一种质谱用离子传输进样管的制作方法

本实用新型涉及进样管技术领域，具体为一种质谱用离子传输进样管。

背景技术：

真空连接件一般对密封性等要求较高，加工难度高、产品一致性差。商品化的接头规格较少，为了适应，往往需要对整个真空结构做出巨大调整，相对价位也较高。为此，我们提出一种质谱用离子传输进样管。

技术实现要素：

本实用新型的目的在于提供一种质谱用离子传输进样管，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种质谱用离子传输进样管，包括传输管与法兰，且传输管焊接在法兰的中部内壁，所述法兰的左右两侧外壁均设置固定孔，所述法兰的底部设置o型圈槽，所述法兰顶部的中部设置设置凸缘。

进一步的，所述法兰的中部位置设置与传输管匹配的通孔。

进一步的，所述固定孔的内壁螺纹连接螺钉。

进一步的，所述凸缘的壁厚与传输管的壁厚相等。

进一步的，所述法兰底部的中部位置设置限位凸块。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1.结构简单实用，便于加工，成本低(相对于成品接头，如世伟洛克)；

2.凸缘的设计，提升了氩焊方式的成品率；

3.适合氩焊或者真空钎焊两种常用焊接方式，增强了实用性；

4.若一种焊接之后漏气，可用另外一种方式补焊，大幅度提高了产品的成品率。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图。

图中：1、传输管；2、凸缘；3、法兰；4、固定孔；5、o型圈槽。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1，本实用新型提供一种技术方案：一种质谱用离子传输进样管，包括传输管1与法兰3，且传输管1焊接在法兰3的中部内壁，法兰3的左右两侧外壁均设置固定孔4，法兰3的底部设置o型圈槽5，法兰3顶部的中部设置设置凸缘2。

其中，法兰3的中部位置设置与传输管1匹配的通孔，方便传输管1插接在法兰3中；

固定孔4的内壁螺纹连接螺钉，通过螺钉可以将法兰3与传输管1安装固定在真空系统上；

凸缘2的壁厚与传输管1的壁厚相等，以此抵消焊接时由于壁厚差异过大造成的薄壁处烧穿的焊接不良；

法兰3底部的中部位置设置限位凸块，方便法兰3与传输管1限位安装在真空系统上，同时通过限位块可以将传输管1铆接牢固，堆积焊料，进行真空钎焊的操作。

实施例：将传输管1穿过法兰3中部与之配合的通孔，法兰3由螺钉穿过固定孔4固定在真空系统上，真空密封通过放置在o型圈槽5中的密封圈来实现，在法兰3的上部，设计有一个小的凸缘2，凸缘2圆柱的壁厚与传输管1的壁厚相当，以此抵消焊接时由于壁厚差异过大造成的薄壁处烧穿的焊接不良，同时，可以在具有凸缘2的另外一侧将传输管1铆接牢固，堆积焊料，进行真空钎焊的操作。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

技术特征：

1.一种质谱用离子传输进样管，包括传输管(1)与法兰(3)，且传输管(1)焊接在法兰(3)的中部内壁，其特征在于：所述法兰(3)的左右两侧外壁均设置固定孔(4)，所述法兰(3)的底部设置o型圈槽(5)，所述法兰(3)顶部的中部设置设置凸缘(2)。

2.根据权利要求1所述的一种质谱用离子传输进样管，其特征在于：所述法兰(3)的中部位置设置与传输管(1)匹配的通孔。

3.根据权利要求1所述的一种质谱用离子传输进样管，其特征在于：所述固定孔(4)的内壁螺纹连接螺钉。

4.根据权利要求1所述的一种质谱用离子传输进样管，其特征在于：所述凸缘(2)的壁厚与传输管(1)的壁厚相等。

5.根据权利要求1所述的一种质谱用离子传输进样管，其特征在于：所述法兰(3)底部的中部位置设置限位凸块。

技术总结
本实用新型公开了进样管技术领域的一种质谱用离子传输进样管，包括传输管与法兰，且传输管焊接在法兰的中部内壁，所述法兰的左右两侧外壁均设置固定孔，所述法兰的底部设置O型圈槽，所述法兰顶部的中部设置设置凸缘，将传输管穿过法兰中部与之配合的通孔，法兰由螺钉穿过固定孔固定在真空系统上，真空密封通过放置在O型圈槽中的密封圈来实现，在法兰的上部，设计有一个小的凸缘，凸缘圆柱的壁厚与传输管的壁厚相当，结构简单实用，便于加工，成本低，凸缘的设计，提升了氩焊方式的成品率，适合氩焊或者真空钎焊两种常用焊接方式，增强了实用性，若一种焊接之后漏气，可用另外一种方式补焊，大幅度提高了产品的成品率。

技术研发人员：王华;董小鲁;张志刚;黎路
受保护的技术使用者：清谱(上海)分析仪器有限公司
技术研发日：2019.10.15
技术公布日：2020.05.05