辐射杂散超标的问题来源定位方法与流程

本发明属于辐射杂散测试技术领域，尤其涉及一种辐射杂散超标的问题来源定位方法。

背景技术：

传统的用户设备(例如，手机)一般都需要进行辐射杂散测试。在对用户设备进行辐射杂散测试的过程中，可能会遇到辐射杂散超标的情况。

目前，现有的技术方案都只是辐射杂散的测试方案，这些方案只能对辐射杂散进行测试，但是无法确定辐射杂散超标的问题来源。

故，有必要提出一种技术方案，以解决上述技术问题。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种辐射杂散超标的问题来源定位方法，其能确定所述用户设备的辐射杂散超标的问题来源。

为了解决以上技术问题，本发明的技术方案如下：

一种辐射杂散超标的问题来源定位方法，所述方法包括以下步骤：A、断开第一用户设备的第一主体器件与所述第一用户设备的第一天线的连接；B、建立所述第一主体器件与第二用户设备的第二天线的连接；C、对由所述第一主体器件和所述第二天线构成的组合进行辐射杂散测试，并生成测试结果；D、根据所述测试结果定位辐射杂散的来源。

在上述辐射杂散超标的问题来源定位方法中，所述第一天线与所述第二天线的参数相同。

在上述辐射杂散超标的问题来源定位方法中，所述第一用户设备与所述第二用户设备为参数相同的用户设备。

在上述辐射杂散超标的问题来源定位方法中，在所述步骤B之前，所述方法还包括以下步骤：E、断开第二用户设备的第二主体器件与所述第二天线的连接。

在上述辐射杂散超标的问题来源定位方法中，所述第一主体器件包括所述第一用户设备的第一电源和第一主板，所述第一电源与所述第一主板连接；所述第二主体器件包括所述第二用户设备的第二电源和第二主板，所述第二电源与所述第二主板连接。

在上述辐射杂散超标的问题来源定位方法中，所述步骤A为：断开所述第一主板与所述第一天线的连接。

在上述辐射杂散超标的问题来源定位方法中，所述步骤E为：断开所述第二主板与所述第二天线的连接。

在上述辐射杂散超标的问题来源定位方法中，所述步骤B为：建立所述第一主板与所述第二天线的连接。

在上述辐射杂散超标的问题来源定位方法中，所述步骤C为：利用辐射杂散测试仪器对由所述第一主体器件和所述第二天线构成的组合进行辐射杂散测试，并生成所述测试结果。

在上述辐射杂散超标的问题来源定位方法中，在所述步骤C之前，所述方法还包括以下步骤：F、将所述辐射杂散测试仪器与所述第一主体器件连接。

相对于现有技术，本发明能确定所述用户设备的辐射杂散超标的问题来源。

附图说明

图1是本发明的辐射杂散超标的问题来源定位方法中第一用户设备的第一主体器件与第二用户设备的第二天线连接的示意图；

图2是本发明的辐射杂散超标的问题来源定位方法的流程图。

具体实施方式

请参照图式，其中相同的组件符号代表相同的组件。以下的说明是基于所例示的本发明具体实施例，其不应被视为限制本发明未在此详述的其它具体实施例。

本发明的辐射杂散超标的问题来源定位方法基于用户设备(第一用户设备101)已经存在辐射杂散超标的这一事实的基础上。为了定位(确定)辐射杂散超标的问题来源，本发明的辐射杂散超标的问题来源定位方法将用户设备(第一用户设备101)的主体器件(第一主体器件)与其它参数相同的用户设备(第二用户设备102)的天线(第二天线1023)连接并进行测试，以确定所述用户设备的辐射杂散超标的问题来源(辐射杂散超标问题出现的原因)。

参考图1和图2，图1是本发明的辐射杂散超标的问题来源定位方法中第一用户设备101的第一主体器件与第二用户设备102的第二天线1023连接的示意图，图2是本发明的辐射杂散超标的问题来源定位方法的流程图。

本发明的辐射杂散超标的问题来源定位方法包括以下步骤：

A、断开第一用户设备101的第一主体器件与所述第一用户设备101的第一天线1013的连接。

B、建立所述第一主体器件与第二用户设备102的第二天线1023的连接。具体地，通过所述第一用户设备101的第一连接线1014和/或所述第二用户设备102的第二连接线1024建立所述第一主体器件与所述第二天线1023的连接。

C、对由所述第一主体器件和所述第二天线1023构成的组合进行辐射杂散测试，并生成测试结果。

D、根据所述测试结果定位辐射杂散超标的问题来源。

在本发明的辐射杂散超标的问题来源定位方法中，所述第一天线1013与所述第二天线1023的参数相同。具体地，所述第一天线1013与所述第二天线1023的参数相同是指所述第一天线1013与所述第二天线1023的材料、结构、形状、功能、功率等方面相同。优选地，所述第一天线1013与所述第二天线1023为同一厂商生产的同一批次的同一规格的天线。

在本发明的辐射杂散超标的问题来源定位方法中，所述第一用户设备101与所述第二用户设备102为参数相同的用户设备。具体地，所述第一用户设备101与所述第二用户设备102的参数相同是指所述第一用户设备101与所述第二用户设备102的材料、结构、形状、功能、功率等方面相同。优选地，所述第一用户设备101与所述第二用户设备102为同一厂商生产的同一批次的同一规格的用户设备。

在本发明的辐射杂散超标的问题来源定位方法中，在所述步骤B之前，所述方法还包括以下步骤：

E、断开第二用户设备102的第二主体器件与所述第二天线1023的连接。

在本发明的辐射杂散超标的问题来源定位方法中，所述第一主体器件包括所述第一用户设备101的第一电源1012和第一主板1011，所述第一电源1012与所述第一主板1011连接。

所述第二主体器件包括所述第二用户设备102的第二电源1022和第二主板1021，所述第二电源1022与所述第二主板1021连接。

在本发明的辐射杂散超标的问题来源定位方法中，所述步骤A为：

断开所述第一主板1011与所述第一天线1013的连接。

在本发明的辐射杂散超标的问题来源定位方法中，所述步骤E为：

断开所述第二主板1021与所述第二天线1023的连接。

在本发明的辐射杂散超标的问题来源定位方法中，所述步骤B为：

建立所述第一主板1011与所述第二天线1023的连接。

在本发明的辐射杂散超标的问题来源定位方法中，所述步骤C为：

利用辐射杂散测试仪器对由所述第一主体器件和所述第二天线1023构成的组合进行辐射杂散测试，并生成所述测试结果。

在本发明的辐射杂散超标的问题来源定位方法中，在所述步骤C之前，所述方法还包括以下步骤：

F、将所述辐射杂散测试仪器与所述第一主体器件连接。

实施例

手机辐射杂散超标原因(问题来源)一般包括以下三点：

第一点、手机天线没调试好，跟主板失配严重引入杂散问题。

第二点、手机本身传导杂散就比较差。

第三点、手机主板或天线区域存在非线性器件，从而干扰到天线引起辐射杂散问题。

本发明的技术方案：

针对待进行辐射杂散超标测试的手机A(第一用户设备101)，取参数相同手机B(第二用户设备102)，目的是保证天线的一致性，因为天线参数不相同会影响测试结果，断开手机B的电源供电，此时手机B仅仅作为天线使用，且手机B的天线与手机A的天线相同，而断开手机B的电源供电可是的手机B的主板或小板仅作为一个结构件存在，并没有工作起来，因此可以排除手机B的主板或小板上器件因带电而对测试结果是影响。在不破坏手机A整机完整性的基础上，将手机B的天线接到手机A上(如图1所示)，即此时手机A用了手机B的天线与测试仪表进行通信。

测试手机A此时的辐射杂散：

在测试结果为辐射杂散仍超标的情况下，手机A辐射杂散超标的可能原因为上述第一点或上述第二点,此时再进一步进行常规传导杂散测试，若传导杂散符合预定标准，则辐射杂散超标的原因可定位为上述第一点，若传导本来不符合预定标准，则辐射杂散超标的原因可定位为上述第二点。

在测试结果为辐射杂散未超标的情况下，则辐射杂散超标的原因可定位为上述第三点。

通过上述技术方案，本发明能确定所述用户设备的辐射杂散超标的问题来源。

综上所述，虽然本发明实施例揭露如上，但上述实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。