一种NAND闪存测试治具的制作方法

本技术涉及闪存测试，具体涉及一种nand闪存测试治具。

背景技术：

1、对闪存的测试中，外部主机是通过一个接口与测试板进行连接，通过该接口，外部主机与测试板进行通信，以及数据的双向传输，对闪存进行数据的写入和读取的存储性能测试，外部主机根据写入和读取的数据判断闪存存储性能的好坏。整个测试过程，连接外部主机的接口需要进行通信指令和数据的双向传输，由于接口带宽的限制，导致能够同时测试的闪存数量较少，测试效率不高。

2、其中，公告号cn216250003u公开了一种闪存测试板及测试装置，闪存测试板包括：测试板本体；第一接口，设置于所述测试板本体上，并与所述测试板本体电连接，用于连接外部主机，以使所述外部主机向所述测试板本体发送数据；第二接口，设置于所述测试板本体上，并与所述测试板本体电连接，用于连接所述外部主机，以使所述外部主机与所述测试板本体之间进行通信指令传输；多个测试接口，设置于所述测试板本体上，并与所述测试板本体电连接，用于与多个待测试闪存一一对应连接，以使所述测试板本体将接收的数据写入所述多个待测试闪存，并进行读取，以及测试板本体根据写入的数据和读取的数据向所述外部主机发送测试结果，该技术方案中仍存在缺陷：

3、该技术方案中测试前需要人工手动逐个插入闪存，测试结束后需要人工手动逐个拔出闪存，在进行大量闪存测试时，非常浪费时间，进而降低了工作效率。

技术实现思路

1、鉴于上述现有闪存测试板及测试装置存在的问题，提出了本实用新型。

2、因此，本实用新型目的是提供一种nand闪存测试治具，解决了现有技术中闪存测试板及测试装置中测试前需要人工手动逐个插入闪存，测试结束后需要人工手动逐个拔出闪存，在进行大量闪存测试时，非常浪费时间，进而降低了工作效率的问题。

3、为了实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：

4、一种nand闪存测试治具，包括测试电路板，所述测试电路板的上表面固定设置有多个测试接头，所述测试电路板的上侧设置有滑板，所述滑板的下表面固定设有u型板，所述u型板内侧转动设置有转杆，所述转杆的杆壁固定套接有多棱柱，所述多棱柱的多个侧壁均开设有第一凹槽，多个所述第一凹槽的一侧均开设有第二凹槽，所述第二凹槽的内部设置有夹持机构；

5、所述测试电路板的一侧固定设置有l型板，所述l型板与底板之间一侧转动设置有方杆且另一侧转动设置有往复丝杆，所述滑板的一端与往复丝杆螺纹套接，所述u型板的一侧固定设置有u型块，所述u型块的内侧转动设置有蜗杆，所述蜗杆的内部开设有方槽，所述方杆穿过所述方槽，所述转杆的一端固定套接有蜗轮，所述蜗杆与蜗轮啮合连接；

6、所述l型板的上端内侧设置有依次带动方杆和往复丝杆转动的传动机构。

7、优选的，所述夹持机构包括夹板和螺纹杆，多个所述夹板均滑动设置于对应的第二凹槽的内侧，多个所述螺纹杆均螺纹套设于对应的夹板的内侧，多个所述螺纹杆的两端均与对应的第二凹槽的内壁转动连接，多个所述螺纹杆呈首尾相连设置，方便对多个闪存进行同时夹持固定。

8、优选的，所述传动机构包括直齿轮和不完全齿轮，所述方杆和往复丝杆的上端之间设置有传动杆，所述传动杆的一端与l型板转动连接，所述l型板的上表面固定设置有电机，所述电机的输出端与传动杆的一端固定连接，所述不完全齿轮固定套接于传动杆的下端，两个所述直齿轮分别固定套接于对应的方杆和往复丝杆的上端，所述不完全齿轮与两个所述直齿轮均匹配，不完全齿轮依次带动两个直齿轮转动，能够依次带动方杆和往复丝杆转动。

9、优选的，所述测试电路板远离l型板的一侧上表面固定设置有限位杆，所述滑板的一端与限位杆活动套接，使得滑板能够稳定的滑动。

10、优选的，所述滑板的表面且与所述方杆对应的位置开设有避让槽，尽量防止对方杆的转动造成干涉。

11、优选的，所述多棱柱的一端开设有第三凹槽，一侧所述螺纹杆的一端延伸至第三凹槽的内部并固定套接有转轮，方便转动螺纹杆。

12、优选的，多个所述夹板均为橡胶板，尽量防止对闪存造成夹伤。

13、在上述技术方案中，本实用新型提供的技术效果和优点：

14、1、本实用新型，通过将多个闪存放置在一排第一凹槽内，然后转动螺纹杆，使得多个螺纹杆带动夹板移动，即能够对一排闪存进行同时夹持固定。

15、2、本实用新型，通过不完全齿轮依次带动两个直齿轮转动，即依次带动方杆和往复丝杆转动，往复丝杆转动带动下侧多个闪存插入测试接头内，测试结束后复位，然后方杆转动带动蜗杆转动，蜗杆带动蜗轮转动，蜗轮带动转杆转动，即使得多棱柱转动，将另一侧成排设置的闪存旋转至多个测试接头的上侧，即能够对多组闪存进行自动化插拔，能够大大提高工作效率。

技术特征：

1.一种nand闪存测试治具，包括测试电路板(1)，其特征在于，所述测试电路板(1)的上表面固定设置有多个测试接头(2)，所述测试电路板(1)的上侧设置有滑板(3)，所述滑板(3)的下表面固定设有u型板(4)，所述u型板(4)内侧转动设置有转杆(5)，所述转杆(5)的杆壁固定套接有多棱柱(6)，所述多棱柱(6)的多个侧壁均开设有第一凹槽，多个所述第一凹槽的一侧均开设有第二凹槽，所述第二凹槽的内部设置有夹持机构；

2.根据权利要求1所述的nand闪存测试治具，其特征在于，所述夹持机构包括夹板(19)和螺纹杆(14)，多个所述夹板(19)均滑动设置于对应的第二凹槽的内侧，多个所述螺纹杆(14)均螺纹套设于对应的夹板(19)的内侧，多个所述螺纹杆(14)的两端均与对应的第二凹槽的内壁转动连接，多个所述螺纹杆(14)呈首尾相连设置。

3.根据权利要求1所述的nand闪存测试治具，其特征在于，所述传动机构包括直齿轮(18)和不完全齿轮(16)，所述方杆(12)和往复丝杆(8)的上端之间设置有传动杆(15)，所述传动杆(15)的一端与l型板(7)转动连接，所述l型板(7)的上表面固定设置有电机(17)，所述电机(17)的输出端与传动杆(15)的一端固定连接，所述不完全齿轮(16)固定套接于传动杆(15)的下端，两个所述直齿轮(18)分别固定套接于对应的方杆(12)和往复丝杆(8)的上端，所述不完全齿轮(16)与两个所述直齿轮(18)均匹配。

4.根据权利要求1所述的nand闪存测试治具，其特征在于，所述测试电路板(1)远离l型板(7)的一侧上表面固定设置有限位杆(13)，所述滑板(3)的一端与限位杆(13)活动套接。

5.根据权利要求1所述的nand闪存测试治具，其特征在于，所述滑板(3)的表面且与所述方杆(12)对应的位置开设有避让槽。

6.根据权利要求2所述的nand闪存测试治具，其特征在于，所述多棱柱(6)的一端开设有第三凹槽，一侧所述螺纹杆(14)的一端延伸至第三凹槽的内部并固定套接有转轮。

7.根据权利要求2所述的nand闪存测试治具，其特征在于，多个所述夹板(19)均为橡胶板。

技术总结
本技术公开了一种NAND闪存测试治具，涉及闪存测试技术领域，包括测试电路板，所述测试电路板的上表面固定设置有多个测试接头，所述测试电路板的上侧设置有滑板，所述滑板的下表面固定设有U型板，所述U型板内侧转动设置有转杆，所述转杆的杆壁固定套接有多棱柱，所述多棱柱的多个侧壁均开设有第一凹槽，多个所述第一凹槽的一侧均开设有第二凹槽，所述第二凹槽的内部设置有夹持机构；所述测试电路板的一侧固定设置有L型板，所述L型板与底板之间一侧转动设置有方杆且另一侧转动设置有往复丝杆，所述滑板的一端与往复丝杆螺纹套接，所述U型板的一侧固定设置有U型块。本技术能够对多组闪存进行自动化插拔，能够大大提高工作效率。

技术研发人员：徐瑞雪,向景钰
受保护的技术使用者：深圳市捷龙存储科技有限公司
技术研发日：20230425
技术公布日：2024/1/15