专利名称：用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及检测设备技术领域，特别涉及电话机芯片测试设备技术领域，具体是指一种用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备。
背景技术：
在模拟电路芯片测试领域，一直以来以测试电路的直流特性为主，近年来的一些测试设备也可用于测试芯片的部分交流特性，但多以测试频率为主。也有部分的测试设备可以测试运放的增益、信号失真、功率等参数，但是都仅限于单个运放的测试。与此同时，随着电话会议技术的普及和受到商业客户的欢迎，越来越多的电话采用了免提多语音通话芯片，以提供多路语音信号，实现电话会议功能。对于免提多语音通话芯片的测试就需要在同一芯片上有多路放大通道，并且需要克服相互间的串扰，现有的测试设备都不能达到这一要求，无法对免提多语音通话芯片进行稳定的，适合量产的大规模测试，由此，对免提多语音通话芯片的大规模生产，进一步的对于具有电话会议功能的电话机的普及和应用都造成了严重的制约。
实用新型内容本实用新型的目的是克服了上述现有技术中的缺点，提供一种能够有效地进行芯片交直流信号的电位、增益、失真、输出管饱和压降的测试，且避免多路信号间的相互干扰，保持信号稳定，适用于大规模生成应用，且结构简单，成本低廉的用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备。为了实现上述的目的，本实用新型的用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备具有如下构成该测试设备包括测试仪、通用转接卡和专用转接卡。其中，所述的测试仪包括DVI双通道信号源端口(以下称DVI源)、OVI双通道信号源端口(以下称OVI源)和ACSM精密交流源表单元音频信号源端口(以下称ACSM源)，所述的DVI源和OVI源均通过所述的通用转接卡连接待测免提多语音通话芯片，所述的ACSM源通过所述的专用转接卡连接所述的待测免提多语音通话芯片。该用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备中，所述的DVI源包括8路DVI双通道电压电流源端口，所述的OVI源包括8路OVI双通道电压电流源端口，所述的8路DVI双通道电压电流源端口和8路OVI双通道电压电流源端口均通过所述的通用转接卡连接待测免提多语音通话芯片。该用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备中，所述的专用转接卡包括多个信号输入点，所述的ACSM源通过屏蔽线及BNC (同轴电缆接插件)接头连接所述的各信号输入点。该用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备中，所述的专用转接卡还包括中心探针卡，所述的各信号输入点以环形布地方式设置于所述的中心探针卡的周围。[0010]该用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备中，所述的中心探针卡还设置有芯片压点。该用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备中，所述的待测免提多语音通话芯片通过所述的芯片压点连接所述的专用转接卡的中心探针卡。该用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备中，所述的待测免提多语音通话芯片包括多个电压电流待测引脚以及多个交流输出幅度、增益、失真参数测试引脚，所述的测试仪还包括交流源信号采集端口，所述的各电压电流待测引脚通过专用转接卡的引出线连接所述的通用转接卡，所述的各交流输出幅度、增益、失真参数测试引脚通过屏蔽线及BNC接头连接所述的测试仪的交流源信号采集端口。采用了该实用新型的电话机中免提多语音通话芯片的测试设备该测试设备，由于其包括测试仪、通用转接卡和专用转接卡。测试仪的DVI源和OVI源均通过所述的通用转接卡连接待测免提多语音通话芯片，测试仪的ACSM源通过所述的专用转接卡连接所述的 待测免提多语音通话芯片。且所述的专用转接卡包括多个信号输入点和中心探针卡，所述的各信号输入点以环形布地方式设置于所述的中心探针卡的周围，所述的ACSM源通过屏蔽线及BNC接头连接所述的各信号输入点。使得采用该结构的测试设备能够有效地进行芯片交直流信号的电位、增益、失真、输出管饱和压降的测试，且避免多路信号间的相互干扰，保持信号稳定，适用于大规模生成应用，且本实用新型的用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备结构简单，成本低廉。
图I为本实用新型的电话机中免提多语音通话芯片的测试设备的结构示意图。图2为实际应用本实用新型的测试设备进行免提多语音通话芯片测试中的测量PIN脚连接示意图。图3为实际应用本实用新型的测试设备进行免提多语音通话芯片测试中的AST2000测试仪的线路图。图4为实际应用本实用新型的测试设备进行免提多语音通话芯片测试中的各PIN脚的外围器件的示意图。图5为实际应用本实用新型的测试设备进行免提多语音通话芯片测试中的免提电话机语音通话流程图。
具体实施方式
为了能够更清楚地理解本实用新型的技术内容，特举以下实施例详细说明。请参阅图I所示，电话机中免提多语音通话芯片的测试设备该测试设备的结构示意图。在一种实施方式中，该测试设备包括测试仪、通用转接卡和专用转接卡，所述的测试仪包括DVI源、OVI源和ACSM源，所述的DVI源和OVI源均通过所述的通用转接卡连接待测免提多语音通话芯片，所述的ACSM源通过所述的专用转接卡连接所述的待测免提多语音通话芯片。其中，所述的DVI源包括8路DVI双通道电压电流源端口，所述的OVI源包括8路OVI双通道电压电流源端口，所述的8路DVI双通道电压电流源端口和8路OVI双通道电压电流源端口均通过所述的通用转接卡连接待测免提多语音通话芯片。所述的专用转接卡包括多个信号输入点，所述的ACSM源通过屏蔽线及BNC接头连接所述的各信号输入点。在一种较优选的实施方式中，所述的专用转接卡还包括中心探针卡，所述的各信号输入点以环形布地方式设置于所述的中心探针卡的周围。所述的中心探针卡还设置有芯片压点，待测免提多语音通话芯片通过所述的芯片压点连接所述的专用转接卡的中心探针卡。在更优选的实施方式中，所述的待测免提多语音通话芯片包括多个电压电流待测引脚以及多个交流输出幅度、增益、失真参数测试引脚，所述的测试仪还包括交流源信号采集端口，所述的各电压电流待测引脚通过专用转接卡的引出线连接所述的通用转接卡，所述的各交流输出幅度、增益、失真参数测试引脚通过屏蔽线及BNC接头连接所述的测试仪的交流源信号采集端口。在实际应用中，本实用新型采用AST2000测试仪，在中测测试电话机免提通话电路芯片的交直流性能。AST2000测试仪通过一通用的测试版卡，将测试仪内的8路DVI源(电流电压源、可用于产生电流或电压，也可用于测量电压或电流)，8路OVI源(电流电压·源、可用于产生电流或电压，也可用于测量电压或电流)连接至相应的测试PIN脚。两种源的差异在于电流输出能力，DVI源可输出的最大电流为400mA，OVI源可输出的最大电流为40mA，根据PIN脚的允许电流能力选择合适的源。测量PIN脚连接示意图见图2。AST2000测试仪输出的4路ACSM源通过专用的屏蔽线及专用BNC接头连至中测卡(专用转接卡)对应的信号输入点。ACSM源既可作为音频信号产生的信号发生器，也可作为信号采集的测量源。中测卡连接示意图如图3所示，中测卡的信号输入点用环行布地的方式将信号相互隔离，用以适应多路BNC接口的交流输入信号测试。中测卡中心为带芯片压点的探针卡，周围环行布地，PIN脚一方面与相应探针相连，另一方面在中测卡上引线接外围器件。对于需要测量电压电流的PIN脚，通过外连线连至测试仪的通用测试版卡的相应管脚上。而对需要测试交流输出幅度、增益、失真等参数的PIN脚，则通过屏蔽线及专用BNC接头连接至测试仪交流源的信号采集端。测试架构建立好之后，按照免提通话电路的整机应用情况组建测试用外围器件，AST2000测试线路见图3。各PIN脚的外围器件见图4所示。电话机为电流供电方式，AST2000测试仪的DVI源可提供恒流输出，由于测试芯片管脚性能时要考虑电话线远端供电(电流较小)和近端供电(电流大)两种情况，所以分为大电流性能和小电流性能两类状态。在免提电话机语音通话环境中，有两路相互独立的语音通路，一路为电话线上的信号经电话线传输至终端的电话机接收话音，称受话通路；另一路为电话终端发往电话线的语音，称送话通路。如图5所示为免提电话机语音通话流程图。话音的受话通道分免提受话及手柄受话，对应免提受话的有IR_REC0、HFRX-LSA0通路；对应手柄受话的有IR-RECO、GARX-EAR0通路；拨号音送至电话线通路DTMF-LN。话音的送话通道分免提送话及手柄送话，对应免提送话的有TXI-TXO通路、HFTX-LN通路；对应手柄送话的有MIC+/—LN通路；还有拨号音返回至听筒或喇叭通路DTMF-REC0。共有8种语音环境，故测试也分为8种情况。为避免信号间的串扰，采用测试仪内置继电器切换每一路测试，保证任一路在工作时其他路关闭。为使信号间良好屏蔽，采用专门的BNC接头，使信号的接地为环形布版，送话的通路与受话的通路在布局上尽量分开，避免信号的交叉调制。测试程序调试中为稳定测试，须调整地线走线位置，选取合适的消振电容，对电容离集成电路管脚位置也要作调整以减小测量值的扰动。例RENV、RNOI及TENV、TNOI脚的电位反映了通道里信号和噪声的大小。当测试不加交流信号时，通道内因布版、接地等引起的噪声大小会反映在RNOI脚、TNOI脚电平上。当测试系统与测试卡的连接线接口接触不良，致使信号不能很好地屏蔽，通道内的背景噪声就会大于正常值(实验条件下短连接线的值)。RNOI、TNOI脚电平异常，监控输出端波形时底噪声大，必须在测试卡的布版上注意地线的布局和输入信号的接地点与被测电路的地有尽量短而无跨接的回路。外接电容Ctnm和Cenm决定了噪声包络的时间常数，电容越大，充放电速度越慢。稳定工作所需的测试等待时间也长。推荐的CTNra、Cfflra电容值是4.7uF。直流测试时可适当减小容值缩减测试时间。在实际调试中发现放大器的闭环增益过大也影响电路的直流工作点，在外围可变 的基础上，调整放大器闭环增益以选取合适的稳定直流工作点。由于电话机的供电方式为电流型，70mA左右的恒流始终加在相关的PIN脚，致使芯片测试中由于接触探针在每一个测试项均流经了大电流，随测试项的增多，探针由于氧化而使接触不良、导致误测，为避免误测，调整测试模式，对第一次测试未通过的芯片可以采取二次测试模式，并要求中测探针定期清洗及监控误测图形。由于交流测试的稳定时间较长，随测试项目的增多，测试时间的缩减成为现有技术中免提多语音通话芯片量产的瓶颈。在实际调试程序中，在部分不易稳定的大电流测试项，为使测试值可靠，增加循环测试来找寻符合特定输出的测试值。这增加了测试时间，为此必须尽量缩减循环的等待时间。调试时，用示波器监控并不断缩减时间，直到找到能稳定工作的最小等待时间为止。测试项目的次序安排也会影响测试时间，将测试条件相对一致的项目放在一起测试，例手柄送话的各点电位可由同一测试条件完成。将输入线电流分大电流及小电流两类，以便测试电话线在近端及远端的相应功能，则大电流下某一模式的各点电位可由同一测试条件完成。同样在小电流下也可将同一模式的各功能放在一起测试。测试某路通道的交流输出信号时，为保证测试信号无干扰，必须将无关信号通路的继电器断开。在某些工作模式中，例如低功耗模式，电源的建立需要的时间相对测试时间来说很长，为提高测试速度，将外围器件的参数改变，比如减小电容的容值、改变电阻配比等以获得一个稳定但与实际工作值不同的测试值作为参考。为监测工艺缺陷造成的圆片中心漏电及悬浮P管漏电问题，在测试程序的起始增加易漏电管脚对地的电流测试项以快速剔出不良芯片。程序中设定管子处于未正常开启态，测试管脚的电流，当有微安级电流流经管脚时可视为异常芯片。在某些模式下测试的电位同样可反映芯片的漏电情况。例待机模式下的VBB、MICS电平异常高。由于待机时VBB和VDD上的电流仅为部分偏置，故低于正常VBB电位，同时关闭外供话筒的MICS电压。当SLPE到VBB的VPNP管漏电将存在通路使VBB电位高，MICS有电位。DLC脚电位的降低也可反映芯片的漏电情况，由于DLC脚到地为一 NPN管的CE结，弱信号时管子截止，DLC脚外接电容不放电，故直流时DLC脚为高电平表明管子不漏电，一旦芯片的输出管存在漏电经内部作用将使DLC低电平，故监测DLC脚电位也可反映漏电情况。部分电阻的异常变低同样反映芯片的漏电情况，MICS到GND电阻并联了 PNP管的CE结，因CE结漏电而存在的CE间有电阻特性，使原本的脚间电阻并联管子的漏电电阻而变低。为测试喇叭、听筒等输出带负载的能力，需要测试输出管在一定电流下的饱和压降。测试时加一定线电流建立稳定的内电源,给定相应模式并在输出端拉/灌电流测试上、下管的高低电平，注意给定合适的电流、电压量程。采用本实用新型的测试设备能够实现对于芯片交直流信号的电位、增益、失真参数的测试。给出了在测试电话机语音通话中多路信号的过程中，保持通道稳定、避免噪声干扰的措施；为圆片级测试交流性能提供了一种可行的测试解决方案。本实用新型的用于电话机免提多语音通话芯片的测试设 备共可用于96项直流参数的测试。分别为线电流15mA时在以下8种工作模式手持听筒蜂鸣模式、手持听筒拨号模式、手持听筒私密模式、手持通话模式、免提蜂鸣模式、免提拨号模式、免提私密模式、免提通话模式下的脚电位及电流。线电流在70mA下同样在8种模式下测试相关脚电位及电流；可测电阻；内参考源、动态限幅等管脚的漏电流；小电流工作模式及低功耗模式的工作状态；低功耗模式的内参考源电流；通话及免提模式下内参考源电流；听筒及喇叭端输出上下管饱和压降。本实用新型的用于电话机免提多语音通话芯片的测试设备共可用于7个交流信号通道的测试，包括7个信号通道的输出幅度、小信号失真、增益手柄送话至电话线通路MIC+/- -LN ;免提送话前置通路TXI-TXO ;免提送话至电话线通路HFTX-LN ;拨号音送至电话线通路DTMF-LN ;受话公用通道IR-RECO ;免提受话至喇叭通路HFRX-LSA0 ;拨号音到听筒通路 DTMF-EAR0。采用了该实用新型的电话机中免提多语音通话芯片的测试设备该测试设备，由于其包括测试仪、通用转接卡和专用转接卡。测试仪的DVI源和OVI源均通过所述的通用转接卡连接待测免提多语音通话芯片，测试仪的ACSM源通过所述的专用转接卡连接所述的待测免提多语音通话芯片。且所述的专用转接卡包括多个信号输入点和中心探针卡，所述的各信号输入点以环形布地方式设置于所述的中心探针卡的周围，所述的ACSM源通过屏蔽线及BNC接头连接所述的各信号输入点。使得采用该结构的测试设备能够有效地进行芯片交直流信号的电位、增益、失真、输出管饱和压降的测试，且避免多路信号间的相互干扰，保持信号稳定，适用于大规模生成应用，且本实用新型的用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备结构简单，成本低廉。在此说明书中，本实用新型已参照其特定的实施例作了描述。但是，很显然仍可以作出各种修改和变换而不背离本实用新型的精神和范围。因此，说明书和附图应被认为是说明性的而非限制性的。
权利要求1.一种用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备，其特征在于，所述的测试设备包括测试仪、通用转接卡和专用转接卡，所述的测试仪包括DVI双通道信号源端口、OVI双通道信号源端口和ACSM精密交流源表单元音频信号源端口，所述的DVI双通道信号源端口和OVI双通道信号源端口均通过所述的通用转接卡连接待测免提多语音通话芯片，所述的ACSM精密交流源表单元音频信号源端口通过所述的专用转接卡连接所述的待测免提多语音通话芯片。
2.根据权利要求I所述的用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备，其特征在于，所述的DVI双通道信号源端口包括8路DVI双通道电压电流源端口，所述的OVI双通道信号源端口包括8路OVI双通道电压电流源端口，所述的8路DVI双通道电压电流源端口和8路OVI双通道电压电流源端口均通过所述的通用转接卡连接待测免提多语音通话芯片。
3.根据权利要求I所述的用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备，其特征在于，所述的专用转接卡包括多个信号输入点，所述的ACSM精密交流源表单元音频信号源端口通过屏蔽线及BNC接头连接所述的各信号输入点。
4.根据权利要求3所述的用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备，其特征在于，所述的专用转接卡还包括中心探针卡，所述的各信号输入点以环形布地方式设置于所述的中心探针卡的周围。
5.根据权利要求4所述的用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备，其特征在于，所述的中心探针卡还设置有芯片压点。
6.根据权利要求5所述的用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备，其特征在于，所述的待测免提多语音通话芯片通过所述的芯片压点连接所述的专用转接卡的中心探针卡。
7.根据权利要求6所述的用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备，其特征在于，所述的待测免提多语音通话芯片包括多个电压电流待测引脚以及多个交流输出幅度、增益、失真参数测试引脚，所述的测试仪还包括交流源信号采集端口，所述的各电压电流待测引脚通过专用转接卡的引出线连接所述的通用转接卡，所述的各交流输出幅度、增益、失真参数测试引脚通过屏蔽线及BNC接头连接所述的测试仪的交流源信号采集端口。
专利摘要本实用新型涉及一种用于电话机中免提多语音通话芯片的测试设备，其包括测试仪、通用转接卡和专用转接卡，测试仪包括DVI源端口、OVI源端口和ACSM源端口，所述的DVI源端口和OVI源端口均通过通用转接卡连接待测免提多语音通话芯片，ACSM源端口通过专用转接卡连接待测免提多语音通话芯片，且专用转接卡包括多个信号输入点和中心探针卡，各信号输入点以环形布地方式设置于中心探针卡的周围，ACSM源端口通过屏蔽线及BNC接头连接各信号输入点。使得采用该结构的测试设备能够有效地进行芯片交直流信号的电位、增益、失真、输出管饱和压降的测试，且避免多路信号间的相互干扰，保持信号稳定，适用于大规模生成应用。
文档编号H04M1/24GK202475550SQ20122009978
公开日2012年10月3日 申请日期2012年3月16日 优先权日2012年3月16日
发明者杨颖 申请人:无锡华润矽科微电子有限公司