485通讯总线测试切换装置的制作方法

文档序号:16703390发布日期:2019-01-22 21:54阅读:479来源:国知局
485通讯总线测试切换装置的制作方法

本发明涉及一种测试装置,具体为485通讯总线测试切换装置。



背景技术:

通讯线A、B为485总线,485通讯总线连接方式基本以手拉手方式为主,需要诊断485总线上的设备通讯情况时,必须先要将485总线从设备上拆除,导致其他设备不能正常通讯。如图1,目前市面上带有485通讯功能的仪器仪表及其他设施都是按照图1的方法来设计。MCU处理器为仪器仪表及其他设施用于处理485通讯的主控单元,通过接线端子A、接线端子B,直接与485总线A、 B相连,达到通讯的目的。通讯诊断时,必须将485总线A、B从接线端子上拆除,让485总线A、B与MCU之间的通路断开,同时将诊断通讯线接到接线端子上,让诊断通讯线和MCU之间形成通路,达到诊断的目的。

如图2,检测第一个带有485通讯功能装置通讯通断时拆下端子A、端子B 上的通讯总线,导致总线上其它装置通讯停止,而且接拆通讯线较为繁琐,工作量较大。一般通讯端子靠近高压附近,带电操作不安全,装拆需断开总电源,影响现场其他设备的正常工作。目前市场上还未有更好的解决方案能够快速485 诊断。



技术实现要素:

针对上述技术问题,本发明提供一种485通讯总线测试切换装置,提高检测效率。

具体的技术方案为:

485通讯总线测试切换装置,包括一对触头、PCB板和壳体,所述的触头包括静触头和动触头;所述的静触头的上端有折弯的静触点,形成倒置的L形,所述的静触头下端固定PCB板上;静触头的静触点下方有动触头;所述的动触头包括上端的动触点,动触点下方分别连接导向杆和接线柱;所述的PCB板上分别有两个穿孔,一个穿孔用于穿导向杆,另外一个穿孔用于穿接线柱;所述的接线柱位于PCB板上方的部分缠绕有弹簧,在弹簧的弹力下动触点与静触点接触,接线柱位于PCB板的下方部分设置有卡扣,以防接线柱从PCB板上脱落;所述的一对触头、PCB板安装在壳体内;所述的壳体上有测试孔,所述的测试孔位置与动触头对应;测试设备的测试针插入到测试孔后,将动触头下压与静触头分离开;

两个所述的静触头分别与接线端子A、接线端子B连接,接线端子A、接线端子B分别连接在485通讯总线的A、B线上;

两个所述的动触头的接线柱分别与MCU连接。

本发明提供的485通讯总线测试切换装置,提高485通讯总线诊断的工作效率,不必要断开485总线而影响其他设置正常工作;整个485通讯总线诊断过程安全可靠,操作人员不需要装拆通讯线以及由此带来的操作危险,并且能迅速找到故障位置,而不影响总线上的其余仪器仪表及其他设施的正常工作。

附图说明

图1是现有技术485通讯总线与MCU的接线方式;

图2是现有技术测试485通讯总线的方法;

图3是本发明 的结构示意图;

图4是本发明 的485通讯总线测试切换装置与与MCU的接线方式;

图5是本发明 的测试时状态示意图。

具体实施方式

结合附图说明本发明的具体实施方式。

如图3所示,485通讯总线测试切换装置,包括一对触头、PCB板5和壳体 1,所述的触头包括静触头3和动触头;所述的静触头3的上端有折弯的静触点 9,形成倒置的L形,所述的静触头3下端固定PCB板5上;静触头3的静触点 9下方为动触头;所述的动触头包括上端的动触点8,动触点8下方分别连接导向杆6和接线柱4;所述的PCB板5上分别有两个穿孔,一个穿孔用于穿导向杆6,另外一个穿孔用于穿接线柱4;所述的接线柱4位于PCB板5上方的部分缠绕有弹簧7,在弹簧7的弹力下动触点8与静触点9接触,接线柱4位于PCB 板5的下方部分设置有卡扣,以防接线柱4从PCB板5上脱落;所述的一对触头、PCB板5安装在壳体1内;所述的壳体1上有测试孔2,所述的测试孔2位置与动触头对应;测试设备的测试针10插入到测试孔2后,将动触点8下压与静触头3分离开;

两个所述的静触头3分别与接线端子A、接线端子B连接,接线端子A、接线端子B分别连接在485通讯总线的A、B线上;

两个所述的动触头的接线柱4分别与MCU连接。

如图4所示,在接线端子A、接线端子B和CPU处理器之间连接该测试切换装置,当测试针10从测试孔2插入,装置切断MCU与485通讯总线A、B 的连接,同时接通与诊断通讯线与MCU之间的连接,达到诊断的目的。

正常状态下,该装置的静触头3连接到接线端子A、接线端子B,动触头连接到MCU。当电动机保护器接到485通讯总线A、B上时,485通讯总线接线端子A、接线端子B依次通过静触头3、动触头与MCU连接,形成通路。

如图5所示,诊断状态下,测试针10从测试孔2插入,压力使弹簧7收缩,导致动触头与静触头3分离。因为动触头和静触头3分离,所以485通讯总线的接线端子A、接线端子B与MCU通路断开。测试针10直接接触到动触头,从而使测试装置的诊断通讯线连接到MCU,形成通路。

这样就在不需要将485通讯总线A、B从接线端子上拆除就能安全、快速地诊断带有485通讯功能装置的通讯情况。

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