1.一种用半导体激光器作为光源测普朗克常数的装置，包括小型半导体激光器（1）、激光器套管（2）、光电管进光口（3）、光澜圆盘（4），其特征在于：光电管进光口（3）之前设有可以改变孔径的光澜圆盘（4），光澜圆盘（4）在圆周上分布有多个不同孔径的孔光澜（41），光澜圆盘（4）绕圆盘中心转动可以使光澜圆盘（4）上不同的孔光澜（41）对应到光电管进光口（3）的位置；所述光澜圆盘（4）之前设置有激光器套管（2），激光器套管（2）固定在套管固定圆盘（22）上，激光器套管（2）的底端设有通光孔（21），小型半导体激光器（1）插入激光器套管（2）内，套管固定圆盘（22）绕圆盘中心转动可以使小型半导体激光器（1）对应在电管进光口（3）位置。
2.根据权利要求1所述的一种用半导体激光器作为光源测普朗克常数的装置，其特征在于：所述激光器套管（2）为一个，不同波长的小型半导体激光器（1）可以分别交替插入激光器套管（2）。
3.根据权利要求1所述的一种用半导体激光器作为光源测普朗克常数的装置，其特征在于：所述激光器套管（2）为多个，不同波长的小型半导体激光器（1）可以分别插入各个激光器套管（2）内，转动激光器套管固定圆盘（22），可以使不同波长的小型半导体激光器（1）对应到光电管进光口（3）位置，分别使各个不同波长的激光入射到光电管进光口（3）。
4.根据权利要求1所述的一种用半导体激光器作为光源测普朗克常数的装置，其特征在于：小型半导体激光器（1）的激光波长为405、450、532、635、650nm的5种或5种波长以上。
5.根据权利要求1所述的一种用半导体激光器作为光源测普朗克常数的装置，其特征在于：激光器套管（2）、光澜圆盘（4）是由金属材料制作的，并且表面经过氧化变黑处理。