本技术涉及测试架,具体为一种芯片夹持工装的调节结构。
背景技术:
1、芯片夹持工装使用于对芯片、电路板的固定和测试使用,能够对多种芯片、电路板进行夹持并测试。
2、通常在芯片夹持工装的使用过程中,应对不同芯片的尺寸需要在对其进行夹持的同时调整夹持位置,以应对不同芯片的尺寸进行夹持并测试,以保证对芯片的卡合没有过大的间隙或松动,通常添加垫片调整其夹持高度,其过程过于麻烦和复杂。
3、因此,需要对测试架进行设计改造,有效的防止其调整夹持高度麻烦的现象。
技术实现思路
1、为解决上述背景技术中提出的问题,本实用新型的目的在于提供一种芯片夹持工装的调节结构,具备快速调节夹持高度的优点,解决了调整夹持高度麻烦的问题。
2、为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种芯片夹持工装的调节结构,包括测试架,所述测试架的正面滑动连接有夹具,所述夹具正面的左侧和右侧均开设有滑槽,所述滑槽内壁的表面滑动连接有滑块,所述滑块的背面与测试架的正面固定连接,所述夹具的左侧固定连接有齿块,所述齿块有多个且均匀的分布在夹具的左侧,所述齿块的表面啮合有齿轮,所述齿轮的正面固定连接有限位圈,所述齿轮内壁的表面通过轴承活动连接有固定杆,所述固定杆的背面与测试架的正面固定连接,所述齿轮正面的顶部固定连接有固定板,所述固定板的左侧固定连接有拉绳,所述拉绳远离固定板的一端固定连接有滑动杆,滑动杆的表面与测试架内壁的表面滑动连接。
3、作为本实用新型优选的,所述滑动杆的表面固定连接有垫套,所述垫套具有弹性和防滑能力。
4、作为本实用新型优选的,所述滑动杆的顶部和底部均固定连接有凸块,所述凸块有四个且均匀的分布在滑动杆的顶部和底部,所述凸块的表面与测试架的表面活动连接。
5、作为本实用新型优选的,所述滑块的正面固定连接有限位杆,所述限位杆背面的左侧和右侧与夹具的表面滑动连接。
6、作为本实用新型优选的,所述夹具的底部活动连接有防护壳,所述防护壳的背面与测试架的正面固定连接。
7、作为本实用新型优选的,所述滑块的顶部和底部均固定连接有隔垫,所述隔垫具有弹性和减振能力。
8、与现有技术相比,本实用新型的有益效果如下:
9、1、本实用新型使用时,在滑块和滑动杆的作用下,能够对夹具的夹持高度进行直接调整,避免了添加垫板调节的麻烦和复杂,从而减少了操作时间,增加了工作效率,使其具备了快速调节夹持高度的优点。
10、2、本实用新型通过设置垫套,能够增加滑动杆的摩擦力,同时提升使用舒适度。
1.一种芯片夹持工装的调节结构,包括测试架(1),其特征在于:所述测试架(1)的正面滑动连接有夹具(2),所述夹具(2)正面的左侧和右侧均开设有滑槽(3),所述滑槽(3)内壁的表面滑动连接有滑块(4),所述滑块(4)的背面与测试架(1)的正面固定连接,所述夹具(2)的左侧固定连接有齿块(5),所述齿块(5)有多个且均匀的分布在夹具(2)的左侧,所述齿块(5)的表面啮合有齿轮(6),所述齿轮(6)的正面固定连接有限位圈(7),所述齿轮(6)内壁的表面通过轴承活动连接有固定杆(8),所述固定杆(8)的背面与测试架(1)的正面固定连接,所述齿轮(6)正面的顶部固定连接有固定板(9),所述固定板(9)的左侧固定连接有拉绳(10),所述拉绳(10)远离固定板(9)的一端固定连接有滑动杆(11),滑动杆(11)的表面与测试架(1)内壁的表面滑动连接。
2.根据权利要求1所述的一种芯片夹持工装的调节结构,其特征在于:所述滑动杆(11)的表面固定连接有垫套(12),所述垫套(12)具有弹性和防滑能力。
3.根据权利要求1所述的一种芯片夹持工装的调节结构,其特征在于:所述滑动杆(11)的顶部和底部均固定连接有凸块(13),所述凸块(13)有四个且均匀的分布在滑动杆(11)的顶部和底部,所述凸块(13)的表面与测试架(1)的表面活动连接。
4.根据权利要求1所述的一种芯片夹持工装的调节结构,其特征在于:所述滑块(4)的正面固定连接有限位杆(14),所述限位杆(14)背面的左侧和右侧与夹具(2)的表面滑动连接。
5.根据权利要求1所述的一种芯片夹持工装的调节结构,其特征在于:所述夹具(2)的底部活动连接有防护壳(15),所述防护壳(15)的背面与测试架(1)的正面固定连接。
6.根据权利要求1所述的一种芯片夹持工装的调节结构,其特征在于:所述滑块(4)的顶部和底部均固定连接有隔垫(16),所述隔垫(16)具有弹性和减振能力。