一种光纤OTDR盲区消除器及其盲区消除方法与流程

本发明属于光纤通信技术领域，具体涉及一种光纤otdr盲区消除器及其盲区消除方法。

背景技术：

对光纤通信行业的技术工人和光纤安装工人来讲，光时域反射仪(otdr,opticaltimedomainreflectometer)是一种常见的光纤测试工具，为了最大程度地发挥otdr的性能，有必要对影响otdr性能的各种因素有一定程度地了解，在众多影响因素中，盲区是重要的影响因素之一，otdr在检测光纤链路时，由于反射的影响，在一定距离内不能检测或准确定位光纤链路中的事件点和故障点。这里的距离就是我们所说的盲区。otdr会产生盲区是因为otdr的检测器受高强度的菲涅尔反射光影响而暂时“失明”。当高强度的反射产生时，光电二极管接收到的功率比后向散射功率要高出4000倍不止，这样，otdr内部的检测器接收到的反射光信号就达到了饱和，检测器需要一定的时间才能从饱和状态恢复到不饱和状态，重新读取光信号。在检测器恢复期间，otdr就不能准确检测到后向散射光信号，进而形成盲区，产生盲区的主要原因是反射事件，其中otdr前面板活动连接器产生的反射对otdr测量的影响最大。为了更好地对光纤始端进行测量，通常用接入引导光纤的方法来消除盲区，因此，发明一种光纤otdr盲区消除器及其盲区消除方法来解决上述问题很有必要。

技术实现要素：

本发明的目的在于提供一种光纤otdr盲区消除器及其盲区消除方法，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种光纤otdr盲区消除器，包括圆形外壳a和圆形外壳b，所述圆形外壳a和圆形外壳b之间相互卡接，且圆形外壳a和圆形外壳b之间通过固定螺栓连接固定，所述圆形外壳a和圆形外壳b的下方设置有储藏空间盒，所述储藏空间盒的下方盖有盒盖，所述圆形外壳a和圆形外壳b的内部设置有光纤圆盘卡槽，所述光纤圆盘卡槽内卡接有光纤圆盘，所述光纤圆盘上缠绕有光纤，所述光纤的两端通过光纤接头连接有引出光纤a和引出光纤b，所述引出光纤a和引出光纤b一端均设置有卡槽，所述卡槽的一侧设置有限位盘，所述卡槽卡接在圆形外壳a和圆形外壳b连接处的侧面，所述引出光纤a和引出光纤b的另一端均连接有光纤连接头，所述引出光纤b的光纤连接头通过活动连接器与被测光纤之间连接。

优选的，所述圆形外壳a和圆形外壳b连接处设置有限位槽，所述引出光纤a和引出光纤b的卡槽卡在限位槽内，且引出光纤a和引出光纤b的限位盘设置在圆形外壳a和圆形外壳b的内部，限位盘的直径大于限位槽的直径。

优选的，所述光纤接头置于储藏空间盒内。

一种光纤otdr盲区消除器的盲区消除方法如下：

s1：取两个光纤接头置于储藏空间盒内，将引出光纤a和引出光纤b的一端分别通过光纤接头与光纤圆盘上的光纤收尾相互连接；

s2：将引出光纤a的另一端通过光纤连接头与otdr测试器之间连接；

s3：将引出光纤b的另一端光纤连接头通过活动连接器或直接通过熔接的方式与被测光纤之间连接即可。

使用圆盘上的光纤后，可以将前面板活动连接器产生的盲区控制在引导光纤内，这样就可以测出被测光纤产生盲区的最前端，通常采用熔接的方法来实现，还要求引导光纤的长度必须大于otdr前面板的衰减盲区。

本发明的技术效果和优点：该发明，利用otdr测试器对光纤进行测试，采用引导光纤对，光纤测试时产生的盲区进行消除，大大提高测试的精确度，同时，减少技术人员测试的时间，用户可以利用它快速、准确地测量链路中的插入损耗，大致了解被检测的光纤链路的情况。

附图说明

图1为本发明的爆炸结构示意图；

图2为本发明的正视结构示意图；

图3为本发明的立体结构示意图；

图4为本发明的引出光纤b与被测光纤活动连接器连接结构示意图；

图5为本发明的引出光纤b与被测光纤熔接连接结构示意图。

图中：1、圆形外壳a；2、圆形外壳b；3、固定螺栓；4、光纤圆盘卡槽；5、光纤圆盘；6、光纤；7、光纤接头；8、引出光纤a；9、引出光纤b；10、卡槽；11、限位盘；12、光纤连接头；13、储藏空间盒；14、盒盖；15、活动连接器；16、限位槽；17、被测光纤。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

实施例1

请参阅附图1、2、3和5，一种光纤otdr盲区消除器，包括圆形外壳a1和圆形外壳b2，所述圆形外壳a1和圆形外壳b2之间相互卡接，且圆形外壳a1和圆形外壳b2之间通过固定螺栓3连接固定，设置的圆形外壳a1和圆形外壳b2将光纤圆盘5固定在圆形外壳a1和圆形外壳b2内，所述圆形外壳a1和圆形外壳b2的下方设置有储藏空间盒13，所述储藏空间盒13的下方盖有盒盖14，所述圆形外壳a1和圆形外壳b2的内部设置有光纤圆盘卡槽4，所述光纤圆盘卡槽4内卡接有光纤圆盘5，所述光纤圆盘5上缠绕有光纤6，设置的光纤6为引导光纤，且光纤6的长度大于被测光纤17盲区的长度，设置的光纤6可以将被测光纤17的盲区段覆盖，所述光纤6的两端通过光纤接头7连接有引出光纤a8和引出光纤b9，所述引出光纤a8和引出光纤b9一端均设置有卡槽10，所述卡槽10的一侧设置有限位盘11，所述卡槽10卡接在圆形外壳a1和圆形外壳b2连接处的侧面，所述引出光纤a8和引出光纤b9的另一端均连接有光纤连接头12，所述引出光纤b9的光纤连接头12通过活动连接器15与被测光纤17之间连接，设置的光纤连接头12用于将连接光纤6与引出光纤a8和引出光纤b9之间连接。

具体的，所述圆形外壳a1和圆形外壳b2连接处设置有限位槽16，所述引出光纤a8和引出光纤b9的卡槽10卡在限位槽16内，且引出光纤a8和引出光纤b9的限位盘11设置在圆形外壳a1和圆形外壳b2的内部，限位盘11的直径大于限位槽16的直径，设置的卡槽10，方便卡接在限位槽16内。

具体的，所述光纤接头7置于储藏空间盒13内。

一种光纤otdr盲区消除器的盲区消除方法，步骤如下：

s1：取两个光纤接头置于储藏空间盒内，将引出光纤a和引出光纤b的一端分别通过光纤接头与光纤圆盘上的光纤收尾相互连接；

s2：将引出光纤a的另一端通过光纤连接头与otdr测试器之间连接；

s3：将引出光纤b的另一端光纤连接头直接通过熔接的方式与被测光纤之间连接即可。

使用圆盘上的光纤后，可以将前面板活动连接器产生的盲区控制在引导光纤内，这样就可以测出被测光纤产生盲区的最前端，采用熔接的方法来实现，还要求引导光纤的长度必须大于otdr前面板的衰减盲区。

实施例2

请参阅附图1、2、3和4，一种光纤otdr盲区消除器，包括圆形外壳a1和圆形外壳b2，所述圆形外壳a1和圆形外壳b2之间相互卡接，且圆形外壳a1和圆形外壳b2之间通过固定螺栓3连接固定，设置的圆形外壳a1和圆形外壳b2将光纤圆盘5固定在圆形外壳a1和圆形外壳b2内，所述圆形外壳a1和圆形外壳b2的下方设置有储藏空间盒13，所述储藏空间盒13的下方盖有盒盖14，所述圆形外壳a1和圆形外壳b2的内部设置有光纤圆盘卡槽4，所述光纤圆盘卡槽4内卡接有光纤圆盘5，所述光纤圆盘5上缠绕有光纤6，设置的光纤6为引导光纤，且光纤6的长度大于被测光纤17盲区的长度，设置的光纤6可以将被测光纤17的盲区段覆盖，所述光纤6的两端通过光纤接头7连接有引出光纤a8和引出光纤b9，所述引出光纤a8和引出光纤b9一端均设置有卡槽10，所述卡槽10的一侧设置有限位盘11，所述卡槽10卡接在圆形外壳a1和圆形外壳b2连接处的侧面，所述引出光纤a8和引出光纤b9的另一端均连接有光纤连接头12，所述引出光纤b9的光纤连接头12通过活动连接器15与被测光纤17之间连接，设置的光纤连接头12用于将连接光纤6与引出光纤a8和引出光纤b9之间连接。

具体的，所述圆形外壳a1和圆形外壳b2连接处设置有限位槽16，所述引出光纤a8和引出光纤b9的卡槽10卡在限位槽16内，且引出光纤a8和引出光纤b9的限位盘11设置在圆形外壳a1和圆形外壳b2的内部，限位盘11的直径大于限位槽16的直径，设置的卡槽10，方便卡接在限位槽16内。

具体的，所述光纤接头7置于储藏空间盒13内。

一种光纤otdr盲区消除器的盲区消除方法，步骤如下：

s1：取两个光纤接头置于储藏空间盒内，将引出光纤a和引出光纤b的一端分别通过光纤接头与光纤圆盘上的光纤收尾相互连接；

s2：将引出光纤a的另一端通过光纤连接头与otdr测试器之间连接；

s3：将引出光纤b的另一端光纤连接头通过活动连接器与被测光纤之间连接即可。

使用圆盘上的光纤后，可以将前面板活动连接器产生的盲区控制在引导光纤内，这样就可以测出被测光纤产生盲区的最前端，将引导光纤与被测光纤通过活动连接器15进行活动连接，还要求引导光纤的长度必须大于otdr前面板的衰减盲区，利用otdr测试器对光纤进行测试，采用引导光纤对，光纤测试时产生的盲区进行消除，大大提高测试的精确度，同时，减少技术人员测试的时间，用户可以利用它快速、准确地测量链路中的插入损耗，大致了解被检测的光纤链路的情况。

最后应说明的是：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。