用于在触摸应用中以抗高噪声性计算坐标的方法和装置的制造方法_6

文档序号:9916525阅读:来源:国知局
PR0M、磁卡或光卡、闪存或者适合于存储电子指令的任何类型的媒体。 应将术语"计算机可读存储介质"理解成包括存储一组或多组指令的单个介质或多个媒体 (例如,集中式或分布式数据库和/或关联高速缓存器和服务器)。还应将术语"计算机可读 介质""理解成包括能够存储、编码或载送用于机器执行,并促使该机器执行本实施例的方 法中的任何一个或多个的一组指令的任何介质。因此应将术语"计算机可读存储介质"理解 成包括但不限于固态存储器、光学媒体、磁性媒体、能够存储用于机器执行,并促使该机器 执行本实施例的方法中的任何一个或多个的一组指令的任何介质。
[0121] 在本文中提出的算法和显示器并非固有地与任何特定计算机或其它装置相关。可 将各种通用系统与根据本文中的教导的程序一起使用,或者构造更专业化的装置以执行所 需方法步骤可证明是方便的。从以下描述,用于多种此类系统的所需结构将显而易见。另 外,并未参考任何特定编程语言来描述本实施例。将认识到的是可使用多种编程语言来实 现如本文所述的实施例的教导。
[0122] 以上描述阐述了许多特定细节,诸如特定系统、部件、方法等的示例,以便提供本 发明的数个实施例的良好理解。然而,对于本领域的技术人员而言将显而易见的是可在没 有这些特定细节的情况下实施本发明的至少某些实施例。在其它情况下,并未详细地描述 众所周知的部件或方法或者对其以简单的框图格式提出以避免不必要地使本发明含糊难 懂。因此,以上所阐述的特定细节仅仅是示例性的。特定实现方式可不同于这些示例性细 节,并且仍被视为在本发明的范围内。
[0123]应理解的是以上描述旨在说明性而非限制性的。在阅读并理解以上描述时,许多 其它实施例对于本领域的技术人员而言将是显而易见的。因此,应参考所附的权利要求以 及这些权利要求所享有的全部等同范围来确定本本发明的范围。
【主权项】
1. 一种方法,包括: 在处理设备处获得传感阵列的触摸数据,其中,所述触摸数据用于检测到的接近于所 述传感阵列的触摸,以及其中,所述触摸数据被表示为多个晶胞; 基于所述触摸数据检测所述传感阵列上的噪声; 基于所检测到的噪声从多个不同位置计算算法中选择位置计算算法;以及 基于所选的位置计算算法来确定所述触摸的位置。2. 如权利要求1所述的方法,其中,选择所述位置计算算法包括: 基于接近于所述传感阵列的触摸,从所述触摸数据中识别来自所述传感阵列的多个区 域中的被触摸区域;以及 基于发生所述触摸的所识别的被触摸区域,从所述多个不同位置计算算法中选择所述 位置计算算法。3. 如权利要求2所述的方法,其中,所述传感阵列的所述多个区域包括至少由第一边缘 类型、第二边缘类型、拐角类型以及中央类型组成的多个区域类型,其中,所述选择所述位 置计算算法进一步包括: 当所述被触摸区域是所述第一边缘类型时选择所述多个不同位置算法中的第一个; 当所述被触摸区域是所述第二边缘类型时选择所述多个不同位置算法中的第二个; 当所述被触摸区域是所述拐角类型时选择所述多个不同位置算法中的第三个;以及 当所述被触摸区域是所述中央类型时选择所述多个不同位置算法中的第四个。4. 如权利要求1所述的方法,其中,所述多个不同位置计算算法包括梯度、Blais Rioux (BR)、质量中心(CoM)、线性内插、高斯近似或抛物线估计器中的至少一个。5. 如权利要求1所述的方法,其中,所选的位置计算算法包括: 基于检测到的接近于所述传感阵列的触摸的所述触摸数据生成Blais Rioux(BR)权 值;以及 基于所述BR权值确定所述触摸的位置。6. 如权利要求5所述的方法,其中,所述生成所述BR权值包括: 从所述触摸数据中识别局部最大值,所述局部最大值对应于所述多个晶胞中的具有最 大触摸数据的晶胞; 识别在第一方向上相邻于所述局部最大值的第一组相邻晶胞和在第二方向上相邻于 所述局部最大值的第二组相邻晶胞; 计算第一总和,所述第一总和包括所述第一组相邻晶胞的所述触摸数据的总和; 计算第二总和,所述第二总和包括所述第二组相邻晶胞的所述触摸数据的总和; 计算局部最大值总和,所述局部最大值总和至少包括所述局部最大值的所述触摸数 据; 计算分子,所述分子包括所述第二总和减去所述第一总和; 当所述第一总和大于所述第二总和时将所述分子除以第一分母,所述第一分母包括所 述局部最大值总和与所述第一组相邻晶胞的最近相邻晶胞的所述触摸数据的总和,减去所 述第二组相邻晶胞的最远相邻晶胞的所述触摸数据;以及 当所述第一总和小于或等于所述第二总和时将所述分子除以第二分母,所述第二分母 包括所述局部最大值总和与所述第二组相邻晶胞的最近相邻晶胞的所述触摸数据的总和, 减去所述第一组相邻晶胞的最远相邻晶胞的所述触摸数据。7. 如权利要求6所述的方法,其中,所述生成所述BR权值进一步包括识别在第三方向和 第四方向上相邻于所述局部最大值的第三组相邻晶胞,以及其中,计算所述局部最大值总 和进一步包括所述第三组相邻晶胞的所述触摸数据的总和。8. 如权利要求5所述的方法,其中,生成所述BR权值进一步包括: 生成用于第一轴的第一BR权值;以及 生成用于第二轴的第二BR权值,所述第一和第二轴对应于所述传感阵列。9. 如权利要求8所述的方法,其中,确定所述位置进一步包括基于所述第一BR权值和所 述第二BR权值确定所述位置。10. -种装置,包括: 电容传感电路,所述电容传感电路被配置成测量传感阵列的触摸数据,其中,所述触摸 数据用于检测到的接近于所述传感阵列的触摸,以及其中,所述触摸数据被表示为多个晶 胞;以及 处理核,所述处理核被耦合到所述电容传感电路,所述处理核用以执行位置计算工具, 其中,所述位置计算工具可配置成 获得所述传感阵列的所述触摸数据; 基于所述触摸数据检测所述传感阵列上的噪声; 基于检测到的噪声从多个不同位置计算算法中选择位置计算算法;以及 基于所选的位置计算算法确定所述触摸的位置。11. 如权利要求10所述的装置,其中,所述位置计算工具进一步可配置成: 基于接近于所述传感阵列的触摸,从所述触摸数据中识别来自所述传感阵列的多个区 域中的被触摸区域;以及 基于所识别的发生所述触摸的被触摸区,从所述多个不同位置计算算法中选择所述位 置计算算法。12. 如权利要求11所述的装置,其中,所述传感阵列的所述多个区域包括至少由第一边 缘类型、第二边缘类型、拐角类型以及中央类型组成的多个区域类型,其中,所述处理设备 进一步可配置成选择所述位置计算算法以进一步: 当所述被触摸区域是所述第一边缘类型时选择所述多个不同位置算法中的第一个; 当所述被触摸区域是所述第二边缘类型时选择所述多个不同位置算法中的第二个; 当所述被触摸区域是所述拐角类型时选择所述多个不同位置算法中的第三个;以及 当所述被触摸区域是所述中央类型时选择所述多个不同位置算法中的第四个。13. 如权利要求10所述的装置,其中,所述多个不同位置计算算法包括梯度、Blais Rioux(BR)、质量中心(CoM)、线性内插、高斯近似或抛物线估计器中的至少一个。14. 如权利要求10所述的装置,其中,所述位置计算工具进一步可配置成: 基于检测到的接近于所述传感阵列的触摸的所述触摸数据生成Blais Rioux(BR)权 值; 基于所述BR权值确定所述触摸的位置。15. 如权利要求14所述的装置,其中,生成所述BR权值包括: 从所述触摸数据中识别局部最大值,所述局部最大值对应于所述多个晶胞中的具有最 大触摸数据的晶胞; 识别在第一方向上相邻于所述局部最大值的第一组相邻晶胞和在第二方向上相邻于 所述局部最大值的第二组相邻晶胞; 计算第一总和,所述第一总和包括所述第一组相邻晶胞的所述触摸数据的总和; 计算第二总和,所述第二总和包括所述第二组相邻晶胞的所述触摸数据的总和; 计算局部最大值总和,所述局部最大值总和至少包括所述局部最大值的所述触摸数 据; 计算分子,所述分子包括所述第二总和减去所述第一总和; 当所述第一总和大于所述第二总和时将所述分子除以第一分母,所述第一分母包括所 述局部最大值总和与所述第一组相邻晶胞的最近相邻晶胞的所述触摸数据的总和,减去所 述第二组相邻晶胞的最远相邻晶胞的所述触摸数据;以及 当所述第一总和小于或等于所述第二总和时将所述分子除以第二分母,所述第二分母 包括所述局部最大值总和与所述第二组相邻晶胞的最近相邻晶胞的所述触摸数据的总和, 减去所述第一组相邻晶胞的最远相邻晶胞的所述触摸数据。16. 如权利要求15所述的装置,其中,生成所述BR权值进一步包括识别在第三方向和第 四方向上相邻于所述局部最大值的第三组相邻晶胞,以及其中,计算所述局部最大值总和 进一步包括所述第三组相邻晶胞的所述触摸数据的总和。17. 如权利要求14所述的装置,其中,生成所述BR权值进一步包括: 生成用于第一轴的第一BR权值;以及 生成用于第二轴的第二BR权值,所述第一和第二轴对应于所述传感阵列。18. 如权利要求17所述的装置,其中,确定所述位置进一步包括基于所述第一BR权值和 所述第二BR权值确定所述位置。19. 一种系统,包括: 电容传感阵列,所述电容传感阵列被配置成生成用于检测到的接近于所述电容传感阵 列的触摸的触摸数据,所述触摸数据被表示为多个晶胞;以及 处理设备,所述处理设备被耦合到所述电容传感阵列,其中,所述处理设备将基于所述 触摸数据确定所述电容传感阵列上的噪声,所述处理设备进一步基于所述噪声从多个不同 位置计算算法中选择一个或多个位置计算算法,以及所述处理设备进一步基于所选的位置 计算算法确定所述触摸的位置。20. 如权利要求19所述的系统,其中,所述处理设备进一步用以: 基于所述触摸数据确定发生所述触摸的所述电容传感阵列的区域;以及 基于发生所述触摸的所述电容传感阵列的所述区域从所述多个不同位置计算算法中 选择一个或多个位置计算算法。
【专利摘要】描述了触摸的位置计算的装置和方法。一种方法在处理设备处获得传感阵列的触摸数据,该触摸数据被表示为多个晶胞。该触摸数据用于检测到的接近于传感阵列的触摸。可基于触摸数据在传感阵列上检测到噪声,并且基于检测到的噪声从多个不同位置计算算法中选择位置计算算法。基于所选的位置计算算法从触摸数据中确定接近于传感阵列的触摸的位置。
【IPC分类】G06F3/044
【公开号】CN105683886
【申请号】
【发明人】安德里·马哈里塔, 瓦希尔·曼德西
【申请人】谱瑞科技有限公司
【公开日】2016年6月15日
【申请日】2013年12月16日
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