一种用于射频远端单元rru测试的开关矩阵的制作方法
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及通信技术领域，特别是涉及一种用于射频远端单元RRU测试的开关矩阵。
【背景技术】
[0002]随着通信技术的发展，为了更好地解决大型场馆的室内覆盖问题，提出了一种新型的分布式网络覆盖模式，即将基站分为BBU(Base band Unit，基带单元)和RRU(Rad1Remote Unit，射频远端单元)，BBU和RRU之间通过用光纤连接。它将大容量宏蜂窝基站集中放置在中心机房内，BBU部分集中处理，采用光纤将基站中的射频模块拉到RRU，分置于网络规划所确定的站点上，从而节省了常规解决方案所需要的大量机房；同时通过采用大容量宏基站支持大量的光纤拉远，可实现容量与覆盖之间的转化。因此，保证RRU正常运行成为一个重要的任务。
[0003]目前，RRU整机硬件集成测试包括射频通道的上行测试和下行测试，射频通道的上下行测试所用的仪器仪表、射频辅材及连接方式是不同的。对于下行测试，需要把衰减器、频谱分析仪连接在被测通道，而对于上行测试，需要把信号源连接到被测通道。这样对于每个被测通道的测试需要两次连接，即拆除仪器仪表、射频辅材以及连接电缆。
[0004]然而，对于多通道RRU的测试，这样的连接、拆除电缆的工作就十分频繁。不仅会造成工作效率的低下，也会造成仪器仪表、射频辅材以及连接电缆的磨损，以及人为造成连接不良的情况，最终都会影响测试结果的真实准确，造成RRU集成测试的一致性和可靠性较低。
[0005]因此，目前需要本领域技术人员迫切解决的一个技术问题就是:提供一种用于射频远端单元RRU测试的开关矩阵，用以简化多通道RRU的测试连接、拆除电缆的工作，从而提高工作效率，减少仪器仪表、射频辅材以及连接电缆的磨损，降低连接不良情况的发生，提高测试结果的真实准确性，以及提高RRU集成测试的一致性和可靠性。
【实用新型内容】
[0006]本实用新型实施例所要解决的技术问题是提供用于射频远端单元RRU测试的开关矩阵，用以简化多通道RRU的测试连接、拆除电缆的工作，从而提高工作效率，减少仪器仪表、射频辅材以及连接电缆的磨损，降低连接不良情况的发生，提高测试结果的真实准确性，以及提高RRU集成测试的一致性和可靠性。
[0007]为了解决上述问题，本实用新型公开了一种用于射频远端单元RRU测试的开关矩阵，所述开关矩阵集成有衰减器，还包括:
[0008]电源，用于提供直流电压；
[0009]控制板，用于输出控制信号；
[0010]射频同轴开关，用于依据所述控制信号导通或断开衰减器，以及，选择预置的测试设备。
[0011]优选地，所述开关矩阵还包括一个或多个风扇，所述一个或多个风扇由所述电源供电，所述一个或多个风扇安装在所述开关矩阵的后面板，所述风扇输出的风量由所述控制板根据环境温度控制。
[0012]优选地，所述开关矩阵还包括一个或多个N型连接器母头、一个或多个RJ45连接器、一个或多个通用接口总线GPIB连接器，所述一个或多个N型连接器母头、一个或多个RJ45连接器、一个或多个通用接口总线GPIB连接器分别安装在所述开关矩阵的前面板。
[0013]优选地，所述衰减器为一体式衰减器，其中，所述一体式衰减器包括多个通道。
[0014]优选地，所述电源包括交流转直流的AC-DC电源。
[0015]优选地，所述控制信号为多路，用于对一个或多个射频同轴开关的组合进行通断控制。
[0016]优选地，所述控制板包括微控制单元MCU、可擦除可编程逻辑器件EPLD、通用接口总线GPIB、双倍速率同步动态随机存储器DDR、闪存FLASH，以及，开关驱动，其中，所述MCU分别与所述EPLD、GPIB、DDR、FLASH、开关驱动器件相连，所述EPLD分别连接温度监控器件、带电可擦可编程只读存储器EEPROM和风扇监控器件，所述开关驱动器件连接所述射频同轴开关。
[0017]优选地，所述射频同轴开关与所述一个或多个N型连接器母头通过半柔射频电缆连接。
[0018]优选地，所述衰减器与所述一个或多个N型连接器母头通过半柔射频电缆连接。
[0019]优选地，所述射频同轴开关与所述衰减器通过半柔射频电缆连接。
[0020]与现有技术相比，本实用新型实施例包括以下优点:
[0021]本实用新型一次性连接被测试RRU的天线接口之后，可以通过射频同轴开关选择上行或下行测试的通道、仪器仪表，避免了外置式单通道衰减器占用测试场地大，连线凌乱，多次连线，使用不便的问题，因此可以简化多通道RRU的测试连接、拆除电缆的工作，从而提高工作效率，减少仪器仪表、射频辅材以及连接电缆的磨损，降低连接不良情况的发生，提高测试结果的真实准确性，以及提高RRU集成测试的一致性和可靠性。
[0022]本实用新型通过在衰减器和射频同轴开关之间采用半柔或半刚射频电缆连接，可以使射频通路性能稳定，从而可以提高工作效率，减少仪器仪表、射频辅材以及连接电缆的磨损，降低连接不良情况的发生，提高测试结果的真实准确性，以及提高RRU集成测试的一致性和可靠性。
[0023]本实用新型通过将一个或多个风扇安装在所述开关矩阵的后面板，可以由控制板上的MCU根据环境温度自动进行输出风量控制，不需要开关矩阵以外的人工干预，避免了由PC机根据环境温度控制风扇，从而减少了人工操作，进一步提高测试结果的真实准确性，以及提高RRU集成测试的一致性和可靠性。
【附图说明】
[0024]图1示出了本实用新型的一种用于射频远端单元RRU测试的开关矩阵装置实施例的原理框图；
[0025]图2示出了本实用新型的一种用于射频远端单元RRU测试的开关矩阵中控制板的原理框图；
[0026]图3示出了本实用新型的一种用于射频远端单元RRU测试的开关矩阵测试应用的示意图。
【具体实施方式】
[0027]为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和【具体实施方式】对本实用新型作进一步详细的说明。
[0028]本实用新型实施例的核心构思之一在于，通过控制板输出控制信号，从而控制射频同轴开关选择对应的测试设备，以及，导通或断开相应的射频通道，以完成被测通道的连接，避免多次拆除仪器仪表、射频辅材以及连接电缆，从而简化多通道RRU的测试连接、拆除电缆的工作，从而提高工作效率，减少仪器仪表、射频辅材以及连接电缆的磨损，降低连接不良的情况发生，提高测试结果的真实准确性，以及提高RRU集成测试的一致性和可靠性。
[0029]参照图1，示出了本实用新型的一种用于射频远端单元RRU测试的开关矩阵装置实施例的原理框图，所述开关矩阵集成有衰减器107，开关矩阵具体还可以包括:
[0030]电源101，用于提供直流电压；
[0031]在具体实现中，电源101可以用于给射频同轴开关110、控制板103、风扇102提供直流电压。
[0032]在本实用新型实施例的一种优选示例中，所述电源可以包括交流转直流的AC-DC电源。
[0033]作为本实用新型具体应用的一种示例，可以采用一块交流220V转直流12V的AC-DC电源作为电源101，因此，电源101可以给射频同轴开关、控制板103、风扇102提供直流12V电压。
[0034]控制板103，用于输出控制信号；
[0035]在实际应用中，控制板103可以用于输出控制信号至射频同轴开关110，用以对控制端的射频同轴开关110进行控制。
[0036]在本实用新型实施例的一种优选示例中，所述控制信号为多路，用于对一个