信号源及误码测试仪的制作方法

技术特征：

1.一种信号源，其特征在于，包括微控制器和至少两个时钟数据恢复芯片，所述至少两个时钟数据恢复芯片级联，每个时钟数据恢复芯片产生的测试信号的传输速率不同，且每个时钟数据恢复芯片的输出端口阻抗相同；所述微控制器用于设置所述至少两个时钟数据恢复芯片中的一个时钟数据恢复芯片产生测试信号，其他的时钟数据恢复芯片处于旁路模式。

2.根据权利要求1所述的信号源，其特征在于，还包括选择开关，用于选择输出其中一个时钟数据恢复芯片产生测试信号的同时产生的一触发信号。

3.根据权利要求2所述的信号源，其特征在于，所述触发信号的频率为所述测试信号的N＝1,2，3，4,…。

4.根据权利要求3所述的信号源，其特征在于，所述选择开关为多通道选择开关，每个时钟数据恢复芯片的时钟输出端连接所述多通道选择开关的一个时钟输入端，所述微控制器连接所述选择开关，用来选择时钟数据恢复芯片产生的触发信号的输出控制。

5.根据权利要求3所述的信号源，其特征在于，所述选择开关为射频开关。

6.根据权利要求3所述的信号源，其特征在于，所述时钟数据恢复芯片至少为3个，其中一个时钟数据恢复芯片产生的测试信号的速率为0.15552～2.488Gbit/s，其中一个时钟数据恢复芯片产生的测试信号的速率为9.953～11.3Gbit/s，其中一个时钟数据恢复芯片产生的测试信号的速率为24.33～28.16Gbit/s。

7.根据权利要求6所述的信号源，其特征在于，用于产生0.15552～2.488Gbit/s、9.953～11.3Gbit/s、24.33～28.16Gbit/s信号的时钟数据恢复芯片分别为两个及以上。

8.一种误码测试仪，其特征在于，包括微控制器和至少两个时钟数据恢复芯片，所述至少两个时钟数据恢复芯片级联，每个时钟数据恢复芯片产生的测试信号的传输速率不同，且每个时钟数据恢复芯片的输出端口阻抗相同；所述微控制器用于，设置所述至少两个时钟数据恢复芯片中的一个时钟数据恢复芯片产生所述测试信号输出至待测件，其他的时钟数据恢复芯片处于旁路模式；经所述待测件后输出的信号返回至产生测试信号的时钟数据恢复芯片，所述产生测试信号的时钟数据恢复芯片比较输入待测件的测试信号和待测件输出的信号，得到误码数量或误码率。

9.根据权利要求8所述的误码测试仪，其特征在于，所述微控制器还用于将比较得到的误码数量或误码率上报给上位机。

10.根据权利要求8所述的误码测试仪，其特征在于，还包括选择开关，用于选择输出其中一个时钟数据恢复芯片产生测试信号的同时产生的一触发信号。

11.根据权利要求10所述的误码测试仪，其特征在于，所述触发信号的频率为所述测试信号的N＝1,2，3，4,…。

12.根据权利要求8所述的误码测试仪，其特征在于，所述时钟数据恢复芯片至少为3个，其中一个时钟数据恢复芯片产生的测试信号的速率为0.15552～2.488Git/s，其中一个时钟数据恢复芯片产生的测试信号的速率为9.953～11.3Git/s，其中一个时钟数据恢复芯片产生的测试信号的速率为24.33～28.16Git/s。

13.根据权利要求12所述的误码测试仪，其特征在于，用于产生0.15552～2.488Gbit/s、9.953～11.3Gbit/s、24.33～28.16Gbit/s信号的时钟数据恢复芯片分别为两个及以上。