1.一种低功率液晶屏gamma高阻抗测量方法，其特征在于：所述低功率液晶屏(100)包括终端(110)和测试端(120)，所述终端(110)包括至少两个终端阵列点(111)，所述测试端(120)包括至少四个测试阵列点(121)；
所述测量方法包括：
提供若干第一导线(300)，将所述终端(110)的至少两个终端阵列点(111)依次串联成串联电路，所述导线(300)在与各个所述终端(110)结合处形成结合点；
提供一自制电路(200)，将所述自制电路(200)包括：gammapad(210)、运算放大器(220)、lm324(230)、牛角(240)以及ni采集卡(250)；
提供一导电板(400)，将所述测试端(120)与pad(210)通过导电板(400)电性连接：
提供若干第二导线(500)，将所述gammapad(210)与lm324(230)通过第二导线(500)电性连接；
提供若干第三导线(600)，将所述lm324(230)与牛角(240)通过第三导线(600)电性连接，所述牛角(240)包括牛角线(241)，将lm324(230)与ni采集卡(250)通过牛角线(241)连接；
所述ni采集卡(250)采集阻抗数值。
2.根据权利要求1所述的一种低功率液晶屏gamma高阻抗测量方法，其特征在于：所述第一导线(300)以及第二导线(500)均为标准导线，两条所述第一导线(300)的长度之和等于两条所述的长度之和。
3.根据权利要求1所述的一种低功率液晶屏gamma高阻抗测量方法，其特征在于：待测板测试的所述gammapad(210)为pcbgma。
4.根据权利要求1所述的一种低功率液晶屏gamma高阻抗测量方法，其特征在于：所述运算放大器(220)为高阻抗输入，低阻抗输出。
5.根据权利要求1所述的一种低功率液晶屏gamma高阻抗测量方法，其特征在于：所述lm324(230)通过layoutpcb然后固定在治具一表面，所述lm324一颗可以支援4个gamma点，所述layout的板子最多支援16个通道。
6.根据权利要求5所述的一种低功率液晶屏gamma高阻抗测量方法，其特征在于：所述牛角(240)的绝缘电阻为10mω，机械操作的最大速度为10mm/s，间隔时间不插合时为30s。
7.根据权利要求5所述的一种低功率液晶屏gamma高阻抗测量方法，其特征在于：所述牛角线(241)为条形标准线，导电率为99％以上。
8.根据权利要求5所述的一种低功率液晶屏gamma高阻抗测量方法，其特征在于：所述ni采集卡(250)利用差分测试系统进行数据的采集。