基于共轭对称序列的ofdm时间同步算法的制作方法

文档序号:7757889阅读:276来源:国知局
专利名称:基于共轭对称序列的ofdm时间同步算法的制作方法
技术领域
本发明属于OFDM技术领域,特别是涉及一种基于共轭对称序列的OFDM系统时间同步算法。
背景技术
自20世纪80年代以来,OFDM(正交频分复用技术)不但在广播式数字音频和视频领域得到广泛的应用,而且已经成为无线局域网标准的一部分。正交频分复用(OFDM)技术,是一种多载波调制方法,通过减小和消除码间串扰的影响来克服信道的频率选择性衰落。它的基本原理是将数据流分解成若干子比特流,这样每个子数据流将具有低得多的比特速率,用这样的低比特率形成的低速率多状态符号再去调制相应的子载波,就构成了多个低速率符号并行发送的传输系统。它的优势在于可以有效减少由于无线信道的时间弥散所带来的ISI,通过子信道频谱相互重叠,达到最高频谱利用率,而且OFDM容易实现,易于与其他多种接入方法结合使用。但是,OFDM存在容易受频率偏差的影响和峰均比过高的问题,严重影响了 OFDM的时间同步。已有很多文献对OFDM时间同步的方法进行了研究,大致分成4种方法利用循环前缀,利用导频,利用训练序列以及盲同步。其中,利用训练序列的方法较多。如何利用有效的训练序列提出性能更好的时间同步算法,是本领域研究人员比较关心的问题。

发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种基于共轭对称序列的OFDM时间同步算法,用以实现在多径信道下OFDM的高精度、低复杂度的时间同步。本发明解决其技术问题所采用的技术方案是提供一种基于共轭对称序列的 OFDM时间同步算法,所述的OFDM时间同步算法是构造具有共轭对称性质的序列,利用所述序列的共轭对称特性,在接收端进行对称相关运算,得到定时度量函数的相关峰值,利用所述相关峰值的位置确定OFDM信号的开始位置,完成时间同步。所述的定时度量函数的相关峰值采用了区间门限判决算法进行处理,在捕获到峰值时,首先在限定长度的区间内搜索定时度量函数的最大值,以此最大值为基准,往后延迟 N/2点,在N/2处限定长度的区间内再次搜索最大值,然后对比这两个最大值的大小,取较大者作为接收信号最强径所在位置,进而在最强径基础上向前Ne点开始向后搜索,对比定时度量函数与门限的大小,若定时度量函数大于门限,则定时完成,第一径捕获完成,否则, 最强径即为第一径,至此,时间同步完成;其中,N为共轭对称序列的长度,Ne为循环前缀长度。所述的区间门限判决算法包括以下步骤1)在时域构造一个具有共轭对称性质的序列,序列长度为N,满足χ (n) = con j (χ (Ν-η)), η = 1,....., Ν/2-1(1)其中con j表示共轭运算;
通过发射机将具有该共轭对称性质序列前导的OFDM信号发射出去
2)对接收机接收到的信号,进行定时度量函娄W勺计算
其中r(n)为接收信号;
权利要求
1.一种基于共轭对称序列的OFDM时间同步算法,所述的OFDM时间同步算法是构造具有共轭对称性质的序列,其特征在于,利用所述序列的共轭对称特性,在接收端进行对称相关运算,得到定时度量函数的相关峰值,利用所述相关峰值的位置确定OFDM信号的开始位置,完成时间同步。
2.根据权利要求1所述的一种基于共轭对称序列的OFDM时间同步算法,其特征在于, 所述的定时度量函数的相关峰值采用了区间门限判决算法进行处理,在捕获到峰值时,首先在限定长度的区间内搜索定时度量函数的最大值,以此最大值为基准,往后延迟N/2点, 在N/2处限定长度的区间内再次搜索最大值,然后对比这两个最大值的大小,取较大者作为接收信号最强径所在位置,进而在最强径基础上向前Ne点开始向后搜索,对比定时度量函数与门限的大小,若定时度量函数大于门限,则定时完成,第一径捕获完成,否则,最强径即为第一径,至此,时间同步完成;其中,N为共轭对称序列的长度,Ng为循环前缀长度。
3.根据权利要求2所述的一种基于共轭对称序列的OFDM时间同步算法,其特征在于, 所述的区间门限判决算法包括以下步骤1)在时域构造一个具有共轭对称性质的序列,序列长度为N,满足
全文摘要
本发明涉及一种基于共轭对称序列的OFDM时间同步算法,所述的OFDM时间同步算法是构造具有共轭对称性质的序列,利用所述序列的共轭对称特性,在接收端进行对称相关运算,得到定时度量函数的相关峰值,利用所述相关峰值的位置确定OFDM信号的开始位置,完成时间同步。本发明克服了由于循环前缀和序列共轭对称特性所引起的副峰值对时间同步的不利影响,定时更加准确,可有效地用于多径信道下OFDM系统的时间同步。
文档编号H04L27/26GK102185819SQ20111011825
公开日2011年9月14日 申请日期2011年5月9日 优先权日2011年5月9日
发明者张力, 张士柱, 施玉松, 朱磊基, 汪涵 申请人:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
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