专利名称：一种amoled微型显示器的寿命评估方法
技术领域：
本发明涉及OLED (有机发光二极管)显示器的寿命评估方法，尤其是一种AMOLED (主动矩阵式有机发光二极管)微型显示器的寿命评估方法。
背景技术：
OLED即有机发光二极管是近年来发展迅速的一门技术。从驱动方式上，OLED可分为主动矩阵式(AMOLED)和被动矩阵式(PMOLED)，一般来说，屏幕对角线1英寸以下的，称为OLED微型显示器。与传统的IXD相比，OLED显示器具有自发光、视角广，响应时间快，发光效率高，操作电压低，面板厚度薄，工作温度范围广，可柔性制作，生产成本低等优势，因此被视为下一代的主流显示技术，只是稍有不足的是OLED的寿命较短。OLED为电流致发光工作机制，在恒定电流下，OLED器件会因非本质和本质劣化因素发生退化，非本质因素包括基板的平整度原因、微小颗粒的污染、有机层与电极层的分离以及金属层的颗粒变化等，而本质因素则包括有机膜的稳定性和激发态的稳定性变化、可移动的离子杂质以及正电荷的积累影响等。器件退化的外在表现是在恒定驱动下，亮度会随着时间衰减。亮度衰减到初始值一半时经过的时间称之为半衰期t1/2，半衰期表征OLED 显示器的寿命。OLED由多层有机薄膜组成，包括电子、空穴注入层、电子、空穴传输层、电子、空穴阻挡层、发光层等。在发光层中掺杂不同的荧光/磷光分子，OLED会发出不同颜色的光。不同的多层膜结构设计、材料应用，也会显著影响OLED器件的寿命。AMOLED微型显示器可广泛应用在各个领域，不同场合下的目标使用亮度不同，相应的寿命也不同。因此，全面评估出AMOLED微型显示器的寿命以及建立一套完整的AMOLED 微型显示器寿命评估方法，可以更好地指导生产，对推进其大规模的商业应用，具有重要意义。
发明内容
本发明的目的是提出一种AMOLED微型显示器的寿命评估方法，以达到较全面地评估，尤其是推算出其在低亮度下的使用寿命，以满足其指导大规模商业应用的需要。本发明的一种AMOLED微型显示器的寿命评估方法，其特征在于该方法包括以下步骤
(1)在具有相同占空比τ。η、不同电流驱动信号周期T的驱动下，对至少6个样本的 AMOLED微型显示器在初始亮度Ltl的亮度下进行器件的加速老化测试，其中，占空比Τ。η为使用时间、与驱动信号周期T比值，占空比T。n值在0至1之间，驱动信号周期T在500ms以下，初始亮度Ltl至少为1000cd/m2 ；
(2)对该加速老化过程建立亮度衰减的理论模型即SED理论模型，并计算出各个样本在加速老化测试中相对应的半衰期t1/2 ；
SED理论模型的数学表达式为
权利要求
1. 一种AMOLED微型显示器的寿命评估方法，其特征在于该方法包括以下步骤 其中，t为S减时间，L(t)为对应时刻的亮度，Ltl为初始亮度，τ和β为两个待定系数， 通过拟合L-t曲线，求出τ和β，令L(t)/LQ=0. 5，则可求出半衰期t1/2 ；(3)对亮度衰减的理论模型进行分析，通过步骤(2)所计算得出的不同样本β偏差值评估同一批器件的均勻性、结构稳定性，β偏差越小，则生产均勻性越好，β偏差越大，则生产均勻性越不好，β的相对偏差应在10%以内；(4)建立寿命推算模型，推算模型的数学表达式为其中，L0为初始亮度，t1/2为半衰期，根据上述步骤中各个样本的Ltl取值和计算出的相对应的t1/2值，通过拟合求出η和C确定该表达式，然后根据显示器实际使用亮度L。bj值，求出L。bj下的t1/2值。
2.如权利要求1所述的一种AMOLED微型显示器的寿命评估方法，其特征在于所述的老化测试过程中，需要定期采集不同时刻t对应的显示器亮度Lw，时间间隔Δ t为0. 5h 2h。
3.如权利要求1所述的一种AMOLED微型显示器的寿命评估方法，其特征在于所述的时间间隔At值优选为Ih。
4.如权利要求1所述的一种AMOLED微型显示器的寿命评估方法，其特征在于所述的时间间隔Δ t可取0. 5h，老化后期取2h。
5.如权利要求1所述的一种AMOLED微型显示器的寿命评估方法，其特征在于所述的占空比Ton值为1/4、1/2或8/9。(1)在具有相同占空比T。n、不同电流驱动信号周期T的驱动下，对至少6个样本的 AMOLED微型显示器在初始亮度Ltl的亮度下进行器件的加速老化测试，其中，占空比Τ。η为使用时间、与驱动信号周期T比值，占空比T。n值在0至1之间，驱动信号周期T在500ms以下，初始亮度Ltl至少为1000cd/m2 ；(2)对该加速老化过程建立亮度衰减的理论模型即SED理论模型，并计算出各个样本在加速老化测试中相对应的半衰期t1/2 ；SED理论模型的数学表达式为
全文摘要
一种AMOLED微型显示器的寿命评估方法，涉及OLED(有机发光二极管)显示器的寿命评估方法，尤其是一种AMOLED(主动矩阵式有机发光二极管)微型显示器的寿命评估方法。该方法包括对样本的加速老化测试、对该加速老化过程建立亮度衰减的理论模型、对亮度衰减的理论模型进行分析并建立寿命推算模型从而计算出半衰期用来评估寿命。
文档编号G09G3/00GK102222455SQ20111015865
公开日2011年10月19日 申请日期2011年6月14日 优先权日2011年6月14日
发明者汪博炜, 胡赞东 申请人:云南北方奥雷德光电科技股份有限公司