本发明属于光学仪器领域，尤其是涉及一种卷积定理光学实验仪。
背景技术：
卷积定理也称卷积特性，是傅里叶变换的基本性质之一，它广泛应用于通信系统和信号处理研究领域。它由两部分组成：一是时域卷积定理；二是频域卷积定理。两个函数乘积的傅立叶变换，等于它们各自的傅立叶变换的卷积。反之，两个函数卷积的傅立叶变换，等于它们各自傅立叶变换的乘积。现在人们通常通过光学方法来研究卷积定理。
技术实现要素：
本发明的目的是提供一种卷积定理光学实验仪，便于人们研究卷积定理。
本发明的技术方案是：一种卷积定理光学实验仪，包括底座，所述底座中部设置有导轨，所述导轨横贯底座的两端，导轨上方从左到右依次设置有半导体激光器，第一正交光栅，第二正交光栅和光屏，所述半导体激光器，第一正交光栅，第二正交光栅和光屏均通过支架体与导轨连接，所述支架体包括滑座，固定在滑座上的套筒以及套设在套筒内的伸缩杆，所述滑座的两端卡合在导轨的两侧，滑座可沿着导轨滑动。
进一步，所述滑座上设置有固定螺栓。
进一步，所述第一正交光栅和第二正交光栅的空间频率不同。
进一步，所述底座下方固定有四个支撑腿。
本发明具有的优点和积极效果是：由于采用上述技术方案，利用该卷积定理光学实验仪可研究卷积定理，进一步加深对卷积定理的理解，该仪器操作简单，使用方便。
附图说明
图1是本发明的结构示意图。
图中：
1、底座 2、导轨 3、半导体激光器
4、第一正交光栅 5、第二正交光栅 6、光屏
7、支架体 8、滑座 9、套筒
10、伸缩杆 11、固定螺栓 12、支撑腿
具体实施方式
下面结合附图对本发明做详细说明。
如图1所示，本发明一种卷积定理光学实验仪，包括底座1，所述底座1中部设置有导轨2，所述导轨2横贯底座1的两端，导轨2上方从左到右依次设置有半导体激光器3，第一正交光栅4，第二正交光栅5和光屏6，所述半导体激光器3，第一正交光栅4，第二正交光栅5和光屏6均通过支架体7与导轨2连接，所述支架体7包括滑座8，固定在滑座8上的套筒9以及套设在套筒9内的伸缩杆10，半导体激光器3，第一正交光栅4，第二正交光5栅和光屏6分别与伸缩杆10的顶端固定，通过调节伸缩杆10可改变半导体激光器3，第一正交光栅4，第二正交光栅5和光屏6的高度，所述滑座8上设置有固定螺栓11，所述滑座8的两端卡合在导轨2的两侧，滑座8可沿着导轨2滑动，当滑动到合适的位置处可通过固定螺栓11固定，所述第一正交光栅4和第二正交光栅5的空间频率不同，所述底座1下方固定有四个支撑腿12。
本实例的工作过程：取第一正交光栅4的空间频率较低，第二正交光栅5的空间频率较高，将第一正交光栅4和第二正交光栅5放入如图1所示放置，通过调节伸缩杆10以及将滑座8在导轨2中滑动从而使半导体激光器3，第一正交光栅4，第二正交光栅5和光屏6处于合适的位置和高度，观察第一正交光栅4和第二正交光栅5的频谱；通过移动滑座8，将第一正交光栅4和第二正交光栅5叠合在一起，通过半导体激光器3用未经扩束的激光细光束垂直照明，在光屏6上观察卷积结果，并分别与第一正交光栅4和第二正交光栅5的频谱比较；以半导体激光器3发出的照明激光束为轴线，旋转第一正交光栅4，在光屏6上观察卷积图形的变化情况；然后以半导体激光器3发出的照明激光束为轴线，旋转第二正交光栅5，观察卷积图形的变化情况；或者以半导体激光器3发出的照明激光束为轴线，同时旋转第一正交光栅4和第二正交光栅5，观察卷积图形的变化情况，或者采用其他方式操作，观察卷积图形的变化情况，以此来研究卷积定理并加深对卷积定理的理解。
以上对本发明的一个实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本发明的较佳实施例，不能被认为用于限定本发明的实施范围。凡依本发明申请范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本发明的专利涵盖范围之内。