一种薄膜铁磁共振线宽测试夹具

本技术涉及薄膜铁磁共振技术，具体涉及一种测试薄膜铁磁共振线宽的夹具。

背景技术：

1、目前，薄膜铁磁共振成熟的测试技术已经使薄膜测试的频率达到了40gh。

2、随着测试需要的不断提升，目前国内的测试装置已不满足更高频薄膜的线宽测试，各个实验室都在自主搭建所需的装置，而由最基础的kittle公式，随着频率的提升，所需要的的静态磁场会达到1至2个特斯拉级别，以目前商用电磁铁来看，2t级别的电磁铁体积较大，且重量约为1.5吨左右，因此不适合悬挂或放置在台面。对于铁磁共振的位置也有一个进一步的约束，目前实验室多以电磁铁间隙作为铁磁共振反应的场所，而为了能尽可能得到大的电磁场，电磁铁气隙基本较小，因此对于夹具的设计多以波导附着的窄型夹具为主，这就对在较小的磁铁气隙间放取样品以及更换波导带来了不小的挑战。

技术实现思路

1、本实用新型所要解决的技术问题是，为解决现有技术中更换样品麻烦、样品容易掉落、更换波导难的技术问题，提供一种圆盘型的薄膜铁磁共振线宽测试夹具。

2、本实用新型为解决上述技术问题所采用的技术方案是，一种薄膜铁磁共振线宽测试夹具，为一个圆筒型非磁性载体，包括中心支撑杆，固定波导的测试台以及外壳；

3、中心支撑杆包括中心探针台、中心探针支架、控制闩和杆；中心探针台设置在杆的最上部，用于固定探针；中心探针支架设置在中心探针台下方，套在杆的外侧滑动，中心探针支架的外缘直径大于测试台中部开孔直径，用于从测试台的中心位置将其托起并固定；控制闩设置在中心探针支架下方，用于固定中心探针支架的位置并控制其在杆上的升降；

4、测试台为中心开孔的圆盘型，采用非磁性材料，用于将四根接地共面波导通过非磁性螺丝以十字型固定在测试台上；

5、外壳包括外壳主体、边缘探针台和边缘探针支架；外壳主体为带有卡槽的圆筒型，设置在测试台外缘，用于从测试台的外缘位置对其进行固定；边缘探针支架固定在外壳主体外缘，用于支撑边缘探针台；边缘探针台设置在边缘探针支架上方，用于固定探针。

6、进一步的，中心探针台与中心探针支架之间以及边缘探针台与边缘探针支架之间，均通过两颗螺栓从探针台顶部穿过与探针支架连接，通过调节螺栓实现探针台的升降。

7、进一步的，中心探针支架包括垫片、中心接线柱与可伸缩连接杆；垫片为圆柱或者圆台型，其直径大于测试台中心开孔直径；中心接线柱设置在垫片中心上方，可伸缩连接杆设置在中心接线柱的径向方向上，用于连接中心支撑杆与测试台的中心开孔处，即中心探针支架通过可伸缩连接杆实现测试台的中心位置的固定。

8、具体的，控制闩使用螺丝松紧来调节台面高度。

9、进一步，在测试台外缘处两个相对位置设置有圆柱型连接杆，用于连接外壳。

10、进一步，在外壳主体上设置有可旋进旋出的螺丝，用于固定外壳与测试台外缘的相对位置。

11、具体的，带有卡槽的圆筒型的外壳主体由两个圆心相同的半径较大且高度较大的圆筒以及半径较小且高度较小的圆筒相减加工而成。

12、本实用新型的有益效果在于，结构简单，易于固定，可自由升降，应用于薄膜铁磁共振线宽测试时，不仅保证了测试样品易更换，节省测试者时间，其次能够有效减低样品掉落的概率，最后对于波导的更换也是十分有利，因此对于整体的测试有显著的提升。

技术特征：

1.一种薄膜铁磁共振线宽测试夹具，其特征在于，包括中心支撑杆，固定波导的测试台以及外壳；

2.如权利要求1所述测试夹具，其特征在于，中心探针台与中心探针支架之间以及边缘探针台与边缘探针支架之间，均通过两颗螺栓从探针台顶部穿过与探针支架连接，通过调节螺栓实现探针台的升降。

3.如权利要求1所述测试夹具，其特征在于，中心探针支架包括垫片、中心接线柱与可伸缩连接杆；垫片为圆柱或者圆台型，其直径大于测试台中心开孔直径；中心接线柱设置在垫片中心上方，可伸缩连接杆设置在中心接线柱的径向方向上，用于连接中心支撑杆与测试台的中心开孔处，即中心探针支架通过可伸缩连接杆实现测试台的中心位置的固定。

4.如权利要求1所述测试夹具，其特征在于，控制闩使用螺丝松紧来调节中心探针支架的位置。

5.如权利要求1所述测试夹具，其特征在于，在测试台外缘处两个相对位置设置有圆柱型连接杆，用于连接外壳。

6.如权利要求1所述测试夹具，其特征在于，在外壳主体上设置有可旋进旋出的螺丝，用于固定外壳与测试台外缘的相对位置。

7.如权利要求1所述测试夹具，其特征在于，带有卡槽的圆筒型外壳主体由两个圆心相同的半径较大且高度较大的圆筒以及半径较小且高度较小的圆筒相减加工而成。

技术总结
本技术提供一种薄膜铁磁共振线宽测试夹具，包括中心支撑杆，固定波导的测试台以及外壳；中心支撑杆包括中心探针台、中心探针支架、控制闩和杆；中心探针台设置在杆的最上部；中心探针支架用于从测试台的中心位置将其托起并固定；控制闩用于固定中心探针支架的位置并控制其在杆上的升降；测试台为中心开孔的圆盘型；外壳包括外壳主体、边缘探针台和边缘探针支架；外壳主体为带有卡槽的圆筒型，用于从测试台的外缘位置对其进行固定；边缘探针支架固定在外壳主体外缘，用于支撑边缘探针台；边缘探针台设置在边缘探针支架上方。本技术结构简单，易于固定，可自由升降，不仅保证了测试样品易更换，节省测试者时间，有效减低样品掉落的概率。

技术研发人员：张怀武,臧百斐,金立川,傅橙辉,岳华伟
受保护的技术使用者：电子科技大学
技术研发日：20230330
技术公布日：2024/1/13