一种射频电路的接收通路插损计算方法、装置及射频电路与流程

本发明涉及终端应用技术领域，特别涉及一种射频电路的接收通路插损计算方法、装置、射频电路及终端。

背景技术：

随着现代社会科技的快速发展，人们对手机、平板电脑和笔记本电脑等终端的需求越来越大，使得终端的应用技术具有非常好的市场前景，并且发展势头良好。终端在进行无线通信过程中，往往采用电磁波作为信号的传输载体，因此，射频电路在终端的无线通信中居于十分重要的位置，射频性能的好坏直接关系到信号的收、发能力和终端与基站通信能力的高低。

现有技术中，终端中的射频电路的集成性越来越来高，对于射频电路的射频发射指标测试的也越来越全面，通过对射频发射指标的把控，基本上已经可以了解射频电路的发射通路是否存在问题。但是对于射频电路的接收通路来说，测试的指标相对比较少，基本上就只有灵敏度和吞吐量的测试，所以有时射频工程师并不能准确的确定接收通路的问题点。

当射频电路的接收通路出现问题时，射频工程师往往最先想到的就是判断接收通路的插损是否满足设计要求。由于现有技术中射频电路的接收通路的电路如图1所示，使得射频工程师若想测试射频电路的接收通路插损，需要在射频收发器(WTR)处断开通路将前端通路外接到网络分析仪上进行测试才能得到通路插损值，造成测试的过程时间长，且过程较为繁琐；并且由于接收通路中的频段比较多，如果要测试接收通路中每个频段的插损的话，耗时过长，可行性不高。因此由于现有技术中接收通路插损的测量方法太过繁琐，难以快速便捷的获取接收通路插损，无形中增加了接收通路问题点确定的难度，使得射频工程师发现接收通路问题点的时间和工作量过多，造成射频调试的效率不高。

技术实现要素：

本发明的目的是提供一种射频电路的接收通路插损计算方法、装置、射频电路及终端，以快速便捷的计算出射频电路的接收通路插损，提升射频调试的效率。

为解决上述技术问题，本发明提供一种射频电路的接收通路插损计算方法，包括：

接收第一耦合器反馈的接收通路功率P1和预定频段中第二耦合器反馈的接收信号功率P2；

将所述P1分别与每个所述P2相减，得到所述第一耦合器和预定频段中所述第二耦合器之间的插损值；

输出所述插损值。

可选的，接收第一耦合器反馈的接收通路功率P1和预定频段中第二耦合器反馈的接收信号功率P2，包括：

实时接收并存储所述P1和所述P2；或

按预设时间间隔接收并存储所述P1和所述P2；或

接收到查询指令后，接收所述P1和所述P2。

可选的，将所述P1分别与每个所述P2相减，得到所述第一耦合器和预定频段中所述第二耦合器之间的插损值，包括：

根据接收的插损查询指令，将对应的P1分别与对应频段的P2相减，得到所述第一耦合器和对应频段中的第二耦合器之间的插损值。

可选的，根据接收的插损查询指令，将对应的P1分别与对应频段的P2相减，得到所述第一耦合器和对应频段中的第二耦合器之间的插损值，包括：

根据接收的插损查询指令，将所述插损查询指令对应时间点的P1分别与预定频段的P2相减，得到所述时间点的所述第一耦合器和预定频段中的第二耦合器之间的插损值。

此外，本发明提供了一种射频电路的接收通路插损计算装置，包括：

接收模块，用于接收第一耦合器反馈的接收通路功率P1和预定频段中第二耦合器反馈的接收信号功率P2；

计算模块，用于将所述P1分别与每个所述P2相减，得到所述第一耦合器和预定频段中所述第二耦合器之间的插损值；

输出模块，用于输出所述插损值。

可选的，所述接收模块，包括：

实时接收单元，用于实时接收并存储所述P1和所述P2；或

间隔接收单元，用于按预设时间间隔接收并存储所述P1和所述P2；或

等待接收单元，用于接收到查询指令后，接收所述P1和所述P2。

可选的，所述计算模块，包括：

判断计算单元，用于根据接收的插损查询指令，将对应的P1分别与对应频段的P2相减，得到所述第一耦合器和对应频段中的第二耦合器之间的插损值。

可选的，所述判断计算单元，包括：

判断计算子单元，用于根据接收的插损查询指令，将所述插损查询指令对应时间点的P1分别与预定频段的P2相减，得到所述时间点的所述第一耦合器和预定频段中的第二耦合器之间的插损值。

本发明还提供了一种射频电路，包括接收通路，所述接收通路包括：天线、第一耦合器、射频开关、滤波器、第二耦合器、射频收发器前端的匹配位和所述射频收发器；

其中，所述第一耦合器，用于向所述射频收发器反馈接收通路功率；所述第一耦合器的输入端与天线接口相连，所述第一耦合器的输出端与所述射频开关的输入端相连，所述第一耦合器的反馈端与所述射频收发器对应的功率检测端口相连；

所述第二耦合器，用于向所述射频收发器反馈预定频段的接收信号功率；每个所述第二耦合器设置于各自对应的预设频段中，每个所述第二耦合器的输入端与各自对应预设频段中的所述滤波器的输出端相连，每个所述第二耦合器的输出端与各自对应预设频段中的所述匹配位的输入端相连，每个所述第二耦合器的反馈端与所述射频收发器对应的功率检测端口相连。

本发明还提供了一种终端，包括：

如上一项所述射频电路；

处理器，用于接收所述射频电路中第一耦合器反馈的接收通路功率P1和预定频段中第二耦合器反馈的接收信号功率P2；将所述P1分别与每个所述P2相减，得到所述第一耦合器和预定频段中所述第二耦合器之间的插损值；输出所述插损值。

本发明所提供的一种射频电路的接收通路插损计算方法，包括接收第一耦合器反馈的接收通路功率P1和预定频段中第二耦合器反馈的接收信号功率P2；将所述P1分别与每个所述P2相减，得到所述第一耦合器和预定频段中所述第二耦合器之间的插损值；输出所述插损值；

可见，本发明通过接收通路功率P1和接收信号功率P2，可以便捷快速的获取计算接收通路中预设频段的插损值所需的P1和P2；通过将P1与每个P2分别相减，可以得到每个P2对应的预设频段的插损值，再将插损值输出，使得射频工程师可以快速便捷的测试射频电路的接收通路插损，降低了确定接收通路问题点的难度，提高了射频调试的效率。此外，本发明还提供了一种射频电路的接收通路插损计算装置、射频电路及终端，同样具有上述有益效果。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为现有技术中射频电路的接收通路的电路图；

图2为本发明实施例所提供的一种射频电路的接收通路插损计算方法的流程图；

图3为本发明实施例所提供的另一种射频电路的接收通路插损计算方法的流程图；

图4为本发明实施例所提供的一种射频电路的接收通路插损计算装置的流程图；

图5为本发明实施例所提供的一种射频电路的接收通路的电路图；

图6为本发明实施例所提供的一种终端的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参考图2，图2为本发明实施例所提供的一种射频电路的接收通路插损计算方法的流程图。该方法可以包括：

步骤101：接收第一耦合器反馈的接收通路功率P1和预定频段中第二耦合器反馈的接收信号功率P2。

其中，接收通路功率P1可以为处理器从射频收发器接收的射频电路的接收通路中第一耦合器反馈的功率，该功率为未经过接收通路的每个频段的初始信号功率。接收信号功率P2可以为处理器从射频收发器接收的接收通路的预设频段中第二耦合器反馈的功率，该功率为依次经过射频开关、预设频段中射频开关后端的匹配位和滤波器的预设频段的最终信号功率。

对于预设频段的设置，可以为设计人员或射频工程师根据使用需求和实用场景设置的存在第二耦合器的射频电路的接收通路中的频段，预设频段可以为接收通路中的全部频段，也可以为其中一个或几个频段，本实施例对此不受任何限制。

需要说明的是，接收通路功率P1和接收信号功率P2，可以为处理器实时或按预设时间间隔接收P1和P2，并将P1和P2存储到存储器，如处理器实时或按每分钟接收一次的间隔接收P1和P2，并将全部时间点的P1和P2存储到存储端，射频工程师可以根据需求选择某个时间点的P1和P2进行接下来的插损值计算；也可以为处理器接收到查询指令后，再接收一次或多次P1和P2，如射频工程师在接收通路出现问题后，向处理器发送查询指令，处理器再接收此时P1和P2，进行接下来的插损值计算。本实施例对此不受任何限制。

可以理解的是，获取接收通路功率P1和接收信号功率P2，可以为处理器直接从射频收发器接收P1和P2；也可以为处理器从存储器接收射频收发器发送到存储器存储的P1和P2，如射频收发器实时或按预设时间间隔将P1和P2发送到存储器进行存储，处理器可以在接收到查询指令后，根据查询指令的信息选择某个时间点和此时间点下的一个或多个P2与P1进行计算，获取此时间点下P2对应的预设频段的插损值。只要处理器可以获取P1和P2，本实施例对于获取的方式不做任何限制。

步骤102：将所述P1分别与每个所述P2相减，得到所述第一耦合器和预定频段中所述第二耦合器之间的插损值。

其中，将P1分别与每个P2相减可以为处理器将此时刻接收到的P1与每个预设频段对应的P2分别相减，获取此时刻接收通路中每个预设频段的插损值。

可以理解的是，将P1分别与每个P2相减可以为处理器根据接收的插损查询指令，将对应的P1分别与对应频段的P2相减。如处理器实时或按预设时间间隔接收并存储P1和P2后，可以根据射频工程师输入的插损查询指令，选择某个时间点的P1和此时间点下的一个或多个P2分别进行相减，获取此时间点下P2对应的预设频段的插损值；又如处理器接收到查询指令后，接收一次P1和P2，若此时接收的P2为多个，可以根据射频工程师输入的插损查询指令，选择多个P2中的一个或几个分别进行相减，获取此时选择的P2对应的预设频段的插损值。本实施对此不受任何限制。

需要说明的是，将P1分别与每个P2相减可以为处理器根据接收的插损查询指令，将对应的P1分别与对应频段的P2相减，也可以为处理器直接将接收到的P1和P2相减，如处理器接收到查询指令后，接收一次由P1和P2，直接将P1和P2相减，获取接收通路中全部预设频段的插损值；或者处理器接收到查询指令后，从存储器接收查询指令对应的时间点的P1和对应的P2，直接将P1和P2相减，获取查询指令对应的预设频段在此时间点的插损值。本实施例对此不做任何限制。

步骤103：输出所述插损值。

其中，输出插损值可以为处理器只输出预设频段插损的数值，也可以为处理器输出预设频段的信息及每个预设频段的插损值，还可以为处理器输出插损值及插损值对应的P1和P2。本实施例对此不受任何限制。

本实施例中，本发明实施例通过接收通路功率P1和接收信号功率P2，可以便捷快速的获取计算接收通路中预设频段的插损值所需的P1和P2；通过将P1与每个P2分别相减，可以得到每个P2对应的预设频段的插损值，再将插损值输出，使得射频工程师可以快速便捷的测试射频电路的接收通路插损，降低了确定接收通路问题点的难度，提高了射频调试的效率。

请参考图3，图3为本发明实施例所提供的另一种射频电路的接收通路插损计算方法的流程图。该方法可以包括：

步骤201：接收到查询指令后，接收一次射频收发器发送的第一耦合器反馈的接收通路功率P1和预定频段中第二耦合器反馈的接收信号功率P2。

其中，接收一次射频收发器发送的接收通路功率P1和接收信号功率P2，可以为处理器在接收到查询指令后，接收此时射频收发器发送一个P1和与预设频段对应的一个或多个P2。

可以理解是，本实施提供的方法应用的处理器可以对应一个用于测量接收通路插损的终端的应用程序。如射频工程师在开启此应用程序后可以通过点击插损测试按键向处理器发送查询指令，处理器在再接收此查询指令后可以接收此时射频收发器发送P1和P2，并通过此应用程序显示给射频工程师。

步骤202：根据接收的插损查询指令，将P1分别与对应频段的P2相减，得到所述第一耦合器和对应频段中的第二耦合器之间的插损值。

其中，插损查询指令可以包含射频工程师在接收到的多个P2中选择的一个或几个P2的信息，也就是预设频段为多个时，射频工程师可以根据实际情况从多个预设频段中选择一个或几个频段进行插损计算。

也就是说，射频工程师可以通过上述应用程序，从显示的多个预设频段对应的P2中选择一个或几个P2作为插损查询指令，将P1与选择的P2分别进行相减，获取选择的P2对应的预设频段的插损值。

步骤203：输出所述插损值。

其中，输出插损值可以为处理器只输出插损查询指令对应频段插损的数值，也可以为处理器输出对应频段的信息及每个对应频段的插损值，还可以为处理器输出对应频段的插损值及此插损值对应的P1和P2。本实施例对此不受任何限制。

需要说明的是，如上述应用程序，处理器在计算出射频工程师选择的P2对应的预设频段的插损值之后，也就是处理器计算出射频工程师从预设频段中选择出的频段的插损值之后，可以直接将选择出的频段的插损值输出，也可以将选择出的频段信息和对应的插损值输出，如输出射频工程师选择的频段B1和B1对应的插损值；还可以将选择的频段的P1、P2和插损值均输出。具体的输出方式可以根据射频工程师的需求设定，本实施对此不做任何限制。

本实施例中，本发明实施例通过查询指令和插损查询指令的加入，可以使射频工程师更加方便快速的选择测试接收通路插损的时间和接收通路中需要测试插损的频段，进一步提高了射频调试的效率。

请参考图4，图4为本发明实施例所提供的一种射频电路的接收通路插损计算装置的流程图。该装置可以包括：

接收模块100，用于接收第一耦合器反馈的接收通路功率P1和预定频段中第二耦合器反馈的接收信号功率P2；

计算模块200，用于将所述P1分别与每个所述P2相减，得到所述第一耦合器和预定频段中所述第二耦合器之间的插损值；

输出模块300，用于输出所述插损值。

可选的，所述接收模块100，包括：

实时接收单元，用于实时接收并存储所述P1和所述P2；或

间隔接收单元，用于按预设时间间隔接收并存储所述P1和所述P2；或

等待接收单元，用于接收到查询指令后，接收所述P1和所述P2。

可选的，所述计算模块200，包括：

判断计算单元，用于根据接收的插损查询指令，将对应的P1分别与对应频段的P2相减，得到所述第一耦合器和对应频段中的第二耦合器之间的插损值。

可选的，所述判断计算单元，包括：

判断计算子单元，用于根据接收的插损查询指令，将所述插损查询指令对应时间点的P1分别与预定频段的P2相减，得到所述时间点的所述第一耦合器和预定频段中的第二耦合器之间的插损值。

本实施例中，本发明实施例通过接收模块100接收通路功率P1和接收信号功率P2，可以便捷快速的获取计算接收通路中预设频段的插损值所需的P1和P2；通过计算模块200将P1与每个P2分别相减，可以得到每个P2对应的预设频段的插损值，再通过输出模块300将插损值输出，使得射频工程师可以快速便捷的测试射频电路的接收通路插损，降低了确定接收通路问题点的难度，提高了射频调试的效率。

请参考图5，图5为本发明实施例所提供的一种射频电路的接收通路的电路图。该射频电路，包括接收通路，所述接收通路可以包括：天线、第一耦合器、射频开关、滤波器、第二耦合器、射频收发器前端的匹配位和所述射频收发器；

其中，所述第一耦合器，用于向所述射频收发器反馈接收通路功率；所述第一耦合器的输入端与天线接口相连，所述第一耦合器的输出端与所述射频开关的输入端相连，所述第一耦合器的反馈端与所述射频收发器对应的功率检测端口相连；所述第二耦合器，用于向所述射频收发器反馈预定频段的接收信号功率；每个所述第二耦合器设置于各自对应的预设频段中，每个所述第二耦合器的输入端与各自对应预设频段中的所述滤波器的输出端相连，每个所述第二耦合器的输出端与各自对应预设频段中的所述匹配位的输入端相连，每个所述第二耦合器的反馈端与所述射频收发器对应的功率检测端口相连。

具体的，与天线、射频开关和射频收发器分别相连的第一耦合器，可以将从天线接收到的接收通路功率中的一小部分反馈到射频收发器，大部分传送到射频开关；预设频段中与滤波器、射频收发器前端的匹配位和射频收发器分别相连的第二耦合器，将从滤波器接收到的由大部分接收通路功率依次经过射频开关、射频开关后端的匹配位和滤波器的接收信号功率的一小部分反馈到射频收发器。反馈到的射频收发器的接收通路功率和接收信号功率的差值可以为射频单路的接收通路的各预设频段的差值。

可以理解的是，第一耦合器和第二耦合器与射频收发器的功率检测端口的连接方式，可以为如图5所示的第一耦合器和第二耦合器各自连接一个射频收发器的功率检测端口，也可以为第一耦合器和第二耦合器共同连接一个射频收发器的功率检测端口。只要可以将接收通路功率和接收信号功率反馈到射频收发器，对于第一耦合器和第二耦合器与射频收发器的功率检测端口的具体连接方式，本实施例不做任何限制。

需要说明的是，预设频段可以为一个或多个设置了第二耦合器的接收通路中的频段，也可以将接收通路中全部频段均设置为预设频段，也就是在接收通路中的每个频段内均设置一个第二耦合器，本实施例对此不做任何限制。

通过图5与图1可以看出，图5中的射频电路将图1中的耦合器换为第一耦合器，对应的与射频收发器连接的端口也由高功率检测(HDET)端口变为了功率检测(PDET)端口，具体实施中，可以如图5所示设置第一耦合器，也可以不改变图1中的耦合器，在天线后端和射频开关前端的位置增加一个第一耦合器，具体连接关系可以根据实际情况设置，本实施例对此不做任何限制。

本实施例中，本发明实施例通过第一耦合器和第二耦合器，可以向射频收发器反馈计算接收通路中预设频段的插损值所需的接收通路功率和接收信号功率，使得射频工程师测试射频电路的接收通路插损时，不需要再使用其他仪表测量就可以直接通过接收通路功率和接收信号功率计算出接收通路的插损，减少了射频工程师发现接收通路中问题点的时间和工作量，提高了射频调试的效率。

请参考图6，图6为本发明实施例所提供的一种终端的结构示意图。该终端可以包括：

如上一实施例所述射频电路10；

处理器20，用于接收所述射频电路10中第一耦合器反馈的接收通路功率P1和预定频段中第二耦合器反馈的接收信号功率P2；将所述P1分别与每个所述P2相减，得到所述第一耦合器和预定频段中所述第二耦合器之间的插损值；输出所述插损值。

其中，所述终端具体为手机和平板电脑等具有无线通讯功能的设备。

可选的，处理器20还可以用于接收到查询指令后，接收一次第一耦合器反馈的接收通路功率P1和预定频段中第二耦合器反馈的接收信号功率P2；根据接收的插损查询指令，将P1分别与对应频段的P2相减，得到所述第一耦合器和对应频段中的第二耦合器之间的插损值；输出所述插损值。

本实施例中，本发明实施例通过处理器20接收射频电路10中射频收发器发送接收通路功率P1和接收信号功率P2，并将P1与每个P2分别相减，可以得到每个P2对应的预设频段的插损值，再将插损值输出，使得射频工程师可以快速便捷的测试射频电路的接收通路插损，降低了确定接收通路问题点的难度，提高了射频调试的效率。

说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。对于实施例公开的装置、射频电路和终端而言，由于其与实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

专业人员还可以进一步意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现，为了清楚地说明硬件和软件的可互换性，在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本发明的范围。

结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器(RAM)、内存、只读存储器(ROM)、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。

以上对本发明所提供的射频电路的接收通路插损计算方法、装置、射频电路及终端进行了详细介绍。本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以对本发明进行若干改进和修饰，这些改进和修饰也落入本发明权利要求的保护范围内。