一种显示装置及其检测方法和覆晶薄膜与流程

本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示装置及其检测方法和覆晶薄膜。

背景技术：

随着液晶显示领域的发展，液晶显示器已经在电视、移动通讯、医疗等领域得到了广泛的应用，面板和pcba(printedcircuitboardassembly，电路板)之间的连接是通过cof(chiponfilm，覆晶薄膜)连接，cof上有很多input(输入)引脚和output(输出)引脚，cof的功能是把pcba端的输入数据转换成面板的tft(thinfilmtransistor，薄膜晶体管)电压驱动信号输出给面板，cof连接电路板和显示面板是通过绑定(bonding)工艺完成的，具体的是将cof的引脚与面板的引脚，cof的引脚与pcba的引脚配合连接。

由于引脚数量较多且密集，一般在检查引脚绑定是否正确时，需要将引脚放置于显微镜下观察，但是由于现在面板本身分辨率越来越大，引脚越来越多，需要检查的工作量越来越多，导致检测的效率很低。

技术实现要素：

本申请所要解决的技术问题是提供一种显示装置及其检测方法和覆晶薄膜，以快速检测引脚绑定是否异常。

本申请公开了一种显示装置，包括显示面板、电路板、覆晶薄膜和测试走线；所述显示面板用于显示画面，且包括多个面板引脚；所述电路板驱动所述显示面板，所述电路板包括多个电路板引脚，所述电路板引脚包括接收测试信号的电路板输入引脚，和输出测试信号的电路板输出引脚；所述覆晶薄膜包括输入驱动引脚和输出驱动引脚，所述输出驱动引脚与所述面板引脚绑定连接，所述输入驱动引脚与所述电路板引脚绑定连接；所述测试走线连通所述电路板输入引脚和所述电路板输出引脚以形成回路。

可选的，所述测试走线包括：测试信号输入端连接点，设置在所述电路板处，与所述电路板引脚中的电路板输入引脚连通，以接收测试信号；测试信号输出端连接点，设置在所述电路板处，与所述电路板引脚中的电路板输出引脚连通，以输出测试信号；导通引线，连通所述测试信号输入端连接点和所述测试信号输出端连接点以形成回路。

可选的，所述覆晶薄膜包括源极覆晶薄膜，同一个所述电路板并排绑定有至少两个所述源极覆晶薄膜，其中至少一个所述源极覆晶薄膜为主侧源极覆晶薄膜，所述主侧源极覆晶薄膜靠近所述电路板的两端分别设置有第一输入驱动引脚和第一输出驱动引脚，所述第一输入驱动引脚通过所述电路板输入引脚与所述测试信号输入端连接点连接，所述第一输出驱动引脚通过所述电路板输出引脚与所述测试信号输出端连接点连接；所述导通引线连通所述第一输入驱动引脚和所述第一输出驱动引脚。

可选的，所述源极覆晶薄膜还包括与所述主侧源极覆晶薄膜并排设置的至少一个辅侧源极覆晶薄膜；所述导通引线包括设置在所述显示面板处、位于相邻两个所述源极覆晶薄膜之间的显示面板侧导通引线，以及设置在所述电路板处、位于所述辅侧源极覆晶薄膜的两个所述输入驱动引脚之间的电路板侧导通引线；位于所述电路板第一端的所述源极覆晶薄膜和位于所述电路板第二端的所述源极覆晶薄膜为相连通的两个源极覆晶薄膜。

可选的，位于所述电路板第一端的所述源极覆晶薄膜为第一端源极覆晶薄膜，位于所述电路板第二端的所述源极覆晶薄膜为第二端源极覆晶薄膜；所述显示面板上设有导通长线，所述导通长线在所述显示面板与所述源极覆晶薄膜绑定后，分别连接所述第一端源极覆晶薄膜中远离所述第二端源极覆晶薄膜一端的输出驱动引脚，和所述第二端源极覆晶薄膜中远离所述第一端源极覆晶薄膜一端的输出驱动引脚；所述导通长线设置在所述显示面板的非显示区，环绕所述显示面板的显示区设置。

可选的，所述覆晶薄膜还包括栅极覆晶薄膜，所述栅极覆晶薄膜设置有测试所述栅极覆晶薄膜是否绑定对齐的栅极导通引线，所述栅极导通引线连通于所述导通长线以形成测试回路。

可选的，所述覆晶薄膜包括源极覆晶薄膜，所述源极覆晶薄膜至少包括相邻设置的第一源极覆晶薄膜和第二源极覆晶薄膜；所述导通引线连接所述第一源极覆晶薄膜中与所述第二源极覆晶薄膜相邻一端的输出驱动引脚，和所述第二源极覆晶薄膜中与所述第一源极覆晶薄膜相邻一端的输出驱动引脚。

可选的，位于所述电路板第一端的所述源极覆晶薄膜为第一端源极覆晶薄膜，位于所述电路板第二端的所述源极覆晶薄膜为第二端源极覆晶薄膜；所述显示面板上设有导通长线，所述导通长线在所述显示面板与所述源极覆晶薄膜绑定后，分别连接所述第一端源极覆晶薄膜中远离所述第二端源极覆晶薄膜一端的输出驱动引脚，和所述第二端源极覆晶薄膜中远离所述第一端源极覆晶薄膜一端的输出驱动引脚；所述导通长线设置在所述显示面板的非显示区，环绕所述显示面板的显示区设置；所述测试信号输入端连接点通过所述电路板输入引脚与所述第一端源极覆晶薄膜的输入驱动引脚连通；所述测试信号输出端连接点通过所述电路板输出引脚与所述第二端源极覆晶薄膜的输出驱动引脚连通。

本申请还公开了一种显示装置的检测方法，包括步骤：

将覆晶薄膜的输入驱动引脚与电路板中对应的电路板引脚相连，将覆晶薄膜的输出驱动引脚与显示面板中对应的面板引脚相连；

设置测试走线连通所述电路板输入引脚和所述电路板输出引脚以形成回路。

本申请开公开了一种覆晶薄膜，所述覆晶薄膜包括驱动芯片、驱动引脚、输入驱动引脚、输出驱动引脚和导通引线；所述驱动引脚设置在所述驱动芯片的两端或一端，与所述驱动芯片连通；所述输入驱动引脚设置在所述驱动芯片一端，且不与所述驱动芯片连通；所述输出驱动引脚设置在所述驱动芯片的一端或另一端，且不与所述驱动芯片连通；所述导通引线导通所述输入驱动引脚和所述输出驱动引脚。

本申请通过在显示装置中设置测试走线，用引线导通对应的电路板引脚、覆晶薄膜引脚和显示面板引脚，形成一个回路，这样就可以通过在外界用电源连接形成回路的电路两端，从而导通整个测试电路。当测试走线与外界电源连接后却未导通，说明引脚绑定异常；而当测试走线与外界电源连接并导通后，这说明引脚绑定没问题。通过这种方式能够快速检测电路板、覆晶薄膜和显示面板中引脚的绑定问题，不需要一个个地观察，从而提高了生产效率。

附图说明

所包括的附图用来提供对本申请实施例的进一步的理解，其构成了说明书的一部分，用于例示本申请的实施方式，并与文字描述一起来阐释本申请的原理。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。在附图中：

图1是本申请的一实施例的一种显示装置的示意图；

图2是本申请的另一实施例的一种显示装置的示意图；

图3是本申请的另一实施例的一种显示装置的示意图；

图4是本申请的另一实施例的一种显示装置的示意图；

图5是本申请的另一实施例的一种显示装置的示意图；

图6是本申请的另一实施例的一种显示装置的示意图；

图7是本申请的另一实施例的一种显示装置的示意图；

图8是本申请的另一实施例的一种显示装置的示意图；

图9是本申请的一实施例的一种显示装置制作方法的流程图；

图10是本申请的一实施例的一种覆晶薄膜的示意图；

图11是本申请的另一实施例的一种覆晶薄膜的示意图；

图12是本申请的另一实施例的一种覆晶薄膜的示意图。

其中，100、显示装置；110、电路板；111、电路板引脚；1111、电路板输入引脚；1112、电路板输出引脚；120、显示面板；121、面板引脚；1211、输入面板引脚；1212、输出面板引脚；122、绑定区；1221、第一金属层；1222、第二金属层；1223、绝缘层；130、源极覆晶薄膜；131、输入驱动引脚；1311、第一输入驱动引脚；1312、第二输入驱动引脚；132、输出驱动引脚；1321、第一输出驱动引脚；1322、第二输出驱动引脚；133、主侧源极覆晶薄膜；134、辅侧源极覆晶薄膜；135、第一端源极覆晶薄膜；136、第二端源极覆晶薄膜；137、第一源极覆晶薄膜；138、第二源极覆晶薄膜；140、栅极覆晶薄膜；141、栅极导通引线；1411、栅极输入引脚；1412、栅极输出引脚；1414、第二栅极引线；150、测试走线；151、测试信号输入端连接点；152、测试信号输出端连接点；153、导通引线；1531、导通长线；1532、显示面板侧导通引线；1533、电路板侧导通引线；160、覆晶薄膜；161、驱动芯片；162、驱动引脚。

具体实施方式

需要理解的是，这里所使用的术语、公开的具体结构和功能细节，仅仅是为了描述具体实施例，是代表性的，但是本申请可以通过许多替换形式来具体实现，不应被解释成仅受限于这里所阐述的实施例。

在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示相对重要性，或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，除非另有说明，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征；“多个”的含义是两个或两个以上。术语“包括”及其任何变形，意为不排他的包含，可能存在或添加一个或更多其他特征、整数、步骤、操作、单元、组件和/或其组合。

另外，“中心”、“横向”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系的术语，是基于附图所示的方位或相对位置关系描述的，仅是为了便于描述本申请的简化描述，而不是指示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。

此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，或是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。

下面参考附图和可选的实施例对本申请作进一步说明。

如图1至图8所示，本申请实施例公布了一种显示装置100，包括用于显示画面的显示面板120，所述显示面板120包括多个面板引脚121；还有驱动所述显示面板120的电路板110，所述电路板110包括多个电路板引脚111，所述电路板引脚111包括接收测试信号的电路板输入引脚1111，和输出测试信号的电路板输出引脚1112；还有覆晶薄膜160，所述覆晶薄膜160包括多个输入驱动引脚131和多个输出驱动引脚132，所述输出驱动引脚132与所述面板引脚121绑定连接，所述输入驱动引脚131与所述电路板引脚111绑定连接；显示显示装置100最后还包括检测所述覆晶薄膜160是否正确绑定的测试走线150；所述测试走线150连通所述电路板输入引脚1111和所述电路板输出引脚1112以形成回路。另外测试走线150包括设置在所述电路板110处，与所述电路板引脚111中的电路板输入引脚1111连通，以接收测试信号的测试信号输入端连接点151；还包括设置在所述电路板110处，与所述电路板引脚111中的电路板输出引脚1112连通，以输出测试信号的测试信号输出端连接点152；最后所述测试走线150还包括连通所述测试信号输入端连接点151和所述测试信号输出端连接点152以形成回路的导通引线153。在显示装置100中，通常包括显示面板120、覆晶薄膜160和电路板110，覆晶薄膜160连接显示面板120和电路板110，其中电路板110提供数据信号，覆晶薄膜160则将电路板110提供的数据信号转化成不同的电压提供给显示面板120，使显示面板120显示出不同的画面。覆晶薄膜160、电路板110和显示面板120三者之间的信号传递方式是通过引脚传递，电路板110通过引脚将信号传递给覆晶薄膜160，覆晶薄膜160将信号转换后通过引脚将信号传递给显示面板120。

覆晶薄膜160在安装时，需要将覆晶薄膜160两端的驱动引脚162分别与显示面板120中的面板引脚121，和电路板110上的电路板引脚111一一对应连接。当引脚绑定异常时，比如出现引脚对位不准确，引脚断裂，或引脚连接错位等其它问题时，显示面板120会出现显示异常，不能正确显示画面。因此，当覆晶薄膜160安装后，需要检查覆晶薄膜160两端的引脚绑定是否有问题，一般情况下采用检测引脚绑定的方式为直接用显微镜观察引脚，这种方式需要逐个地观察每一个覆晶薄膜160的引脚，只有确定所有的引脚绑定无误才能将显示装置100投入下一制程；这种观察方式太耗费时间，既浪费人力，也提高了时间成本。本申请为了提高对覆晶薄膜160中引脚绑定的检测效率，提供一种用测试走线150导通对应的引脚，形成一个串联的测试电路，在测试电路中有对应的电路板引脚111、覆晶薄膜160引脚以及显示面板120引脚，还有起到导通引脚作用的测试走线150，通过测试该测试电路的导通效果，判断覆晶薄膜160中是否存在引脚绑定问题。使用本申请的显示装置100后，在检测引脚绑定时只需要测试整个测试电路的导通效果就行，过程简单，检测效率高。

需要说明的是，外界可以通过测试装置直接连接电路板110中的电路板输入引脚1111和电路板输出引脚1112来测试整个回路中引脚绑定的情况；测试装置也可以通过测试信号输入端连接点151和测试信号输出端连接点152来间接导通电路板输入引脚和1111电路板输出引脚1112。至于测试信号输入端连接点151和测试信号输出端连接点152可以是焊盘，也可以是引线，在此不做限定。

整个显示装置100中可以只有一个测试电路，也就是用测试走线150导通引脚的回路只有一个，那么整个测试电路的两端就是设置在所述电路板110处，与所述电路板引脚111中的电路板输入引脚1111连通，以接收测试信号的测试信号输入端连接点151，以及设置在所述电路板110处，与所述电路板引脚111中的电路板输出引脚1112连通，以输出测试信号的测试信号输出端连接点152。具体的，测试电路中的测试信号输入端连接点151和测试信号输出端连接点152可以通过电路板引脚111连到同一个覆晶薄膜160上；测试电路中的测试信号输入端连接点151和测试信号输出端连接点152可以通过电路板引脚111连到不同的覆晶薄膜160上。更具体的，测试电路中的测试信号输入端连接点151和测试信号输出端连接点152可以通过电路板引脚111连到同一个覆晶薄膜160上的情况中，还包括测试电路只测试一个覆晶薄膜160中引脚绑定的情况，以及测试电路同时测试多个覆晶薄膜160中引脚绑定的情况；而测试电路中的测试信号输入端连接点151和测试信号输出端连接点152可以通过电路板引脚111连到不同的覆晶薄膜160上的情况中，包括测试电路只测试相邻两个覆晶薄膜160中引脚绑定的情况，以及测试不相邻的两个覆晶薄膜160中引脚绑定的情况。

如图2所示，在测试电路同时测试多个覆晶薄膜160中引脚绑定的情况中，所述覆晶薄膜160包括源极覆晶薄膜130，同一个所述电路板110并排绑定有至少两个所述源极覆晶薄膜130，其中一个所述源极覆晶薄膜130为主侧源极覆晶薄膜133，其它的源极覆晶薄膜130为辅侧源极覆晶薄膜134；所述主侧源极覆晶薄膜133靠近所述电路板110的两端分别设置有第一输入驱动引脚1311和第一输出驱动引脚1321，所述第一输入驱动引脚1311通过所述电路板输入引脚1111与所述测试信号输入端连接点151连接，所述第一输出驱动引脚1321通过所述电路板输出引脚1112与所述测试信号输出端连接点152连接；所述主侧源极覆晶薄膜133中靠近所述显示面板120的两端分别设置有第二输入驱动引脚1312和第二输出驱动引脚1322，与所述第二输入驱动引脚1312连接的面板引脚121为输入面板引脚1211，与所述第二输出驱动引脚1322连接的面板引脚121为输出面板引脚1212；所述导通引线153包括设置在所述显示面板120处、位于相邻两个所述源极覆晶薄膜130之间的显示面板侧导通引线1532，以及设置在所述电路板110处、位于所述辅侧源极覆晶薄膜134的两个所述输入驱动引脚131之间的电路板侧导通引线1533；位于所述电路板110第一端的所述源极覆晶薄膜130和位于所述电路板110第二端的所述源极覆晶薄膜130为相连通的两个源极覆晶薄膜130。本测试电路可以同时检测多个源极覆晶薄膜130，由于显示装置100中通常含有多个源极覆晶薄膜130，在对源极覆晶薄膜130的引脚进行绑定时，可能会出现有的源极覆晶薄膜130的引脚绑定正确，而有的源极覆晶薄膜130的引脚却绑定异常，因此本测试电路同时测试多个甚至所有的源极覆晶薄膜130，能同时发现多个甚至所有的源极覆晶薄膜130的绑定问题，当测试电路连通所有源极覆晶薄膜130后，只要测试电路在测试时是导通状态，则整个显示装置100的源极覆晶薄膜130的引脚绑定都没问题。

当测试电路连通显示装置100中所有的源极覆晶薄膜130时，位于所述电路板110第一端的所述源极覆晶薄膜130为第一端源极覆晶薄膜135，位于所述电路板110第二端的所述源极覆晶薄膜130为第二端源极覆晶薄膜136；所述显示面板120上设有导通长线1531，所述导通长线1531在所述显示面板120与所述源极覆晶薄膜130绑定后，分别连接所述第一端源极覆晶薄膜135中远离所述第二端源极覆晶薄膜136一端的输出驱动引脚132，和所述第二端源极覆晶薄膜136中远离所述第一端源极覆晶薄膜135一端的输出驱动引脚132；所述导通长线1531设置在所述显示面板120的非显示区，环绕所述显示面板120的显示区设置。由于连通电路板110第一端的源极覆晶薄膜130和第二端的源极覆晶薄膜130的导通长线1531围绕显示面板120的非显示区设置，这样导通长线1531就不会干涉到显示面板120中的其它金属线，也不会干涉到与源极覆晶薄膜130连接的面板引脚121，避免造成线路短路的情况。

如图3所示，测试电路还可以同时测试栅极覆晶薄膜140中的引脚绑定问题，所述覆晶薄膜160还包括栅极覆晶薄膜140，所述栅极覆晶薄膜140设置有测试所述栅极覆晶薄膜140是否绑定对齐的栅极导通引线141，所述栅极导通引线141连通于所述导通长线1531以形成测试回路。测试电路可以测试一个栅极覆晶薄膜140的引脚绑定问题，也可以同时测试多个栅极覆晶薄膜140的引脚绑定问题。在测试一个栅极覆晶薄膜140的引脚绑定问题时，栅极导通引线141中包含栅极覆晶薄膜140的栅极输入引脚1411和栅极输出引脚1412，以及与栅极输入引脚1411和栅极输出引脚1412连接的面板引脚121，由于栅极覆晶薄膜140连接在显示面板120的侧边缘，可以直接将导通第一端源极覆晶薄膜135和第二端源极覆晶薄膜136的导通长线1531连接到栅极导通引线141上，这样就能在检测源极覆晶薄膜130引脚的同时检测到栅极覆晶薄膜140的引脚绑定问题。而如果要同时测试多个栅极覆晶薄膜140的话，只需要将栅极导通引线141中的第二栅极引线1414连通两个相邻栅极覆晶薄膜140中的相邻的栅极输入引脚1411和栅极输出引脚1412即可，第二栅极引线1414设置在显示面板120的非显示区中。该测试电路可以直接测试整个显示装置100中所有源极覆晶薄膜130和所有栅极覆晶薄膜140的引脚，能通过一次测试过程了解到整个显示装置100中的绑定问题，极大地提高了检测效率。

如图4和图5所示，测试电路只测试一个源极覆晶薄膜130中引脚绑定的情况中，所述显示面板120包括与所述覆晶薄膜160绑定连接的绑定区122，所述绑定区122包括第一金属层1221和第二金属层1222，所述第二金属层1222设置有与所述主侧源极覆晶薄膜133绑定连接的面板引脚121；所述第一金属层1221设置有所述导通引线153，以连通所述面板引脚121，整个测试电路所包含的结构为：测试信号输入端连接点151、电路板输入引脚1111、第一输入驱动引脚1311、第二输入驱动引脚1312、输入面板引脚1211、导通引线153、输出面板引脚1212、第二输出驱动引脚1322、第一输出驱动引脚1321、电路板输出引脚1112和测试信号输出端连接点152。本实施例中的导通引线153与以最短的距离连接到与第二输入驱动引脚1312和第二输出驱动引脚1322连接的面板引脚121上，不需要将导通引线153绕显示面板120一圈设置，减少了导通引线153的损耗。另外，为了防止第一金属层1221和第二金属层1222短路，可在第一金属层1221和第二金属层1222之间设置一层绝缘层1223，将导通引线153与显示面板120中的引脚隔开。

如图6所示，测试电路只测试相邻两个覆晶薄膜160中引脚绑定的情况中，所述源极覆晶薄膜130至少包括相邻设置的第一源极覆晶薄膜137和第二源极覆晶薄膜138；所述导通引线153连接所述第一源极覆晶薄膜137中与所述第二源极覆晶薄膜138相邻一端的输出驱动引脚132，和所述第二源极覆晶薄膜138中与所述第一源极覆晶薄膜137相邻一端的输出驱动引脚132；即测试电路中所包含的结构为：测试信号输入端连接点151、电路板输入引脚1111、第一源极覆晶薄膜137中的第一输入驱动引脚1311、第一源极覆晶薄膜137中的第二输入驱动引脚1321、与第二输入驱动引脚1321相对应的输入面板引脚1211、在第一源极覆晶薄膜137和第二源极覆晶薄膜138之间的导通引线153、输出面板引脚1212、第二源极覆晶薄膜138中的第二输出驱动引脚1322、第二源极覆晶薄膜138中的第一输出驱动引脚1321、与第一输出驱动引脚1321连接的电路板输出引脚1112，以及测试信号输出端连接点152。通过测试相邻的源极覆晶薄膜130中的引线，能够同时确定两个源极覆晶薄膜130中的引脚绑定问题，一般情况下，如果有两个覆晶薄膜160的引脚对位没问题的话，覆晶薄膜160引脚对位出现问题的可能性比较小，本实施例不需要设计过多的走线，减少生产步骤，提高产能。

如图7所示，测试不相邻的两个覆晶薄膜160中引脚绑定的情况中，位于所述电路板110第一端的所述源极覆晶薄膜130为第一端源极覆晶薄膜135，位于所述电路板110第二端的所述源极覆晶薄膜130为第二端源极覆晶薄膜136；所述显示面板120上设有导通长线1531，所述导通长线1531在所述显示面板120与所述源极覆晶薄膜130绑定后，分别连接所述第一端源极覆晶薄膜135中远离所述第二端源极覆晶薄膜136一端的输出驱动引脚132，和所述第二端源极覆晶薄膜136中远离所述第一端源极覆晶薄膜135一端的输出驱动引脚132；所述导通长线1531设置在所述显示面板120的非显示区，环绕所述显示面板120的显示区设置；所述测试信号输入端连接点151通过所述电路板输入引脚1111与所述第一端源极覆晶薄膜135的第一输入驱动引脚1311连通，所述第一输入驱动引脚1311通过对应的第二输入驱动引脚1312与输入面板引脚1211连接，所述输入面板引脚1211与所述导通长线1531相连；所述测试信号输出端连接点152通过所述电路板输出引脚1112与所述第二端源极覆晶薄膜136的第一输出驱动引脚1321连通，所述第一输出驱动引脚1321通过对应的第二输出驱动引脚1322与输出面板引脚1212相连，所述输出面板引脚1212与所述导通长线1531连通。由于测试电路测试的是电路板110两端的源极覆晶薄膜130引脚，当电路板110两端的第一端源极覆晶薄膜135和第二端源极覆晶薄膜136引脚对位正常时，则第一端源极覆晶薄膜135和第二端源极覆晶薄膜136之间的覆晶薄膜160中的引脚不会出现对位问题，在源极覆晶薄膜130的引脚对位时，因为当第一端源极覆晶薄膜135和第二端源极覆晶薄膜136之间的覆晶薄膜160中的引脚出现对位问题时，第一端源极覆晶薄膜135和第二端源极覆晶薄膜136的引脚肯定会出现对位问题，本实施例可以通过测试两个覆晶薄膜160直接了解所有覆晶薄膜160的引脚对位问题，测试结构更准确。

整个显示装置100还可以同时存在多个测试电路，每个测试电路的两端都设置在电路板110上，且每个测试电路都有与所述电路板引脚111中的电路板输入引脚1111连通，以接收测试信号的测试信号输入端连接点151，以及设置在所述电路板110处，与所述电路板引脚111中的电路板输出引脚1112连通，以输出测试信号的测试信号输出端连接点152。具体的，每个测试电路中的测试信号输入端连接点151和测试信号输出端连接点152可以连接到一个覆晶薄膜160上，也可以连接到不同的源极覆晶薄膜130上，如图8所示，一个测试电路为：用测试信号输入端连接点151连通第一端源极覆晶薄膜135，用测试信号输出端连接点152连通第二端源极覆晶薄膜136，所述第一端源极覆晶薄膜135和所述第二端源极覆晶薄膜136通过围绕显示面板120的非显示区设置的导通长线1531连接；其它测试电路为：用测试信号输入端连接点151连通第一源极覆晶薄膜137，用测试信号输出端连接点152连通第二源极覆晶薄膜138，所述第一源极覆晶薄膜137和第二源极覆晶薄膜138为相邻的覆晶薄膜160，且通过导通引线153连接。本实施例通过在显示装置100中设置多个测试电路，每个测试电路都可以测试两个源极覆晶薄膜130的引线绑定情况，当测量第一端源极覆晶薄膜135和第二端覆晶薄膜160的引线发现问题后，可一个个地测试相邻两个的源极覆晶薄膜130引脚绑定是否有问题，直至找出哪个源极覆晶薄膜130的引脚出现问题，本实施例可以精确地定位到出现问题的源极覆晶薄膜130。当然，测试电路还可以测量相邻栅极覆晶薄膜140的引脚，将测试信号输入端连接点151与一个栅极覆晶薄膜140的引脚连接，将测试信号输除端引线与相邻的一个栅极覆晶薄膜140的引脚连接，并且用导通信号连接相对应的面板引脚121。这样可以找出出现引脚绑定异常的栅极覆晶薄膜140。

上述实施例中，测试电路中覆晶薄膜160的引脚可以为覆晶薄膜160中最边缘的引脚，这样能够整个覆晶薄膜160中所有引脚的问题。而且覆晶薄膜160中对应的输入驱动引脚131和输出驱动引脚132可以通过导通引线153连接，这样能防止覆晶薄膜160中的其它引脚对测试电路造成影响。

如图9所示，作为本申请的另一实施例，公开了一种显示装置的检测方法，包括步骤：

s1：将覆晶薄膜的输入驱动引脚与电路板中对应的电路板引脚相连，将覆晶薄膜的输出驱动引脚与显示面板中对应的面板引脚相连；

s2：设置测试走线连通所述电路板输入引脚和所述电路板输出引脚以形成回路。

另外，在形成回路的电路一端连接电源，另一端连接发光件且接地线。其中，发光件包括光电二极管，当接通电源后，如果发光件没亮的话，说明显示装置100中源极覆晶薄膜130的引脚绑定出现问题，需要进行修改；当接通电源后，如果发光件正常的话，则说明源极覆晶薄膜130的引脚绑定无误，可以投入下一道环节。

如图10和图12所示，作为本申请的另一实施例，公开了一种覆晶薄膜160，所述覆晶薄膜160包括：驱动芯片161、驱动引脚162、输入驱动引脚131、输出驱动引脚132和导通引线153；所述驱动引脚162设置在所述驱动芯片161的两端或一端，与所述驱动芯片161连通；所述输入驱动引脚131设置在所述驱动芯片161一端，且不与所述驱动芯片161连通；所述输出驱动引脚132设置在所述驱动芯片161的一端或另一端，且不与所述驱动芯片161连通；所述导通引线153导通所述输入驱动引脚131和所述输出驱动引脚132。

图10中覆晶薄膜160包括两个输入驱动引脚131和两个输出驱动引脚132，输入驱动引脚131和输出驱动引脚132分别设置在所述驱动芯片161的两端，主要起测试作用，与上述实施例中测试电路中的测试信号输入端连接点151和测试信号输出端连接点152连接。当然一个覆晶薄膜160还可以只有一组输入驱动引脚131和输出驱动引脚132，用导通引线153导通一个覆晶薄膜160中的输入驱动引脚131和输出驱动引脚132，为了形成回路，在另一个覆晶薄膜160中同样设置一组输入驱动引脚131和输出驱动引脚132，且两个覆晶薄膜160中的靠近显示面板120侧的输出驱动引脚132导通，靠近电路板110侧的输入驱动引脚131分别与测试信号输入端连接点151、测试信号输出端连接点152导通，如图11所示。如图12所示，输入驱动引131和输出驱动引脚132可以做到驱动芯片161的同一侧，导通引线151侧环绕覆晶薄膜160的边缘连接输入驱动引脚131和输出驱动引脚132。

需要说明的是，本方案中涉及到的各步骤的限定，在不影响具体方案实施的前提下，并不认定为对步骤先后顺序做出限定，写在前面的步骤可以是在先执行的，也可以是在后执行的，甚至也可以是同时执行的，只要能实施本方案，都应当视为属于本申请的保护范围。

本申请的技术方案可以广泛用于各种显示面板，如扭曲向列型(twistednematic，tn)显示面板、平面转换型(in-planeswitching，ips)显示面板、垂直配向型(verticalalignment，va)显示面板、多象限垂直配向型(multi-domainverticalalignment，mva)显示面板，当然，也可以是其他类型的显示面板，如有机发光二极管(organiclight-emittingdiode，oled)显示面板，均可适用上述方案。

以上内容是结合具体的可选的实施方式对本申请所作的进一步详细说明，不能认定本申请的具体实施只局限于这些说明。对于本申请所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本申请的保护范围。