例:一种基于统计数据和特征曲线的频率偏移校准方法，包括以下步骤：
[0047] 步骤一，收集待测物的cap ID值和频偏值的分布数据(仅限频偏完成时的数据）， 如图6所示，组成一个cap ID值-频偏值对应表;表中记录同一个cap ID值对应的不同待测 物的频偏值，绘制出偏频特征曲线；
[0048] 意图6中的数据为例，频偏值标准范围为_5ppm~+5ppm)，统计后cap ID值在12~ 13之间的增益值个数对应表如下：
[0050] 其中个数最多的cap ID值为61，所以基础cap ID值(cap_id_base)为61。
[0051 ]步骤二，分析出频偏值在标准范围内使用频率最多的cap ID值作为基础capID值 (cap_id_base);
[0052] 步骤三，将基础capID值作为当前使用的cap ID值(cap_id_using)发射信号得到 的频偏值F，参照偏频的特征曲线，如果频偏值F在标准范围内则频偏校准完成，如果不在标 准范围内则在特征曲线中找出与频偏值F最接近的频偏值所对应的cap ID差值(cap」d_ offset)；
[0053] 步骤四，在基础capID值（cap_id_base)的基础上减去cap ID差值（cap_id_ offset)得到新的cap ID(cap_id_new);
[0054] 步骤五，将新的值cap ID(cap_id_new)作为当前使用的cap ID值(cap_id_using) 重复发射信号得到的频偏值F，直到将频偏值F调整到标准范围内为止，频偏校准完成。 [0055]根据本发明一种基于统计数据和特征曲线的频率偏移校准方法的另一个实施例， 所述偏频特征曲线获取方法是：
[0056] 随机找出η片待测物样品，设定为DUTl~DUTn;
[0057]对每一片样品，使用cap ID的可用整数范围内的每一个整数作为cap ID进行频偏 量测，然后将数据整理成表格；
[0058]对每一片样品的capID值-频偏值数据进行平移，找出频偏值最接近0的cap ID (cap_id_f0)，将所有的capID都减去所述最接近0的cap ID(cap_id_fO)，得到的值作为cap ID差值(命名为cap_id_offset);
[0059] 以cap ID差值(cap_id_offset)和频偏值构成一个新的数据表格，以cap ID差值 为横坐标，频偏值为纵坐标，构成一个待测物的特征曲线；
[0060] 对每一个待测物都构建其特征曲线；
[0061 ]对所有的特征曲线以cap ID差值(cap_id_offset)为单位求取所有对应频偏值的 平均值(F_avg)，将此平均值作为所有样本的特征曲线的频偏值；
[0062] 所有的cap ID差值(cap_id_offset)及其对应的频偏平均值(F_avg)构成了校准 所需的偏频特征曲线。
[0063] 根据本发明一种基于统计数据和特征曲线的频率偏移校准方法的另一个优选实 施例，在分析频偏值在标准范围内使用频率最多的cap ID值作为基础capID值(cap_id_ base)时，如果有多个cap ID值出现的次数相同，则选择与这些cap ID值的平均值最接近的 一个。
[0064] 根据本发明一种基于统计数据和特征曲线的频率偏移校准方法的另一个优选实 施例，所述步骤三种，如果不在标准范围内则在特征曲线中找出与频偏值F最接近的频偏值 所对应的cap ID差值(cap_id_off set)，具体是找出与频偏值F最接近的特征频偏值Ft，在 通过特征频偏值Ft得出对应的cap ID差值(cap_id_offset)。
[0065] 根据本发明一种基于统计数据和特征曲线的频率偏移校准方法的另一个优选实 施例，频偏校准完成后，将频偏值F在标准范围内时，作为当前使用的cap ID值（cap_id_ using)写入非易失随机存取存储器中，并将当前使用的cap ID值(cap_id_using)和频偏值 F记录到数据容器中。
[0066]尽管这里参照本发明的多个解释性实施例对本发明进行了描述，但是，应该理解， 本领域技术人员可以设计出很多其他的修改和实施方式，这些修改和实施方式将落在本申 请公开的原则范围和精神之内。更具体地说，在本申请公开、附图和权利要求的范围内，可 以对主题组合布局的组成部件和/或布局进行多种变型和改进。除了对组成部件和/或布局 进行的变形和改进外，对于本领域技术人员来说，其他的用途也将是明显的。
【主权项】
1. 一种基于统计数据和特征曲线的频率偏移校准方法，其特征在于包括以下步骤： 步骤一，收集待测物的capID值和频偏值的分布数据，组成一个capID值-频偏值对应 表;表中记录同一个capID值对应的不同待测物的频偏值，绘制出偏频特征曲线； 步骤二，分析出频偏值在标准范围内使用频率最多的capID值作为基础capID值； 步骤三，将基础capID值作为当前使用的capID值发射信号得到的频偏值F，参照偏频 的特征曲线，如果频偏值F在标准范围内则频偏校准完成，如果不在标准范围内则在特征曲 线中找出与频偏值F最接近的频偏值所对应的capID差值； 步骤四，在基础capID值的基础上减去capID差值得到新的capID; 步骤五，将新的值capID作为当前使用的capID值重复发射信号得到的频偏值F，直到 将频偏值F调整到标准范围内为止，频偏校准完成。2. 根据权利要求1所述的一种基于统计数据和特征曲线的频率偏移校准方法，其特征 在于:所述偏频特征曲线获取方法是： 随机找出η片待测物样品，设定为DUT1~DUTn; 对每一片样品，使用capID的可用整数范围内的每一个整数作为capID进行频偏量 测，然后将数据整理成表格； 对每一片样品的capID值-频偏值数据进行平移，找出频偏值最接近0的capID，将所有 的capID都减去所述最接近0的capID，得到的值作为capID差值； 以capID差值和频偏值构成一个新的数据表格，以capID差值为横坐标，频偏值为纵 坐标，构成一个待测物的特征曲线； 对每一个待测物都构建其特征曲线； 对所有的特征曲线以capID差值为单位求取所有对应频偏值的平均值，将此平均值作 为所有样本的特征曲线的频偏值； 所有的capID差值及其对应的频偏平均值构成了校准所需的偏频特征曲线。3. 根据权利要求1所述的一种基于统计数据和特征曲线的频率偏移校准方法，其特征 在于:在分析频偏值在标准范围内使用频率最多的capID值作为基础capID值时，如果有多 个capID值出现的次数相同，则选择与这些capID值的平均值最接近的一个。4. 根据权利要求1所述的一种基于统计数据和特征曲线的频率偏移校准方法，其特征 在于:所述步骤三种，如果不在标准范围内则在特征曲线中找出与频偏值F最接近的频偏值 所对应的capID差值，具体是找出与频偏值F最接近的特征频偏值Ft，在通过特征频偏值Ft 得出对应的capID差值。5. 根据权利要求1所述的一种基于统计数据和特征曲线的频率偏移校准方法，其特征 在于:频偏校准完成后，将频偏值F在标准范围内时，作为当前使用的capID值写入非易失 随机存取存储器中，并将当前使用的capID值和频偏值F记录到数据容器中。
【专利摘要】本发明公涉及无线电子产品发射频率的校准，尤其涉及一种基于统计数据和特征曲线的频率偏移校准方法，包括以下步骤：组成一个cap？ID值-频偏值对应表，绘制出偏频特征曲线；分析出基础capID，将基础capID值作为当前使用的cap？ID值发射信号得到的频偏值F，在基础capID值的基础上减去cap？ID差值得到新的cap？ID；直到将频偏值F调整到标准范围内为止，频偏校准完成。本发明的作用是：通过收集待测物测试过程中已经校准完成时的cap？ID值和频偏值的分布数据来求取最常用的cap？ID值作为基础cap？ID值，再根据待测物样品的特征曲线预测出将功率调整到标准范围内所需要的cap？ID值，然后再在此值的基础上进行进一步调整，以此来达到减少调整次数，从而减少校准时间。
【IPC分类】H04L27/38, H04B17/12
【公开号】CN105471522
【申请号】CN201510777995
【发明人】崔建国, 闻敏刚
【申请人】太仓市同维电子有限公司
【公开日】2016年4月6日
【申请日】2015年11月13日