一种应用于电子技术实验的实验箱的制作方法

本发明涉及电子技术领域，特别涉及一种应用于电子技术实验的实验箱。

背景技术：

随着科学技术的发展，电子技术实验成为当今高校电子信息类本科生的必修课程之一，而通过电子技术实验来学习和掌握这门学科，成为学生最为重要的一种学习手段。在现有技术当中，学生在做电子技术实验时，往往需要同时使用实验箱以及与实验箱相配套的实验板，学生在做电子技术实验时，实验板往往是平行放置在实验箱的实验面板上，但是，这样的设置方式会显著增加实验板对实验箱上实验面板的面积占用量。针对这一技术问题，目前，还没有较为有效的解决办法。

所以，如何减少操作者在实验过程中实验板对实验箱上实验面板的面积占用量，是本领域技术人员亟待解决的问题。

技术实现要素：

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种应用于电子技术实验的实验箱，以减少操作者在实验过程中实验板对实验箱上实验面板的面积占用量。其具体方案如下：

一种应用于电子技术实验的实验箱，包括：实验板和实验箱本体，所述实验板上设置有金手指和用于电子技术实验的实验电路，所述金手指上设置有用于与所述实验电路的输入端、输出端、电源端和接地端实现信号连通的铜箔，所述实验箱本体上设置有实验面板，所述实验面板的上表面设置有用于插入所述金手指的插槽以及用于插入所述实验电路的连接线的第一接线插孔，所述插槽上设置有与所述金手指实现电气连通的凸起弹片，所述实验面板的下表面设置有与所述凸起弹片和所述第一接线插孔实现电气连通的pcb走线。

优选的，所述实验电路为用于模拟技术实验或数字电子技术实验或单片机或cpld或fpga的实验电路。

优选的，所述实验面板的上表面还设置有接地端子以及用于为所述实验电路提供能量来源的电源输出端子，并且，所述实验箱本体的内部还设置有用于为所述电源输出端子提供能量来源的电源模块。

优选的，所述pcb走线为单层板的pcb走线或多层板的pcb走线。

优选的，所述实验面板的上表面还设置有用于接入逻辑电平信号的第二接线插孔，以及用于显示所述第二接线插孔输出信息的led数码显示器。

优选的，所述实验电路上还设置有信号输入端子、信号输出端子以及电源输入端子。

优选的，所述凸起弹片具体为铜凸起弹片。

优选的，所述实验面板的上表面还设置有用于固定外置实验仪器的信号线探头的铜钩。

优选的，所述实验面板的上表面还设置有输出高电平或低电平的第三接线插孔以及用于控制所述第三接线插孔输出高电平或低电平的控制开关，并且，所述第三接线插孔通过第一连接导线与所述第一接线插孔实现电气连通。

优选的，所述实验面板上还设置有用于通过第二连接导线与所述第一接线插孔实现电气连通的第四接线插孔，以及用于显示所述第四接线插孔处于所述高电平或所述低电平的发光二极管。

可见，当操作者在使用本发明所提供的实验箱的过程中，可以通过实验箱本体的实验面板上的插槽，将实验板上设置的金手指插入到实验面板的插槽当中，这样插槽上的凸起弹片就可以与实验板上的金手指相接触，这样插槽上的凸起弹片就可以通过实验面板下表面所设置的pcb走线与实验面板上的第一接线插孔实现电气连通，并且，实验电路的输入端、输出端、电源端和接地端也可以通过金手指上的铜箔与实验面板实现信号连接。在本发明中，操作者在实验过程中，因为实验板是垂直插入于实验箱的实验面板中，相较于现有技术中，是将实验板平行放置于实验箱中的方法，通过本发明中的实验箱，可以显著减少操作者在实验过程中实验板对实验箱上实验面板的面积占用量。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种应用于电子技术实验的实验箱的结构图；

图2为本发明实施例提供的一种实验箱上实验面板的结构图；

图3为本发明实施例提供的一种《晶体管单级放大电路》实验板的结构图；

图4为本发明实施例提供的一种《与非门》实验板的结构图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

图1为本发明实施例提供的一种应用于电子技术实验的实验箱的结构图。请参考图1，该实验箱包括实验板11和实验箱本体12，实验板11上设置有金手指13和用于实验的实验电路14，金手指13上设置有用于与实验电路14的输入端、输出端、电源端和接地端实现信号连通的铜箔，实验箱本体12上设置有实验面板15，实验面板15的上表面设置有用于插入金手指13的插槽16以及用于插入实验电路14的连接线的第一接线插孔17，插槽16上设置有与金手指13实现电气连通的凸起弹片，实验面板15的下表面设置有与凸起弹片和第一接线插孔17实现电气连通的pcb走线。

需要说明的是，在现有技术当中，操作者在做电子技术实验时，往往需要同时使用实验箱以及与实验箱相配套的实验板，操作者在做电子技术实验的过程中，用于电子技术实验的实验板往往会平行设置在实验箱的实验面板上，这样的设置方式，会显著增加实验板对实验箱上实验面板的面积占用量。

在本实施例中，为了解决这一技术问题，是在实验箱上设置实验板11和实验箱本体12，然后，在实验板11上设置金手指13和用于实验的实验电路14，并且，在金手指13上设置用于与实验电路14的输入端、输出端、电源端和接地端实现信号连通的铜箔；同时，在实验箱本体12上设置实验面板15，并且，在实验面板15的上表面设置用于插入金手指13的插槽16以及用于插入实验板11上实验电路14的连接线的第一接线插孔17。

当操作者在利用该实验箱做电子技术实验时，就可以将实验板11上的金手指13插入实验面板15上表面的插槽16当中，从而使得实验板11和实验箱本体12上的实验面板15两者之间处于相互垂直状态，显然，通过这样的设置方式，可以大大减少实验板11对实验箱本体12上实验面板15的面积占用量；当实验板11上的金手指13插入到实验面板15的插槽16当中时，插槽16当中所设置的凸起弹片与金手指13相接触，这样两者之间就可以实现电气连通，并且，通过实验面板15下表面所设置的pcb走线可以将插槽16上的凸起弹片与插入实验电路14的连接线的第一接线插孔17实现电气连通。能够想到的是，当实验电路14和实验面板15实现电气连通之后，操作者就可以利用该实验箱对电子技术实验进行操作，并对电子技术实验的实验结果进行验证。

在实验过程中，为了使得操作者可以同时在实验箱本体的实验面板上操作不同的电子技术实验，还可以在实验面板15上设置多个用于插入金手指13的插槽16以及用于插入实验电路的连接线的第一接线插孔17，以使得操作者可以在该实验面板15上同时进行不同的电子技术实验，以进一步提高操作者在实验过程当中的操作效率。

需要说明的是，在本实施例中，是以金手指13有16个铜箔为例进行说明，在实际应用当中，铜箔的数量可以多于16个，也可以少于16个，在此进行说明。

可见，当操作者在使用本实施例所提供的实验箱的过程中，可以通过实验箱本体的实验面板上的插槽，将实验板上设置的金手指插入到实验面板的插槽当中，这样插槽上的凸起弹片就可以与实验板上的金手指相接触，这样插槽上的凸起弹片就可以通过实验面板下表面所设置的pcb走线与实验面板上的第一接线插孔实现电气连通，并且，实验电路的输入端、输出端、电源端和接地端也可以通过金手指上的铜箔与实验面板实现信号连接。在本实施例中，操作者在实验过程中，因为实验板是垂直插入于实验箱的实验面板中，相较于现有技术中，是将实验板平行放置于实验箱中的方法，通过本实施例中的实验箱，可以显著减少操作者在实验过程中实验板对实验箱上实验面板的面积占用量。

基于上述实施例，本实施例对技术方案作进一步的说明与优化，具体的，实验电路14为用于模拟电子技术实验或数字电子技术实验或单片机或cpld或fpga的实验电路。

在现有技术当中，用于模拟电子技术实验和用于数字电子技术实验的实验箱通常是分开进行设置的，显然，此种设置方式，在实际应用中，大大增加了实验室的管理工作量。

在本实施例中，为了解决这一技术问题，是将实验电路14设置为用于模拟电子技术实验或数字电子技术实验或单片机或cpld(complexprogrammablelogicdevice，复杂可编程逻辑器件)或fpga(field-programmablegatearray，现场可编程门阵列)的实验电路，这样一来，操作者在做相关的电子技术实验时，就可以利用同一个实验箱对电子技术实验进行操作，能够想到的是，通过此种设置方式，可以有效减少实验管理者对实验室的管理工作量。

需要说明的是，对于本领域技术人员而言，用于模拟电子技术实验或数字电子技术实验或单片机或cpld或fpga的实验电路是本领域技术人员所公知的内容，所以，在本实施例中，对用于模拟电子技术实验或数字电子技术实验或单片机或cpld或fpga的实验电路的连接结构不进行具体赘述，在此进行说明。

可见，通过本实施例所提供的技术方案，可以大大减少实验管理者对实验室的管理工作量，因此可以有效提高实验管理者的工作效率。

基于上述实施例，本实施例对技术方案作进一步的说明与优化，图2为本发明实施例提供的一种实验箱上实验面板的结构图。请参照图2，实验面板15的上表面还设置有接地端子18以及用于为实验电路14提供能量来源的电源输出端子19，并且，实验箱本体12的内部还设置有用于为电源输出端子19提供能量来源的电源模块。

此外，在本实施例中，是将用于为电源输出端子19提供电源的电源模块设置在实验箱本体12的内部，这样不仅可以减少电源模块对实验箱的空间占用量，而且，也使得实验面板15的界面结构更为整齐、简洁。

显然，通过本实施例所提供的技术方案，可以进一步提高操作者在操作电子技术实验过程中的操作体验。

基于上述实施例，本实施例对技术方案作进一步的说明与优化，具体的，pcb走线为单层板的pcb走线或多层板的pcb走线。

可以理解的是，在实验面板15的下表面设置pcb走线是为了将金手指13上的铜箔与插槽16上凸起的弹片相接触，当金手指13上的铜箔与插槽16上凸起的弹片相接触后，就和第一接线插孔17实现电气连通，但是，在实际应用当中，根据实验情况的不同，所需要pcb走线的长度也各不相同，所以，如果在实际应用中所需要的pcb走线较为简单，此时，可以将pcb走线设置为单层板的pcb走线；如果在实际应用中所需要的pcb走线较为复杂，此时，可以将pcb走线设置为多层板的pcb走线，并以此来减少pcb走线对实验面板15的空间占用量。也即，实验板11可以根据实验电路14的复杂程度，将实验板11上的pcb走线设置为单层板或多层板的pcb走线，并以此来控制实验板11的面积。

可见，通过本实施例所提供的技术方案，不仅可以减少pcb走线对实验面板15和实验板11的空间占用量，而且，也可以使得pcb走线的连接结构更为简单、紧凑。

基于上述实施例，本实施例对技术方案作进一步的说明与优化，请参照图2，实验面板15的上表面还设置有用于接入逻辑电平信号的第二接线插孔20，以及用于显示第二接线插孔20输出信息的led数码显示器21。

具体的，在本实施例中，led数码显示器21会实时显示数字电子技术实验的实验电路14的输出状态，也即，实验电路14通过金手指13上的铜箔与插槽16上凸起的弹片相接触，当金手指13上的铜箔与插槽16上凸起的弹片相接触后，就和第一接线插孔17实现电气连通，第二接线插孔20再通过连接线与第一接线插孔17实现电气连通，此时，led数码显示器21就可以显示出第二接线插孔20中的信息，也即，第一接线插孔17上反映的实验电路14的输出状态的信息。

显然，通过本实施例所提供的技术方案，可以使得操作者更为清楚、直观地观测到输入实验电路的逻辑电平信号的状态，并由此提高了操作者在实验操作过程中的操作体验。

基于上述实施例，本实施例对技术方案作进一步的说明与优化，具体的，实验电路14上还设置有信号输入端子、信号输出端子以及电源输入端子。

在本实施例中，还可以在实验板11的实验电路14上设置信号输入端子、信号输出端子以及电源输入端子，能够想到的是，通过此种设置方式，可以使得操作者在不需要实验箱本体12，只在拥有外接电源、信号源、示波器以及其它实验仪器的条件下，也可以对电子技术实验进行操作。

可见，通过在实验电路14上设置信号输入端子、信号输出端子以及电源输入端子，可以使本发明所提供的实验箱应用于更多的实际场景中，从而拓宽了实验箱的应用范围。

基于上述实施例，本实施例对技术方案作进一步的说明与优化，具体的，凸起弹片具体为铜凸起弹片。

在实际应用当中，可以将插槽16中的凸起弹片设置为铜凸起弹片，因为铜具有较好的延展性、导热性以及导电性，所以，将凸起弹片设置为铜凸起弹片时，不仅可以有效缩短实验板11上实验电路14与实验面板15实现电气连通的时间，而且，也可以提高操作者在实验过程中的安全性。

基于上述实施例，本实施例对技术方案作进一步的说明与优化，具体的，实验面板15的上表面还设置有用于固定外置实验仪器的信号线探头的铜钩22。

能够想到的是，在实验箱做实验的过程中，不可避免的会使用到外置实验仪器，比如：函数信号发生器和示波器等等。由于外置实验仪器的信号线探头数量众多，这样会使得操作者在实验过程中，出现将信号线探头错接的情况，所以，在本实施例中，当操作者在利用该实验箱做电子技术实验时，就可以利用实验面板15上的铜钩22来固定外置实验仪器的信号线探头，这样不仅会使得外置实验仪器的信号线探头更加稳固，而且，也可以降低外置实验仪器信号线探头的错接概率。

基于上述实施例，本实施例对技术方案作进一步的说明与优化，请参照图2，实验面板15的上表面还设置有输出高电平或低电平的第三接线插孔23以及用于控制第三接线插孔23输出高电平或低电平的控制开关24，并且，第三接线插孔23通过第一连接导线与第一接线插孔17实现电气连通。

能够想到的是，操作者在利用该实验箱做数字电子技术实验时，触发实验电路14开始工作的触发信号通常为高电平或者低电平，所以，在本实例中，还在实验面板15的上表面设置了用于输出高电平或低电平的第三接线插孔23，并且，在实验面板15上设置了用于控制第三接线插孔23输出高电平或低电平的控制开关24，以使得操作者可以通过控制开关24来控制第三接线插孔23输出高电平或低电平。

由于第三接线插孔23可以通过第一连接导线与第一接线插孔17相连接，并以此实现第三接线插孔23和第一接线插孔17的电气连通，所以，操作者可以通过第三接线插孔23输出的高电平或低电平来触发实验板11上的实验电路14。

可见，通过本实施例所提供的技术方案，保证了操作者在进行电子技术实验过程中的可实施性。

作为一种优选的实施方式，实验面板15上还设置有用于通过第二连接导线与第一接线插孔17实现电气连通的第四接线插孔25，以及用于显示第四接线插孔25处于高电平或低电平的发光二极管26。

在本实施例中，还可以在实验面板上设置第四接线插孔25，然后，通过第二连接导线将第一接线插孔17与第四接线插孔25相连接，并以此实现第一接线插孔17和第四接线插孔25的电气连通。可以理解的是，因为第一接线插孔17能够显示出实验电路14的输出逻辑电平，所以，通过第二连接导线将第一接线插孔17和第四接线插孔25实现电气连通以后，第四接线插孔25就能够显示出第一接线插孔17的逻辑电平状态，由此一来，发光二极管26就能够对应显示出实验电路14的输出逻辑电平。

在实际应用中，还可以将发光二极管26设置为双色发光二极管，当第四接线插孔25输出的电平为高电平时，发光二极管26显示为红色；当第四接线插孔25输出的电平为低电平时，发光二极管26显示为绿色。另外，在实际应用中，将第四接线插孔25的数量和发光二极管26的数量设置为一致，并利用每一个发光二极管26对应显示各个第四接线插孔25所输出的电平状态。

另外，需要说明的是，在以上实施例中，为了与金手指13中的铜箔数量相适配，是将第一接线插孔17、第二接线插孔20、铜钩22、第三接线插孔23、第四接线插孔25和发光二极管26的数量分别设置为16个。当然，在实际应用中，还可以对将第一接线插孔17、第二接线插孔20、铜钩22、第三接线插孔23、第四接线插孔25和发光二极管26的数量进行适应性的调整，在此进行说明。

可见，通过发光二极管26来显示第四接线插孔25的输出的电平状态，可以使得操作者在做电子技术实验过程中，及时知悉实验电路的操作状态，由此进一步提高了操作者在实验过程中的操作体验。

基于上述实施例所公开的内容，在本实施例中，通过两个具体的实验板进行说明。图3为本发明实施例提供的一种《晶体管单级放大电路》实验板的结构图。请参照图3，在《晶体管单级放大电路》实验板11上的实验电路14的电源端vcc与金手指13的第1个铜箔相连接，实验电路14的接地端gnd与金手指13的第3个铜箔相连接，实验电路14的输入端与金手指13的第6个铜箔相连接，实验电路14的输出端与金手指13的第7个铜箔相连接。

在实验电路14中，实验电路14的电源端vcc和接地端gnd附有直流电源输入端子，实验电路14的输入端附有信号线探头接入端子，实验电路14的输出端附有信号线探头接入端子，同时，实验电路14的接地端gnd也附有信号线探头接入端子，通过这样的设计方式，可以使得《晶体管单级放大电路》实验板11能够在不需要实验箱，只在拥有外接电源、信号源、示波器的条件下，也能进行电子技术实验。

在做电子技术实验的过程中，首先将《晶体管单级放大电路》实验板11上的金手指13插入插槽16当中，《晶体管单级放大电路》实验板11上的金手指13与插槽16中的凸起弹片相接触以后，《晶体管单级放大电路》实验板11和实验面板15可以实现信号连通；同时，插槽16中的凸起弹片与实验电路14的连接线的第一接线插孔17可以通过实验面板15下表面的pcb走线实现电气连通。

具体的，在本实施例中，《晶体管单级放大电路》实验板11上的金手指13的第1个铜箔分别与第一接线插孔17中的第1个插孔和铜钩22中的第1个铜钩相连接，《晶体管单级放大电路》实验板11上的金手指13的第3个铜箔分别与第一接线插孔17中的第3个插孔和铜钩22中的第3个铜钩相连接，《晶体管单级放大电路》实验板11上的金手指13的第6个铜箔分别与第一接线插孔17中的6个插孔和铜钩22中的第6个铜钩相连接，《晶体管单级放大电路》实验板11上的金手指13的第7个铜箔分别与第一接线插孔17中的第7个插孔和铜钩22中的第7个铜钩相连接。

此外，在图3当中，是将实验电路14中的gnd与实验板11上的金手指13的第3个铜箔相连的连接线设置为虚线，是因为在实际应用当中，该连接线在实验板11的另一面上，所以，在本实施例中，以此种方式进行区别处理。能够想到的是，在实际应用当中，并不是所有的实验板11都需要以这样的方式进行处理，应以达到实际应用为目的，此处不作具体限定。

然后，通过连接导线将实验面板15上的接地端子18与第一接线插孔17中的第3个插孔相连接，并通过连接导线将实验面板15上的电源输出端子19中+12v的电源输出端子与第一接线插孔17中的第1个插孔相连接。

最后，将实验箱本体12接通电源，实验箱本体12内部的电路开始工作，实验面板15上的电源输出端子19分别输出+12v、+5v、-5v和-12v的电压，此时，调节实验电路14中的电位器rp，以调节实验电路14的静态工作点，将外置的函数信号发生器的信号线探头固定在铜钩22中的第6个铜钩上，给实验电路14接入输入信号，将外置示波器通道上的第一个通道信号线探头固定在铜钩22中的第6个铜钩上，观察实验电路14的输入信号的变化状态，将外置示波器通道上的第二个通道信号线探头固定在铜钩22中的第7个铜钩上，之后，操作者就可以在实验面板15上观察实验电路14的输出状态。

图4为本发明实施例提供的一种《与非门》实验板的结构图。请参照图4，《与非门》实验板11为74ls00芯片，74ls00芯片的第14个引脚为电源端vcc，与金手指13中的第14个铜箔相连接；74ls00芯片的第7个引脚为接地端gnd，与金手指13中的第7个铜箔相连接；74ls00芯片的第1个引脚和第2个引脚为与非门的输入端，74ls00芯片的第1个引脚和第2个引脚分别与金手指13的第1个铜箔和第2个铜箔相连接；74ls00芯片的第3个引脚为与非门的输出端，74ls00芯片的第3个引脚与金手指13的第3个铜箔相连接。

在做电子技术实验的过程中，首先将《与非门》实验板11插入插槽16，当《与非门》实验板11插入插槽16之后，《与非门》实验板11上的金手指13与插槽16中的凸起弹片相接触，实现电气连通；同时，插槽16中的凸起弹片通过实验面板15下表面的pcb走线与第一接线插孔17和铜钩22实现电气连通。

具体的，《与非门》实验板11上的金手指13中的第1个铜箔分别与第一接线插孔17中的第1个插孔和铜钩22中的第1个铜钩相连接；《与非门》实验板11上的金手指13中的第2个铜箔分别与第一接线插孔17中的第2个插孔和铜钩22中的第2个铜钩相连接；《与非门》实验板11上的金手指13中的第3个铜箔分别与第一接线插孔17中的第3个插孔和铜钩22中的第3个铜钩相连接；《与非门》实验板11上的金手指13中的第7个铜箔分别与第一接线插孔17中的第7个插孔和铜钩22中的第7个铜钩相连接；《与非门》实验板11上的金手指13中的第14个铜箔分别与第一接线插孔17中的第14个插孔和铜钩22中的第14个铜钩相连接。

然后，通过连接导线将接地端子18与第一接线插孔17中的第7个插孔相连接，并通过连接导线将电源输出端子19中+5v的插孔与第一接线插孔17中的第14个插孔相连接，通过连接导线将第三接线插孔23中的第1个插孔与第一接线插孔17中的第1个插孔相连接，通过连接导线将第三接线插孔23中的第2个插孔与第一接线插孔17中的第2个插孔相连接，通过连接导线将第一接线插孔23中的第3个插孔与第四接线插孔25中的第1个插孔相连接。

最后，将实验箱本体12接通电源，实验箱体本体12内部的电路开始工作，电源输出端子19分别输出+12v、+5v、-5v和-12v的电压，由于之前已经通过连接导线将电源输出端子19中的+5v插孔与第一接线插孔17中的第14个插孔相连接，实验电路74ls00芯片接通电压+5v；拨动逻辑电平的控制开关24，从而使得第三接线插孔23中的第1个插孔和第2个插孔分别输入高电平或低电平，并以此来对实验电路74ls00芯片输入高电平或低电平；之后，操作者就可以在实验面板15上观察显示逻辑电平的发光二极管26的状态变化，以验证与非门的逻辑关系。

可见，通过本发明所提供的实验箱，不仅可以减少操作者在实验过程中实验板对实验箱上实验面板的面积占用量，而且，也可以减少实验管理者对实验室的管理工作量。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处，各个实施例之间相同或相似部分互相参见即可。由于各个实施例公开的方法相对应，所以描述的比较简单，相关之处参见方法部分说明即可。

最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上对本发明所提供的一种应用于电子技术实验的实验箱进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。