显示装置及其测试线路修复方法
【专利摘要】本发明实施例公开了一种显示装置及其测试线路修复方法，所述方法包括：A、通过激光切断方式断开第一连接和第二连接，其中，所述第一连接为所述显示装置的第一薄膜晶体管的第一输入端与测试信号输入线之间的连接，所述第二连接为所述第一薄膜晶体管的第一输出端与测试信号输出线之间连接；B、通过激光焊接方式将所述显示装置中的第一备用线与所述测试信号输出线相连，其中，所述显示装置中的第二薄膜晶体管的第二输入端与所述测试信号输入线相连，所述第二薄膜晶体管的第二输出端与所述第一备用线相连。本发明实施例能够使得显示装置的宽长比不会发生改变，从而不会在点灯检测时发生显示异常。
【专利说明】显示装置及其测试线路修复方法
【【技术领域】】
[0001]本发明涉及平板显示【技术领域】，特别涉及一种显示装置及其测试线路修复方法。【【背景技术】】
[0002]传统的显示面板检测技术一般为:
[0003]如图1所示，使用一薄膜晶体管(TFT, Thin Film Transistor) 100来作为开关。其中，该薄膜晶体管100的漏极(Drain) 102与检测信号源连接，该薄膜晶体管100的源极(Source) 103与显示面板内的栅极线(Gate Line) /数据线(Data Line)连接,而该薄膜晶体管100的栅极(Gate) 101则与控制信号源连接。
[0004]在检测/测试过程中，该控制信号源向该栅极101输出高电平信号(高电位信号)，从而打开该开关100，即，使得该源极103和该漏极102导通。在检测/测试结束后，该控制信号源向该栅极101输出低电平信号(低电位信号)，从而关闭该开关100，即，切断该测试信号源与该栅极线/数据线之间的连接。
[0005]在制程中，由于颗粒(Particle)的存在，上述薄膜晶体管100的源极103和漏极102之间可能发生短路，例如，如图2所示，在区域104处发生短路。对于上述技术方案，在发生短路的情况下，传统的修 复方案为:
[0006]使用激光在切断部105处切断。
[0007]在实践中，发明人发现现有技术至少存在以下问题:
[0008]一、如果不对上述发生短路的线路(Circuit)进行修复，或者采用传统的方式来对上述发生短路的线路进行修复，则会使得该薄膜晶体管100的宽长比(W/L，Width/Length)发生改变，在对显示面板进行点灯检测时可能会由于线路阻抗的差异造成画面异常，或者会在出现线不良(Line Defect)的现象，从而导致误判，造成不必要的报废损失。
[0009]二、对诸如 PSVA (Polymer Stabilized Vertical Alignment,聚合物稳定化垂直配向)模式的显示面板进行固化(Curing)的过程中，如果上述薄膜晶体管100的源极103和漏极102之间出现上述短路的情况，在不修复或者使用上述传统的方式进行修复时，可能会造成显示面板永久性的线不良。
[0010]故，有必要提出一种新的技术方案，以解决上述技术问题。
【
【发明内容】
】
[0011]本发明的目的在于提供一种显示装置及其测试线路修复方法，其能使得显示装置的宽长比不会发生改变，从而不会在点灯检测时发生显示异常率。
[0012]为解决上述问题，本发明实施例的技术方案如下:
[0013]一种显示装置，包括:一显示面板；所述显示面板包括:一第一薄膜晶体管阵列，所述第一薄膜晶体管阵列包括至少一第一薄膜晶体管；一第二薄膜晶体管阵列，所述第二薄膜晶体管阵列包括至少一第二薄膜晶体管；以及至少一第一备用线；其中，所述第一薄膜晶体管与所述第二薄膜晶体管相邻，所述第二薄膜晶体管与测试信号输入线和所述第一备用线相连；在所述第一薄膜晶体管发生短路的情况下，所述第一薄膜晶体管的第一输入端用于通过激光切断方式断开与所述测试信号输入线之间的第一连接，所述第一薄膜晶体管的第一输出端用于通过所述激光切断方式断开与测试信号输出线之间的第二连接，所述第一备用线用于通过激光焊接方式与所述测试信号输出线相连。
[0014]在上述显示装置中，所述显示面板还包括:一控制信号线阵列，所述控制信号线阵列包括至少一控制信号线；所述第一薄膜晶体管的第一控制端和所述第二薄膜晶体管的第二控制端均与所述控制信号线连接，在所述第一薄膜晶体管发生短路的情况下，所述第二控制端用于通过所述控制信号线接收控制信号。
[0015]在上述显示装置中，所述第二薄膜晶体管的第二输入端与所述测试信号输入线相连，所述第二薄膜晶体管的第二输出端与所述第一备用线相连。
[0016]在上述显示装置中，所述第一备用线包括第一分段、第二分段和第三分段；所述第二分段位于所述第一分段和所述第三分段之间，所述第二分段与所述第二输出端相连；在所述第一薄膜晶体管发生短路的情况下，所述第二分段用于通过所述激光焊接方式与所述测试信号输出线相连，所述第一分段用于通过所述激光切断方式断开与所述第二分段之间的第三连接，所述第三分段用于通过所述激光切断方式断开与所述第二分段之间的第四连接。
[0017]在上述显示装置中，所述第一备用线包括第一末端和第二末端，所述第一末端与所述第二输出端相连，所述第二末端设置于所述测试信号输出线相对所述第一末端的另一侦h在所述第一薄膜晶体管发生短路的情况下，所述第一备用线通过所述激光焊接方式与所述测试信号输出线相连。
[0018]在上述显示装置中，所述显示面板还包括:至少一第二备用线，所述第二备用线包括第四分段、第五分段和第六分段；所述第五分段位于所述第四分段和所述第六分段之间，所述第五分段与所述第二输入端相连；在所述第一薄膜晶体管发生短路的情况下，所述第五分段用于通过所述激光焊接方式与所述测试信号输入线相连，所述第四分段用于通过所述激光切断方式断开与所述第五分段之间的第五连接，所述第六分段用于通过所述激光切断方式断开与所述第五分段之间的第六连接。
[0019]一种显示装置的测试线路修复方法，包括:A、通过激光切断方式断开第一连接和第二连接，其中，所述第一连接为所述显示装置的第一薄膜晶体管的第一输入端与测试信号输入线之间的连接，所述第二连接为所述第一薄膜晶体管的第一输出端与测试信号输出线之间连接；B、通过激光焊接方式将所述显示装置中的第一备用线与所述测试信号输出线相连，其中，所述显示装置中的第二薄膜晶体管的第二输入端与所述测试信号输入线相连，所述第二薄膜晶体管的第二输出端与所述第一备用线相连。
[0020]在上述显示装置的测试线路修复方法中，所述步骤B包括:B1、通过所述激光焊接方式将所述第一备用线的第二分段与所述测试信号输出线相连；所述方法还包括:C、通过所述激光切断方式断开第三连接和第四连接，其中，所述第三连接为所述第一备用线的第一分段和所述第二分段之间的连接，所述第四连接为所述第一备用线的第三分段和所述第二分段之间的连接；其中，所述第二输出端与所述第二分段相连，所述第二分段位于所述第一分段和所述第三分段之间。
[0021]在上述显示装置的测试线路修复方法中，所述方法还包括:D、通过所述激光焊接方式将所述第一备用线与所述测试信号输出线相连；其中，所述第一备用线包括第一末端和第二末端，所述第一末端与所述第二输出端相连，所述第二末端设置于所述测试信号输出线相对所述第一末端的另一侧。
[0022]在上述显示装置的测试线路修复方法中，所述方法还包括:E、通过所述激光切断方式断开第五连接和第六连接，其中，所述第五连接为所述显示装置的第二备用线的第四分段与第五分段之间的连接，所述第六连接为所述显示装置的第二备用线的第六分段与所述第五分段之间的连接；F、通过所述激光焊接方式将所述第五分段与所述测试信号输入线相连；其中，所述第五分段位于所述第四分段和所述第六分段之间，所述第五分段与所述第二输入端相连。
[0023]相对现有技术，本发明实施例能够使得显示装置的宽长比不会发生改变，从而不会在点灯检测时发生显示异常，不会发生误判，同时能够减少在显示面板固化的过程中出现线不良的现象，即，有利于提高显示面板的良率。
[0024]为让本发明的上述内容能更明显易懂，下文特举优选实施例，并配合所附图式，作详细说明如下:
【【专利附图】
【附图说明】】
[0025]图1为现有技术中对显示面板进行检测的技术方案的示意图；
[0026]图2为图1中的薄膜晶体管在发生短路时的修复方案的示意图；
[0027]图3A为本发明的显示装置的第一实施例的示意图；
[0028]图3B为图3A中修复方式的示意图；
[0029]图4A为本发明的显示装置的第二实施例的示意图；
[0030]图4B为图4A中修复方式的示意图；
[0031]图5A为本发明的显示装置的第三实施例的示意图；
[0032]图5B为图5A中修复方式的示意图。
【【具体实施方式】】
[0033]以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。
[0034]本说明书所使用的词语“实施例”意指用作实例、示例或例证。全文描述为“实施例”任意方面或设计不必被解释为比其他方面或设计更有利。相反，词语“实施例”的使用旨在以具体方式提出概念。本说明书和所附权利要求中所使用的冠词“一” 一般地可以被解释为意指“一个或多个”，除非另外指定或从上下文清楚导向单数形式。
[0035]参考图3A和图3B，图3A为本发明的显示装置的第一实施例的示意图，图3B为图3A中修复方式的示意图。图3B中圆点“籲”对应的是激光焊接的位置，而交叉“X”对应的是激光切断的位置。
`[0036]本实施例的显示装置包括显示面板300，其中，所述显示面板300包括第一薄膜晶体管阵列、第二薄膜晶体管阵列以及至少一第一备用线(Dummy Line)306。所述第一薄膜晶体管阵列包括至少一第一薄膜晶体管303，所述第二薄膜晶体管阵列包括至少一第二薄膜晶体管304。所述第二薄膜晶体管304是所述第一薄膜晶体管303的备用薄膜晶体管(DummyThin Film Transistor),所述第二薄膜晶体管304用于在所述第一薄膜晶体管303出现短路的情况下对显示装置/显示面板300进行修复。
[0037]其中，所述第一薄膜晶体管303与所述第二薄膜晶体管304相邻，所述第二薄膜晶体管304与测试信号输入线301和所述第一备用线306相连。
[0038]在所述第一薄膜晶体管303发生短路的情况下，所述第一薄膜晶体管303的第一输入端用于通过激光切断方式断开与所述测试信号输入线301之间的第一连接，所述第一薄膜晶体管303的第一输出端用于通过所述激光切断方式断开与测试信号输出线307之间的第二连接，所述第一备用线306用于通过激光焊接方式与所述测试信号输出线307相连。其中，所述第一输入端为所述第一薄膜晶体管303的源极/漏极，相对应地，所述第一输出端为所述第一薄膜晶体管303的漏极/源极。
[0039]所述显示面板300还包括控制信号线阵列，所述控制信号线阵列包括至少一控制信号线302。
[0040]所述第一薄膜晶体管303的第一控制端和所述第二薄膜晶体管304的第二控制端均与所述控制信号线302连接，在所述第一薄膜晶体管303发生短路的情况下，所述第二控制端用于通过所述控制信号线302接收控制信号，以根据所述控制信号打开或关闭第二薄膜晶体管304所对应的开关。所述第二薄膜晶体管304的第二输入端与所述测试信号输入线301相连，所述第二薄膜晶体管304的第二输出端与所述第一备用线306相连。
[0041]在本实施例中，所述第一备用线306包括第一分段3061、第二分段3062和第三分段3063。其中，所述第二分段3062位于所述第一分段3061和所述第三分段3063之间，所述第二分段3062与所述第二输出端相连。
[0042]在所述第一薄膜晶体管303发生短路的情况下，所述第二分段3062用于通过所述激光焊接方式与所述测试信号输出线307相连，所述第一分段3061用于通过所述激光切断方式断开与所述第二分段3062之间的第三连接，所述第三分段3063用于通过所述激光切断方式断开与所述第二分段3062之间的第四连接。
[0043]在本实施例中，对显示装置进行修复的方式是:切断出现问题的薄膜晶体管(例如，发生短路的第一薄膜晶体管303)与测试信号线301以及数据线/栅极线(对应测试信号输出线307)的连接(第一连接和第二连接)，让测试信号线301中的测试信号经过备用的薄膜晶体管(第二薄膜晶体管304)进入显示面板300内部的显示区，最后将第一备用线306切断。经过修复后，测试信号导通的路径如图3B中箭头所示。
[0044]本实施例对显示装置进行修复的方式总共需要进行四次激光切断和一次激光焊接。
[0045]参考图4A和图4B，图4A为本发明的显示装置的第二实施例的示意图，图4B为图4A中修复方式的不意图。本实施例与上述第一实施例相似，不同之处在于:
[0046]在本实施例中，所述第一备用线306包括第一末端和第二末端,所述第一末端与所述第二输出端相连，所述第二末端设置于所述测试信号输出线307相对所述第一末端的另一侧。
[0047]在所述第一薄膜晶体管303发生短路的情况下，所述第一备用线306通过所述激光焊接方式与所述测试信号输出线307相连。
[0048]本实施例对显示装置进行修复的方式总共需要进行两次激光切断和一次激光焊接。
[0049]参考图5A和图5B，图5A为本发明的显示装置的第三实施例的示意图，图5B为图5A中修复方式的不意图。本实施例与上述第一或第二实施例相似，不同之处在于:
[0050]在本实施例中，所述显示面板300还包括至少一第二备用线305，所述第二备用线305包括第四分段3051、第五分段3052和第六分段3053。其中，所述第五分段3052位于所述第四分段3051和所述第六分段3053之间，所述第五分段3052与所述第二输入端相连。
[0051]在所述第一薄膜晶体管303发生短路的情况下，所述第五分段3052用于通过所述激光焊接方式与所述测试信号输入线301相连，所述第四分段3051用于通过所述激光切断方式断开与所述第五分段3052之间的第五连接，所述第六分段3053用于通过所述激光切断方式断开与所述第五分段3052之间的第六连接。
[0052]本实施例对显示装置进行修复的方式总共需要进行六次激光切断和两次激光焊接。
[0053]在上述第一至第三实施例中的任意一个实施例中，优选地，所述第二薄膜晶体管304与所述第一薄膜晶体管303完全相同，即所述第二薄膜晶体管304与所述第一薄膜晶体管303在尺寸、属性等方面均相同或大致相似。因此，在使用上述技术方案对显示装置进行修复后，显示装置的整个线路的阻抗不会发生变化。
[0054]在上述任意一个实施例中，由于使用所述第二薄膜晶体管304 (备用的薄膜晶体管)来对显示装置进行修复，因此能够使得显示装置的宽长比不会发生改变，从而不会在点灯检测时发生显示异常，不会发生误判，同时减少了在显示面板300固化的过程中出现线不良的现象，即，有利于提闻显不面板300的良率。
[0055]参考图3A和图3B，图3A和图3B为本发明的显示装置的修复方法的第一实施例的示意图。图3B中圆点“.”对应的是激光焊接的位置，而交叉“X”对应的是激光切断的位置。本实施例的显示装置的测试线路修复方法包括:
[0056]A、通过激光切断方式断开第一连接和第二连接，其中，所述第一连接为所述显示装置的第一薄膜晶体管303的第一输入端与测试信号输入线301之间的连接，所述第二连接为所述第一薄膜晶体管303的第一输出端与测试信号输出线307之间连接。
[0057]B、通过激光焊接方式将所述显示装置中的第一备用线306与所述测试信号输出线307相连，其中，所述显示装置中的第二薄膜晶体管304的第二输入端与所述测试信号输入线301相连，所述第二薄膜晶体管304的第二输出端与所述第一备用线306相连。
[0058]在本实施例中，所述步骤B包括:
[0059]B1、通过所述激光焊接方式将所述第一备用线306的第二分段3062与所述测试信号输出线307相连。
[0060]在本实施例中，所述方法还包括:
[0061]C、通过所述激光切断方式断开第三连接和第四连接，其中，所述第三连接为所述第一备用线306的第一分段3061和所述第二分段3062之间的连接，所述第四连接为所述第一备用线306的第三分段3063和所述第二分段3062之间的连接。
[0062]其中，所述第二输出端与所述第二分段3062相连，所述第二分段3062位于所述第一分段3061和所述第三分段3063之间。所述第二薄膜晶体管304的第二输入端与所述测试信号输入线301相连，所述第二薄膜晶体管304的第二输出端通过所述第二分段3062与所述第一备用线306相连。所述第一输入端为所述第一薄膜晶体管303的源极/漏极，相对应地，所述第一输出端为所述第一薄膜晶体管303的漏极/源极。
[0063]在本实施例中，在所述第一薄膜晶体管303发生短路的情况下，所述第二薄膜晶体管304的第二控制端通过所述显示装置中的控制信号线302接收控制信号，以根据所述控制信号打开或关闭第二薄膜晶体管304所对应的开关。
[0064]在本实施例中，所述第二薄膜晶体管304是作为所述第一薄膜晶体管303的备用薄膜晶体管，所述第二薄膜晶体管304用于在所述第一薄膜晶体管303出现短路的情况下对显示装置/显示面板300进行修复。
[0065]在本实施例中，对显示装置进行修复的方式是:切断出现问题的薄膜晶体管(例如，发生短路的第一薄膜晶体管303)与测试信号线301以及数据线/栅极线(对应测试信号输出线307)的连接(第一连接和第二连接)，让测试信号线301中的测试信号经过备用的薄膜晶体管(第二薄膜晶体管304)进入显示面板300内部的显示区，最后将第一备用线306切断。经过修复后，测试信号导通的路径如图3B中箭头所示。
[0066]本实施例对显示装置进行修复的方式总共需要进行四次激光切断和一次激光焊接。
[0067]在本实施例中，各步骤的执行不区分先后次序，S卩，各步骤可以按照任意次序来执行。
[0068]参考图4A和图4B，图4A和图4B为本发明的显示装置的修复方法的第二实施例的示意图。本实施例与上述第一实施例相似，不同之处在于:
[0069]在本实施例中，所述方法还包括:
[0070]D、通过所述激光焊接方式将所述第一备用线306与所述测试信号输出线307相连。
[0071]其中，所述第一备用线306包括第一末端和第二末端，所述第一末端与所述第二输出端相连，所述第二末端设置于所述测试信号输出线307相对所述第一末端的另一侧。
[0072]本实施例对显示装置进行修复的方式总共需要进行两次激光切断和一次激光焊接。
[0073]在本实施例中，各步骤的执行不区分先后次序，S卩，各步骤可以按照任意次序来执行。
[0074]参考图5A和图5B，图5A和图5B为本发明的显示装置的修复方法的第三实施例的示意图。本实施例与上述第一或第二实施例相似，不同之处在于:
[0075]在本实施例中，所述方法还包括:
[0076]E、通过所述激光切断方式断开第五连接和第六连接，其中，所述第五连接为所述显示装置的第二备用线305的第四分段3051与第五分段3052之间的连接，所述第六连接为所述显示装置的第二备用线305的第六分段3053与所述第五分段3052之间的连接。
[0077]F、通过所述激光焊接方式将所述第五分段3052与所述测试信号输入线301相连。
[0078]其中，所述第五分段3052位于所述第四分段3051和所述第六分段3053之间，所述第五分段3052与所述第二输入端相连。
[0079]本实施例对显示装置进行修复的方式总共需要进行六次激光切断和两次激光焊接。[0080]在本实施例中，各步骤的执行不区分先后次序，S卩，各步骤可以按照任意次序来执行。
[0081]在上述第一至第三实施例中的任意一个实施例中，优选地，所述第二薄膜晶体管304与所述第一薄膜晶体管303完全相同，即所述第二薄膜晶体管304与所述第一薄膜晶体管303在尺寸、属性等方面均相同或大致相似。因此，在使用上述技术方案对显示装置进行修复后，显示装置的整个线路的阻抗不会发生变化。
[0082]在上述任意一个实施例中，由于使用所述第二薄膜晶体管304 (备用的薄膜晶体管)来对显示装置进行修复，因此能够使得显示装置的宽长比不会发生改变，从而不会在点灯检测时发生显示异常，不会发生误判，同时减少了在显示面板300固化的过程中出现线不良的现象，即，有利于提闻显不面板300的良率。
[0083]尽管已经相对于一个或多个实现方式示出并描述了本发明，但是本领域技术人员基于对本说明书和附图的阅读和理解将会想到等价变型和修改。本发明包括所有这样的修改和变型，并且仅由所附权利要求的范围限制。此外，尽管本说明书的特定特征已经相对于若干实现方式中的仅一个被公开，但是这种特征可以与如可以对给定或特定应用而言是期望和有利的其他实现方式的一个或多个其他特征组合。而且，就术语“包括”、“具有”、“含有”或其变形被用在【具体实施方式】或权利要求中而言，这样的术语旨在以与术语“包含”相似的方式包括。
[0084]综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。
【权利要求】
1.一种显示装置，包括: 一显不面板； 其特征在于，所述显示面板包括: 一第一薄膜晶体管阵列，所述第一薄膜晶体管阵列包括至少一第一薄膜晶体管； 一第二薄膜晶体管阵列，所述第二薄膜晶体管阵列包括至少一第二薄膜晶体管；以及 至少一第一备用线； 其中，所述第一薄膜晶体管与所述第二薄膜晶体管相邻，所述第二薄膜晶体管与测试信号输入线和所述第一备用线相连； 在所述第一薄膜晶体管发生短路的情况下，所述第一薄膜晶体管的第一输入端用于通过激光切断方式断开与所述测试信号输入线之间的第一连接，所述第一薄膜晶体管的第一输出端用于通过所述激光切断方式断开与测试信号输出线之间的第二连接，所述第一备用线用于通过激光焊接方式与所述测试信号输出线相连。
2.根据权利要求1所述的显示装置，其特征在于，所述显示面板还包括: 一控制信号线阵列，所述控制信号线阵列包括至少一控制信号线； 所述第一薄膜晶体管的第一控制端和所述第二薄膜晶体管的第二控制端均与所述控制信号线连接，在所述第一薄膜晶体管发生短路的情况下，所述第二控制端用于通过所述控制信号线接收控制信号。
3.根据权利要求2所述的显示装置，其特征在于，所述第二薄膜晶体管的第二输入端与所述测试信号输入线相连，所述第二薄膜晶体管的第二输出端与所述第一备用线相连。
4.根据权利要求3所述的显示装置，其特征在于，所述第一备用线包括第一分段、第二分段和第三分段； 所述第二分段位于所述第一分段和所述第三分段之间，所述第二分段与所述第二输出端相连； 在所述第一薄膜晶体管发生短路的情况下，所述第二分段用于通过所述激光焊接方式与所述测试信号输出线相连，所述第一分段用于通过所述激光切断方式断开与所述第二分段之间的第三连接，所述第三分段用于通过所述激光切断方式断开与所述第二分段之间的第四连接。
5.根据权利要求3所述的显示装置，其特征在于，所述第一备用线包括第一末端和第二末端，所述第一末端与所述第二输出端相连，所述第二末端设置于所述测试信号输出线相对所述第一末端的另一侧； 在所述第一薄膜晶体管发生短路的情况下，所述第一备用线通过所述激光焊接方式与所述测试信号输出线相连。
6.根据权利要求3所述的显示装置，其特征在于，所述显示面板还包括: 至少一第二备用线，所述第二备用线包括第四分段、第五分段和第六分段； 所述第五分段位于所述第四分段和所述第六分段之间，所述第五分段与所述第二输入端相连； 在所述第一薄膜晶体管发生短路的情况下，所述第五分段用于通过所述激光焊接方式与所述测试信号输入线相连，所述第四分段用于通过所述激光切断方式断开与所述第五分段之间的第五连接，所述第六分段用于通过所述激光切断方式断开与所述第五分段之间的第六连接。
7.—种如权利要求1所述的显示装置的测试线路修复方法，其特征在于，包括: A、通过激光切断方式断开第一连接和第二连接，其中，所述第一连接为所述显示装置的第一薄膜晶体管的第一输入端与测试信号输入线之间的连接，所述第二连接为所述第一薄膜晶体管的第一输出端与测试信号输出线之间连接； B、通过激光焊接方式将所述显示装置中的第一备用线与所述测试信号输出线相连，其中，所述显示装置中的第二薄膜晶体管的第二输入端与所述测试信号输入线相连，所述第二薄膜晶体管的第二输出端与所述第一备用线相连。
8.根据权利要求7所述的显示装置的测试线路修复方法，其特征在于，所述步骤B包括: B1、通过所述激光焊接方式将所述第一备用线的第二分段与所述测试信号输出线相连； 所述方法还包括: C、通过所述激光切断方式断开第三连接和第四连接，其中，所述第三连接为所述第一备用线的第一分段和所述第二分段之间的连接，所述第四连接为所述第一备用线的第三分段和所述第二分段之间的连接； 其中，所述第二输出端与所述第二分段相连，所述第二分段位于所述第一分段和所述第三分段之间。
9.根据权利要求7所述的显示装置的测试线路修复方法，其特征在于，所述方法还包括: D、通过所述激光焊接方式将所述第一备用线与所述测试信号输出线相连； 其中，所述第一备用线包括第一末端和第二末端，所述第一末端与所述第二输出端相连，所述第二末端设置于所述测试信号输出线相对所述第一末端的另一侧。
10.根据权利要求7所述的显示装置的测试线路修复方法，其特征在于，所述方法还包括: E、通过所述激光切断方式断开第五连接和第六连接，其中，所述第五连接为所述显示装置的第二备用线的第四分段与第五分段之间的连接，所述第六连接为所述显示装置的第二备用线的第六分段与所述第五分段之间的连接； F、通过所述激光焊接方式将所述第五分段与所述测试信号输入线相连； 其中，所述第五分段位于所述第四分段和所述第六分段之间，所述第五分段与所述第二输入端相连。
【文档编号】G09G3/20GK103680370SQ201310693323
【公开日】2014年3月26日 申请日期:2013年12月17日 优先权日:2013年12月17日
【发明者】杜鹏, 施明宏 申请人:深圳市华星光电技术有限公司