专利名称：射频时间模板参数的测试系统及调节测试范围的方法
技术领域：
本发明涉及射频(RF，Radio Frequency)参数测试技术，特别涉及一种射频时间模板(Time Mask)参数的测试系统、以及一种调节射频时间模板参数测试范围的方法。
背景技术：
在中国提出的拥有自主知识产权的时分同步码分多址(TD-SCDMA， TimeDivision-Synchronous Code Division Multiple Access)网络规模商用的过程中，运营商和设备供应商需要对入网设备进行大量的一致性测试工作，其中，包括TD-SCDMA入网设备的射频一致性测试，为此，在第三代移动通信伙伴计划(3GPP，3rd GenerationPartnership Project) 25. 142协议中，对系统中发射机(TD基站)的时间模板参数的测试进行了技术和测试上的规范，其中，时间模板参数即指发射机的射频功率随时间变化的参数指标，也就是发射机在各个指定时间点的功率值。 具体的，在3GPP 25. 142协议规范中，规定发射机在非发射时隙(接收时隙)中信号的功率电平(即关断功率(Transmit OFF Power))必须小于_82dBm，而在发射时隙，对于单载波发射机，规定发射信号的发射功率(Transmit ON Power)最低为25dBm。关于测试的其它要求和规范，具体可参见3GPP 25. 142协议规范。通过时间模板参数的测试可以确定发射机在非发射时隙和发射时隙的实际信号功率电平，通过将该实际值与上述协议规范进行比较，判断该发射机的信号功率是否符合要求。 图1为现有时间模板参数的测试系统结构示意图，参见图l，该测试系统包括发射机以及射频频谱仪，发射机和射频频谱仪通过线缆相连，其中，发射机，用于向射频频谱仪发送5ms帧同步信号以及被测信号，5ms帧同步信号用于同步射频频谱仪以及通知同步射频频谱仪自身所处的工作状态，被测信号按照发射机标定的发射时隙和接收时隙的要求分别进行发送；射频频谱仪接收到发射机发送的5ms帧同步信号后，触发进行时间模板参数的测试。具体来说，发射机通过发送的5ms帧同步信号的高低电平来表示处于发射时隙还是接收时隙，如果射频频谱仪检测到接收的5ms帧同步信号为高电平，表示发射机处于发射时隙，则利用接收的被测信号进行发射机发射时隙的时间模板参数测试；如果射频频谱仪检测到接收的5ms帧同步信号为低电平，表示发射机处于非发射(接收)时隙，则利用接收的被测信号进行发射机非发射时隙的时间模板参数的测试。 现有的射频频谱仪仅能处理功率处于其额定的测试范围内的输入信号，当输入信号的功率超过其额定的测试范围时，无法准确测量输入信号的功率。由于技术以及成本的考虑，现有射频频谱仪可处理的被测信号最大动态范围一般为75dB。 而如前所述，对于单载波发射机，即使满足协议规定的最低要求，则发射机的发射时隙的信号与非发射时隙(接收时隙)的信号的功率电平差也可达到107dB，即接收时隙和发射时隙的被测信号的射频功率动态范围为-82dBm 25dBm。如果发射机采用大功率的多载波形式，则其被测信号的发射时隙的射频功率电平上限值还会更大，使得被测信号的功率电平差将会更进一步增大。
可见，对于满足协议规定的发射机，其被测信号的功率动态范围电平差必然超过 现有射频频谱仪的最大动态范围(75dB)，因此将导致射频频谱仪测试过载，使得测试误差 增大，无法获得准确的测试时间模板参数。其中，通常接收时隙的信号功率电平能够保持在 射频频谱仪的额定测试范围内，但是发射时隙的信号功率电平会超出射频频谱仪的额定测 试范围。 如果通过改进射频频谱仪，使其测试范围扩大，又将使得射频频谱仪结构变得十 分复杂，同时也大大增加了测试成本。因此，实际应用中，虽然3GPP协议和工信部制定的 TD产品行业标准对于时间模板参数指标都有明确规定，但是由于射频频谱仪的技术能力限 制，从2004年年底开始的TD产品入网测试直到现在，当发射机设置的时间模板参数动态范 围超过75dB时，将不对该发射机信号的时间模板参数指标进行测试。
发明内容
有鉴于此，本发明提供了一种射频时间模板参数的测试系统，能够对超出射频频 谱仪测试范围的发射机信号进行测试。 本发明还提供了一种调节射频时间模板参数测试范围的方法，能够对超出射频频 谱仪测试范围的发射机信号进行测试。 本发明提供的一种射频时间模板参数的测试系统，包括用于产生同步信号和被 测信号的发射机、以及根据所述发射机产生的同步信号对被测信号进行时间模板参数测试 的射频频谱仪，该测试系统还包括连接于所述发射机和所述射频频谱仪之间的同步可变 射频衰减器、以及连接于所述射频频谱仪输出端的补偿器， 同步可变射频衰减器，用于在所述发射机产生的同步信号的控制下，对该发射机 产生的被测信号按照预设的衰减量衰减，以供所述射频频谱仪对衰减后的被测信号执行时 间模板参数测试。 所述预设的衰减量是根据所述射频频谱仪的额定测试范围、以及所述发射机在其 发射时隙和接收时隙的功率参数确定的。 相互级联的一个以上的同步可变射频衰减器连接于所述发射机和所述射频频谱 仪之间； 且，所有同步可变射频衰减器对所述测试信号的衰减总量等于所述预设的衰减 所述预设的衰减量包括发射时隙衰减量和接收时隙衰减量，所述同步可变射频衰
减器包括第一单输入双输出选择开关、按照所述发射时隙衰减量衰减的第二 RF衰减器、
按照所述接收时隙衰减量衰减的第三RF衰减器、同步控制信号发生器，其中， 所述第一单输入双输出选择开关的一路输入与所述同步可变射频衰减器的输入 端相连、其中一路输出与所述第二RF衰减器的输入相连、另一路输出与所述第三RF衰减器
的输入相连； 所述第二 RF衰减器的输出、以及所述第三RF衰减器的输出均与所述同步可变射 频衰减器的输出端相连； 所述同步控制信号发生器用于在所述发射机产生的同步信号表示发射时隙时，触 发所述第一单输入双输出选择开关的一路输入与所述其中一路输出导通；在所述发射机产生的同步信号表示接收时隙时，触发所述第一单输入双输出选择开关的一路输入与所述另 一路输出导通。 所述同步可变射频衰减器与所述射频频谱仪之间，进一步连接一个、或级联多于 一个可变射频衰减器，用于对所述同步可变射频衰减器输出的被测信号按照预设的衰减量 衰减； 且，所述同步可变射频衰减器、所有可变射频衰减器对所述测试信号的衰减总量 等于所述预设的衰减量。 所述可变射频衰减器包括第二单输入双输出选择开关、第四RF衰减器、以及第 一切换控制器， 所述第二单输入双输出选择开关的一路输入与所述可变射频衰减器的输入端相 连、其中一路输出与所述可变射频衰减器的输出端相连、另一路输出与所述第四RF衰减器 的输入相连； 所述第四RF衰减器的输出与所述可变射频衰减器的输出端相连； 所述第一切换控制器在所述发射机的接收时隙到来时，触发所述第二单输入双输
出选择开关的一路输入与所述其中一路输出导通；在所述发射机的发射时隙到来时，触发
所述第二单输入双输出选择开关的一路输入与所述另一路输出导通。 所述可变射频衰减器包括第三单输入双输出选择开关、第五RF衰减器、第六RF 衰减器、以及第二切换控制器， 所述第三单输入双输出选择开关的一路输入与所述可变射频衰减器的输入端相 连、其中一路输出与所述第五RF衰减器的输入相连、另一路输出与所述第六RF衰减器的输 入相连； 所述第五RF衰减器的输出与所述可变射频衰减器的输出端相连； 所述第六RF衰减器的输出与所述可变射频衰减器的输出端相连； 所述第二切换控制器在所述发射机的接收时隙到来时，触发所述第三单输入双输
出选择开关的一路输入与所述其中一路输出导通；在所述发射机的发射时隙到来时，触发
所述第三单输入双输出选择开关的一路输入与所述另一路输出导通。 所述同步可变射频衰减器与所述发射机之间，进一步级联至少一个第一射频RF 衰减器，用于对尚未经所述同步可变射频衰减器衰减的测试信号进行预衰减。
所述第一同步可变射频衰减器设置有多个衰减量等级。
该系统进一步包括 补偿器，用于对所述射频频谱仪输出的衰减后被测信号的时间模板参数，按照所
述预设的衰减量进行补偿，得到衰减之前的被测信号的时间模板参数。 本发明提供的一种调节射频时间模板参数测试范围的方法，该方法包括 在发射机产生的同步信号的控制下，对该发射机产生的被测信号按照预设的衰减
量衰减，以供射频频谱仪对衰减后的被测信号执行时间模板参数测试。 由上述技术方案可见，本发明实施例的射频时间模板参数的测试系统及调节测试 范围的方法，在发射机产生的同步信号的控制下，对该发射机产生的被测信号按照预设的 衰减量衰减，以将测试信号的功率动态范围电平差縮小至射频频谱仪最大动态范围内，从 而使得射频频谱仪能够对衰减后的被测信号执行时间模板参数测试。
而且，对于功率动态范围电平差超出射频频谱仪最大动态范围的测试信号来说， 由于使射频频谱仪能够在额定的动态测试范围内可以对该被测信号准确地进行射频时间 模板参数测试，因而提高了该被测信号的射频时间模板参数的精度。 此外，在对衰减后的被测信号执行时间模板参数测试后，只需要通过任意方式对 射频频谱仪输出的衰减后被测信号的时间模板参数，按照所述预设的衰减量进行补偿，即 可得到衰减之前的被测信号的时间模板参数，从而不会影响测试的准确性。
图1为现有时间模板参数的测试系统结构示意图。 图2为本发明射频时间模板参数的测试系统结构示意图。 图3(a)为本发明同步可变射频衰减器的结构示意图。 图3(b)为本发明同步可变射频衰减器的第二结构示意图。 图3(c)为本发明可变射频衰减器的结构示意图。 图4为本发明调节射频时间模板参数测试范围的方法流程示意图。
具体实施例方式
为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下参照附图并举实施例，对 本发明作进一步详细说明。 本发明实施例是通过在射频频谱仪进行测试前，对被测信号进行衰减，使被测信 号衰减到射频频谱仪的动态测试范围内，避免射频频谱仪测试过载，从而使射频频谱仪在 额定的动态测试范围内可以对超出射频频谱仪额定动态测试范围的被测信号进行测试。
在本发明实施例中，对被测信号进行衰减的处理可以有两种方式如前所述，发射 时隙的被测信号很可能会超出射频频谱仪的额定测试范围，而接收时隙的被测信号通常会 在射频频谱仪的额定测试范围内，因此在进行衰减时，可以仅对发射时隙的被测信号进行 衰减；或者，也可以对发射时隙和接收时隙的被测信号均进行衰减。
以下以对发射时隙被测信号的衰减为例进行说明。 图2为本发明射频时间模板参数的测试系统结构示意图。参见图2，该测试系统包
括发射机、同步可变射频衰减器、射频频谱仪和补偿器，其中，同步可变射频衰减器连接于
发射机和射频频谱仪之间、补偿器连接于射频频谱仪输出端，发射机与同步可变射频衰减
器之间、以及同步可变射频衰减器和射频频谱仪之间通过线缆相连， 发射机，用于输出被测信号以及同步信号； 本实施例中，发射机为TD基站，同步信号为5ms帧同步信号。 同步可变射频衰减器，用于在发射机产生的同步信号的控制下，对发射机产生被 测信号按照预设的衰减量衰减后输出，以供射频频谱仪对衰减后的被测信号执行时间模板 参数测试； 具体来说，同步可变射频衰减器根据接收的同步信号确定发射机处于发射时隙工 作状态，按照发射机工作状态发射时隙状态对应的预设的衰减量将接收的被测信号衰减到 射频频谱仪测试的动态范围内，并将同步信号输出至射频频谱仪； 本实施例中，如果确定发射机处于发射时隙，将接收的被测信号按照同步可变射频衰减器中预设的衰减量进行衰减后输出至射频频谱仪，如果确定发射机处于接收时隙，将接收的被测信号输出至射频频谱仪。 实际应用中，可以根据射频频谱仪的额定测试范围内以及发射机标称的发射时隙和接收时隙的功率参数确定预设的衰减量，以保证经过衰减后的被测信号功率处于射频频谱仪的额定测试范围内。举例来说，如果射频频谱仪的额定测试范围为-90dBm -20dBm，发射机标定的发射时隙的功率参数为30dBm，接收时隙的功率参数为-85dBm，则预设的衰减量可以是50dB。 预设的衰减量也可以包括多个衰减量等级，例如，对于上述预设的衰减量是50dB的同步可变射频衰减器来说，可以设定最低衰减量为50dB，最高衰减量为80dB，在最低衰减量等级与最高衰减量等级之间，设定多个中间衰减量数值，以调节被测信号，使射频频谱仪处于较佳的测试范围内。 射频频谱仪，用于接收衰减后的被测信号，进行时间模板参数测试，并输出衰减后被测信号的时间模板参数； 补偿器，用于对射频频谱仪输出的衰减后被测信号的时间模板参数，按照预设的衰减量进行补偿，得到衰减之前的被测信号的时间模板参数。 需要说明的是，本发明主要是希望解决如何对超出射频频谱仪测试范围的发射机信号进行测试，那么在实现上述测试后，可以不涉及如何得到正确的时间模板参数，且如何得到正确的时间模板参数可由本领域技术人员采用任意方式来实现，因此，上述的补偿器并非必须包含的元器件。 例如，对本领域技术人员来说，只要获知射频频谱仪是针对衰减后被测信号进行
测试，那么射频频谱仪输出衰减后被测信号的时间模板参数后，无需补偿器也可通过例如
人工计算、或以计算机程序对衰减后被测信号的时间模板参数进行补偿。 本实施例中，射频频谱仪对接收的被测信号进行时间模板参数的测试属于现有技
术，在此不再赘述，不同的是，由于预先对被测信号进行了衰减，因而，在获取测试的时间模
板参数后，需要将测试获取的该时间模板参数按照同步可变射频衰减器中预设的衰减量进
行补偿，以获取被测信号的实际时间模板参数。例如，如前所述，如果射频频谱仪测试得到
的发射时隙的被测信号时间模板参数为_15(18111，则发射时隙的被测信号实际的模板参数
为-15+50 = 35dBm ;而测试得到的接收时隙的被测信号时间模板参数就是发射时隙的被测
信号实际的模板参数。 实际应用中，同步可变射频衰减器、射频频谱仪与补偿器也可以集成于同一物理实体，即将同步可变射频衰减器与补偿器集成于射频频谱仪中形成测试射频时间模板参数
的装置。此外，为了降低同步可变射频衰减器衰减较大时设备的复杂性，也可以将多个同步可变射频衰减器进行级联，具体来说，在多个同步可变射频衰减器级联时，其结构与存在上述同步可变射频衰减器可以相同；也可以不同，这里，可以分为两种情况，第一种情况，在同步可变射频衰减器与射频频谱仪之间，连接一个、或级联多于一个可变射频衰减器，用于对同步可变射频衰减器输出的被测信号按照预设的衰减量衰减；且，同步可变射频衰减器、所有可变射频衰减器对测试信号的衰减总量等于预设的衰减量。第二种情况，需要对与发射机连接的同步可变射频衰减器进行一些改动，以下以第二种情况级联的两个不同结构的同步可变射频衰减器为例进行说明。
将与发射机连接的同步可变射频衰减器设置为三个输出端口，第一输出端口用于 输出同步信号，第二输出端口用于输出接收时隙的被测信号，第三输出端口用于输出发射 时隙的被测信号，相应地， 后一同步可变射频衰减器设置为三个输入端口和三个输出端口 ，第一输入端口接 收同步信号，进行透明传输，通过第一输出端口输出，第二输入端口接收来自与发射机连接 的同步可变射频衰减器第二输出端口输出的被测信号，通过第二输出端口输出，第三输入 端口接收来自与发射机连接的同步可变射频衰减器第三输出端口输出的被测信号，通过第 三输出端口输出；当然，后一同步可变射频衰减器也可以设置为两个输入端口和两个输出 端口 ，与具有三个输入端口的同步可变射频衰减器不同的是，具有两个输入端口的同步可 变射频衰减器不需同步信号，同步信号经与发射机连接的同步可变射频衰减器输出后直接 输入射频频谱仪。 由与发射机连接的同步可变射频衰减器根据接收的同步信号确定发射机状态并 将同步信号发送至下一同步可变射频衰减器如果确定发射机处于发射时隙状态，按照发 射机发射时隙状态对应的预设的衰减量将接收的被测信号进行衰减，然后输出至后一同步 可变射频衰减器的发射时隙的被测信号接收端口继续进行衰减；如果确定发射机处于接收 时隙状态，将接收的被测信号输出至下一同步可变射频衰减器的接收时隙的被测信号接收 端口 ； 当然，对于不需要对接收时隙的被测信号进行衰减的情况下，后一同步可变射频 衰减器也可设置为单输入端口和单输出端口 ，与发射机连接的同步可变射频衰减器根据接 收的同步信号确定发射机状态并将同步信号直接发送至射频频谱仪；如果确定发射机处 于发射时隙状态，按照发射机发射时隙状态对应的预设的衰减量将接收的被测信号进行衰 减，然后输出至下一同步可变射频衰减器的接收端口继续进行衰减；如果确定发射机处于 接收时隙状态，将接收的被测信号直接输出至射频频谱仪。 进一步地，为了得到更加精确的时间模板参数测试数据，在测量之前可以使用矢 量网络分析仪对同步可变射频衰减器进行校准，例如，对同步可变射频衰减器的稳定性以 及预设的衰减量等进行校准，有关对同步可变射频衰减器进行校准的操作流程，可参见相 关文献，在此不再赘述。 此外，为了进一步保护射频频谱仪以及降低同步可变射频衰减器的复杂性，也可 以将发射机输出的被测信号先通过RF衰减器进行预衰减以确保被测信号不超出射频频谱 仪额定的测试范围，例如，衰减器可以为一个10dB的大功率衰减器。与上述同步可变射频 衰减器不同的是，该RF衰减器不需要同步信号的控制，对发射时隙和接收时隙的被测信号 进行相同的衰减，这样，也降低了衰减器结构的复杂性。 图3(a)为本发明同步可变射频衰减器的结构示意图，参见图3(a)，该同步可变射 频衰减器包括同步控制信号发生器、开关、RF衰减器，其中， 同步控制信号发生器，用于接收来自发射机的同步信号，根据同步信号确定的发 射机工作状态控制开关导通或关断RF衰减器，并将同步信号输出，RF衰减器在与开关导通 后，将接收的被测信号按照预设的衰减量进行衰减后输出； 具体来说，如果接收的同步信号为高电平，确定发射机处于发射时隙，生成同步控 制信号控制开关与RF衰减器连接导通，RF衰减器将接收的被测信号按照预设的衰减量进行衰减后输出；如果接收的同步信号为低电平，确定发射机处于接收时隙，控制开关将接收 的被测信号直接输出。 开关可以是RF单刀双掷开关，也可以是其它开关，如MOS管开关等。 实际应用中，对于按照各自预设的衰减量同时对发射时隙的被测信号以及接收时
隙的被测信号进行衰减的情形，可以在同步可变射频衰减器中再增加一个RF衰减器，用于
接收时隙所接收的被测信号进行相应衰减后输出，与处于发射时隙的RF衰减器不同的是，
该RF衰减器的衰减量要小得多，例如，1. 5dB。 图3(b)为本发明同步可变射频衰减器的第二结构示意图，参见图3(b)，该同步可 变射频衰减器包括单输入双输出选择开关、按照发射时隙衰减量衰减的RF衰减器、按照 接收时隙衰减量衰减的RF衰减器、同步控制信号发生器，其中， 单输入双输出选择开关的一路输入与同步可变射频衰减器的输入端相连、其中一 路输出与发射时隙的RF衰减器的输入相连、另一路输出与接收时隙的RF衰减器的输入相 连； 发射时隙的RF衰减器的输出、以及接收时隙的RF衰减器的输出均与同步可变射 频衰减器的输出端相连； 同步控制信号发生器用于在发射机产生的同步信号表示发射时隙时，触发单输入 双输出选择开关的一路输入与其中一路输出导通；在发射机产生的同步信号表示接收时隙 时，触发单输入双输出选择开关的一路输入与另一路输出导通。 图3(c)为本发明可变射频衰减器的结构示意图，参见图3(c)，该可变射频衰减器 用于与图3(b)中同步可变射频衰减器输出相连，包括单输入双输出选择开关、RF衰减器、 以及切换控制器， 单输入双输出选择开关的一路输入与可变射频衰减器的输入端相连、其中一路输 出与可变射频衰减器的输出端相连、另一路输出与RF衰减器的输入相连；
RF衰减器的输出与可变射频衰减器的输出端相连； 切换控制器在发射机的接收时隙到来时，触发单输入双输出选择开关的一路输入 与其中一路输出导通；在发射机的发射时隙到来时，触发单输入双输出选择开关的一路输 入与另一路输出导通。 图3(c)中，也可以在与可变射频衰减器的输出端相连的一路上再串接一个RF衰 减器。 由上可见，本发明实施例在射频频谱仪对被测信号进行测试前，首先对被测信号 进行衰减，使衰减后的被测信号在射频频谱仪的动态测试范围内，这样，避免了射频频谱仪 测试中的过载引起的测试误差较大的问题，从而使射频频谱仪在额定的动态测试范围内可 以对超出射频频谱仪额定动态测试范围的被测信号进行测试，提高了测试射频时间模板参 数的精度，同时，测试系统仅需增加同步可变射频衰减器，不需对射频频谱仪进行复杂的改 进，测试系统结构简单、操作方便，测试成本低。 图4为本发明调节射频时间模板参数测试范围的方法流程示意图。参见图4，该流 程包括 步骤401，在发射机产生的同步信号的控制下，将接收的被测信号按照预设的衰减 量衰减后输出；
本步骤中，具体包括接收发射机产生的同步信号，根据同步信号确定发射机的工 作状态，按照发射机工作状态对应的预设的衰减量将接收的被测信号衰减到射频频谱仪测 试的动态范围内，并将同步信号输出至射频频谱仪。
其中， 根据同步信号确定发射机的工作状态具体为如果确定接收的同步信号为高电 平，则发射机处于发射时隙；如果确定接收的同步信号为低电平，则发射机处于接收时隙。 本实施例中，同步信号为5ms帧同步信号。 预设的衰减量根据射频频谱仪额定的测试范围以及发射机标定的发射时隙和接 收时隙的功率参数进行设定，使经过同步可变射频衰减器输出的信号的功率在射频频谱仪 额定的合适的测试范围内。 如前所述，具体的衰减操作可以仅对发射时隙的被测信号进行，或者，也可以对发 射时隙和接收时隙的被测信号均进行衰减。具体地， 若仅对发射时隙的被测信号进行衰减，则预设的衰减量为发射时隙衰减量，在设
定该衰减量时，根据发射机标定的发射时隙的功率参数和射频频谱仪的额定测试范围进行
设置。在进行衰减操作时，如果确定发射机处于发射时隙，将接收的被测信号按照预设的发
射时隙衰减量进行衰减，如果确定发射机处于接收时隙，对接收的被测信号不作处理。 若对发射时隙和接收时隙的被测信号均进行衰减，则预设的衰减量为发射时隙衰
减量和接收时隙衰减量，在设定衰减量时，需要根据发射机标定的发射时隙的功率参数和
射频频谱仪的额定测试范围设置发射时隙衰减量，再根据发射机标定的接收时隙的功率参
数和射频频谱仪的额定测试范围设置接收时隙衰减量。在进行衰减操作时，如果确定发射
机处于发射时隙，将接收的被测信号按照预设的发射时隙衰减量进行衰减，如果确定发射
机处于接收时隙，将接收的被测信号按照预设的接收时隙衰减量进行衰减。 实际应用中，预设的衰减量也可以包括多个衰减量等级，根据相应发射机标定的
参数以及射频频谱仪动态测试范围预设多个衰减量等级，可以减少针对每一发射机配置的
同步可变射频衰减器个数，这样，针对不同发射机标定的参数，可以选择合适的衰减量等级
对被测信号进行衰减，以调节被测信号，同时，由于设置的衰减量等级多，还可以根据相应
发射机标定的参数以及射频频谱仪较佳的动态测试范围，选择相应的衰减量等级，使射频
频谱仪接收到的被测信号处于较佳的测试范围内。 上述中，对接收的被测信号进行衰减的处理，也就是将被测信号调节到射频频谱 仪测试的动态范围内，以避免射频频谱仪测试时过载的处理过程。进行衰减的处理可以是 进行一次衰减处理，实际应用中，为了降低一次衰减处理衰减过大时设备的复杂性，也可以 是进行多次衰减处理。举例来说，如果对发射时隙的被测信号进行50dB的衰减，可以是先 对发射时隙的被测信号进行20dB的衰减，然后对经20dB衰减后的被测信号再进行30dB的 衰减，使总的衰减量为50dB。 步骤402，射频频谱仪接收衰减后的被测信号，进行时间模板参数测试； 本步骤中，射频频谱仪的测试流程与现有技术相同，在此不再赘述。 步骤403，将测试获取的时间模板参数按照前述衰减的衰减量进行补偿，以获取被
测信号的实际时间模板参数。 本步骤中，即将测试获取的时间模板参数按照预设的衰减量进行补偿，例如，预设的衰减量是对接收时隙的被测信号不进行衰减，而对发射时隙的被测信号进行40dB的衰
减，则对测试接收时隙获取的时间模板参数不进行补偿，对测试发射时隙获取的时间模板
参数进行40dB的补偿，从而获取衰减之前的被测信号的时间模板参数。 实际应用中，本发明也可以应用于其它一些当被测信号超过测试设备测试范围
时，需要对被测信号进行衰减的场合。 以上举较佳实施例，对本发明的目的、技术方案和优点进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
权利要求
一种射频时间模板参数的测试系统，该测试系统包括用于产生同步信号和被测信号的发射机、以及根据所述发射机产生的同步信号对被测信号进行时间模板参数测试的射频频谱仪，其特征在于，该测试系统还包括连接于所述发射机和所述射频频谱仪之间的同步可变射频衰减器、以及连接于所述射频频谱仪输出端的补偿器，同步可变射频衰减器，用于在所述发射机产生的同步信号的控制下，对该发射机产生的被测信号按照预设的衰减量衰减，以供所述射频频谱仪对衰减后的被测信号执行时间模板参数测试。
2. 如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述预设的衰减量是根据所述射频频谱仪的额定测试范围、以及所述发射机在其发射时隙和接收时隙的功率参数确定的。
3. 如权利要求2所述的测试系统，其特征在于，相互级联的一个以上的同步可变射频衰减器连接于所述发射机和所述射频频谱仪之间；且，所有同步可变射频衰减器对所述测试信号的衰减总量等于所述预设的衰减量。
4. 如权利要求2或3中任一项所述的测试系统，其特征在于，所述预设的衰减量包括发射时隙衰减量和接收时隙衰减量，所述同步可变射频衰减器包括第一单输入双输出选择开关、按照所述发射时隙衰减量衰减的第二 RF衰减器、按照所述接收时隙衰减量衰减的第三RF衰减器、同步控制信号发生器，其中，所述第一单输入双输出选择开关的一路输入与所述同步可变射频衰减器的输入端相连、其中一路输出与所述第二RF衰减器的输入相连、另一路输出与所述第三RF衰减器的输入相连；所述第二 RF衰减器的输出、以及所述第三RF衰减器的输出均与所述同步可变射频衰减器的输出端相连；所述同步控制信号发生器用于在所述发射机产生的同步信号表示发射时隙时，触发所述第一单输入双输出选择开关的一路输入与所述其中一路输出导通；在所述发射机产生的同步信号表示接收时隙时，触发所述第一单输入双输出选择开关的一路输入与所述另一路输出导通。
5. 如权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述同步可变射频衰减器与所述射频频谱仪之间，进一步连接一个、或级联多于一个可变射频衰减器，用于对所述同步可变射频衰减器输出的被测信号按照预设的衰减量衰减；且，所述同步可变射频衰减器、所有可变射频衰减器对所述测试信号的衰减总量等于所述预设的衰减量。
6. 如权利要求5所述的测试系统，其特征在于，所述可变射频衰减器包括第二单输入双输出选择开关、第四RF衰减器、以及第一切换控制器，所述第二单输入双输出选择开关的一路输入与所述可变射频衰减器的输入端相连、其中一路输出与所述可变射频衰减器的输出端相连、另一路输出与所述第四RF衰减器的输入相连；所述第四RF衰减器的输出与所述可变射频衰减器的输出端相连；所述第一切换控制器在所述发射机的接收时隙到来时，触发所述第二单输入双输出选择开关的一路输入与所述其中一路输出导通；在所述发射机的发射时隙到来时，触发所述第二单输入双输出选择开关的一路输入与所述另一路输出导通。
7. 如权利要求5所述的测试系统，其特征在于，所述可变射频衰减器包括第三单输入双输出选择开关、第五RF衰减器、第六RF衰减器、以及第二切换控制器，所述第三单输入双输出选择开关的一路输入与所述可变射频衰减器的输入端相连、其中一路输出与所述第五RF衰减器的输入相连、另一路输出与所述第六RF衰减器的输入相连；所述第五RF衰减器的输出与所述可变射频衰减器的输出端相连；所述第六RF衰减器的输出与所述可变射频衰减器的输出端相连；所述第二切换控制器在所述发射机的接收时隙到来时，触发所述第三单输入双输出选择开关的一路输入与所述其中一路输出导通；在所述发射机的发射时隙到来时，触发所述第三单输入双输出选择开关的一路输入与所述另一路输出导通。
8. 如权利要求2、或3、或5至7中任一项所述的测试系统，其特征在于，所述同步可变射频衰减器与所述发射机之间，进一步级联至少一个第一射频RF衰减器，用于对尚未经所述同步可变射频衰减器衰减的测试信号进行预衰减。
9. 如权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述第一同步可变射频衰减器设置有多个衰减量等级。
10. 如权利要求2、或3、或5至7中任一项所述的测试系统，其特征在于，该系统进一步包括补偿器，用于对所述射频频谱仪输出的衰减后被测信号的时间模板参数，按照所述预设的衰减量进行补偿，得到衰减之前的被测信号的时间模板参数。
11. 一种调节射频时间模板参数测试范围的方法，其特征在于，该方法包括在发射机产生的同步信号的控制下，对该发射机产生的被测信号按照预设的衰减量衰减，以供射频频谱仪对衰减后的被测信号执行时间模板参数测试。
全文摘要
本发明公开了射频时间模板参数的测试系统，包括产生同步信号和被测信号的发射机、以及根据发射机产生的同步信号对被测信号进行时间模板参数测试的射频频谱仪，还包括连接于发射机和射频频谱仪之间的同步可变射频衰减器、以及连接于射频频谱仪输出端的补偿器，同步可变射频衰减器，在同步信号控制下对被测信号按照预设的衰减量衰减并输出。应用本发明，能够对超出射频频谱仪测试范围的发射机信号进行测试，提高了测试射频时间模板参数的精度，同时，测试系统结构简单、操作方便，成本低。本发明还公开了一种调节射频时间模板参数测试范围的方法。
文档编号H04B17/00GK101777955SQ20091007694
公开日2010年7月14日 申请日期2009年1月14日 优先权日2009年1月14日
发明者黄云 申请人:鼎桥通信技术有限公司