专利名称：一种oled显示屏电光性能测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型属于电子技术领域，涉及一种对OLED显示屏进行光电性能测试的装置。
背景技术：
有机电致发光二极管(Organic Light-Emitting Diode,简称0LED)是一种新型平板显示器件。相比于传统的CRT、IXD，OLED具有低功耗、高亮度、主动发光、响应速度快、无视角问题及柔性化显示等优势，具有广阔的应用前景，被认为是最有可能替代液晶显示(LED)的器件。OLED显示屏制作完成后，需要对OLED显示屏进行光电性能检测。通过测试OLED器件的电流-电压特性、发光亮度-电压特性、温度-电流特性、发光效率-电压特性、色坐标以及电致发光光谱等，来判断器件发光性能和电学性能的好坏。目前较为普遍的是采用直流电压表、电流表来测定OLED显示屏的电流、电压特性；利用微弱光光度计测定OLED显示屏的发光亮度，利用温度采集仪测量OLED显示屏的温度。然后将测试数据输入到计算机进行后续分析处理，获得样品的电光性能。这种测量方法，电压、电流、亮度、温度等物理量无法实现同时测量，且误差大、效率低；数据采集量及采集密度也大大受到限制，无法准确地反映样品的性能。日本的OTSUKA公司虽然研制出基于上述方法的大型OLED光电特性一体化检测设备，但是这种大型的OLED检测设备、结构复杂、制作成本高、容易损坏，且操作过于复杂。在科研生产中，有时只是需要确定显示屏的好坏，并不需要检测出详细的电光特性，使用大型检测设备成本太高，因此就需要一个简单、实用、方便、价钱便宜的OLED电光性能测试机，以对OLED显示屏的好坏作出直观迅速的判断。
发明内容为了克服市面上的OLED电光性能测试装置结构复杂、制作成本高、容易损坏、且使用不方便的缺点，本实用新型提供一种OLED显示屏电光性能测试机，该OLED显示屏电光性能测试机基于ARM7控制芯片，可以快速检测出OLED显示屏的好坏，具有单色显示、灰度条显示和全彩显示的测试功能。本实用新型的技术方案是一种OLED显示屏电光性能测试装置，如图1至4所示，包括一个木质黑盒1、主电路板、控制板6、OLED显示屏接口板5和测试夹具；所述木质黑盒I的盒面开有两个长方形窗口 7和8 ;所述OLED显示屏接口板5安装于第一长方形窗口 7处，并采用DIP40插针与主板电路的DIP40插槽连接；所述主板电路由电源电路、RAM7系LPC2138芯片及外围电路、复位电路、JTAG下载电路以及接口电路组成，并固定安装于木质黑盒I内部；所述控制板6安装于第二长方形窗口 8处，控制板6上具有一个三档开关和电源指示灯，控制板6采用6针插脚和跳线与主电路板连接。所述OLED显示屏测试夹具包括一个压杆3，所述压杆3的一端采用固定座2固定于木质黑盒的盒面，且压杆3能够围绕固定端翻转；测试时，将待测OLED显示屏置于木质黑盒I的盒面上，并使待测OLED显示屏上的集成电路与OLED显示屏接口板5相接触；压上压杆3，压杆3与待测OLED显示屏的接触面具有连接泡沫刷9，以保证待测OLED显示屏上的集成电路与OLED显示屏接口板5形成良好的电接触；压上压杆3后，压杆3的另一端通过固定于木质黑盒I盒面的卡扣予以固定。所述控制板6的不同档位控制待测OLED显示屏显示单色、灰度条、全彩图片，对待测OLED显示屏进行快速直观的检测。所述电源电路由LM1117、MC7805和LM317三个稳压模块组成，实现市电输入到12V和3. 3V的直流输出。其中3. 3V和12V给SSD1355模组供，3. 3V给LPC2138供电。所述复位电路采用较为简单的组容复位电路，以MAX706为核心，实现上电复位和手动复位。所述RAM7系LPC2138芯片及外围电路采用外部11. 0592MHZ晶振；LPC2138的PO. 2,PO. 3,PO. 11和PO. 141/0 口为开漏输出，在用作I2C总线以及其他功能时，需要加I IOK的上拉电阻；LPC2138芯片的PO. 15、PO. 17、PO. 18和PO. 20 口外接控制板6，作为显示
档位的控制信号。所述JTAG下载电路采用ARM公司提出的标准20脚JTAG仿真调试接口。所述接口电路选用8080并行时序接口。其中BSO = 0，BS1 = 1，BS2 = 1，VCC外接，故⑶R，RESE，FB，Vbref悬空。选用内部提供时钟，故CL悬空。RD#, WR#, CS#, DC#, RES#为8080并行时序接口，接LPC2138的P2 口，D15 DO接LPC2138的PO 口。下载电路采用AR公司提出的标准20脚JTAG仿真调试接口，完成对LPC2138片上FLASH的烧写。本实用新型的有益效果是，本实用新型在科研生产中，可以快速让待测OLED显示屏显示单色、灰度条和全彩图片，使OLED显示屏的测试更加简便、快速，解决现有OLED显示屏测试的产能效率低问题，节约制造成本和检测成本。
图1、图2分别是本实用新型提供的OLED显示屏电光性能测试装置压杆扣上和打开时的结构示意图。图3、图4分别是本实用新型提供的OLED显示屏电光性能测试装置的前视图和右视图。图5是本实用新型提供的OLED显示屏电光性能测试装置的主板电路框图。图6是本实用新型提供的OLED显示屏电光性能测试装置的电源电路、LPC2138外围电路以及LPC2138与控制板的连接电路。图7是本实用新型提供的OLED显示屏电光性能测试装置的复位电路。图8是本实用新型提供的OLED显示屏电光性能测试装置的主板JTAG下载电路。图9是本实用新型提供的OLED显示屏电光性能测试装置的主板与OLED模组接口电路。图10是本实用新型提供的OLED显示屏电光性能测试装置的控制板电路图。
具体实施方式
一种OLED显示屏电光性能测试装置，如图1至4所示，包括一个木质黑盒1、主电路板、控制板6、OLED显示屏接口板5和测试夹具；所述木质黑盒I的盒面开有两个长方形窗口 7和8 ;所述OLED显示屏接口板5安装于第一长方形窗口 7处，并采用DIP40插针与主板电路的DIP40插槽连接；所述主板电路由电源电路、RAM7系LPC2138芯片及外围电路、复位电路、JTAG下载电路以及接口电路组成，并固定安装于木质黑盒I内部；所述控制板6安装于第二长方形窗口 8处，控制板6上具有一个三档开关和电源指示灯，控制板6采用6针插脚和跳线与主电路板连接。所述OLED显示屏测试夹具包括一个压杆3，所述压杆3的一端采用固定座2固定于木质黑盒的盒面，且压杆3能够围绕固定端翻转；测试时，将待测OLED显示屏置于木质黑盒I的盒面上，并使待测OLED显示屏上的集成电路与OLED显示屏接口板5相接触；压上压杆3，压杆3与待测OLED显示屏的接触面具有连接泡沫刷9，以保证待测OLED显示屏上的集成电路与OLED显示屏接口板5形成良好的电接触；压上压杆3后，压杆3的另一端通过固定于木质黑盒I盒面的卡扣予以固定。所述控制板6的不同档位控制待测OLED显示屏显示单色、灰度条、全彩图片，对待测OLED显示屏进行快速直观的检测。所述电源电路由LM1117、MC7805和LM317三个稳压模块组成，实现市电输入到12V和3. 3V的直流输出。其中3. 3V和12V给SSD1355模组供，3. 3V给LPC2138供电。所述复位电路采用较为简单的组容复位电路，以MAX706为核心，实现上电复位和手动复位。所述RAM7系LPC2138芯片及外围电路采用外部11. 0592MHZ晶振；LPC2138的PO. 2,PO. 3,PO. 11和PO. 141/0 口为开漏输出，在用作I2C总线以及其他功能时，需要加I IOK的上拉电阻；LPC2138芯片的PO. 15、PO. 17、PO. 18和PO. 20 口外接控制板6，作为显示
档位的控制信号。所述JTAG下载电路采用ARM公司提出的标准20脚JTAG仿真调试接口。所述接口电路选用8080并行时序接口。其中BSO = 0，BS1 = 1，BS2 = 1，VCC外接，故⑶R，RESE，FB，Vbref悬空。选用内部提供时钟，故CL悬空。RD#, WR#, CS#, DC#, RES#为8080并行时序接口，接LPC2138的P2 口，D15 DO接LPC2138的PO 口。下载电路采用ARM公司提出的标准20脚JTAG仿真调试接口，完成对LPC2138片上FLASH的烧写。在图5中，市电通过经过三个三端稳压模块产生12V和3. 3V电压，给LPC2138和SSD1355模组供电。通过JTAG接口将程序下载到LPC2138的片上FLASH中，产生数据信号和控制信号来控制SSD1355模组。再通过控制板的不同档位，来控制OLED裸屏的显示。图6是LPC2138外围电路以及电源电路。电源电路通过三个三端稳压模块，产生12V和3. 3V电源信号。LPC2138给SSD1355提供数据信号和控制信号，并通过PO. 15,PO. 17，PO. 18，PO. 20脚外接控制板来达到对OLED显示屏画面的控制。图7是复位电路。实现对LPC2138的上电自动复位和在该芯片运行过程中按键复位。图8是JTAG下载电路。将程序烧写到LPC2138的片上FLASH中。[0037]图9是LPC2138和SSD1355的接口电路。选用8080并行时序接口，故BSO = 0，BSl = 1，BS2 = I。VCC外接，故⑶R，RESE, FB, Vbref悬空。选用内部提供时钟，故CL悬空。RD#, WR#, CS#, DC#, RS# 为 8080 并行时序接口，接 LPC2138 的 P2 口，D15 DO 接 PO 口。图10是控制板电路图。一个开关和电源相接。三个控制按钮接收LPC2138通过6针插脚送来的控制信号，实现三个档位的选择。
权利要求1.一种OLED显示屏电光性能测试装置，其特征在于，包括一个木质黑盒(I)、主电路板、控制板(6)、0LED显示屏接口板(5)和测试夹具；所述木质黑盒(I)的盒面开有两个长方形窗口(7和8);所述OLED显示屏接口板(5)安装于第一长方形窗口(7)处，并采用DIP40插针与主板电路的DIP40插槽连接；所述主板电路由电源电路、RAM7系LPC2138芯片及外围电路、复位电路、JTAG下载电路以及接口电路组成，并固定安装于木质黑盒(I)内部；所述控制板(6)安装于第二长方形窗口(8)处，控制板(6)上具有一个三档开关和电源指示灯，控制板(6)采用6针插脚和跳线与主电路板连接； 所述OLED显示屏测试夹具包括一个压杆(3)，所述压杆(3)的一端采用固定座(2)固定于木质黑盒的盒面，且压杆(3)能够围绕固定端翻转；测试时，将待测OLED显示屏置于木质黑盒(I)的盒面上，并使待测OLED显示屏上的集成电路与OLED显示屏接口板(5)相接触；压上压杆(3)，压杆(3)与待测OLED显示屏的接触面具有连接泡沫刷(9)，以保证待测OLED显示屏上的集成电路与OLED显示屏接口板(5)形成良好的电接触；压上压杆(3)后，压杆(3)的另一端通过固定于木质黑盒(I)盒面的卡扣予以固定。
2.根据权利要求1所述的OLED显示屏电光性能测试装置，其特征在于，所述控制板(6)的不同档位控制待测OLED显示屏显示单色、灰度条、全彩图片，对待测OLED显示屏进行快速直观的检测。
3.根据权利要求1所述的OLED显示屏电光性能测试装置，其特征在于，所述电源电路由LM1117、MC7805和LM317三个稳压模块组成，实现市电输入到12V和3. 3V的直流输出。
4.根据权利要求1所述的OLED显示屏电光性能测试装置，其特征在于，所述复位电路采用简单的组容复位电路，以MAX706为核心，实现上电复位和手动复位。
5.根据权利要求1所述的OLED显示屏电光性能测试装置，其特征在于，所述RAM7系LPC2138芯片及外围电路采用外部11. 0592MHZ晶振；LPC2138的PO. 2、PO. 3、PO. 11和PO. 141/0 口为开漏输出，在用作I2C总线以及其他功能时，需要加I IOK的上拉电阻；LPC2138 芯片的 PO. 15、PO. 17、PO. 18 和 PO. 20 口外接控制板(6)。
6.根据权利要求1所述的OLED显示屏电光性能测试装置，其特征在于，所述JTAG下载电路采用ARM公司提出的标准20脚JTAG仿真调试接口，完成对LPC2138芯片中FLASH的烧写。
7.根据权利要求1所述的OLED显示屏电光性能测试装置，其特征在于，所述接口电路选用8080并行时序接口。
专利摘要一种OLED显示屏电光性能测试装置，属于电子技术领域。采用LPC2138作为主控芯片，控制主板由电源电路，JTAG下载电路，复位电路，LPC2138外围电路以及接口电路组成。控制主板用螺丝固定在黑盒内部，将待测OLED显示屏裸屏的IC放在接口板的引脚处，压上压杆，通过连接泡沫刷压紧，扣上卡扣，接通电源，即可由盒上的控制子板控制OLED屏幕的显示单色、灰度图、全彩图片，对裸屏进行快速直观的检测。本实用新型可以快速让待测OLED显示屏显示单色、灰度条和全彩图片，使OLED显示屏的测试更加简便、快速，解决现有OLED显示屏测试的产能效率低问题，节约制造成本和检测成本。
文档编号G09G3/00GK202905107SQ20122067193
公开日2013年4月24日 申请日期2012年12月7日 优先权日2012年12月7日
发明者张翔, 张霖, 邓元勋 申请人:张翔, 张霖, 邓元勋