显示面板、显示面板的驱动方法和显示装置与流程

本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板、显示面板的驱动方法和显示装置。

背景技术：

在制作显示面板的过程中，由于工艺的原因造成显示面板中存在裂纹，降低了显示面板的可靠性，因此需要对显示面板的裂纹进行检测。在显示面板的裂纹检测过程中，存在检测过程复杂，无法应用在量产上的问题，以及可视判别单一，存在误判、漏判的问题。

技术实现要素：

本发明提供一种显示面板、显示面板的驱动方法和显示装置，以提高检测显示面板裂纹的准确性和检测结果直观性，同时可以简化检测过程。

第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，包括显示区和非显示区；所述非显示区设置至少两个信号输入端、至少一个控制信号输入端、至少两条检测信号线和检测电路，所述显示区设置多条数据线；

所述检测电路包括至少一个控制端、至少两个输入端和至少两个输出端；所述检测电路的控制端与控制信号输入端一一对应电连接；每一所述检测电路的输入端通过一条所述检测信号线与一个信号输入端电连接；每一所述检测电路的输出端与不同的数据线电连接；其中，至少一个信号输入端提供的输入信号为所述显示面板提供黑画面驱动信号，至少一个信号输入端提供的输入信号为所述显示面板提供亮画面驱动信号。

可选地，所述非显示区围绕所述显示区设置；所述检测信号线围绕所述显示区设置；所述检测电路包括两个控制端、两个输入端和两个输出端；所述检测电路包括至少一个第一晶体管和至少一个第二晶体管；

所述第一晶体管的栅极和所述第二晶体管的栅极分别作为所述检测电路的一个控制端，所述第一晶体管的第一极和所述第二晶体管的第一极分别作为所述检测电路的一个输入端，所述第一晶体管的第二极和所述第二晶体管的第二极分别作为所述检测电路的一个输出端。

可选地，所述检测电路包括一个控制端、两个输入端和两个输出端；所述检测电路包括至少一个第一晶体管和至少一个第二晶体管；所述第一晶体管和所述第二晶体管的类型相同；

所述第一晶体管的栅极和所述第二晶体管的栅极作为所述检测电路的控制端，所述第一晶体管的第一极和所述第二晶体管的第一极分别作为所述检测电路的一个输入端，所述第一晶体管的第二极和所述第二晶体管的第二极分别作为所述检测电路的一个输出端。

可选地，多条所述数据线包括至少一条第一数据线和至少一条第二数据线；

所述检测电路的一个输出端与所述第一数据线电连接，所述检测电路的另一个输出端与所述第二数据线电连接。

可选地，所述第一晶体管和所述第二晶体管均为多个，所述第一数据线和所述第二数据线均为多条；所述第一晶体管与所述第一数据线一一对应连接，所述第二晶体管与所述第二数据线一一对应连接。

可选地，所述第一数据线连接的像素单元的发光颜色与所述第二数据线连接的像素单元的发光颜色不同；

优选地，所述第一数据线连接的像素单元的发光颜色为绿色，所述第二数据线连接的像素单元的发光颜色为红色。

可选地，多条所述数据线还包括至少一条第三数据线；所述第一数据线和所述第二数据线设置于所述第三数据线延伸方向的两侧；所述第一数据线连接的像素单元的发光颜色与所述第二数据线连接的像素单元的发光颜色相同或不同。

可选地，所述检测信号线包括两条，每条所述检测信号线围绕所述非显示区分别形成一圈。

第二方面，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括本发明任意实施例提供的显示面板。

第三方面，本发明实施例还提供了一种显示面板的裂纹检测方法，用于检测本发明任意实施例提供的显示面板，包括：

在裂纹检测阶段，所述控制信号输入端提供的控制信号传输至所述检测电路的控制端，控制所述检测电路导通，并根据所述数据线连接的像素单元发光状态检测显示面板的裂纹；其中，在所述裂纹检测阶段开始时，所述像素单元的发光控制信号控制所述像素单元不发光；

优选地，在所述裂纹检测阶段结束时，所述像素单元的发光控制信号控制所述像素单元不发光。

本发明实施例的技术方案，通过设置显示面板的至少一个信号输入端提供的输入信号为显示面板提供黑画面驱动信号，至少一个信号输入端提供的输入信号为显示面板提供亮画面驱动信号，且不同的信号输入端对应不同的数据线。在显示面板的裂纹检测过程中，可以通过观察与提供黑画面驱动信号的信号输入端对应的数据线连接的像素单元的发光状态，以及与提供亮画面驱动信号的信号输入端对应的数据线连接的像素单元的发光状态，可以直观的判断显示面板是否存在裂纹，增加了显示面板裂纹检测的直观性。而且，可以根据两者的发光状态区分显示面板显示异常的原因，从而可以提高显示面板裂纹检测的准确性，降低了显示面板裂纹检测的误判、漏判现象。另外，显示面板裂纹检测过程不具有驱动芯片寄存器的回读过程，从而简化了显示面板裂纹检测过程。

附图说明

图1为现有的一种显示装置的结构示意图；

图2为现有的另一种显示装置的结构示意图；

图3为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图5为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图6为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图7为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图8为本发明实施例提供的一种显示面板的裂纹检测方法的流程示意图；

图9为本发明实施例提供的一种显示面板的裂纹检测方法的时序图；

图10为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

随着显示面板行业的逐渐成熟，显示面板的产线对显示面板的生产良率要求越来越高。在制作显示面板的工艺过程中，显示面板容易出现裂纹，造成显示面板的可靠性降低，因此可以通过裂纹检测提高显示面板的生产良率。现有技术中，可以采用传统的电压、电阻检测方式检测显示面板的裂纹。图1为现有的一种显示装置的结构示意图。如图1所示，该显示装置包括显示面板101和驱动芯片102，显示面板101包括裂纹检测线1011，裂纹检测线1011围绕显示面板设置，并与驱动芯片102连接形成闭合回路。在裂纹检测过程中，驱动芯片102输出检测信号到裂纹检测线1011上。当显示面板存在裂纹时，裂纹检测线1011上的电压和电阻会发生变化。通过回读驱动芯片中寄存器的值，判断裂纹检测线1011上的电阻和电压是否在范围内，从而可以判断显示面板是否有裂纹。在上述检测过程中，由于需要回读驱动芯片寄存器，因此判别方式比较复杂，无法应用在量产上。图2为现有的另一种显示装置的结构示意图。如图2所示，该显示装置包括显示面板201和驱动芯片202，显示面板201包括裂纹检测线2011和检测晶体管2012，裂纹检测线2011围绕显示面板设置，检测晶体管2012的栅极与驱动芯片202的控制信号输出端c1电连接，检测晶体管2012的第一极通过裂纹检测线2011与驱动芯片202的检测信号输出端in电连接，检测晶体管2012的第二极与数据线2013电连接。在裂纹检测过程中，驱动芯片202输出控制信号控制检测晶体管2012导通，检测晶体管2012的第一极输入检测信号，检测信号为黑画面驱动电压。当显示面板无裂纹时，检测信号通过裂纹检测线2011和检测晶体管2012输出至数据线2013上，与数据线2013连接的像素单元显示黑画面。当显示面板存在裂纹时，检测信号无法通过裂纹检测线2011输出至数据线2013上，此时与数据线连接2013的像素单元为浮动状态，像素单元显示亮画面。从而实现了显示面板的裂纹检测。在图2示例的检测过程中，由于只能通过与数据线2013连接的像素单元的显示状态判断显示面板是否存在裂纹，如果出现显示面板未点亮及其他异常引起的不显示问题，容易造成误判、漏判的现象，影响显示面板裂纹检测的良率。

针对上述技术问题，本发明实施例提供了一种显示面板。图3为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图。如图3所示，该显示面板包括显示区10和非显示区20；非显示区20设置至少两个信号输入端210、至少一个控制信号输入端220、至少两条检测信号线230和检测电路240，显示区10设置多条数据线110；检测电路240包括至少一个控制端241、至少两个输入端242和至少两个输出端243；检测电路240的控制端241与控制信号输入端220一一对应电连接；每一检测电路240的输入端242通过一条检测信号线230与一个信号输入端210电连接；每一检测电路240的输出端243与不同的数据线110电连接；其中，至少一个信号输入端210提供的输入信号为显示面板提供黑画面驱动信号，至少一个信号输入端210提供的输入信号为显示面板提供亮画面驱动信号。

具体地，图3中示例性地示出了显示面板包括两条检测信号线230、两个控制信号输入端220和两个信号输入端210。当显示面板存在裂纹时，检测信号线230会断裂，使得检测信号线230上的信号无法传输。检测电路240的输入端242和输出端243的个数相同，且一一对应连接。检测电路240的一个输入端242通过一条检测信号线230与一个信号输入端210电连接，该信号输入端210提供的输入信号通过与其连接的检测电路240的输入端242传输至与其对应的检测信号240的输出端243。检测电路240的另一个输入端242通过另一条检测信号线230与另一个信号输入端210电连接，该信号输入端210提供的输入信号通过与其连接的检测电路240的输入端242传输至与其对应的检测信号240的输出端243，从而实现了信号输入端210与检测电路240的输出端243一一对应连接。另外，检测电路240的输出端243连接的数据线110不同，因此可以实现信号输入端210与数据线110一一对应连接。检测电路240的控制端241输出的控制信号可以控制检测电路240中对应的输入端242和输出端243之间的导通或关断。

显示面板的信号输入端210提供的输入信号以及控制信号输入端220提供的控制信号均可以由显示面板的驱动芯片提供。在检测显示面板裂纹之前，显示面板中的控制信号输入端210能正常提供控制信号，检测信号输入端220能正常提供输入信号。在显示面板的裂纹检测过程中，控制信号输入端220输入的控制信号控制检测电路240导通。当显示面板无裂纹时，检测信号线230不存在断裂，信号输入端210提供的输入信号通过检测信号线230传输至检测电路240的输入端242，并通过检测电路240输出至与其对应的输出端243，然后通过输出端243输出至与其电连接的数据线110上，则与数据线110电连接的像素单元根据与其对应的信号输入端210输入的信号进行显示。由于至少一个信号输入端210提供的输入信号为显示面板提供黑画面驱动信号，至少一个信号输入端210提供的输入信号为显示面板提供亮画面驱动信号。因此，与提供黑画面驱动信号的信号输入端210对应的数据线110连接的像素单元显示为黑画面，与提供亮画面驱动信号的信号输入端210对应的数据线110连接的像素单元显示为亮画面。即只有与提供亮画面驱动信号的信号输入端210对应的数据线110连接的像素单元发光时，则判断显示面板无裂纹。当显示面板有裂纹时，检测信号线230存在断裂，信号输入端210提供的输入信号无法通过检测信号线230传输至检测电路240的输入端242，因此信号输入端210提供的输入信号无法传输至与其对应的数据线110上，此时与数据线110电连接的像素单元为浮动状态。则与提供黑画面驱动信号的信号输入端210对应的数据线110连接的像素单元显示为亮画面，与提供亮画面驱动信号的信号输入端210对应的数据线110连接的像素单元显示也为亮画面。即与提供黑画面驱动信号的信号输入端210对应的数据线110连接的像素单元发光，且与提供亮画面驱动信号的信号输入端210对应的数据线110连接的像素单元也发光时，则判断显示面板有裂纹。当显示面板存在其他异常导致显示面板无法正常显示时，此时与提供亮画面驱动信号的信号输入端210对应的数据线110连接的像素单元不发光，且与提供亮画面驱动信号的信号输入端210对应的数据线110连接的像素单元也不发光，此时判断显示面板存在其他异常状态。由此可知，通过观察与提供黑画面驱动信号的信号输入端210对应的数据线110连接的像素单元的发光状态，以及与提供亮画面驱动信号的信号输入端210对应的数据线110连接的像素单元的发光状态，可以直观的判断显示面板是否存在裂纹，增加了显示面板裂纹检测的直观性。而且，可以根据两者的发光状态区分显示面板显示异常的原因，从而可以提高显示面板裂纹检测的准确性，降低了显示面板裂纹检测的误判、漏判现象。另外，显示面板裂纹检测过程不具有驱动芯片寄存器的回读过程，从而简化了显示面板裂纹检测过程。

需要说明的是，黑画面驱动信号为显示面板最大灰阶对应的驱动电压，亮画面驱动信号可以为显示面板低灰阶对应的驱动电压。示例性地，显示面板不同的灰阶对应的驱动电压中最大驱动电压为7v，则黑画面驱动信号可以为7v，亮画面驱动信号可以为2v。

图4为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图。如图4所示，非显示区20围绕显示区10设置；检测信号线230围绕显示区10设置；检测电路240包括两个控制端241、两个输入端242和两个输出端243；检测电路240包括至少一个第一晶体管t1和至少一个第二晶体管t2；第一晶体管t1的栅极和第二晶体管t2的栅极分别作为检测电路240的一个控制端241，第一晶体管t1的第一极和第二晶体管t2的第一极分别作为检测电路240的一个输入端242，第一晶体管t1的第二极和第二晶体管t2的第二极分别作为检测电路240的一个输出端243。

具体地，当检测信号线230围绕显示区10设置时，检测信号线230可以对显示区10周围的所有区域进行裂纹检测，提高显示面板的裂纹检测范围。当检测电路240包括两个控制端241、两个输入端242和两个输出端243时，显示面板的非显示区20对应设置两个信号输入端210和两个控制信号输入端220，两个信号输入端210分别与检测电路240的两个输入端242一一对应连接，两个控制信号输入端220分别与检测电路240的两个控制端241一一对应电连接。示例性地，图4中示例性地示出了检测电路240包括一个第一晶体管t1和一个第二晶体管t2。检测电路240的两个控制端241分别为第一控制端2411和第二控制端2412，第一晶体管t1的栅极为第一控制端2411，第二晶体管t2的栅极为第二控制端2412。两个输入端242分别为第一输入端2421和第二输入端2422，第一晶体管t1的第一极为第一输入端2421，第二晶体管t2的第一极为第二输入端2422。两个输出端243分别为第一输出端2431和第二输出端2432，第一晶体管t1的第二极为第一输出端2431，第二晶体管t2的第二极为第二输出端2432。信号输入端210包括第一信号输入端211和第二信号输入端212，控制信号输入端220包括第一控制信号输入端221和第二控制信号输入端222。第一控制端2411与第一控制信号输入端221电连接，第二控制端2412与第二控制信号输入端222电连接，第一输入端2421通过一条检测信号线230与第一信号输入端211电连接，第二输入端2422通过另一条检测信号线230与第二信号输入端212电连接。

图4中示例性地示出了第一晶体管t1和第二晶体管t2为p型晶体管。示例性地，第一信号输入端211提供的输入信号为亮画面驱动信号，第二信号输入端212提供的输入信号为黑画面驱动信号。在显示面板的裂纹检测过程中，第一控制信号输入端221和第二控制信号输入端222输入低电平信号，控制第一晶体管t1和第二晶体管t2导通。当显示面板无裂纹时，第一信号输入端211提供的亮画面驱动信号通过一条检测信号线230传输至第一晶体管t1的第一极，并通过第一晶体管t1的第二极传输至与第一晶体管t1电连接的数据线110上，则与第一晶体管t1对应的数据线110电连接的像素单元显示亮画面。第二信号输入端212提供的黑画面驱动信号通过另一条检测信号线230传输至第二晶体管t2的第一极，并通过第二晶体管t2的第二极传输至与第二晶体管t2电连接的数据线110上，则与第二晶体管t2对应的数据线110电连接的像素单元显示黑画面。因此，当与第一晶体管t1对应的数据线110电连接的像素单元显示亮画面，与第二晶体管t2对应的数据线110电连接的像素单元显示黑画面时，判断显示面板无裂纹。当显示面板存在裂纹时，检测信号线230存在断裂，第一信号输入端211提供的亮画面驱动信号和第二信号输入端212提供的黑画面驱动信号无法通过检测信号线230传输至第一晶体管t1和第二晶体管t2，使得第一晶体管t1的第一极和第二晶体管t2的第一极为浮动状态，电位下降，使得与第一晶体管t1对应的数据线110电连接的像素单元显示亮画面，与第二晶体管t2对应的数据线110电连接的像素单元也显示亮画面。因此，当与第一晶体管t1对应的数据线110电连接的像素单元显示亮画面，与第二晶体管t2对应的数据线110电连接的像素单元显示亮画面时，判断显示面板存在裂纹。当显示面板存在其他异常导致显示面板无法正常显示时，会使得与第一晶体管t1对应的数据线110电连接的像素单元无法正常显示，与第二晶体管t2对应的数据线110电连接的像素单元也无法正常显示，此时可以判断显示面板存在其他异常导致显示面板无法正常显示。

需要说明的是，图4中仅是示例性地示出了第一晶体管t1和第二晶体管t2为p型晶体管，在其他实施例中，第一晶体管t1和第二晶体管t2的晶体管类型还可以为n型晶体管，或者，第一晶体管t1和第二晶体管t2中的一个为p型晶体管，另外一个为n型晶体管。

继续参考图4，检测信号线230包括两条，每条检测信号线230围绕非显示区20分别形成一圈。

具体地，检测信号线230的数量与信号输入端210的数量相同，用于分别传输不同的信号输入端210提供的输入信号。如图4所示，信号输入端210包括第一信号输入端211和第二信号输入端212，则检测信号线230可以包括第一检测信号线231和第二检测信号线232。第一信号输入端211可以通过第一检测信号线231与第一输入端2421电连接，第二信号输入端212可以通过第二检测信号线232与第二输入端2422电连接。由于第一检测信号线231和第二检测信号线232绝缘，可以使得第一信号输入端211提供的亮画面驱动信号传输至第一晶体管t1对应的数据线110上，第二信号输入端212提供的黑画面驱动信号传输至第二晶体管t2对应的数据线110上。另外，每条检测信号线230围绕非显示区20分别形成一圈，可以使得两条检测信号线230同时对显示面板的裂纹进行检测，从而可以实现通过与第一晶体管t1对应的数据线110连接的像素单元的发光状态，以及与第二晶体管t2对应的数据线110连接的像素单元的发光状态同时判断显示面板是否存在裂纹，提高了显示面板裂纹检测的准确性，降低了显示面板裂纹检测的误判、漏判现象。

图5为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图。如图5所示，检测电路240包括一个控制端241、两个输入端242和两个输出端243；检测电路240包括至少一个第一晶体管t1和至少一个第二晶体管t2；第一晶体管t1和第二晶体管t2的类型相同；第一晶体管t1的栅极和第二晶体管t2的栅极作为检测电路240的一个控制端241，第一晶体管t1的第一极和第二晶体管t2的第一极分别作为检测电路240的一个输入端242，第一晶体管t1的第二极和第二晶体管t2的第二极分别作为检测电路240的一个输出端243。

具体地，当第一晶体管t1和第二晶体管t2为类型相同的晶体管时，可以通过相同的控制信号控制第一晶体管t1和第二晶体管t2同时导通或关断，因此第一晶体管t1的栅极和第二晶体管t2的栅极可以电连接，作为一个控制端241。在显示面板的裂纹检测过程中，控制端241输入低电平，第一晶体管t1和第二晶体管t2同时导通，即可实现显示面板的裂纹检测。其具体检测过程与图4提供的显示面板的裂纹检测过程相同，此处不再赘述。

继续参考图5，多条数据线110包括至少一条第一数据线111和至少一条第二数据线112；检测电路240的一个输出端243与第一数据线111电连接，检测电路240的另一个输出端243与第二数据线112电连接。

具体地，如图5所示，第一数据线111与第一晶体管t1的第二极电连接，第二数据线112与第二晶体管t2的第二极电连接。当显示面板上无裂纹时，第一数据线111上的驱动电压为亮画面驱动电压，第二数据线112上的驱动电压为黑画面驱动电压。则与第一数据线111连接的像素单元显示亮画面，与第二数据线112连接的像素单元显示黑画面。即第一晶体管t1和第二晶体管t2连接的数据线110为不同的数据线，从而可以根据不同的数据线110连接的像素单元的发光状态判断显示面板是否存在裂纹。

图6为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图。如图6所示，第一晶体管t1和第二晶体管t2均为多个，第一数据线111和第二数据线112均为多条；第一晶体管t1与第一数据线111一一对应连接，第二晶体管t2与第二数据线112一一对应连接。

具体地，当第一晶体管t1和第二晶体管t2为多个时，与第一晶体管t1对应的第一数据线111和与第二晶体管t2对应的第二数据线112为多条，因此与第一数据线111连接的像素单元和与第二数据线112连接的像素单元均包括多列。在检测显示面板的裂纹时，与第一数据线111连接的多列像素单元的发光状态以及与第二数据线112连接的多列像素单元的发光状态可以用于判断显示面板是否存在裂纹，从而降低了其他因素导致的像素单元显示异常错误判断为裂纹的现象，提高了显示面板裂纹检测的可靠性。同时有利于直观的判断，增加了显示面板裂纹检测的直观性。示例性地，如图6所示，第一晶体管t1和第二晶体管t2均为4个，对应的第一数据线111和第二数据线112为4条。在检测显示面板的裂纹时，与第一数据线111连接的4列像素单元的发光状态以及与第二数据线112连接的4列像素单元的发光状态可以用于判断显示面板是否存在裂纹。

在上述各技术方案的基础上，第一数据线连接的像素单元的发光颜色与第二数据线连接的像素单元的发光颜色不同。

具体地，在显示面板裂纹检测的过程中，需要分别判断第一数据线连接的像素单元的发光状态和第二数据线连接的像素单元的发光状态，从而判断显示面板是否存在裂纹。通过设置第一数据线连接的像素单元的发光颜色与第二数据线连接的像素单元的发光颜色不同，有利于直观的观测第一数据线连接的像素单元的发光状态和第二数据线连接的像素单元的发光状态，从而增加了显示面板裂纹检测的直观性。

优选地，第一数据线连接的像素单元的发光颜色为绿色，第二数据线连接的像素单元的发光颜色为红色。在显示面板的裂纹检测过程中，可以根据显示面板上是否有绿光和红光即可判断第一数据线连接的像素单元的发光状态和第二数据线连接的像素单元的发光状态，进一步地增加了显示面板裂纹检测的直观性。

需要说明的是，在其他实施例中，第一数据线连接的像素单元的发光颜色和第二数据线连接的像素单元的发光颜色还可以为其他颜色。例如，第一数据线连接的像素单元的发光颜色为绿色，第二数据线连接的像素单元的发光颜色为蓝色，或者，第一数据线连接的像素单元的发光颜色为红色，第二数据线连接的像素单元的发光颜色为蓝色。另外，由于第一数据线连接的像素单元的发光颜色与第二数据线连接的像素单元的发光颜色不同，因此第一数据线和第二数据线可以设置于显示面板中相邻的位置，也可以设置于显示面板不同的位置，均可以直观的观察第一数据线连接的像素单元的发光状态和第二数据线连接的像素单元的发光状态。

图7为本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图。如图7所示，多条数据线110还包括至少一条第三数据线113；第一数据线111和第二数据线112设置于第三数据线113延伸方向的两侧；第一数据线111连接的像素单元的发光颜色与第二数据线112连接的像素单元的发光颜色相同或不同。

具体地，如图7所示，第一数据线111和第二数据线112设置于显示面板的不同位置，从而更加的有利于直观的观察第一数据线连接的像素单元的发光状态和第二数据线连接的像素单元的发光状态，增加了显示面板裂纹检测的直观性。当第一数据线111和第二数据线112位于显示面板的不同位置时，第一数据线111连接的像素单元的发光颜色与第二数据线112连接的像素单元的发光颜色可以相同，此时可以通过发光位置判断第一数据线连接的像素单元的发光状态和第二数据线连接的像素单元的发光状态。第一数据线111连接的像素单元的发光颜色与第二数据线112连接的像素单元的发光颜色也可以不同，此时可以通过发光位置和发光颜色判断第一数据线连接的像素单元的发光状态和第二数据线连接的像素单元的发光状态。

本发明实施例还提供一种显示面板的裂纹检测方法，用于检测本发明任意实施例提供的显示面板。图8为本发明实施例提供的一种显示面板的裂纹检测方法的流程示意图。如图8所示，该方法包括：

s80、在裂纹检测阶段，控制信号输入端提供的控制信号传输至检测电路的控制端，控制检测电路导通，并根据数据线连接的像素单元发光状态检测显示面板的裂纹；其中，在裂纹检测阶段开始时，像素单元的发光控制信号控制像素单元不发光。

具体地，在裂纹检测阶段，控制信号输入端提供的控制信号控制检测电路导通。在显示面板的裂纹检测过程中，通过观察与提供黑画面驱动信号的信号输入端对应的数据线连接的像素单元的发光状态，以及与提供亮画面驱动信号的信号输入端对应的数据线连接的像素单元的发光状态，可以直观的判断显示面板是否存在裂纹，增加了显示面板裂纹检测的直观性。而且，可以根据两者的发光状态区分显示面板显示异常的原因，从而可以提高显示面板裂纹检测的准确性，降低了显示面板裂纹检测的误判、漏判现象。另外，显示面板裂纹检测过程不具有回读过程，从而简化了显示面板裂纹检测过程。

另外，在检测显示面板裂纹之前，显示面板中的控制信号输入端能正常提供控制信号，显示面板能够正常显示。在裂纹检测阶段开始时，通过设置像素单元的发光控制信号控制像素单元不发光，可以避免像素单元的驱动电压瞬间变化造成的闪屏。示例性地，图9为本发明实施例提供的一种显示面板的裂纹检测方法的时序图。如图9所示，em为像素单元的发光控制信号的时序，sw为控制信号输入端提供的控制信号的时序，s_g为一个信号输入端提供的输入信号的时序，s_r为另一个信号输入端提供的输入信号的时序。当像素单元的发光控制信号为高电平，可以控制像素单元不发光，且控制信号输入端提供的控制信号为低电平，检测电路导通时，在在裂纹检测阶段t1开始时，em为高电平，可以使得像素单元不发光，从而可以避免像素单元的驱动电压瞬间变化造成的闪屏。在裂纹检测阶段t1，em为低电平，sw为低电平，可以使得检测电路对显示面板的裂纹进行检测，并根据不同的数据连接的像素单元的发光状态判断显示面板是否存在裂纹。

在上述技术方案的基础上，继续参考图9，在裂纹检测阶段结束时，像素单元的发光控制信号控制像素单元不发光。

具体地，在裂纹检测阶段t1结束时，em为高电平，同样控制像素单元不发光，避免像素单元的驱动电压瞬间变化造成的闪屏。

本发明实施例还提供一种显示装置。图10为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。如图10所示，该显示装置90包括本发明任意实施例提供的显示面板91。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。