相位补偿结构和驻波检测电路的制作方法

本申请实施例涉及射频电路领域，具体涉及一种相位补偿结构和驻波检测电路。

背景技术：

多路射频电路可以产生多路射频信号，检测电路可以采集该多路射频信号并对该各路射频信号进行检测，以检测所述多路射频信号的回损是否正常。检测电路包括前级电路以及检测模块，前级电路将采集到的各路射频信号发送至检测模块进行检测。为了实现检测，发送给检测模块的各路射频信号需要保持相位一致。

为了保证各路射频信号的相位一致，前级电路中的各支路需要等分布线、等器件分布，以保证各支路之间的相位差足够小。但是由于各器件和线路不可避免地存在一定误差，最终装配后的各支路仍会存在一定的相位差。部分高要求的应用场景中，需要保证各支路相位差在10度甚至5度以内，现有生产工艺难以达到要求。

因此，需要一种装置来调节检测电路的前级电路中各支路间的相位差。

技术实现要素：

本申请实施例提供了一种可调的相位补偿结构，用于对多路射频电路的多路射频电路，可以产生多路射频信号

本申请第一方面提供了一种可调的相位补偿结构，包括：基板、第一引脚、第二引脚、连接臂和金属弧片；

所述第一引脚、所述第二引脚、所述连接臂和所述金属弧片是良性导体；

所述金属弧片固定安装在所述基板上；所述第一引脚贯穿所述基板，且所述第一引脚与所述连接臂的第一端导通；所述第二引脚贯穿所述基板并连接所述金属弧片的一端；

所述连接臂的第二端设有滑动触头，所述滑动触头搭接在所述金属弧片上；

所述连接臂设置有转动结构，所述转动结构带动所述连接臂转动，使得所述连接臂转动时，所述滑动触头在所述金属弧片上滑动。

可选的，所述连接臂围绕所述金属弧片的圆心转动。

可选的，所述可调的相位补偿结构还包括：固定安装在所述基板上的转轴；

所述转动结构具体为连接帽，所述连接帽套接在所述转轴上，所述连接帽上设有供工具插入的凹槽。

可选的，所述转动结构具体为转轴，所述转轴上设有供工具插入的凹槽，所述基板上设有环形安装槽，所述转轴安装在所述环形安装槽内，所述转轴可以在所述环形安装槽内转动。

可选的，所述凹槽呈十字状。

可选的，所述凹槽还可以呈一字状。

可选的，还包括第三引脚，所述第三引脚贯穿所述基板，所述第三引脚用于与电路板的焊盘焊接。

可选的，所述第三引脚与所述第一引脚对称排布在所述基板上。

可选的，所述相位补偿结构采用smd封装。

本申请第二方面还提供了一种驻波检测电路，包括：多条耦合支路、切换开关以及检测模块；

所述耦合支路包括耦合器，所述耦合器用于采集射频信号；

所述多条耦合支路通过所述切换开关连接所述检测模块；

所述切换开关用于在不同的耦合支路之间切换，以使不同的耦合支路与所述检测支路接通；

所述检测支路用于检测与所述检测模块连通的所述耦合支路采集的射频信号的回损；

每个所述耦合支路中串联有前述第一方面中任意一种可调的相位补偿结构。

从以上技术方案可以看出，本申请实施例具有以下优点：本发明提供的相位补偿结构可以安装在多路射频电路的支路中，通过改变相位补偿结构可调金属弧片接入电路的长度来改变该支路的线长来调整支路之间的相位差，以便将各支路的相位值调整到统一值。

附图说明

图1为本申请实施例可调的相位补偿结构的一个结构示意图；

图2a为本申请实施例可调的相位补偿结构的封装后的一个结构示意图；

图2b为本申请实施例可调的相位补偿结构的封装后的一个结构示意图；

图2c为本申请实施例可调的相位补偿结构的封装后的一个结构示意图；

图3为本申请实施例驻波检测电路的一个结构示意图。

具体实施方式

本申请实施例提供了一种可调的相位补偿结构，用于调节电路中不同支路信号的相位差。

请参阅图1，本申请提供的可调相位补偿结构的一个实施例中，包括基板10、第一引脚20、第二引脚30、连接臂40和金属弧片50；其中基板10通常由树脂材料制成，第一引脚20和第二引脚30分别嵌入在基板10中，且贯穿基板10的顶层和底层。

第一引脚20、第二引脚30、连接臂40和金属弧片50都选用导电性能较好的金属制成，以使得射频信号可以从第一引脚20传输到第二引脚30上，其中第一引脚20和第二引脚30分别接在电路板上，一个作为射频信号的输入端，另一个作射频为信号的输出端，串联在需要调节相位差的支路中。

连接臂40与第一引脚20之间设有导线或铜层，使得连接臂40与第一引脚20导通。连接臂40连接第一引脚20的第一端设有转动结构401，转动结构401固定安装在基板10上，使得连接臂40能够围绕该转动结构401进行转动。转动结构401上设有凹槽供工具插入，使用工具插入后可以转动工具，带动转动结构401转动，从而使连接臂40围绕旋转第一端进行转动。

金属弧片50固定安装在基板10的顶层，连接臂40的第二端设有滑动触头402，连接臂40通过滑动触头402搭接在金属弧片50上，使得连第一引脚20经连接臂40，与金属弧片50导通，连接臂40围绕第一端转动时，连接臂40第二端的滑动触头402可以在金属弧片50上滑动，保持连接臂40与金属弧片50的导通。金属弧片50的圆弧的一端与第二引脚30直接或间接连接，使得金属弧片50与第二引脚30导通。可以看出当连接臂40的旋转不影响信号从第一引脚20到连接臂40的滑动触头的线长，随着连接臂40的滑动触头40在金属弧片50上的滑动，金属弧片50的导通长度发生变化。第二引脚30连接金属弧片50的末端，可以充分利用金属弧片50的导通长度。当金属弧片50的导通长度发生变化时，经过金属弧片50的信号时延会变大，由于射频电路的波长很短，以毫米为单位计量，因此通过驱动连接臂40第一端的转动结构401带动连接臂40整体进行转动，滑动触头401与金属弧片50的接触位置发生变化，使得金属弧片50的导通长度也随之变化。

当金属弧片50的导通长度变小时，经过本结构的射频信号时延变小，信号相位提前；当金属弧片50的导通长度变大时，经过本结构的射频信号时延变大，信号相位滞后。且在调整所通过的射频信号的过程中，仅改变了线长，元件的阻抗和分布电容基本没有变化。将该元件串联在需要调节相位的射频电路支路中，就可以准确、方便地调节经过该支路的射频信号相位。

在一些具体实施例中，连接臂40的第一端准确设置在金属弧片50的弧心上，使得连接臂转动时围绕金属弧片50的弧心转动。

在一些具体实施例中，基板10上固定设置有一转轴；转动结构401具体形态为连接帽，连接臂40通过转动结构401套接在该转轴上，转动结构401上设有供工具插入的凹槽，当对应的工具插入凹槽时，转动工具，可以驱使转动结构401转动，从而带动连接臂40围绕该转轴转动。

在一些具体实施例中，连接臂40的转动结构401具体为转轴，转轴上设有供工具插入的凹槽，在基板10上设有与转轴匹配的环形安装槽，将转轴安装在所述环形安装槽内，转轴可以在所述环形安装槽内转动，并带动连接臂40以转轴为圆心转动。

在一些具体实施例中，连接臂40的转动结构401上的凹槽呈十字状，以匹配常用的十字螺丝刀。将十字螺丝刀的刀头插入凹槽，并转动十字螺丝刀，就可以驱动连接臂转动，调整金属弧片50的导通长度，改变经过本结构的射频信号相位。

在一些具体实施例中，连接臂40的转动结构401上的凹槽还可以呈一字状，以匹配常用的一字螺丝刀。将一字螺丝刀的刀头插入凹槽，并转动一字螺丝刀，就可以驱动连接臂转动，调整金属弧片50的导通长度，改变经过本结构的射频信号相位。

在一些具体实施例中，基板上还嵌入有第三引脚60，第三引脚60同样贯穿基板顶层与底层。但是第三引脚60并不与其他引脚导通，仅用于与电路板的焊盘焊接，使得本申请实施例所示的可调相位补偿结构能够通过三个引脚形成三角形的稳定结构，更好地焊接在电路板上，因此也可以使用一些其他形状类似的结构代替第三引脚60。

在一些具体实施例中，第三引脚60与第二引脚30对称排布在基板10上，使得元件焊接在电路板上时更加牢固，并且能够与现有的三极管脚采用类似的布局，降低生产成本。

在一些具体实施例中，该相位补偿结构采用smd封装，直接贴合焊接在电路板上。这样可以避免通过插脚焊接时，由于插脚的长度不同，导致本申请实施例所示的在相位补偿结构焊接在电路板上后的线长不同，影响相位调节效果。

本申请提供的可调的相位补偿结构进行封装后的外观可以参见图2a至图2c，其中图2a是封装完成后的元器件的俯视图，基板10宽3mm，长3.75mm，转动结构的十字凹槽宽度是0.5mm。图2b中是封装完成后的元器件的侧视图，封装后的厚度为1.3mm。图2c是封装完成后的元器件的仰视图，第1引脚20的长度为1.5mm，第二引脚30和第三60的宽度为0.8mm,长度为0.95mm，第二引脚20和第三引脚60的间距为0.8mm，长度为0.95mm，第二引脚和第三引脚的大边缘距离为2.7mm。可以理解的是，图2a至图2c给出的仅仅是本申请实施例的所示的相位补偿结构的一种封装示例，使得本申请的相位补偿结构的封装能与常见三引脚元件的封装契合，节约生产成本。本申请的相位补偿结构也可以通过其他尺寸和样式进行封装，只要内部结构符合图1所示实施例的内部结构即可。

本申请中的相位补偿结构可以安装在驻波检测电路的两个支路中，在每个支路中串联此相位补偿结构，来调整各支路间的相位差。在一个具体的实施例中，驻波检测电路安装在天线接口板(aib,antennainterfaceboard)上来检测ant天线扣得信号回损。请参阅图3，虚线框内为该驻波检测电路，包括检测模块702和前级电路701。其中检测模块702可以对多个同相位的射频信号进行检测，判断信号是否正常发送；前级电路701用于采集发送的射频信号，并在采集到的不同天线发送的信号之间切换发送到检测模块702。

该实施例的前级电路701具有两条等分布线、等器件分布的耦合支路，每条耦合支路上都设有耦合器，通过耦合器与虚线框外的两条天线的主杆产生耦合，采集主杆上的射频信号。通过每个耦合支路都连接到切换开关的输入端，切换开关的输出端连接到检测模块702，通过切换开关的控制，切换与检测模块702连通的射频信号。

两条支路由于装配工艺的限制，虽然耦合器采集到的射频信号是同相位的，但是最终两条耦合支路送入切换开关的射频信号可能存在相位差。在每条耦合支路上的相同位置串联一个图1所示的可调的相位补偿结构vr1和vr2，来为每条支路增加相位调节功能，以便调节两条耦合支路的相位差。需要说明的是，如果在其中一条耦合支路中添加了本申请的相位补偿结构，那么另一条支路的相同位置也应当添加本申请的相位补偿结构，以保证两条耦合支路对称。如果仅在其中一条支路上串联本申请的相位补偿结构，只改变其中一条支路的相位的线长，会导致添加有相位补偿结构的耦合支路与另一条耦合支路的信号相位差增大。

可以理解的是，上述检测电路的实施例仅用于帮助本领域技术人员理解本发明，在实际的应用中，检测电路的前级电路701可以设有更多的耦合电路来通过耦合采集多路射频信号，每条耦合支路都串联本申请的相位补偿结构，使得每条耦合支路都具有相位补偿能力，大大方便了工作人员的调试工作，降低了对与生产的硬件设备的精度要求。

以上所述仅为本申请的实施方式示例，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。