与所述闪存颗粒检测底板连接;其中，所述可拆卸组件包括顶针组件，所述顶针组件包括顶针、弹簧及中空铜柱，所述顶针与所述弹簧为一体成型结构，所述弹簧设置于所述中空铜柱内，其一端与所述中空铜柱相抵;所述顶针的顶端与所述闪存颗粒检测底板相抵;所述中空铜柱固定于所述闪存颗粒固定座上。2.根据权利要求1所述的闪存颗粒检测设备，其特征在于，所述闪存颗粒固定座上设有固定孔，所述中空铜柱固定于所述固定孔中。3.根据权利要求1所述的闪存颗粒检测设备，其特征在于，所述闪存颗粒检测底板上设有顶针接触位，所述顶针的顶端与所述顶针接触位相抵接。4.根据权利要求1所述的闪存颗粒检测设备，其特征在于，所述顶针接触位采用表面镀金的裸铜材质。5.根据权利要求1所述的闪存颗粒检测设备，其特征在于，所述闪存颗粒固定座上设有定位柱，所述闪存颗粒检测底板上设有定位孔，所述定位柱与所述定位孔的位置相对应。6.根据权利要求1所述的闪存颗粒检测设备，其特征在于，所述闪存颗粒检测底板上设有螺孔;其中，螺栓与所述螺孔相配合将所述闪存颗粒固定座与所述闪存颗粒检测底板相固定。
【专利摘要】本发明提出了一种闪存颗粒检测设备，包括闪存颗粒固定座及闪存颗粒检测底板，该闪存颗粒固定座通过可拆卸组件与该闪存颗粒检测底板连接；其中，该可拆卸组件包括顶针组件，该顶针组件包括顶针、弹簧及中空铜柱，该顶针与该弹簧为一体成型结构，该弹簧设置于该中空铜柱内，其一端与该中空铜柱相抵；该顶针的顶端与该闪存颗粒检测底板相抵；该中空铜柱固定于该闪存颗粒固定座上。本发明的闪存颗粒检测设备大大方便了闪存颗粒固定座的更换，实现了一个闪存颗粒固定座用于多个闪存颗粒检测底板上，有效降低了固态硬盘企业的生产成本，同时也提高了生产效率，具有结构简单、安拆方便、成本较低及生产效率高等特点。
【IPC分类】G11C29/56
【公开号】CN105679374
【申请号】CN201511014881
【发明人】沈金良
【申请人】深圳市金胜电子科技有限公司
【公开日】2016年6月15日
【申请日】2015年12月31日