专利名称：使用球体的接触式探测器的制作方法
技术领域：
本发明是关于使用球体的接触式探测器，具体地说，该使用球体的接触式探测器在2个小钢球之间用大钢球作为探针，通过磁力使大钢球接触任意一个小钢球，从而探针以点接触方式与小钢球连接，探针不仅能够沿上下方 向自由移动，而且通过较小的力就可以很容易地旋转，从而能够通过扫描阵列电极(八。夕一乂電極)检测断线或短路。
背景技术：
现在使用的影像显示器件主要有阴极射线管显示器(CRT)、作为平板 显示器件的液晶显示器(LCD)、等离子显示器(PDP)等。其中，阴极射线管显示器在画质及明亮度方面相比其它器件具有非常优 越的性能，但由于体积和重量较大，所以不适合用于大型屏幕。相反，平板显示器相比阴极射线管显示器具有较小的体积和重量，因此 其使用范围也日益广泛，作为下一代显示器，成为研究热点。一般来说，PDP (Plasma Display Panel)指的是在由上玻璃板和下玻璃 板以及它们之间的隔板密闭而成的玻璃之间充入Ne+Ar、 Ne+Xe等气体，通 过阳极和阴极的电极施加电压而发出霓虹光，并作为显示光使用的电子显示 装置。因此，PDP以相对的上玻璃板和下玻璃板的纵向阵列电极和横向阵列电 极之间构成的交叉点作为放电单元，通过开启/关闭放电过程，显示各种文字 和图像。PDP为发光型，能够实现鲜明的大型显示，因此以往多用于FA(工程 自动化)领域，现在随着显示器的小型轻量化、高性能化，也开始广泛用于 个人电脑等的OA (办公自动化)领域，而且由于其显示屏大、显示质量高， 而且反应速度快，因此用于悬挂式TV，其需求正在快速增加。此外，液晶由于容易处理，而且具有在外部电场下能够改变晶格排列的 固有特性，因此使用液晶的显示器件广泛应用于例如FLCD (Ferroelectric Liquid Crystal Device)、 TN (Twisted Nematic) -LCD、 STN (Super Twisted Nematic) -LCD、 TFT (Thin Film Transistor) -LCD、塑料-LCD、 EL (Electro Luminescence,电致发光器件)等。一般来说，驱动上述平板显示器的驱动IC以COG (Chip on Glass)形 态直接安装，或以预先组合到FPC (FiexiblePCB)或TS (Tape Substrate) 中的TCP (Tape Carrier Package)形态安装到显示屏。现在，对于42英寸的PDP，阵列电极中线宽和间距(pitch)分别达到 50(im及300^im， TFT-LCD板的阵列电极间距也达到约70[xm，因此，与上 述大型化相对应，装载了驱动IC的电路板的阵列电极也需要细微化及多管 脚化(多^化)。为检测上述显示器形成的阵列电极或TS电路板形成的阵列电极的断线 及短路，如图1所示，排列多个探针探测器30以形成探测器模块20，将探 针探测器30与阵列电极15加压接触，然后从阵列电极15的一侧输入信号 发生器(没有图示)发出的信号，并在另一侧进行测定来检测断线及短路。但是，上述通过探针探测器检测阵列电极的方法具有下述问题。第一、探针探测器在反复接触作业中会因为探针探测器的触脚变形而引 起接触不良。第二、为解决上述问题，需要将探针探测器的直径做的相对较小，使其 与高解像度的狭窄电极的接触面相对应，但这种做法将降低探针探测器的刚 性，从而降低对弯曲力矩的承受能力，使电线容易发生弯曲变形，造成电极 接触面的接触不良。
第三、探针探测器的检测方法采用的是探针探测器和阵列电极加压接触 的方法，不仅价格高，而且缺乏耐久性的探针探测器在加压接触时容易损伤， 进行更换需要很高的费用。第四、当产品模型或设计发生变更，需要改变阵列电极的位置及间距等 时，由于探针探测器的位置及间距被固定，因此与此相关的结构必须全部替 换，对模型或设计变更的对应性很差，不具有通用性。第五、检测时必须将探针探测器与阵列电极加压接触，而接触时容易对 阵列电极造成刮伤等损伤，成为另一不良因素。另一方面，即使对于解决了上述探针探测器存在问题的滚动形式的圆盘 式滚轮型探针，为了减少转动圆盘式滚轮时产生的摩擦，需要使用球轴承， 因此存在只能制造大于一定尺寸的探针的问题。发明内容本发明为解决上述问题而提出，其目的是提供在两个小钢球之间用大钢 球作为探针，通过磁力使大钢球接触任意一个小钢球，从而探针以点接触方 式与小钢球连接，探针不仅能够沿上下方向自由移动，而且通过较小的力就 可以很容易地旋转，从而能够通过扫描阵列电极检测断线或短路的使用球体 的接触式探测器。为达到上述目的，本发明提供了使用球体的接触式探测器，该使用球体 的接触式探测器包括用于在第1钢球和第2钢球之间通过磁力与第1钢球 和第2钢球中任意一个钢球接触而实现电连接的第3钢球；用于在固定第1钢球和第2钢球的同时电连接第1钢球和第2钢球的第1支撑部件及第2支 撑部件；用于使第1及第2支撑部件维持一定的间隔从而维持第1、第2及 第3钢球中任意两个之间的间隔的隔离装置；用于磁化第1钢球和第2钢球 的磁铁。
本发明特点是第3钢球的直径大于第1及第2钢球的直径。 本发明特点是隔离装置设置在第1及第2支撑部件之间。 本发明特点是第1及第2支撑部件为磁体。 本发明特点是磁铁设置在第1及第2支撑部件之间。 本发明特点是第1钢球及第2钢球分别嵌入固定在第1及第2支撑部件中。本发明特点是第1、第2及第3钢球的中心位于同一直线上。 本发明特点是通过第1支撑部件和第2支撑部件进行电连接。 此外，本发明的使用球体的接触式探测器的特征在于，该使用球体的接 触式探测器包括第1支撑部件及第2支撑部件，相对配置并在其下方侧面 分别形成有凹部；分别嵌入凹部的第1钢球及第2钢球；第3钢球，中心位 于第1钢球及第2钢球之间的中心连线上，并向第1及第2支撑部件下方凸 出配置；磁铁，配置于第l支撑部件和第2支撑部件之间，施加磁力的同时 维持第l、第2及第3钢球中的任意两个之间的距离。 本发明特点是第1及第2支撑部件为磁体。 本发明特点是第3钢球的直径大于第1及第2钢球的直径。 本发明特点是通过第1支撑部件和第2支撑部件进行电连接。 本发明结构如上所述，位于第1钢球和第2钢球之间的第3钢球在磁力 作用下不会脱离第1钢球和第2钢球之间区域，第3钢球以第1钢球和第2 钢球中的任意一个钢球为基准沿上下方向自由移动，而且由于接触电阻较 小，因此能够没有滑动地旋转，与阵列电极实现点接触，将钢球的直径变小 还能应用于细微间距的阵列电极。本发明在2个小钢球之间用大钢球作为探针，通过磁力使大钢球接触任 意一个小钢球，从而使探针以点接触方式与小钢球连接，大钢球不仅能够沿 上下方向自由移动，而且通过较小的力就可以很容易地旋转。
本发明的探针能够沿上下方向自由移动，而且通过较小的力就能很容易 地旋转，因此与阵列电极接触检测断线或短路时不会对其造成损伤。此外，本发明的探针具有很小的接触阻抗，因此损耗很小，从而探测器 具有较长使用寿命。此外，不同于使用球轴承减小转动摩擦的现有技术，本发明的钢球通过 磁力以点接触方式连接并进行旋转，因此能够制造小直径的钢球，用于细微 阵列的测量。
图1是普通探针探测器的示意图；图2是本发明涉及的使用球体的接触式探测器的使用状态斜视图； 图3是图2的侧面示意图；图4是本发明的一种实施方式涉及的使用球体的接触式探测器的剖面示 意图；图5是本发明的其它实施方式涉及的使用球体的接触式探测器的剖面示 意图。附图标记10:电路板15:阵列电极20:探测器模块30:探针探测器40:使用球体的接触式探测器41:第l支撑部件42:第2支撑部件45:凹部50:传送装置51:第l钢球52:第2钢球53:第3钢球60:磁铁70:隔离装置具体实施方式
下面，参照附图对本发明最佳实施方式进行说明。下述实施方式并不限 定本发明的权利要求范围，仅仅是本发明的一个示例，具有该领域的一般知 识的人员可以在本发明技术思想范围内实现多种变形实施方式。图2是本发明涉及的使用球体的接触式探测器的使用状态斜视图，图3 是图2的侧面示意图。如图2及图3所示，使用球体的接触式探测器40安装在阵列电极15的 断线及短路检测装置(没有图示)的传送装置50上，使阵列电极15与球体 53接触，通过沿阵列电极15的垂直方向移动使用球体的接触式探测器40， 使球体53旋转，球体53与阵列电极15滚动式接触，从而检测断线及短路。图4是图3所示的使用球体53的接触式探测器40沿A—A线的剖面示 意图。如图4所示，接触式探测器40包括第1支撑部件41及第2支撑部件 42，相对配置、在其下方侧面分别形成有凹部45并由磁体构成；嵌入凹部 45的第1钢球51及第2钢球52;第3钢球53，其中心位于第1钢球51及 第2钢球52之间的中心连线上，并向第1及第2支撑部件41、 42下方凸出 配置的直径大于第1及第2钢球51、 52的直径。此外，该接触式探测器40还包括磁铁60，配置于第1支撑部件41和第 2支撑部件42之间，并起到维持第l、第2及第3钢球51、 52、 53中任意 两者之间的距离的隔离装置的作用，同时磁化第1及第2钢球51、 52。作为其它实施方式，可以如图5所示，在第1及第2支撑部件41、 42 之间配置隔离装置70，在这些隔离装置70之间设置用于磁化第1及第2钢 球51、 52的磁铁60，使该磁铁60与第1及第2支撑部件41、 42的内侧接触。对于上述情形，第1及第2支撑部件41、 42和磁铁60通过磁力固定， 但是为了防止外力的推挤，也可以使用粘接剂固定磁铁60和第1及第2支 撑部件41、 42。为了实现与阵列电极15接触的第3钢球53和断线及短路检查装置之间 的电连接，可以通过将支撑与第3钢球53连接的第1及第2钢球51、 52的 第1及第2支撑部件41、 42进行电连接。如上所述，配置在被第1支撑部件41和第2支撑部件42支撑的第1及 第2钢球51、 52之间的第3钢球53，在磁力线内不会脱离第1及第2钢球 51、 52之间区域，与第1及第2钢球51、 52中的任意一个钢球进行点接触， 而与另一个钢球隔离，从而能够以点接触的钢球为基准，沿上下自由移动。此外，第3钢球53通过磁力与第l及第2钢球51、 52中的任意一个以 点接触方式连接，并与另一个隔离，因此用较小的力就能很容易地以接触点 为基准进行旋转。因此，为检测阵列电极15的断线及短路，将第3钢球53与阵列电极15 点接触，并以滚动方式旋转时，即使对不同高度的阵列电极15，也能够通过 第3钢球53的上下移动实现接触，在扫描时，由于第3钢球53能够顺滑地 滚动，与阵列电极15接触时不会造成刮伤等损伤，并能进行电性检测。如上所述，本发明使用通过磁力连接的钢球而与阵列电极进行点接触， 所述钢球能够以滚动式旋转并能检测断线及短路，因此在制造小直径的钢球 的情况下，也可以用于细微间距的阵列电极的检测。
权利要求
1、一种使用球体的接触式探测器，其特征在于，该使用球体的接触式探测器包括用于在第1钢球和第2钢球之间通过磁力与第1钢球和第2钢球中任意一个钢球接触而实现电连接的第3钢球；用于在固定第1钢球和第2钢球的同时电连接第1钢球和第2钢球的第1支撑部件及第2支撑部件；用于使第1及第2支撑部件维持一定的间隔从而维持第1、第2及第3钢球中任意两个之间的间隔的隔离装置；用于磁化第1钢球和第2钢球的磁铁。
2、 根据权利要求1所述的使用球体的接触式探测器，其特征在于，所 述第3钢球的直径大于第1及第2钢球的直径。
3、 根据权利要求1所述的使用球体的接触式探测器，其特征在于，所 述隔离装置设置在第1及第2支撑部件之间。
4、 根据权利要求1所述的使用球体的接触式探测器，其特征在于，所 述第1及第2支撑部件为磁体。
5、 根据权利要求1所述的使用球体的接触式探测器，其特征在于，所 述磁铁设置在第1及第2支撑部件之间。
6、 根据权利要求1所述的使用球体的接触式探测器，其特征在于，所 述第1钢球及第2钢球分别嵌入固定在所述第1及第2支撑部件中。
7、 根据权利要求1所述的使用球体的接触式探测器，其特征在于，所述第l、第2及第3钢球的中心位于同一直线上。
8、 根据权利要求1所述的使用球体的接触式探测器，其特征在于，通 过所述第1支撑部件和第2支撑部件进行电连接。
9、 一种使用球体的接触式探测器，其特征在于，该使用球体的接触式 探测器包括第1支撑部件及第2支撑部件，相对配置并在其下方侧面分别形成有凹部；分别嵌入所述凹部的第1钢球及第2钢球；第3钢球，中心位于所述第1钢球及第2钢球之间的中心连线上，并向 所述第1及第2支撑部件下方凸出配置；磁铁，配置于所述第1支撑部件和第2支撑部件之间，施加磁力的同时 维持所述第1及第3钢球之间的距离。
10、 根据权利要求9所述的使用球体的接触式探测器，其特征在于，所 述第1及第2支撑部件为磁体。
11、 根据权利要求9所述的使用球体的接触式探测器，其特征在于，所 述第3钢球的直径大于第1及第2钢球的直径。
12、 根据权利要求9所述的使用球体的接触式探测器，其特征在于，通 过所述第1支撑部件和第2支撑部件进行电连接。
全文摘要
本发明涉及使用球体的接触式探测器，该探测器在2个小钢球之间用大钢球作为探针，通过磁力使大钢球接触任意一个小钢球，从而大钢球以点接触方式与小钢球连接，大钢球不仅能够沿上下方向自由移动，而且通过较小的力就可以很容易地旋转，从而能够在不对阵列电极造成刮伤等损伤的情况下检测断线或短路。此外，由于探针的接触阻抗较小，损耗也很小，从而延长了探测器的寿命，而且作为探针的小钢球可以制作成较小的直径，因此还适用于细微阵列的测量。
文档编号G09G3/00GK101118271SQ20071013769
公开日2008年2月6日 申请日期2007年8月2日 优先权日2006年8月3日
发明者朴钟印, 琸 殷 申请人:微探测株式会社