一种梯形失真校正方法以及投影装置制造方法

文档序号:7819179阅读:613来源:国知局
一种梯形失真校正方法以及投影装置制造方法
【专利摘要】本发明提供一种梯形失真校正方法以及投影装置,该方法包括:步骤1,将校正辅助样板投射至成像区域;步骤2,拍摄成像区域,获得样板影像;步骤3,对比环境影像与样板影像,确定样板影像中的特征图案的位置信息,储存样板影像中的特征图案的位置信息至存储单元;步骤4,判断存储单元中储存的特征图案的位置信息中是否存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,若判断结果为是,执行步骤5,若判断结果为否,返回步骤1;步骤5,根据四个特征图案进行梯形失真校正。本发明保证了在梯形失真校正过程中,障碍物瞬间干扰投影装置投射的光路或投影装置投射的画面不理想的问题,不会影响投影装置的梯形失真校正。
【专利说明】一种梯形失真校正方法以及投影装置

【技术领域】
[0001]本发明涉及投影装置领域,尤其涉及一种梯形失真校正技术以及能够进行梯形失真校正的投影装置。

【背景技术】
[0002]投影装置将图像投射至成像区域时,往往会因投影装置所在平面与该成像区域所在平面之间存在相对角度而导致该成像区域上的显示图像产生梯形畸变,在这种情况下,投影装置通过梯形失真(keystone)校正技术可以校正显示图像的梯形畸变。
[0003]现有技术中,为了实现显示图像的梯形失真校正,投影装置先将包含特殊图案的校正辅助样板投射至成像区域,然后对成像区域进行拍摄,再根据拍摄获得的影像确定目标成像区域,最后根据目标成像区域进行梯形失真校正。但是,现有技术在梯形失真校正执行过程中,若出现障碍物瞬间干扰投影装置投射的光路、或投影装置投射的画面不理想(例如,投射的画面有干扰物)时,会导致梯形失真校正失败。


【发明内容】

[0004]本发明的目的在于提供一种梯形失真校正方法以及投影装置,以解决上述问题。
[0005]一方面,本发明提供一种梯形失真校正方法,用于投影装置,该投影装置包括存储单元,该方法包括:
[0006]步骤1,将该存储单元中储存的至少一张校正辅助样板中的一张校正辅助样板投射至成像区域,该至少一张校正辅助样板中的每张校正辅助样板包含至少一个特征图案;
[0007]步骤2,拍摄该一张校正辅助样板投射至该成像区域的影像,获得样板影像;
[0008]步骤3,确定该样板影像中的特征图案的位置信息,储存该样板影像中的特征图案的位置信息至该存储单元;
[0009]步骤4,判断该存储单元中储存的特征图案的位置信息中是否存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,若该存储单元中储存的该特征图案的位置信息中存在能够构成该校正参考四边形的该四个特征图案,执行步骤5,若该存储单元中储存的该特征图案的位置信息中不存在能够构成该校正参考四边形的该四个特征图案,返回步骤I ;
[0010]步骤5,根据该四个特征图案进行梯形失真校正。
[0011]较佳的,在步骤I之前,还包括:步骤0,拍摄该成像区域,获得环境影像;
[0012]步骤3包括:对比该环境影像与该样板影像来确定该样板影像中的特征图案的位置信息,储存该样板影像中的特征图案的位置信息至该存储单元。
[0013]较佳的,该投影装置还包括矩形成像元件,第一类校正辅助样板中的特征图案所在的直线不与该矩形成像元件对应的矩形的任一边平行;第二类校正辅助样板中的任意两个特征图案所在的直线不与该矩形成像元件对应的该矩形的任一边平行;其中,该第一类校正辅助样板为该至少一张校正辅助样板中包含一个特征图案的校正辅助样板,且该一个特征图案为线段;第二类校正辅助样板为该至少一张校正辅助样板中包含至少两个特征图案的校正辅助样板。
[0014]较佳的,该特征图案为点、线、圆或多边形。
[0015]较佳的,第二类校正辅助样板中的特征图案的颜色相同,或者,该第二类校正辅助样板中的至少两个特征图案的颜色相异;其中,该第二类校正辅助样板为该至少一张校正辅助样板中包含至少两个特征图案的校正辅助样板。
[0016]较佳的,步骤O之后,还包括:对该环境影像进行色域转换,得到转换后的该环境影像;步骤3包括:对该样板影像进行色域转换,得到转换后的该样板影像;对比该转换后的该环境影像以及该转换后的该样板影像,确定该样板影像中的特征图案的位置信息,储存该样板影像中的特征图案的位置信息至该存储单元。
[0017]另一方面,本发明提供一种投影装置,包括:
[0018]存储单元,用于存储至少一张校正辅助样板,该至少一张校正辅助样板中的每张校正辅助样板包含至少一个特征图案;
[0019]影像投射单元,用于将该存储单元中储存的该至少一张校正辅助样板中的一张校正辅助样板投射至成像区域;
[0020]矩形成像元件,用于拍摄该一张校正辅助样板投射至该成像区域的影像,获得样板影像;
[0021]确定单元,用于确定该样板影像中的特征图案的位置信息,并储存该样板影像中的特征图案的位置信息至该存储单元;
[0022]处理单元,用于判断该存储单元中储存的特征图案的位置信息中是否存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,若该存储单元中储存的特征图案的位置信息中不存在能够构成该校正参考四边形的该四个特征图案,控制该影像投射单元重新投射一张校正辅助样板至该成像区域;
[0023]校正单元,用于若该存储单元中储存的该特征图案的位置信息中存在能够构成该校正参考四边形的该四个特征图案,根据该四个特征图案进行梯形失真校正。
[0024]较佳的,该矩形成像元件还用于拍摄该成像区域,获得环境影像;该确定单元用于对比该环境影像与该样板影像来确定该样板影像中的特征图案的位置信息。
[0025]较佳的,第一类校正辅助样板中的特征图案所在的直线不与该矩形成像元件对应的矩形的任一边平行;第二类校正辅助样板中的任意两个特征图案所在的直线不与该矩形成像元件对应的该矩形的任一边平行;其中,该第一类校正辅助样板为该至少一张校正辅助样板中包含一个特征图案的校正辅助样板,且该一个特征图案为线段;第二类校正辅助样板为该至少一张校正辅助样板中包含至少两个特征图案的校正辅助样板。
[0026]较佳的,第二类校正辅助样板中的特征图案的颜色相同,或者,该第二类校正辅助样板中的至少两个特征图案的颜色相异;其中,该第二类校正辅助样板为该至少一张校正辅助样板中包含至少两个特征图案的校正辅助样板。
[0027]较佳的,该投影装置还包括色域转换单元,该色域转换单元用于对该环境影像以及该样板影像进行色域转换,得到转换后的该环境影像以及转换后的该样板影像;该确定单元,用于对比该转换后的该环境影像以及该转换后的该样板影像,确定该样板影像中的特征图案的位置信息。
[0028]与现有技术相比,本发明提供的一种梯形失真校正方法以及投影装置,在梯形失真校正过程中会循环执行投射校正辅助样板至成像区域,拍摄校正辅助样板投射至成像区域的影像而获得样板影像,确定样板影像中的特征图案的位置信息并将样板影像中的特征图案的位置信息储存至存储单元,直至存储单元中储存的特征图案的位置信息中存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,然后根据四个特征图案进行梯形失真校正,这样,保证了在梯形失真校正过程中,障碍物瞬间干扰投影装置投射的光路或投影装置投射的画面不理想的问题,不会影响投影装置的梯形失真校正。

【专利附图】

【附图说明】
[0029]图1为本发明一实施例提供的一种梯形失真校正方法的流程示意图;
[0030]图2至图6为本发明实施例提供的校正辅助样板的示意图;
[0031]图7为本发明另一实施例提供的一种梯形失真校正方法的流程示意图;
[0032]图8为本发明实施例提供的步骤S105或S206的流程示意图;
[0033]图9为本发明实施例提供的一种投影装置的结构示意图;
[0034]图10为本发明实施例提供的另一种投影装置的结构示意图。

【具体实施方式】
[0035]为使对本发明的目的、构造、特征、及其功能有进一步的了解,兹配合实施例详细说明如下。
[0036]如图1所示,为本发明实施例提供的一种梯形失真校正方法,该方法用于投影装置,投影装置具有存储单元以及矩形成像元件,矩形成像元件可以为(XD(Charge-C0Upl edDevi ce,电荷稱合兀件)、COMS (Complementary Metal Oxide Semiconductor,互补金属氧化物半导体)等,该梯形失真校正方法包括:
[0037]S101,将存储单元中储存的至少一张校正辅助样板中的一张校正辅助样板投射至成像区域,至少一张校正辅助样板中的每张校正辅助样板包含至少一个特征图案。
[0038]S102,拍摄一张校正辅助样板投射至成像区域的影像,获得样板影像。
[0039]S103,确定样板影像中的特征图案的位置信息,储存样板影像中的特征图案的位置信息至存储单元。
[0040]S104,判断存储单元中储存的特征图案的位置信息中是否存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,若存储单元中储存的特征图案的位置信息中存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,则执行S105,若存储单元中储存的特征图案的位置信息中不存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,则返回步骤S101。即循环执行SlOl至S103直至存储单元中储存的特征图案的位置信息中存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案。
[0041]S105,根据四个特征图案进行梯形失真校正。
[0042]如图2至图6所示,为本发明实施例提供的校正辅助样板的示意图。第一类校正辅助样板为至少一张校正辅助样板中包含一个特征图案的校正辅助样板,且此一个特征图案为线段;第二类校正辅助样板为至少一张校正辅助样板中包含至少两个特征图案的校正辅助样板。进一步,第一类校正辅助样板中的特征图案所在的直线不与矩形成像元件对应的矩形的任一边平行,例如,如图2所示的校正辅助样板中,仅有一个特征图案,且此一个特征图案为一条线段,此特征图案不与矩形成像元件对应的矩形的任一边平行;第二类校正辅助样板中的任意两个特征图案所在的直线不与矩形成像元件对应的矩形的任一边平行,例如,如图3、图4、图5、图6所示,任意两个特征图案所在的直线不与矩形成像元件对应的矩形的任一边平行。较佳的,特征图案可以为点、线、圆或多边形等,例如,图2中特征图案为线、图3与图4中特征图案为点、图5中特征图案为圆、图6中特征图案为校正参考四边形。第二类校正辅助样板中的特征图案的颜色可以相同,较佳的,第二类校正辅助样板中的至少两个特征图案的颜色相异,示例1,图5所示的两个特征图案的颜色可以分别为蓝色以及红色,示例2,第二类校正辅助样板中包括三个特征图案,此三个特征图案中的两个特征图案的颜色与另一个特征图案的颜色相异。如此,利用多色样板可以减小矩形成像元件在极端环境亮度或在非均匀光线下拍摄时获得的影像之间的差异。
[0043]其中,矩形成像元件可以为单色光矩形成像元件,单色光矩形成像元件仅使对应的单色光所在波段的光通过,即单色光矩形成像元件对对应的单色光敏感,单色光矩形成像元件拍摄的样板影像为对应的单色光,例如,单色光矩形成像元件对蓝光敏感,则单色光矩形成像元件对蓝光的感应最强,透过单色光矩形成像元件的镜头的光束中蓝光最多,样板影像为蓝色。
[0044]当然,矩形成像元件也可以为多色光矩形成像元件,多色光矩形成像元件使对应的多色光所在波段的光通过,即多色光矩形成像元件对对应的多色光敏感,多色光矩形成像元件拍摄的样板影像为对应的多色光,多色光矩形成像元件对红黄蓝三色光敏感,则多色光矩形成像元件对红黄蓝三色光的感应最强,透过多色光矩形成像元件的镜头的光束中红黄蓝三色光最多,样板影像由红黄蓝三色光组成。
[0045]若矩形成像元件为多色光矩形成像元件,S103包括:对样板影像进行色域转换,得到转换后的样板影像,根据转换后的样板影像,确定样板影像中的特征图案的位置信息,储存样板影像中的特征图案的位置信息至存储单元。
[0046]如图7所示,为本发明另一实施例提供的一种梯形失真校正方法,该方法用于投影装置,该梯形失真校正方法包括:
[0047]S201,拍摄成像区域,获得环境影像。
[0048]具体的,可以在检测到投影装置开机启动、检测到投影装置移动或接收到梯形失真校正的指令后,开始执行步骤S201。成像区域可以为幕布、屏幕、墙壁等。
[0049]S202,将存储单元中储存的至少一张校正辅助样板中的一张校正辅助样板投射至成像区域,至少一张校正辅助样板中的每张校正辅助样板包含至少一个特征图案。
[0050]S203,拍摄一张校正辅助样板投射至成像区域的影像,获得样板影像。
[0051]S204,对比环境影像与样板影像来确定样板影像中的特征图案的位置信息,储存样板影像中的特征图案的位置信息至存储单元。通过对比环境影像与样板影像,能够快速确定样板影像中的特征图案的位置信息。
[0052]S205,判断存储单元中储存的特征图案的位置信息中是否存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,若存储单元中储存的特征图案的位置信息中存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,则执行步骤S206,若存储单元中储存的特征图案的位置信息中不存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,则返回步骤S202。即在S201之后,循环执行S202至S204直至存储单元中储存的特征图案的位置信息中存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案。
[0053]S206,根据四个特征图案进行梯形失真校正。
[0054]示例性的,拍摄成像区域,获得环境影像M ;将存储单元中储存的至少一张校正辅助样板中的校正辅助样板Al投射至成像区域;拍摄校正辅助样板Al投射至成像区域的影像,获得样板影像BI ;对比环境影像M与样板影像BI,确定样板影像BI中的特征图案的位置信息,储存样板影像BI中的特征图案的位置信息至存储单元;判断存储单元中储存的特征图案的位置信息中是否存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,即判断样板影像BI中的特征图案的位置信息中是否存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,此时,存储单元中储存的特征图案的位置信息包括样板影像BI中的特征图案的位置信息;若存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,根据四个特征图案进行梯形失真校正,若不存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,将存储单元中储存的至少一张校正辅助样板中的校正辅助样板A2投射至成像区域;拍摄校正辅助样板A2投射至成像区域的影像,获得样板影像B2 ;对比环境影像M与样板影像B2,确定样板影像B2中的特征图案的位置信息,储存样板影像B2中的特征图案的位置信息至存储单元;判断存储单元中储存的特征图案的位置信息中是否存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,此时,存储单元中储存的特征图案的位置信息包括样板影像BI中的特征图案的位置信息以及样板影像B2中的特征图案的位置信息;若存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,根据四个特征图案进行梯形失真校正,若不存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,将存储单元中储存的至少一张校正辅助样板中的校正辅助样板A3投射至成像区域;拍摄校正辅助样板A3投射至成像区域的影像,获得样板影像B3 ;对比环境影像M与样板影像B3,确定样板影像B3中的特征图案的位置信息,储存样板影像B3中的特征图案的位置信息至存储单元;判断存储单元中储存的特征图案的位置信息中是否存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,此时,存储单元中储存的特征图案的位置信息包括样板影像BI中的特征图案的位置信息、样板影像B2中的特征图案的位置信息以及样板影像B3中的特征图案的位置信息;若存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,根据四个特征图案进行梯形失真校正,若不存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,将存储单元中储存的至少一张校正辅助样板中的校正辅助样板A4投射至成像区域……以此规律循环执行。
[0055]当矩形成像元件为单色光矩形成像元件时,矩形成像元件拍摄的环境影像为对应的单色光,不需要进行色域转换,可直接对比环境影像与样板影像来确定样板影像中的特征图案的位置信息。
[0056]若矩形成像元件为多色光矩形成像元件,矩形成像元件拍摄的环境影像为对应的多色光,S201之后,包括:对环境影像进行色域转换,得到转换后的环境影像;S204包括:对样板影像进行色域转换,得到转换后的样板影像,对比转换后的环境影像以及转换后的样板影像,确定样板影像中的特征图案的位置信息,储存样板影像中的特征图案的位置信息至存储单元。
[0057]如图8所示,为本发明实施例提供的上述步骤S105或步骤S206的流程示意图,S105或S206可以包括:
[0058]S001,根据四个特征图案的位置信息,确定成像区域所在平面。
[0059]S002,确定成像区域所在平面与投影装置所在平面之间的相对角度。
[0060]S003,根据成像区域所在平面与投影装置所在平面之间的相对角度,确定第一消失点以及第二消失点进而得到成像区域所在平面上所有平行线的消失点所在的直线,其中第一消失点为成像区域所在平面上与投影装置所在平面平行的直线的消失点,第二消失点为成像区域所在平面上与投影装置所在平面垂直的直线的消失点。
[0061]S004,根据四个特征图案的位置信息构成的校正参考四边形,确定第一校正点以及第二校正点,第一校正点以及第二校正点为校正参考四边形的两组相对的边分别延长得到的两个交点。
[0062]S005,根据消失点所在的直线、第一校正点以及第二校正点,进行梯形失真校正。
[0063]本发明提供的梯形失真校正方法,在梯形失真校正过程中会循环执行投射校正辅助样板至成像区域,拍摄校正辅助样板投射至成像区域的影像而获得样板影像,对比环境影像与样板影像来确定样板影像中的特征图案的位置信息并将样板影像中的特征图案的位置信息储存至存储单元,直至存储单元中储存的特征图案的位置信息中存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,然后根据四个特征图案进行梯形失真校正,这样,保证了在梯形失真校正过程中,障碍物瞬间干扰投影装置投射的光路或投影装置投射的画面不理想的问题,不会影响投影装置的梯形失真校正。
[0064]如图9所示,为本发明实施例提供的一种投影装置的结构示意图,投影装置I包括存储单元11、影像投射单元12、矩形成像元件13、确定单元14、处理单元15以及校正单元16。
[0065]存储单元11用于存储至少一张校正辅助样板,至少一张校正辅助样板中的每张校正辅助样板包含至少一个特征图案。
[0066]影像投射单元12用于将存储单元中储存的至少一张校正辅助样板中的一张校正辅助样板投射至成像区域。矩形成像元件13用于拍摄一张校正辅助样板投射至成像区域的影像,获得样板影像。确定单元14用于确定样板影像中的特征图案的位置信息,并储存样板影像中的特征图案的位置信息至存储单元11。处理单元15用于判断存储单元11中储存的特征图案的位置信息中是否存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,若存储单元11中储存的特征图案的位置信息中存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,将四个特征图案的位置信息送至校正单元16,校正单元16根据四个特征图案进行梯形失真校正;若存储单元11中储存的特征图案的位置信息中不存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,控制影像投射单元12重新投射一张校正辅助样板至成像区域。
[0067]较佳的,矩形成像元件13还用于拍摄成像区域,获得环境影像,则确定单元14用于对比环境影像与样板影像来确定样板影像中的特征图案的位置信息。
[0068]如图2至图6所示,为本发明实施例提供的校正辅助样板的示意图。第一类校正辅助样板为至少一张校正辅助样板中包含一个特征图案的校正辅助样板,且该一个特征图案为线段;第二类校正辅助样板为至少一张校正辅助样板中包含至少两个特征图案的校正辅助样板。进一步,第一类校正辅助样板中的特征图案所在的直线不与矩形成像元件对应的矩形的任一边平行,例如,如图2所示的校正辅助样板中,仅有一个特征图案,此一个特征图案为一条线段,此特征图案不与矩形成像元件对应的矩形的任一边平行;第二类校正辅助样板中的任意两个特征图案所在的直线不与矩形成像元件对应的矩形的任一边平行,例如,如图3、图4、图5、图6所示,任意两个特征图案所在的直线不与矩形成像元件对应的矩形的任一边平行。较佳的,特征图案可以为点、线、圆或多边形等,例如,图2中特征图案为线、图3与图4中特征图案为点、图5中特征图案为圆、图6中特征图案为校正参考四边形。第二类校正辅助样板中的特征图案的颜色可以相同,较佳的,第二类校正辅助样板中的至少两个特征图案的颜色相异,例如,图5所示的两个特征图案的颜色可以分别为蓝色以及红色。如此,利用多色样板可以减小矩形成像元件在极端环境亮度或在非均匀光线下拍摄时获得的影像之间的差异。
[0069]如图10所示,为本发明实施例提供的另一种投影装置的结构示意图,投影装置I还包括色域转换单元17。较佳的,当矩形成像元件13为多色光矩形成像元件时,投影装置I还包括色域转换单元17,色域转换单元17用于对环境影像以及样板影像进行色域转换,得到转换后的环境影像以及转换后的样板影像。则确定单元14用于对比该转换后的环境影像以及转换后的该样板影像,确定样板影像中的特征图案的位置信息。
[0070]本发明提供的投影装置,在梯形失真校正过程中会循环执行投射校正辅助样板至成像区域,拍摄校正辅助样板投射至成像区域的影像而获得样板影像,确定样板影像中的特征图案的位置信息并将样板影像中的特征图案的位置信息储存至存储单元,直至存储单元中储存的特征图案的位置信息中存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,然后根据四个特征图案进行梯形失真校正,这样,保证了在梯形失真校正过程中,障碍物瞬间干扰投影装置投射的光路或投影装置投射的画面不理想的问题,不会影响投影装置的梯形失真校正。
[0071]本发明已由上述相关实施例加以描述,然而上述实施例仅为实施本发明的范例。必需指出的是,已揭露的实施例并未限制本发明的范围。相反地,在不脱离本发明的精神和范围内所作的更动与润饰,均属本发明的专利保护范围。
【权利要求】
1.一种梯形失真校正方法,用于投影装置,该投影装置包括存储单元,其特征在于,该方法包括: 步骤1,将该存储单元中储存的至少一张校正辅助样板中的一张校正辅助样板投射至成像区域,该至少一张校正辅助样板中的每张校正辅助样板包含至少一个特征图案; 步骤2,拍摄该一张校正辅助样板投射至该成像区域的影像,获得样板影像; 步骤3,确定该样板影像中的特征图案的位置信息,储存该样板影像中的特征图案的位置信息至该存储单元; 步骤4,判断该存储单元中储存的特征图案的位置信息中是否存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,若该存储单元中储存的该特征图案的位置信息中存在能够构成该校正参考四边形的该四个特征图案,执行步骤5,若该存储单元中储存的该特征图案的位置信息中不存在能够构成该校正参考四边形的该四个特征图案,返回步骤I ; 步骤5,根据该四个特征图案进行梯形失真校正。
2.如权利要求1所述的梯形失真校正方法,其特征在于,在步骤I之前,还包括: 步骤O,拍摄该成像区域,获得环境影像; 步骤3包括: 对比该环境影像与该样板影像来确定该样板影像中的特征图案的位置信息,储存该样板影像中的特征图案的位置信息至该存储单元。
3.如权利要求1所述的梯形失真校正方法,其特征在于,该投影装置还包括矩形成像元件,第一类校正辅助样板中的特征图案所在的直线不与该矩形成像元件对应的矩形的任一边平行;第二类校正辅助样板中的任意两个特征图案所在的直线不与该矩形成像元件对应的该矩形的任一边平行;其中,该第一类校正辅助样板为该至少一张校正辅助样板中包含一个特征图案的校正辅助样板,且该一个特征图案为线段;第二类校正辅助样板为该至少一张校正辅助样板中包含至少两个特征图案的校正辅助样板。
4.如权利要求1所述的梯形失真校正方法,其特征在于,该特征图案为点、线、圆或多边形。
5.如权利要求1所述的梯形失真校正方法,其特征在于,第二类校正辅助样板中的特征图案的颜色相同,或者,该第二类校正辅助样板中的至少两个特征图案的颜色相异;其中,该第二类校正辅助样板为该至少一张校正辅助样板中包含至少两个特征图案的校正辅助样板。
6.如权利要求2所述的梯形失真校正方法,其特征在于,步骤O之后,还包括:对该环境影像进行色域转换,得到转换后的该环境影像;步骤3包括:对该样板影像进行色域转换,得到转换后的该样板影像;对比该转换后的该环境影像以及该转换后的该样板影像,确定该样板影像中的特征图案的位置信息,储存该样板影像中的特征图案的位置信息至该存储单元。
7.一种投影装置,其特征在于,包括: 存储单元,用于存储至少一张校正辅助样板,该至少一张校正辅助样板中的每张校正辅助样板包含至少一个特征图案; 影像投射单元,用于将该存储单元中储存的该至少一张校正辅助样板中的一张校正辅助样板投射至成像区域; 矩形成像元件,用于拍摄该一张校正辅助样板投射至该成像区域的影像,获得样板影像; 确定单元,用于确定该样板影像中的特征图案的位置信息,并储存该样板影像中的特征图案的位置信息至该存储单元; 处理单元,用于判断该存储单元中储存的特征图案的位置信息中是否存在能够构成校正参考四边形的四个特征图案,若该存储单元中储存的特征图案的位置信息中不存在能够构成该校正参考四边形的该四个特征图案,控制该影像投射单元重新投射一张校正辅助样板至该成像区域; 校正单元,用于若该存储单元中储存的该特征图案的位置信息中存在能够构成该校正参考四边形的该四个特征图案,根据该四个特征图案进行梯形失真校正。
8.如权利要求7所述的投影装置,其特征在于,该矩形成像元件还用于拍摄该成像区域,获得环境影像;该确定单元用于对比该环境影像与该样板影像来确定该样板影像中的特征图案的位置信息。
9.如权利要求7所述的投影装置,其特征在于,第一类校正辅助样板中的特征图案所在的直线不与该矩形成像元件对应的矩形的任一边平行;第二类校正辅助样板中的任意两个特征图案所在的直线不与该矩形成像元件对应的该矩形的任一边平行;其中,该第一类校正辅助样板为该至少一张校正辅助样板中包含一个特征图案的校正辅助样板,且该一个特征图案为线段;第二类校正辅助样板为该至少一张校正辅助样板中包含至少两个特征图案的校正辅助样板。
10.如权利要求7所述的投影装置,其特征在于,第二类校正辅助样板中的特征图案的颜色相同,或者,该第二类校正辅助样板中的至少两个特征图案的颜色相异;其中,该第二类校正辅助样板为该至少一张校正辅助样板中包含至少两个特征图案的校正辅助样板。
11.如权利要求8所述的投影装置,其特征在于,该投影装置还包括色域转换单元,该色域转换单元用于对该环境影像以及该样板影像进行色域转换,得到转换后的该环境影像以及转换后的该样板影像;该确定单元,用于对比该转换后的该环境影像以及该转换后的该样板影像,确定该样板影像中的特征图案的位置信息。
【文档编号】H04N5/74GK104410804SQ201410628855
【公开日】2015年3月11日 申请日期:2014年11月10日 优先权日:2014年11月10日
【发明者】林静慧, 游书铭, 林颖芳, 陈文章, 李正文, 胡俊生 申请人:苏州佳世达光电有限公司, 佳世达科技股份有限公司
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