1.一种限束器在Z轴上的射线跟踪方法，其特征在于：所述射线跟踪的步骤包括：
A、限束器读取多层CT机的每个view的所有参考通道的探测器数据；
B、将所述探测器数据沿Z轴方向平均分成A组探测器数据和B组探测器数据；
C、分别计算出所述A组探测器数据的平均值和所述B组探测器数据的平均值；
D、根据所述A组探测器数据的平均值计算出A组探测器数据的标准方差，根据所述B组探测器数据的平均值计算出B组探测器数据的标准方差；
E、把所述A组探测器数据的标准方差和所述B组探测器数据的标准方差归一化，得到标准方差归一化值；
F、根据所述标准方差归一化值计算出限束器开口在Z轴上的微调距离；将所述A组探测器数据的标准方差与所述B组探测器数据的标准方差进行比较，确定限束器开口在Z轴上的移动方向；
G、限束器按照所述移动方向控制两个钨片在Z轴上同步移动所述微调距离，完成限束器在Z轴上的射线跟踪；
所述微调距离＝两组探测器数据的标准方差归一化值与限束器开口的乘积。
2.根据权利要求1所述的射线跟踪方法，其特征在于：所述A组探测器数据的标准方差大于所述B组探测器数据的标准方差，限束器开口在Z轴上向B组探测器所在的方向移动；所述A组探测器数据的标准方差小于所述B组探测器数据的标准方差，限束器开口在Z轴上向A组探测器所在的方向移动。