一种调整电容档位的方法、装置及存储介质与流程

本发明涉及医疗设备技术领域，尤其涉及一种调整电容档位的方法、装置及存储介质。

背景技术：

在扫描过程中，x射线经过扫描物体后，被检测器接收。在此过程中需要将光信号转换为电信号，最后经过模数转换为数字信号。积分电容在以上过程中的作用是对转换的电荷量进行测量。理论上，扫描物体各处的衰减不同，x射线经过物体衰减后，剩余的x射线的能量也不同，相应的积分电容上测量的电荷量也不同。积分电容档位对应不同的积分电容大小。积分电容大则对应的量程大，但是精度低；积分电容小则对应的量程小，但是精度高。

因此，选择合适的积分电容档位是本领域技术人员需要解决的技术问题。

技术实现要素：

为了解决现有技术中存在的以上技术问题，本发明提供一种调整电容档位的方法、装置及存储介质，能够选择合适的积分电容档位，使测量数据更加精确，提高图像的质量。

本申请提供的技术方案如下：

第一方面，本申请提供一种调整电容档位的方法，应用于ct扫描中，该方法包括：

根据扫描物体已放线位置的衰减信息获得所述扫描物体未放线位置的预测衰减信息；

根据所述预测衰减信息和已知扫描剂量，获得所述未放线位置的接收通道的接收值范围；每个放线位置对应多个接收通道；

根据所述接收值范围调整积分电容的档位。

可选地，所述根据扫描物体已放线位置的衰减信息获得所述扫描物体未放线位置的预测衰减信息，具体包括：

根据光路的可逆性，利用已放线位置的接收通道的衰减信息获得未放线位置的预测衰减信息，所述已放线位置的接收通道位于所述未放线位置的接收通道的对面。

可选地，在所述根据所述预测衰减信息和已知扫描剂量，获得所述未放线位置的接收通道的接收值范围之前，还包括：

根据扫描的平片信息获得所述已放线位置在z方向的第一衰减信息，以及根据扫描的所述平片信息获得所述未放线位置在所述z方向的第二衰减信息；所述z方向为ct扫描床运动方向；

利用所述第一衰减信息和所述第二衰减信息对所述未放线位置的预测衰减信息进行校正。

可选地，在根据所述未放线位置的预测衰减信息和已知剂量，获得放线位置的接收通道对应的接收值范围之前，还包括：

利用与所述未放线位置相邻的已放线位置的预测衰减信息，以及所述相邻的已放线位置的实际衰减信息，对所述未放线位置的预测衰减信息进行校正。

可选地，所述根据所述接收值范围调整积分电容的档位，具体包括：

从所述接收值范围中获取最大接收值；

根据所述最大接收值调整积分电容的档位。

第二方面，本申请提供一种调整电容档位的装置，该装置包括：衰减信息预测模块、接收值范围获取模块和电容档位调整模块；

所述衰减信息预测模块，用于根据扫描物体已放线位置的衰减信息获得所述扫描物体未放线位置的预测衰减信息；

所述接收值范围获取模块，根据所述预测衰减信息和已知扫描剂量，获得所述未放线位置的接收通道的接收值范围；每个放线位置对应多个接收通道；

所述电容档位调整模块，用于根据所述接收值范围调整积分电容的档位。

可选地，所述衰减信息预测模块，具体包括：

第一预测单元，用于根据光路的可逆性，利用已放线位置的接收通道的衰减信息获得未放线位置的预测衰减信息，所述已放线位置的接收通道位于所述未放线位置的接收通道的对面。

可选地，所述装置还包括：衰减信息获取模块和第一校正模块；

所述衰减信息获取模块，用于根据扫描的平片信息获得所述已放线位置在z方向的第一衰减信息，以及根据扫描的所述平片信息获得所述未放线位置在所述z方向的第二衰减信息；所述z方向为ct扫描床运动方向；

所述第一校正模块，用于利用所述第一衰减信息和所述第二衰减信息对所述未放线位置的预测衰减信息进行校正。

可选地，所述装置还包括：

第二校正模块，用于利用与所述未放线位置相邻的已放线位置的预测衰减信息，以及所述相邻的已放线位置的实际衰减信息，对所述未放线位置的预测衰减信息进行校正。

可选地，所述电容档位调整模块具体包括：最大接收值获取单元和电容档位调整单元；

所述最大接收值获取单元，用于从所述接收值范围中获取最大接收值；

所述电容档位调整单元，用于根据所述最大接收值调整积分电容的档位。

第三方面，本申请提供一种计算机可读存储介质，所述介质上存储有计算机程序，所述程序被处理器执行时实现如前述第一方面提供的调整电容档位的方法。

与现有技术相比，本发明至少具有以下优点：

本申请提供的调整电容档位的方法，首先根据扫描物体已放线位置的衰减信息获得扫描物体未放线位置的预测衰减信息；其后，根据预测衰减信息和已知扫描剂量，获得未放线位置的接收通道的接收值范围，每个放线位置对应多个接收通道；最后，根据接收值范围调整积分电容的档位。

由于未放线位置的接收通道与已放线位置的接收通道经过扫描物体的路径相似，因此，已放线位置的衰减信息可用于预测未放线位置的衰减信息。根据未放线位置的接收通道的接收值范围，可获知所需的积分电容量程，进而根据所需的积分电容量程确定需要的积分电容档位。由此可见，相比于现有技术，本申请通过预测未放线位置的衰减信息最终确定适宜的积分电容档位进行调节，利用档位调节后的积分电容能够提高测量数据的准确性，进而提高ct机的成像质量。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为本申请第一实施例提供的调整积分电容档位的方法流程图；

图2为本申请实施例提供的一种ct机结构示意图；

图3为本申请实施例提供的一种ct机扫描示意图；

图4为本申请第二实施例提供的调整积分电容档位的方法流程图；

图4a为本申请实施例提供的一种ct机螺旋扫描的示意图；

图5为本申请第三实施例提供的调整积分电容档位的方法流程图；

图6为本申请第四实施例提供的调整电容档位的控制设备的硬件结构图；

图7为本申请第五实施例提供的调整积分电容档位的装置的结构示意图。

具体实施方式

目前，在ct扫描成像的技术领域，通常是根据ct扫描剂量简单地进行积分电容档位的选择。例如，根据ct扫描管电压100kv选择积分电容第一档位，根据ct扫描管电压120kv选择积分电容第二档位。

但是，研究发现，这种方式选择的积分电容档位对应的积分电容量程可能过大或过小。若积分电容测量的电荷量小，而积分电容量程过大，则导致测量精度过低，影响ct成像质量；若积分电容测量的电荷量大，而积分电容量程过小，则电荷量超出测量量程，积分电容无法测得准确的数据。由此可见，积分电容档位不适宜将影响测量精度和准确性，导致成像质量不佳。

基于上述问题，本申请提供一种调整电容档位的方法及装置，通过扫描物体已放线位置的衰减信息预测扫描物体未放线位置的衰减信息，再结合已知扫描剂量，获得未放线位置的接收通道的接收值范围，进一步根据接收值范围将积分电容的档位调整为合适的档位。

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。

第一实施例

参见图1，该图为本申请实施例提供的一种调整积分电容档位的方法流程图。

如图1所示，本实施例提供的调整积分电容档位的方法，包括：

步骤101：根据扫描物体已放线位置的衰减信息获得所述扫描物体未放线位置的预测衰减信息。

为便于理解ct机的放线位置和接收通道等概念，本步骤结合图2所示例的ct机构造及各部件的相对位置进行说明。

图2为本实施例提供的一种ct机结构示意图。如图2所示，ct机包括支架201，该支架可以绕旋转轴202旋转；辐射源203通过孔径204形成辐射束205，辐射束205可以穿过在支架201的中心位置的扫描物体206，辐射束205经过扫描物体206后撞击到检测器207上。检测器207布置在支架201上与辐射源203相对的位置上。

检测器207沿z方向划分为多个层，沿x方向划分为多个接收通道，由此，检测器207为由多个检测单元构成的阵列状检测器件。同一层检测单元沿x方向排布，同一接收通道检测单元沿z方向排布。以图2中检测单元209为例，检测单元209为位于第3个接收通道第7层的检测单元。

ct机进行螺旋扫描期间，辐射源203、孔径204和检测器207绕旋转轴202沿着箭头208所示的方向进行转动。在旋转过程中，辐射源203的放线位置(又称为view)不断发生变化。每个放线位置对应检测器207上多个接收通道。

作为一种具体实现方式，本步骤可根据光路的可逆性，利用已放线位置的接收通道的衰减信息获得未放线位置的预测衰减信息。需要说明的是，所述已放线位置的接收通道位于所述未放线位置的接收通道的对面。

需要说明的是，扫描物体的不同组织具有其各自对应的衰减系数，衰减信息为射线所述经过路径上对衰减系数的积分值。ct机检测器接收到的值经过空气校正后得到的数值为衰减信息。

为便于理解已放线位置和未放线位置的关系，本步骤获取扫描物体未放线位置的预测衰减信息的原理，下面结合图3所示的ct机放线位置和放线位置至对应接收通道的路径进行说明。

图3为本实施例提供的一种ct机扫描示意图。如图3所示，ct机扫描期间，沿着图示的旋转方向对扫描物体301进行扫描。图3中，viewk和viewj分别为已放线位置，viewi为未放线位置。viewk、viewj和viewi均为示例的放线位置，ct机实际扫描工作时，viewk、viewj和viewi两两之间有若干个放线位置。由于viewk和viewj为已放线位置，因此可知，在图3的示例中，viewk和viewj所在小段圆弧之间的其他放线位置也为已放线位置。

作为示例，辐射源对面的检测器具有第一接收通道、第二接收通道、第三接收通道、第四接收通道和第五接收通道。在图3中，辐射源与第一接收通道、第二接收通道、第三接收通道、第四接收通道和第五接收通道之间的路径分别由射线c1、c2、c3、c4和c5表示。需要说明的是，第一接收通道至第五接收通道仅为示例，实际应用中，辐射源对面检测器上的接收通道数量不止5个。

根据图3可知，viewk对应的射线c1与viewi对应的射线c5近似位于同一直线上，基于光路的可逆性，辐射源在已放线位置viewk的c1与辐射源在未放线位置viewi的c5的路径相似。类似地，viewj对应的射线c4与viewi对应的射线c2近似位于同一直线上，因此，辐射源在已放线位置viewj的c4，与辐射源在未放线位置viewi的c2相似。

可以理解的是，还存在viewk和viewj以外的其他已放线位置，辐射源在其他已放线位置至接收通道的路径分别与辐射源在未放线位置viewi的c1、c3和c4相似。因此可知，对于每一个未放线位置，均存在多个与其至各个接收通道的路径相似的已放线位置。

为便于理解本步骤，下面以获取扫描物体viewi的c5的预测衰减信息为例进行描述。

由于辐射源在已放线位置viewk的c1与辐射源在未放线位置viewi的c5的路径相似，因此，作为一具体实现方式，可以将扫描物体301已放线位置viewk的c1的衰减信息，作为扫描物体301未放线位置viewi的c5的预测衰减信息。扫描物体viewi的其他接收通道路径(c1、c2、c3、c4等)的预测衰减信息获取方式与上述示例相似，此处不再赘述。

步骤102：根据所述预测衰减信息和已知扫描剂量，获得所述未放线位置的接收通道的接收值范围，每个放线位置对应多个接收通道。

接收值具体是指ct机检测器接收到的数值。本实施例提供了一种求取未放线位置的接收通道接收值的具体实现方式，参见下述公式(1)：

i＝i0*exp(-ul)公式(1)

公式(1)中，i表示未放线位置的接收通道的接收值，i0表示已知扫描剂量经过形状过滤器之后的接收值，i0与已知剂量的大小及形状过滤器相关，ul表示扫描物体未放线位置至接收通道的预测衰减信息。

由于步骤101执行后，可获得扫描物体未放线位置的各个接收通道的预测衰减信息，进而根据公式(1)可以获得扫描物体未放线位置的各个接收通道的接收值，由其中的最大接收值和最小接收值可确定未放线位置的接收通道的接收值范围。

举例说明，未放线位置viewi的五个接收通道的接收值分别为：i1，i2，i3，i4和i5，其中，i4为最大接收值，i3为最小接收值，则可获得viewi的接收通道的接收值范围为[i3,i4]。

步骤103：根据所述接收值范围调整积分电容的档位。

积分电容通常具有多个档位，每个档位对应的量程不同。

接收值在显示时需要进行数字化处理，作为示例，显示的上限为n。由于档位量程不同，接收值显示时需要利用档位对应的放大倍数进行放大。例如，第一档位对应放大倍数k1，第二档位对应放大倍数k2，第三档位对应放大倍数k3。

作为一种可选的实现方式，可将步骤102得到的未放线位置的接收通道的接收值范围中最大接收值，乘以积分电容不同档位对应的放大倍数，得到多个乘积，将各个乘积中数值小于显示的上限n且与n最接近的乘积对应的档位作为需要调整的档位。例如，利用公式(1)得到最大接收值为i4，将i4分别与k1、k2和k3相乘，得到乘积为n1、n2和n3，其中，n2最接近n且小于n，因此若积分电容档位不为第二档位，步骤103将积分电容的档位调整为第二档位。

以上仅为本实施例提供的根据接收值范围调整积分电容档位的示例实施方式。可以理解的是，还可以利用其他方式根据接收值范围调整积分电容档位，例如将接收值范围中的最大接收值乘以预设系数后与各个档位对应的量程进行比较后，调整积分电容档位。本申请实施例中，对于步骤103的具体实现方式不进行限定。

以上为本实施例提供的调整电容档位的方法，首先根据扫描物体已放线位置的衰减信息获得扫描物体未放线位置的预测衰减信息；其后，根据预测衰减信息和已知扫描剂量，获得未放线位置的接收通道的接收值范围，每个放线位置对应多个接收通道；最后，根据接收值范围调整积分电容的档位。

由于未放线位置的接收通道与已放线位置的接收通道经过扫描物体的路径相似，因此，已放线位置的衰减信息可用于预测未放线位置的衰减信息。根据未放线位置的接收通道的接收值范围，可获知所需的积分电容量程，进而根据所需的积分电容量程确定需要的积分电容档位。由此可见，相比于现有技术，本申请通过预测未放线位置的衰减信息最终确定适宜的积分电容档位进行调节，利用档位调节后的积分电容能够提高测量数据的准确性，进而提高ct机的成像质量。

需要说明的是，本实施例中，可以采用经验积分电容档位对扫描物体进行已放线位置的扫描，进而得到扫描物体已放线位置的衰减信息。例如，对扫描物体进行一整圈的扫描过程中，前半圈使用经验积分电容档位进行，得到前半圈扫描过程中各个已放线位置的衰减信息；基于前半圈各个已放线位置的衰减信息，对后半圈的若干未放线位置的衰减信息进行预测，得到未放线位置的预测衰减信息。最终，利用未放线位置的预测衰减信息，确定未放线位置的接收值范围，然后在后半圈对于未放线位置对扫描物体进行实际扫描时，采用调整后的积分电容档位。

由于ct机扫描过程是螺旋方式扫描的，因此，即便一整圈范围内的已放线位置与未放线位置，在ct扫描床运动方向上的位置也存在差异。因此，仅根据光路的可逆性，利用已放线位置的接收通道的衰减信息获得未放线位置的预测衰减信息的准确性有待进一步校正。为此，本申请还提供了另一种调整电容档位的方法。下面结合附图和实施例对该方法进行详细说明。

第二实施例

参见图4，该图为本实施例提供的调整电容档位的方法流程图。

如图4所示，本实施例提供的调整电容档位的方法，包括：

步骤401：根据扫描物体已放线位置的衰减信息获得所述扫描物体未放线位置的预测衰减信息。

本实施例中，步骤401与前述实施例中步骤101的实施方式相同，步骤401的相关描述可参见前述实施例，此处不再进行赘述。

参见图4a，该图为ct机螺旋扫描的示意图。如图4a所示，扫描床沿z方向运动，螺旋线上各个放线位置的z方向断面不同。由此可知，未放线位置与已放线位置所在的z方向断面不同，即z方向位置不同。由于z方向位置存在差异，因此，未放线位置的各个接收通道与其对面已放线位置的接收通道接收辐射光束的路径并不绝对相同。故，将已放线位置的接收通道的衰减值作为对面未放线位置的接收通道的预测衰减值并不精确。

为此，以下通过步骤402至403对本步骤得到的未放线位置的预测衰减信息进行校正。

步骤402：根据扫描的平片信息获得所述已放线位置在z方向的第一衰减信息，以及根据扫描的所述平片信息获得所述未放线位置在所述z方向的第二衰减信息。

所述z方向为ct扫描床运动方向。本实施例中，可预先对扫描物体扫描平片，得到平片信息。根据平片信息中各个z方向位置的衰减面积，可等效出衰减面积相同或相似的水模。进而，根据平片信息可以得到各个z方向上各个断面对应的等效水模。

已放线位置在z方向的第一衰减信息，具体是已放线位置所在的z方向断面对应的等效水模的衰减信息；未放线位置在z方向的第二衰减信息，具体是未放线位置所在的z方向断面对应的等效水模的衰减信息。

以图3和图4a中示意的已放线位置viewk和未放线位置viewi为例，已放线位置viewk与未放线位置viewi在z方向的位置不同，已放线位置viewk在z方向的位置为zk，未放线位置viewi在z方向的位置为zi。根据扫描的平片信息，获得zk位置的衰减面积sk以及zi位置的衰减面积si。衰减面积sk的水模的衰减信息为azk，因此azk即为已放线位置viewk在z方向的第一衰减信息；衰减面积si的水模的衰减信息为azi，因此azi即为未放线位置viewi在z方向的第二衰减信息。

步骤403：利用所述第一衰减信息和所述第二衰减信息对所述未放线位置的预测衰减信息进行校正。

结合前述示例，本实施例提供了一种利用第一衰减信息和第二衰减信息对未放线位置的预测衰减信息进行校正的具体实现方式，参见下述公式(2)：

ulre1＝ul*(azi/azk)公式(2)

上述公式(2)中，ul表示执行步骤401得到的未放线位置viewi的第五接收通道的预测衰减信息，ulre1表示未放线位置viewi的第五接收通道校正后的预测衰减信息，azk表示已放线位置viewk在z方向的第一衰减信息，azi表示未放线位置viewi在z方向的第二衰减信息。

由于公式(2)中，ul是根据已放线位置viewk的第一接收通道的衰减信息获得的，已放线位置viewk在z方向的位置zk与未放线位置viewi在z方向的位置zi并不相同，因此，经过公式(2)的校正后，得到的ulre1是与未放线位置viewi的z方向位置zi相互匹配的预测衰减信息。进而，ulre1相比于ul具有较高的准确性。

需要说明的是，上述公式(2)中各个参数的物理含义仅为结合图3示例的物理含义。实际应用中，公式(2)中各个参数具有更为广泛的物理含义：ul是指未放线位置未经校正的预测衰减信息，ulre1是指未放线位置校正后的预测衰减信息，azk是指已放线位置在z方向的第一衰减信息，azi是指未放线位置在z方向的第二衰减信息。

步骤404：根据校正后的预测衰减信息和已知扫描剂量，获得所述未放线位置的接收通道的接收值范围，每个放线位置对应多个接收通道。

步骤405：根据接收值范围调整积分电容的档位。

本实施例中，步骤404和405的实现方式分别与前述实施例中步骤102和103的实现方式相同。区别仅在于本实施例步骤404和405应用的预测衰减信息具体是经过本实施例校正后的预测衰减信息。因此，步骤404和405的相关描述可具体参见前述实施例，此处不在进行赘述。

以上为本实施例提供的调整电容档位的方法。该方法基于未放线位置的预测衰减信息与未放线位置实际所在的z方向位置的不匹配问题，根据扫描的平片信息获得已放线位置在z方向的第一衰减信息以及未放线位置在z方向的第二衰减信息，利用第一衰减信息和第二衰减信息对未放线位置的预测衰减信息进行校正。其后利用校正后的预测衰减信息获得未放线位置的接收通道的接收值范围，最终根据接收值范围调整积分电容的档位。

由于预测衰减信息经过校正后准确性得到提高，因此获得的接收值范围的准确性也得到提高。进而，利用高准确性的接收值范围选择的积分电容档位与实际接收值的匹配度更高，数据测量更为准确，ct机成像质量进一步提高。

经过前述实施例得到的未放线位置的预测衰减信息与未放线位置的实际衰减信息，在相位和幅度上已经较为近似，但仍然可能存在预测误差。经过研究发现，相邻或相近的未放线位置的预测误差十分接近，例如已放线位置viewi-1与未放线位置viewi分别为ct机扫描旋转方向上的相邻放线位置，已放线位置viewi-1的预测衰减信息和实际衰减信息之间的预测误差，与未放线位置viewi的预测衰减信息和实际衰减信息之间的预测误差十分接近。基于此，本申请还提供了另一种校正预测衰减信息以调整积分电容档位的方法。下面结合附图和实施例对该方法进行详细说明。

第三实施例

参见图5，该图为本实施例提供的一种调整电容档位的方法流程图。

如图5所示，本实施例提供的调整电容档位的方法，包括：

步骤501：根据扫描物体已放线位置的衰减信息获得所述扫描物体未放线位置的预测衰减信息。

本实施例中，步骤501与前述实施例中步骤101的实施方式相同，步骤501的相关描述可参见前述实施例，此处不再进行赘述。

放线位置的预测衰减信息与实际衰减信息之间的误差被称为预测误差。研究发现，相邻或相近的放线位置的预测误差十分接近。因此，本实施例提供的预测衰减信息的校正方法中，采用与未放线位置相邻的已放线位置的预测误差，校正未放线位置的预测衰减信息。

下面结合步骤502对未放线位置的预测衰减信息的校正过程进行具体描述。

步骤502：利用与所述未放线位置相邻的已放线位置的预测衰减信息，以及所述相邻的已放线位置的实际衰减信息，对所述未放线位置的预测衰减信息进行校正。

在实际应用中，已放线位置的实际衰减信息与预测衰减信息的比值可用于表征已放线位置的预测误差系数。由于相邻或相近的放线位置的预测误差十分接近，因此，可利用已放线位置的预测误差系数，以及相邻的未放线位置的预测衰减信息，获得与该未放线位置实际衰减信息十分接近的校正后的预测衰减信息。依照下述公式(3)求解未放线位置的校正后的预测衰减信息：

ulre2(i)＝uli*(ul′i-1/uli-1)公式(2)

公式(3)中，uli-1和uli分别表示执行步骤501得到的已放线位置viewi-1和未放线位置viewi的预测衰减信息，uli′-1表示viewi-1的实际衰减信息，ulre2(i)表示未放线位置viewi校正后的预测衰减信息。需要说明的是，viewi-1是与未放线位置viewi相邻的已放线位置。

在公式(3)中，(uli′-1/uli-1)表示已放线位置viewi-1的预测衰减信息与实际衰减信息的预测误差系数。本实施例中，由于viewi-1是与未放线位置viewi相邻的已放线位置，因此，利用已放线位置viewi-1的预测衰减信息与实际衰减信息的预测误差系数，与未放线位置viewi的预测衰减信息相乘，得到的乘积ulre2(i)相当于经过预测误差系数(uli′-1/uli-1)校正后的预测衰减信息，该校正后的预测衰减信息与未放线位置viewi的实际衰减信息更加接近。

步骤503：根据校正后的预测衰减信息和已知扫描剂量，获得所述未放线位置的接收通道的接收值范围，每个放线位置对应多个接收通道。

步骤504：根据接收值范围调整积分电容的档位。

本实施例中，步骤503和504的实现方式分别与前述实施例中步骤102和103的实现方式相同。区别仅在于本实施例步骤503和504中应用的预测衰减信息具体是经过本实施例校正后的预测衰减信息。因此，步骤503和504的相关描述可具体参见前述实施例，此处不在进行赘述。

以上为本申请实施例提供的调整电容档位的方法。由于相邻放线位置的预测衰减信息的预测误差较为接近，因此本实施例提供的方法利用与未放线位置相邻的已放线位置的预测衰减信息，以及相邻的已放线位置的实际衰减信息，对所述未放线位置的预测衰减信息进行校正。校正后的预测衰减信息与未放线位置的实际衰减信息更加接近，即准确性得到提高，因此获得的接收值范围的准确性也得到提高。进而，利用高准确性的接收值范围选择的积分电容档位与实际接收值的匹配度更高，数据测量更为准确，ct机成像质量进一步提高。

本申请第二实施例和第三实施例提供的调整电容档位的方法，分别对预测衰减信息进行校正。可以理解的是，第二实施例和第三实施例提供的预测衰减信息的校正方法也可以相互结合，实现对预测衰减信息的综合校正，以提高预测衰减信息的准确性，降低校正后的预测衰减信息与实际衰减信息之间的预测误差。本申请中，对于采用第二实施例和第三实施例提供的校正方法对预测衰减信息进行校正的具体顺序不加以限定。

上述实施例的调整电容档位的方法可以由控制设备执行。下面结合附图和实施例，对本申请提供的一种调整电容档位的控制设备进行详细描述。

第四实施例

参见图6，该图为本申请提供的调整电容档位的控制设备的硬件结构图。

如图6所示，本实施例提供的控制设备，包括：

处理器601，通信接口602，存储器603，总线604。其中，处理器601、通信接口602和存储器603通过总线604完成相互间的通信。

其中，存储器603中可以存储有调整电容档位的逻辑指令，该存储器例如可以是非易失性存储器。处理器601可以调用执行存储器603中的调整电容档位的逻辑指令，以执行前述实施例提供的调整电容档位的方法。作为一种实现方式，该调整电容档位的逻辑指令可以为控制软件对应的程序，程序被处理器601执行时，实现前述实施例保护的调整电容档位的方法中部分或全部步骤。此时，作为一种可能的实现方式，控制设备可以对应地在显示界面上显示该指令对应的功能界面。

调整电容档位的逻辑指令的功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请公开的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请第一实施例提供的方法的全部或部分步骤。

本申请进一步提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有程序，该程序被处理器执行时实现本申请前述实施例保护的调整电容档位的方法中部分或全部步骤。该存储介质可以包括：u盘、移动硬盘、只读存储器(rom，read-onlymemory)、随机存取存储器(ram，randomaccessmemory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

上述的调整电容档位的逻辑指令，可以称为“调整电容档位的装置”，该装置可以划分成各个功能单元或模块。具体参见以下实施例。

基于前述实施例提供的调整电容档位的方法，为解决现有技术存在的问题，本申请还提供了一种调整电容档位的装置。下面结合附图和实施例对该装置进行详细描述。

第五实施例

参见图7，该图为本实施例提供的一种调整电容档位的装置的结构示意图。

如图7所示，本实施例提供的调整电容档位的装置，包括：衰减信息预测模块701、接收值范围获取模块702和电容档位调整模块703。

其中，衰减信息预测模块701，用于根据扫描物体已放线位置的衰减信息获得扫描物体未放线位置的预测衰减信息；

接收值范围获取模块702，根据预测衰减信息和已知扫描剂量，获得未放线位置的接收通道的接收值范围；每个放线位置对应多个接收通道；

电容档位调整模块703，用于根据接收值范围调整积分电容的档位。

以上为本实施例提供的调整电容档位的装置。由于未放线位置的接收通道与已放线位置的接收通道经过扫描物体的路径相似，因此，已放线位置的衰减信息可用于预测未放线位置的衰减信息。根据未放线位置的接收通道的接收值范围，可获知所需的积分电容量程，进而根据所需的积分电容量程确定需要的积分电容档位。由此可见，相比于现有技术，本申请通过预测未放线位置的衰减信息最终确定适宜的积分电容档位进行调节，利用档位调节后的积分电容能够提高测量数据的准确性，进而提高ct机的成像质量。

作为一种可选的实现方式，本实施例提供的调整电容档位的装置中，衰减信息预测模块701，具体包括：

第一预测单元，用于根据光路的可逆性，利用已放线位置的接收通道的衰减信息获得未放线位置的预测衰减信息。需要说明的是，所述已放线位置的接收通道位于所述未放线位置的接收通道的对面。

作为一种可选的实现方式，本实施例提供的调整电容档位的装置中，电容档位调整模块703具体包括：最大接收值获取单元和电容档位调整单元。

其中，最大接收值获取单元，用于从接收值范围中获取最大接收值；

电容档位调整单元，用于根据最大接收值调整积分电容的档位。

由于ct机扫描过程是螺旋方式扫描的，因此，即便一整圈范围内的已放线位置与未放线位置，在ct扫描床运动方向上的位置也存在差异。因此，仅根据光路的可逆性，利用已放线位置的接收通道的衰减信息获得未放线位置的预测衰减信息的准确性有待进一步校正。

为校正预测衰减信息，本实施例提供的调整电容档位的装置，还可进一步包括：衰减信息获取模块和第一校正模块。

其中，衰减信息获取模块，用于根据扫描的平片信息获得已放线位置在z方向的第一衰减信息，以及根据扫描的平片信息获得未放线位置在z方向的第二衰减信息；z方向是ct扫描床运动方向；

第一校正模块，用于利用第一衰减信息和第二衰减信息对未放线位置的预测衰减信息进行校正。

衰减信息获取模块和第一校正模块基于未放线位置的预测衰减信息与未放线位置实际所在的z方向位置的不匹配问题，根据扫描的平片信息获得已放线位置在z方向的第一衰减信息以及未放线位置在z方向的第二衰减信息，利用第一衰减信息和第二衰减信息对未放线位置的预测衰减信息进行校正。接收值范围获取模块702利用衰减信息获取模块和第一校正模块校正后的预测衰减信息，获得未放线位置的接收通道的接收值范围；电容档位调整模块703根据接收值范围调整积分电容的档位。

由于预测衰减信息经过校正后准确性得到提高，因此接收值范围获取模块702获得的接收值范围的准确性也得到提高。进而，电容档位调整模块703利用高准确性的接收值范围选择的积分电容档位与实际接收值的匹配度更高，数据测量更为准确，ct机成像质量进一步提高。

经过研究发现，相邻或相近的未放线位置的预测误差十分接近，例如已放线位置viewi-1与未放线位置viewi分别为ct机扫描旋转方向上的相邻放线位置，已放线位置viewi-1的预测衰减信息和实际衰减信息之间的预测误差，与未放线位置viewi的预测衰减信息和实际衰减信息之间的预测误差十分接近。为进一步提高预测衰减信息的准确性，本实施例提供的调整电容档位的装置，还可进一步包括：

第二校正模块，用于利用与未放线位置相邻的已放线位置的预测衰减信息，以及相邻的已放线位置的实际衰减信息，对未放线位置的预测衰减信息进行校正。

由于相邻放线位置的预测衰减信息的预测误差较为接近，因此本实施例提供的装置中第二校正模块利用与未放线位置相邻的已放线位置的预测衰减信息，以及相邻的已放线位置的实际衰减信息，对所述未放线位置的预测衰减信息进行校正。接收值范围获取模块702利用第二校正模块校正后的预测衰减信息，获得未放线位置的接收通道的接收值范围；电容档位调整模块703根据接收值范围调整积分电容的档位。

校正后的预测衰减信息与未放线位置的实际衰减信息更加接近，即准确性得到提高，因此接收值范围获取模块702获得的接收值范围的准确性也得到提高。进而，电容档位调整模块703利用高准确性的接收值范围选择的积分电容档位与实际接收值的匹配度更高，数据测量更为准确，ct机成像质量进一步提高。

应当理解，在本申请中，“至少一个(项)”是指一个或者多个，“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，用于描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，“a和/或b”可以表示：只存在a，只存在b以及同时存在a和b三种情况，其中a，b可以是单数或者复数。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。“以下至少一项(个)”或其类似表达，是指这些项中的任意组合，包括单项(个)或复数项(个)的任意组合。例如，a，b或c中的至少一项(个)，可以表示：a，b，c，“a和b”，“a和c”，“b和c”，或“a和b和c”，其中a，b，c可以是单个，也可以是多个。

以上所述，仅是本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制。虽然本发明已以较佳实施例揭露如上，然而并非用以限定本发明。任何熟悉本领域的技术人员，在不脱离本发明技术方案范围情况下，都可利用上述揭示的方法和技术内容对本发明技术方案做出许多可能的变动和修饰，或修改为等同变化的等效实施例。因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所做的任何简单修改、等同变化及修饰，均仍属于本发明技术方案保护的范围内。