检测结果；
[0034]根据数据分析软件，分析相位检测结果，得到待检紧缩场平面波相位的变化信息。
[0035]本发明在扫描架4的探头天线上加装一个激光靶标5，在扫描架4与紧缩场反射面2之间的平面波传播区域内设置一台激光跟踪仪，激光跟踪仪实时采集激光靶标5反馈的探头位置，把位置偏差数据实时反馈给计算机，根据距离偏差，通过相位修正算法，实时补偿相位测量结果。如图3紧缩场平面波相位直线检测激光补偿布局示意图所示，探头天线安装在测试区扫描架4上，理论上应该按照图3中的理论轨迹移动，即沿垂直于来波方向垂直方向或水平方向移动，但由于扫描架4自身的直线度偏差，探头移动的行程为图3中的波浪线实际轨迹，甚至有倾斜趋势，扫描架未严格摆正姿态。因此本发明所述技术方案中在扫描架的探头天线上加装固定一个激光靶标，在扫描架4与紧缩场反射面2之间的平面波传播区域内设置一台激光跟踪仪6，随着探头的移动，靶标5会实时把位置信息反馈给激光跟踪仪6，跟踪仪会记录数据，并传给计算机，根据获得的扫描架偏差，带入相位修正算法中，获得相位补偿结果，再利用计算机实时对相位检测结果进行补偿修正。
[0036]图1为现有的仅靠扫描架自身精度保证紧缩场平面波相位的检测精度，本发明与其有以下不同:
[0037]本发明利用激光跟踪仪及激光靶标可以实时知道扫描架的位置偏差；
[0038]本发明通过相位修正算法，可以根据位置偏差得到相位偏差，可实时补偿相位结果O
[0039]下面通过一组实施例对本发明作进一步说明:
[0040]1、检测系统布局示意图如图4所示，相位检测系统为矢量网络分析仪，扫描架行程为2m X 2m，可在垂直方向与水平方向移动；
[0041]2、在待检紧缩场暗室中，通过激光跟踪仪6，根据紧缩场馈源I的位置、紧缩场反射面2的位置、反射面中心、测试区3的位置等条件，对扫描架4初始位置定位；
[0042]3、利用相位测试系统，初检待检截面相位特性，通过电检测，判断扫描架整4体是否摆正，根据相位初检结果，适当调整扫描架垂直与水平姿态角，直到相位检测趋势满足平面波性能要求，其中，相位测试系统包括矢量网络分析仪7、扫描架控制机箱8、网络交换机9和控制计算机10 ；
[0043]4、在探头天线上安装激光靶标5，在扫描架4与紧缩场反射面之间的平面波传播区域内设置一台激光跟踪仪6，控制激光跟踪仪6实时捕捉激光靶标5的位置，实时记录该位置的反馈信息，同时记录位置的偏差Λ X，如图5-a所示，从图中可以看到天线移动2m行程时，轨迹偏移了近3_，这个数值不但包含了扫描架设备的直线度精度，还包含了扫描架机械定位调整时导致的误差，即图3中的实际轨迹加偏离趋势，图中横坐标表示水平方向，纵坐标表示偏离误差；
[0044]5、设待检紧缩场频率为F，光速设为C，则对应波长为C/F，根据位置偏差为Λ χ’则相应的相位偏差即为Λ P =Δχ/(C/F) X360° ；
[0045]6、得到相位偏差结果后，实时通过控制软件把相位偏差结果补偿相位检测结果中，实时显示补偿修正后的相位检测结果；
[0046]根据数据分析软件，得到待检紧缩场平面波相位的变化信息，如图5-b所示，该图所示结果为水平极化40GHz水平方向移动条件下获得的相位修正前后结果对比，修正后相位曲线在20°范围内变化，符合平面波特性，提高了测量精度，图中横坐标表示水平移动方向，纵坐标表示相位。
[0047]显然，本发明的上述实施例仅仅是为清楚地说明本发明所作的举例，而并非是对本发明的实施方式的限定，对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动，这里无法对所有的实施方式予以穷举，凡是属于本发明的技术方案所引伸出的显而易见的变化或变动仍处于本发明的保护范围之列。
【主权项】
1.一种紧缩场平面波高频相位直线检测激光补偿方法，其特征在于，该方法包括以下步骤: 在待检紧缩场暗室中，建立三维直角坐标系； 根据紧缩场馈源、反射面和测试区在暗室中的位置关系及坐标，确定扫描架的初始位置； 对扫描架的垂直和水平姿态角进行调整，使其相位检测趋势满足平面波性能要求； 在扫描架的探头天线上设置激光靶标，并在扫描架与反射面之间的平面波传播路径上设置一激光跟踪仪，通过激光跟踪仪实时捕捉激光靶标位置，获得扫描架的位置信息和位置偏差Λ X ； 根据紧缩场的工作频率、光速和扫描架的位置偏差，获得平面波的相位偏差结果，并将该偏差结果实时的补偿到相位检测结果中。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定扫描架初始位置的步骤包括 利用矢量网络分析仪对待检截面相位特性进行初检，通过电检测，判断扫描架整体是否摆正； 根据相位初检结果，适当调整扫描架垂直与水平姿态角，直到相位检测趋势满足平面波性能要求。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于， 待检紧缩场的工作频率为F，光速为C，则对应波长为C/F，根据位置偏差Λ X，计算相应的平面波相位偏差Λ P:Δρ =Δ x/ (C/F) X 360°。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，该方法进一步包括，对补偿后的相位进行分析，获得待检紧缩场平面波相位的变化信息。
【专利摘要】本发明公开一种在待检紧缩场暗室中，建立三维直角坐标系；根据馈源位置、反射面位置和测试区的位置关系，确定扫描架的初始位置；对扫描架的垂直和水平姿态角进行调整，使其相位检测趋势满足平面波性能要求；在扫描架的探头天线上设置激光靶标，并在扫描架与反射面间设置一激光跟踪仪，通过激光跟踪仪实时捕捉激光靶标位置，获得扫描架的位置信息和位置偏差△x；根据光速、工作频率及相位关系，获得平面波的相位偏差结果，并将该偏差结果实时的补偿到相位检测结果中，能够满足高频时紧缩场平面波相位检测要求，提高紧缩场平面波相位检测精度。
【IPC分类】G01R25-00
【公开号】CN104569588
【申请号】CN201410796709
【发明人】马永光, 康宁, 尚柱岗, 韩玉峰
【申请人】北京无线电计量测试研究所
【公开日】2015年4月29日
【申请日】2014年12月18日