显示装置及其修复方法、存储介质、显示驱动芯片和设备与流程

1.本发明属于显示技术领域，更具体的涉及一种显示装置及其修复方法、存储介质、显示驱动芯片和设备。


背景技术：

2.随着显示技术的发展，具有显示功能的手机、电脑、电视、智能穿戴设备等在人们工作和生活中的重要性越来越高，用户对这些显示产品的品质要求也越来越高。无论是液晶显示技术还是自发光显示技术，为了实现显示都需要在显示面板中设置各种信号线。而由于信号线的工艺制程或者其他原因，信号线存在断线风险，导致显示时出现黑线条或者白线条，而影响显示效果，从而影响用户视觉体验。


技术实现要素：

3.有鉴于此，本技术提供一种显示装置及其修复方法、存储介质、显示驱动芯片和设备，解决了显示设备存在线缺陷后导致显示亮线而影响用户体验的技术问题。
4.第一方面，本技术实施例提供一种显示装置，显示装置包括：
5.子像素阵列，子像素阵列包括至少一个像素列组，像素列组为子像素阵列的一部分，每个像素列组包括在第一方向依次排列的多个子像素列，子像素列包括多个子像素，子像素包括发光器件、像素驱动电路和发光开关，像素驱动电路通过发光开关与发光器件电连接；其中，在发光开关的控制端接收到有效电平信号时，像素驱动电路和发光器件之间导通；
6.沿第二方向延伸的多条发光控制线，第二方向与第一方向交叉，一个子像素列中的多个发光开关的控制端均与同一条发光控制线电连接；
7.缺陷修复模块，发光控制线与缺陷修复模块电连接；
8.芯片，芯片用于通过多条信号线控制子像素阵列以显示指定的内容；缺陷修复模块与芯片电连接；芯片用于在确定像素列组中的第一子像素列存在显示缺陷时，控制缺陷修复模块向第一发光控制线提供非有效电平信号使得与第一子像素列中的子像素不发光，第一发光控制线为与第一子像素列相对应的发光控制线。
9.在一种实施方式中，控制缺陷修复模块向第一发光控制线提供非有效电平信号，包括：在亮屏显示画面之前，控制缺陷修复模块向第一发光控制线提供非有效电平信号。
10.进一步的，芯片用于通过多条信号线控制子像素阵列以显示指定的内容，包括：在确定像素列组中的第一子像素列存在显示缺陷时，将待显示图像数据进行调整得到调整后图像数据，以匹配修复阵列，修复阵列为第一子像素列存在显示缺陷时子像素阵列中能够用于显示的部分阵列；根据调整后图像数据，通过多条信号线控制修复阵列以显示指定的内容。
11.具体的，显示装置包括显示区和围绕显示区的非显示区，子像素阵列位于显示区；在第一方向上，像素列组与第一非显示区相邻；芯片还用于在确定像素列组中的第一子像
素列存在显示缺陷时，控制缺陷修复模块向第二发光控制线提供非有效电平信号，其中，位于第一子像素列和第一非显示区之间的子像素列均为第二子像素列，第二发光控制线为与第二子像素列相对应的发光控制线。
12.具体的，缺陷修复模块包括发光控制模块和关闭选择模块；其中，发光控制模块包括多个发光控制单元，发光控制单元与发光控制线一一对应，发光控制线与发光控制单元的输出端电连接；发光控制单元包括第一子单元和第二子单元，其中，第一子单元用于在第一控制端的信号、第一电压端的信号、以及第一节点电位的控制下，控制发光控制单元的输出端输出有效电平信号；第二子单元用于在第二控制端的信号、第二电压端的信号、以及第一节点电位的控制下，控制发光控制单元的输出端输出非有效电平信号；
13.关闭选择模块包括主控制线、多个开关单元和级联的多个移位单元，开关单元的控制端与主控制线电连接，开关单元的第一端与移位单元的输出端电连接，开关单元的第二端与发光控制单元的第二控制端电连接，开关单元用于在其控制端接收有效电平信号时，将其第一端和第二端导通；
14.控制缺陷修复模块向第一发光控制线提供非有效电平信号，具体包括：芯片向第一控制端提供第一发光控制信号，向第一电压端提供第一电压信号，以及向第二电压端提供第二电压信号，以控制多个发光控制单元工作；
15.芯片向级联的多个移位单元提供移位控制信号，使得级联的多个移位单元依次输出有效电平信号；
16.芯片向主控制线提供主控制信号，主控制信号用于控制与第一发光控制单元电连接的开关单元的第一端和第二端导通，以将移位单元输出的有效电平信号提供给第一发光控制单元，以控制第一发光控制单元的输出端输出非有效电平信号，其中，第一发光控制单元为与第一发光控制线电连接的发光控制单元。
17.进一步的，控制缺陷修复模块向第二发光控制线提供非有效电平信号，具体包括：主控制信号还用于控制与第二发光控制单元电连接的开关单元的第一端和第二端导通，以将移位单元输出的有效电平信号提供给第二发光控制单元，以控制第二发光控制单元的输出端输出非有效电平信号，其中，第二发光控制单元为与第二发光控制线电连接的发光控制单元。
18.具体的，第一子单元包括第一晶体管、第二晶体管和第一电容，其中，第一晶体管的控制端和第一端均与第一控制端电连接，第一晶体管的第二端与第一节点电连接；第二晶体管的控制端与第一节点电连接，第二晶体管的第一端与第一电压端电连接，第二晶体管的第二端与发光控制单元的输出端电连接；第一电容的第一极板与第一节点电连接，第一电容的第二极板与发光关闭单元的输出端电连接。
19.第二子单元包括第三晶体管和第四晶体管，其中，第三晶体管的控制端和第四晶体管的控制端均与第二控制端电连接，第三晶体管的第一端和第四晶体管的第一端均与第二电压端电连接，第三晶体管的第二端与第一节点电连接，第四晶体管的第二端与发光控制单元的输出端电连接。
20.本技术实施例中芯片为显示驱动芯片或应用处理器芯片；或者，
21.芯片包括显示驱动芯片和应用处理器芯片；移位控制信号包括起始信号、时钟信号和参考电压信号，其中，显示驱动芯片用于向第一控制端提供第一发光控制信号，向主控
制线提供主控制信号，以及向级联的多个移位单元提供起始信号和时钟信号；应用处理器芯片用于向第一电压端提供第一电压信号，向第二电压端提供第二电压信号，以及向级联的多个移位单元提供参考电压信号。
22.第二方面，本技术实施例还提供一种显示装置的修复方法，显示装置包括：子像素阵列，子像素阵列包括至少一个像素列组，像素列组为子像素阵列的一部分，每个像素列组包括在第一方向依次排列的多个子像素列，子像素列包括多个子像素，子像素包括发光器件、像素驱动电路和发光开关，像素驱动电路通过发光开关与发光器件电连接；其中，在发光开关的控制端接收到有效电平信号时，像素驱动电路和发光器件之间导通；沿第二方向延伸的多条发光控制线，第二方向与第一方向交叉，一个子像素列中的多个发光开关的控制端均与同一条发光控制线电连接；缺陷修复模块，发光控制线与缺陷修复模块电连接；修复方法包括：
23.在确定像素列组中的第一子像素列存在显示缺陷时，控制缺陷修复模块向第一发光控制线提供非有效电平信号，以使得第一子像素列不发光，其中，第一发光控制线为与第一子像素列相对应的发光控制线。
24.进一步的，控制缺陷修复模块向第一发光控制线提供非有效电平信号，以使得第一子像素列不发光，包括：在亮屏显示画面之前，控制缺陷修复模块向第一发光控制线提供非有效电平信号，以使得第一子像素列不发光。
25.进一步的，修复方法还包括：在确定像素列组中的第一子像素列存在显示缺陷时，将待显示图像数据进行调整得到调整后图像数据，以匹配修复阵列，修复阵列为第一子像素列存在显示缺陷时子像素阵列中能够用于显示的部分阵列；根据调整后图像数据，控制修复阵列以显示指定的内容。
26.具体的，显示装置包括显示区和围绕显示区的非显示区，子像素阵列位于显示区；在第一方向上，像素列组与第一非显示区相邻；修复方法还包括：在确定像素列组中的第一子像素列存在显示缺陷时，控制缺陷修复模块向第二发光控制线提供非有效电平信号，以使得第二子像素列不发光，其中，位于第一子像素列和第一非显示区之间的子像素列均为第二子像素列，第二发光控制线为与第二子像素列相对应的发光控制线。
27.第三方面，本技术实施例还提供一种存储介质，包括计算机程序，计算机程序可被处理器执行以完成本技术任意实施例提供的修复方法。
28.第四方面，本技术实施例还提供一种显示驱动芯片，显示驱动芯片用于：
29.提供信号，以控制与显示驱动芯片连接的子像素阵列显示指定的内容；
30.提供控制信号，控制信号用于控制与显示驱动芯片电连接的缺陷修复模块向第一发光控制线提供非有效电平信号，其中，第一发光控制线传输非有效电平信号时，与其对应的第一子像素列不发光，第一子像素列为子像素阵列中存在显示缺陷的子像素列。
31.进一步的，显示驱动芯片还用于将待显示图像数据进行调整得到调整后图像数据，以匹配修复阵列，修复阵列为第一子像素列存在显示缺陷时子像素阵列中能够用于显示的部分阵列；提供信号，以控制与显示驱动芯片连接的子像素阵列显示指定的内容，包括：提供调整后图像数据，以控制修复阵列显示指定的内容。
32.第五方面，本技术实施例还提供一种设备，包括本技术任意实施例提供的显示装置。
33.本技术提供的显示装置及其修复方法、存储介质、显示驱动芯片和设备，具有如下有益效果：在像素列组的子像素中设置像素驱动电路通过发光开关与发光器件电连接，属于同一个子像素列的发光开关的控制端与同一条发光控制线电连接。当驱动子像素列的数据线断线时，会导致子像素列显示亮线，而存在显示缺陷。通过缺陷修复模块控制向与存在显示缺陷的第一子像素列对应的发光控制线提供非有效电平信号，从而发光控制线控制相应的发光开关关闭，则像素驱动电路与发光器件断开连接。在显示时，存在显示缺陷的第一子像素列不发光，从而避免显示异常影响显示效果，保证用户视觉体验。进一步的，在关闭存在显示缺陷的第一子像素列后，通过调整图像数据与子像素阵列中剩余能够正常显示的部分进行匹配，并在调整后图像数据的控制下，控制子像素阵列以显示指定的内容，保证图像显示的完整性，避免关闭第一子像素列后导致图像数据的丢失而影响显示效果。
附图说明
34.为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
35.图1为有机发光显示装置中一种像素驱动电路示意图；
36.图2为本技术实施例提供的显示装置的一种示意图；
37.图3为本技术实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图；
38.图4为本技术实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图；
39.图5为本技术实施例提供的显示装置的截面示意图；
40.图6为本技术实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图；
41.图7为发光控制单元的一种结构示意图；
42.图8为图7示意的发光控制单元的一种时序图；
43.图9为本技术实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图；
44.图10为图9中缺陷修复模块的一种时序图；
45.图11为本技术实施例中移位单元的一种结构示意图；
46.图12为图11实施例提供的移位单元的一种时序图；
47.图13为本技术实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图；
48.图14为图13中缺陷修复模块的时序图；
49.图15为本技术实施例提供的显示装置另一种可选实施方式示意图；
50.图16为本技术实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图；
51.图17为本技术实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图；
52.图18为本技术实施例提供的修复方法一种流程图；
53.图19为本技术实施例提供的修复方法另一种流程图；
54.图20为本技术实施例提供的修复方法的另一种流程图；
55.图21为本技术实施例提供的显示驱动芯片的一种结构示意图；
56.图22为本技术实施例提供的设备示意图。
具体实施方式
57.为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
58.在本发明实施例中使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本发明。在本发明实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。
59.在有机发光显示技术中，发光器件采用电流驱动，图1为有机发光显示装置中一种像素驱动电路示意图。如图1所示，像素驱动电路包括开关晶体管m1、驱动晶体管m2和电容c，在像素驱动电路工作时，数据信号端输入数据信号vdata、扫描信号端输入扫描信号s、正极电源端输入正极信号pvdd。其中，驱动晶体管m2的输出端与发光器件ol的阳极电连接，发光器件ol的阴极连接负极电源端，负极电源端提供负极信号pvee。发光器件的发光电流的公式为id＝k(pvdd-vdata-|vth|)2，k为与像素驱动电路中晶体管相关的常数，|vth|为驱动晶体管m2的阈值电压。由上述发光电流的公式可知，数据信号vdata越小，发光电流id越大，则发光器件的亮度越高。当显示装置中数据线存在断线时，相当于数据信号vdata变小，则在显示时与断线的数据线连接的一列发光器件会显示呈亮线，严重影响显示效果。
60.基于此，本技术实施例提供一种显示装置及其修复方法、存储介质、显示驱动芯片和设备，在显示装置中设置缺陷修复模块，当存在显示缺陷时，缺陷修复模块控制存在显示缺陷的子像素列中的发光器件不发光，从而避免显示亮线影响显示效果。
61.图2为本技术实施例提供的显示装置的一种示意图。如图2所示，显示装置包括：子像素阵列，子像素阵列包括至少一个像素列组1，像素列组为子像素阵列的一部分，每个像素列组1包括在第一方向x依次排列的多个子像素列10，图2中仅示意出了像素列组1中的6个子像素列10。子像素列10包括多个子像素11，子像素11包括发光器件111、像素驱动电路112和发光开关113，其中，像素驱动电路112通过发光开关113与发光器件111电连接。也就是说，在子像素11中，当发光开关113打开时，像素驱动电路112与发光器件111连接，能够驱动发光器件111发光。当发光开关113关闭时，像素驱动电路112与发光器件111断开连接。像素驱动电路112可以为现有技术中任意一种像素驱动电路，本技术实施例对于像素驱动电路的具体结构不再赘述。
62.在子像素列组中，子像素中的像素驱动电流通过发光开关与发光器件电连接。像素列组为子像素阵列的一部分，而在像素列组之外的其他子像素列的子像素中，像素驱动电路与发光器件直接电连接。
63.如图2所示，显示装置还包括沿第二方向y延伸的发光控制线20，第二方向y与第一方向x交叉，典型的，第二方向y与第一方向x垂直。一个子像素列10中所有的发光开关113的控制端均与同一条发光控制线20电连接。发光控制线的数量与像素列组中子像素列的数量相同。一个子像素列10由一条发光控制线20控制，当发光控制线20提供有效电平信号时，则与其连接的子像素列10中的发光开关113均打开；当发光控制线20提供非有效电平信号时，则与其连接的子像素列10中的发光开关113均关闭。
64.缺陷修复模块30，发光控制线20与缺陷修复模块30电连接。
65.显示装置还包括芯片(图中未示出)，芯片用于通过多条信号线控制子像素阵列以显示指定的内容。缺陷修复模块30与芯片电连接。在确定像素列组中的第一子像素列存在显示缺陷时，芯片用于控制缺陷修复模块30向与第一子像素列对应的发光控制线20提供非有效电平信号，以使得第一子像素列不发光。发光控制线20提供非有效电平信号控制相应的发光开关113关闭。本技术中定义与存在显示缺陷的第一子像素列对应的发光控制线为第一发光控制线。本技术实施例在像素列组的子像素中设置像素驱动电路通过发光开关与发光器件电连接，属于同一个子像素列的多个发光开关的控制端与同一条发光控制线电连接。当驱动像素列组中子像素列的数据线断线时，会导致子像素列显示亮线，而存在显示缺陷，影响显示效果。通过缺陷修复模块控制至少向与存在显示缺陷的第一子像素列对应的发光控制线提供非有效电平信号，从而发光控制线控制相应的发光开关关闭，则像素驱动电路与发光器件断开连接。在显示时，存在显示缺陷的第一子像素列不发光，从而避免显示亮线影响显示效果，提升了用户体验。
66.进一步的，芯片还用于在确定像素列组中的第一子像素列存在显示缺陷时，将待显示图像数据进行调整得到调整后图像数据，以匹配修复阵列，修复阵列为第一子像素列存在显示缺陷时子像素阵列中能够用于显示的部分阵列；根据调整后图像数据，通过多条信号线控制修复阵列以显示指定的内容。也就是说，在关闭第一子像素列后可以调整图像数据的输出，根据子像素阵列中剩余能够正常发光的子像素来调整图像数据的输出，使得图像数据与修复阵列相匹配，保证图像显示的完整性，避免关闭第一子像素列后导致图像数据的丢失而影响显示效果。
67.具体的，在驱动显示装置显示画面时，芯片还用于通过缺陷修复模块控制像素列组中不需要关闭的子像素列中像素驱动电路与发光器件导通。在一种实施例中，需要关闭的子像素列为存在显示缺陷的第一子像素列，则不需要关闭的子像素列为像素列组中除第一子像素列之外的所有的子像素列。在另一种实施例中，需要关闭的子像素列包括存在显示缺陷的第一子像素列和与其相邻的部分子像素列，则不需要关闭的子像素列为像素列组剩余的子像素列，该种实施方式将在下述具体的实施例中进行说明。
68.在一种实施例中，在芯片控制子像素阵列以显示指定内容的同时，控制缺陷修复模块向第一发光控制线提供非有效电平信号，以控制存在缺陷的第一子像素列不发光，避免显示亮线影响显示效果。
69.在另一种实施例中，在确定像素列组中的第一子像素列存在显示缺陷时，芯片用于在亮屏显示画面之前，控制缺陷修复模块向第一发光控制线提供非有效电平信号，以控制需要关闭的子像素列中像素驱动电路与发光器件断开连接；同时，控制缺陷修复模块向与不需要关闭的子像素列对应的发光控制线提供有效电平信号，以控制不需要关闭的子像素列中像素驱动电路与发光器件导通。在控制子像素阵列显示指定内容之前，将像素列组中子像素列的状态配置好，控制子像素阵列显示画面的阶段和控制缺陷修复模块的阶段相互独立，在控制时序上不会相互影响，控制方式更加简单。
70.本技术实施例中，芯片为显示驱动芯片或者应用处理器芯片。也就是说，由显示驱动芯片控制子像素阵列显示指定内容、在确定像素列组中的第一子像素列存在显示缺陷时对缺陷修复模块进行控制；或者由应用处理器芯片控制子像素阵列显示指定内容、在确定像素列组中的第一子像素列存在显示缺陷时对缺陷修复模块进行控制。在一种实施例中，
子像素阵列中部分子像素列构成像素列组，图3为本技术实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图。如图3所示，显示装置包括显示区aa和围绕显示区aa的非显示区bb，子像素阵列位于显示区aa；在第一方向x上，像素列组1与第一非显示区bb1相邻。如图中示意的子像素阵列中还包括子像素12，在子像素12中，像素驱动电路122和发光器件121的阳极电连接。也即像素列组位于显示区的边缘，当驱动像素列组中子像素列的数据线存在断线时，通过缺陷修复模块30控制存在显示缺陷的第一子像素列关闭，对显示图像整体影响较小。进一步的通过调整图像数据的输出能够保证图像显示的完整性。
71.具体的，芯片还用于在确定像素列组中的第一子像素列存在显示缺陷时，控制缺陷修复模块向第二发光控制线提供非有效电平信号，其中，位于第一子像素列和第一非显示区之间的子像素列均为第二子像素列，第二发光控制线为与第二子像素列相对应的发光控制线。参考图3中的示意进行说明，当子像素列10-1存在显示缺陷时，则确定子像素列10-1为存在显示缺陷的第一子像素列，位于第一子像素列10-1和第一非显示区bb1之间的两个子像素列均为第二子像素列，则与第二子像素列中开关单元电连接的发光控制线20为第二发光控制线，缺陷修复模块30向与第二子像素列对应的发光控制线20提供非有效电平信号，从而控制第二子像素列中的像素驱动电路与发光器件断开连接，以控制第一子像素列和第一非显示区之间的第二子像素列不发光。此时子像素阵列中除第一子像素列和第二子像素列之外的子像素列均能够用来显示图像，定义子像素阵列中除第一子像素列和第二子像素列之外的部分为修复阵列。然后再通过芯片的控制，将待显示图像数据进行调整得到与修复阵列匹配的修复图像数据；根据修复图像数据，通过多条信号线控制修复阵列以显示指定的内容。使得图像数据与修复阵列相匹配，保证图像显示的完整性，避免关闭第一子像素列后导致图像数据的丢失而影响显示效果。
72.在另一种实施例中，子像素阵列包括两个像素列组，图4为本技术实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图。如图4所示的，在子像素阵列的两侧分别有一个像素列组1，每个像素列组1分别在第一方向x上与第一非显示区bb1相邻；显示装置包括两个缺陷修复模块30，一个像素列组1对应一个缺陷修复模块30。该实施方式中，两个像素列组1分别位于显示区aa的两侧的边缘，一个缺陷修复模块控制一个像素列组。当驱动显示区边缘的子像素列的数据线存在断线时，通过缺陷修复模块30控制存在显示缺陷的第一子像素列关闭，对显示图像整体影响较小。该实施方式同样能够通过调整图像数据的输出能够保证图像显示的完整性，可参考上述图3实施例中的举例说明，在此不再赘述。该实施方式能够对显示区两侧的显示缺陷进行修复。
73.在一种实施例中，图5为本技术实施例提供的显示装置的截面示意图。如图5示意出了显示装置的结构，显示装置包括衬底101、阵列基板102、发光器件层103和封装结构104，其中，像素驱动电路、发光开关、发光控制线、以及缺陷修复模块均位于阵列基板102。发光器件层103包括多个发光器件1031，发光器件1031包括依次堆叠的阳极50、发光层51和阴极52。封装结构104用于对发光器件1031进行封装保护，以隔绝水氧保证发光器件1031的使用寿命。图5中示意出了子像素中的结构，发光开关113包括晶体管(未标示)，晶体管的控制端(也即栅极g)与发光控制线(图5未示出)电连接，晶体管的第一端与像素驱动电路112的输出端电连接，晶体管的第二端与发光器件1031的阳极50电连接。图中示意出了像素驱动电路112中的一个晶体管，发光开关113的晶体管的第一端与像素驱动电路112中晶体管
的第二端电连接。在晶体管结构中，晶体管的栅极为晶体管的控制端，当晶体管的源极为第一端时，则漏极为第二端；当晶体管的漏极为第一端时，则源极为第二端。
74.具体的，图6为本技术实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图，图7为发光控制单元的一种结构示意图。图8为图7示意的发光控制单元的一种时序图。如图6所示，缺陷修复模块30包括发光控制模块31和关闭选择模块32；其中，发光控制模块31包括发光控制单元311，发光控制线20与发光控制单元311的输出端out1与电连接。发光控制单元311与发光控制线20一一对应。也即由发光控制单元311向发光控制线20提供电压信号，进而控制相应的子像素列开启或关闭。关闭选择模块32包括主控制线321、多个开关单元322和级联的多个移位单元323，开关单元322的控制端与主控制线321电连接，开关单元322的第一端与移位单元323的输出端电连接，开关单元322的第二端与发光控制单元311的第二控制端电连接，开关单元322用于在其控制端接收有效电平信号时，将其第一端和第二端导通。
75.如图7所示，发光控制单元311包括第一子单元3111和第二子单元3112，其中，第一子单元3111用于在第一控制端s1的信号、第一电压端v1的信号、以及第一节点n1电位的控制下，控制发光控制单元311的输出端out1输出有效电平信号；第二子单元3112用于在第二控制端s2的信号、第二电压端v2的信号、以及第一节点n1电位的控制下，控制发光控制单元311的输出端out1输出非有效电平信号。
76.如图8所示，以发光控制元311的输出端out1输出的高电平信号为有效电平信号为例。第一电压端v1提供高电平信号，第二电压端v2提供低电平信号。示意出了时刻t1和时刻t2。其中，在时刻t1，输出端out1输出有效电平信号，则与该发光控制元311电连接的发光控制线20提供有效电平信号控制发光开关113开启，与发光控制线20对应的子像素列10能够正常发光。在时刻t2，输出端out1输出非有效电平信号，则与该发光控制元311电连接的发光控制线20提供非有效电平信号控制发光开关113关闭，与发光控制线20对应的子像素列10关闭。
77.对于存在显示缺陷的第一子像素列来说，通过在第二控制端s2的信号、第二电压端v2的信号、以及第一节点n1电位的控制下，控制发光控制单元311的输出端out1输出非有效电平信号，能够控制存在显示缺陷的第一子像素列关闭。
78.对于不需要关闭显示的子像素列来说，则在第一控制端s1的信号、第一电压端v1的信号、以及第一节点n1电位的控制下，控制发光控制单元311的输出端out1输出有效电平信号，能够控制子像素列正常发光。本技术实施例中，一个子像素列的发光与否由一条发光控制线控制，发光控制线与发光控制单元的输出端电连接，也即一个子像素列对应一个发光控制单元。发光控制单元的第二控制端通过开关单元与移位单元的输出端电连接，当开关单元打开时，则移位单元将其输出端的电压信号提供给控制发光控制单元的第二控制端。也就是说，由开关单元来控制是否向发光控制单元的第二控制端提供有效电平信号。所有的开关单元的控制端均与主控制线电连接，则通过主控制线的控制信号与多个移位单元的输出端的输出信号相互配合，能够实现向发光控制单元的第二控制端提供有效电平信号，进而控制发光控制单元的输出端输出非有效电平信号，从而控制第一子像素列不发光。应用在电子设备中时，当缺陷修复模块对显示装置中存在显示缺陷的子像素列进行修复时，在亮屏显示画面之前，控制缺陷修复模块向与存在显示缺陷的第一子像素列对应的发
光控制线提供非有效电平信号。也即设置电子设备的显示屏每亮屏一次，则缺陷修复模块工作一次。缺陷修复模块在亮屏显示画面之前工作一次，工作时，首先向缺陷修复模块中所有的发光控制单元的第一控制端输入有效电平信号，控制向发光控制线提供有效电平信号，在没有新的电压信号写入到发光控制线上的时候，发光控制线上维持有效电平信号的电位控制发光开关保持打开状态，则子像素列中像素驱动电路与发光器件的阳极连接，在后续显示图像画面时子像素列能够发光。通过主控制线提供有效电平信号控制相应的移位单元与发光控制单元的第二控制端电连接，能够控制向发光控制线输出非有效电平信号，则发光控制线控制子像素列中的发光开关关闭，在后续显示图像画面时，子像素列关闭不发光。在应用中在确定第一子像素列存在显示缺陷时，通过主控制线和级联的移位单元进行配合，来关闭存在显示缺陷的第一子像素列。
79.具体的，本技术实施例中，在确定像素列组中的第一子像素列存在显示缺陷时，控制缺陷修复模块向第一发光控制线提供非有效电平信号，具体包括：芯片向第一控制端提供第一发光控制信号，向第一电压端提供第一电压信号，以及向第二电压端提供第二电压信号，以控制多个发光控制单元工作；
80.芯片向级联的多个移位单元提供移位控制信号，使得级联的多个移位单元依次输出有效电平信号；
81.芯片向主控制线提供主控制信号，主控制信号用于控制与第一发光控制单元电连接的开关单元的第一端和第二端导通，以将移位单元输出的有效电平信号提供给第一发光控制单元，以控制第一发光控制单元的输出端输出非有效电平信号，其中，第一发光控制单元为与第一发光控制线电连接的发光控制单元。
82.在一种实施例中，芯片为显示驱动芯片，由显示驱动芯片提供上述第一发光控制信号、第一电压信号、第二电压信号、移位控制信号、以及主控制信号。
83.在另一种实施例中，芯片为应用处理器芯片，由应用处理器芯片提供上述第一发光控制信号、第一电压信号、第二电压信号、移位控制信号、以及主控制信号。
84.在另一种实施例中，芯片包括显示驱动芯片和应用处理器芯片，移位控制信号包括起始信号、时钟信号和参考电压信号，其中，显示驱动芯片用于向第一控制端提供第一发光控制信号，向主控制线提供主控制信号，以及向级联的多个移位单元提供起始信号和时钟信号；应用处理器芯片用于向第一电压端提供第一电压信号，向第二电压端提供第二电压信号，以及向级联的多个移位单元提供参考电压信号。
85.继续参考图7所示的，第一子单元3111包括第一晶体管t1、第二晶体管t2和第一电容c1，其中，第一晶体管t1的控制端和第一端均与第一控制端s1电连接，第一晶体管t1的第二端与第一节点n1电连接；第二晶体管t2的控制端与第一节点n1电连接，第二晶体管t2的第一端与第一电压端v1电连接，第二晶体管t2的第二端与发光控制单元311的输出端out1电连接。第一电容c1的第一极板与第一节点n1电连接，第一电容c1的第二极板与发光关闭单元311的输出端out1电连接。第二子单元3112包括第三晶体管t3和第四晶体管t4，其中，第三晶体管t3的控制端和第四晶体管t4的控制端均与第二控制端s2电连接，第三晶体管t3的第一端和第四晶体管t4的第一端均与第二电压端v2电连接，第三晶体管t3的第二端与第一节点n1电连接，第四晶体管t4的第二端与发光控制单元的输出端out1电连接。图7中晶体管均以n型晶体管进行示意，本技术实施例中对于发光关闭单元中晶体管的类型不做限定，
在另一种实施例中，控制发光控制单元中的晶体管也可以为p型。
86.参考图8的时序图来说明一个发光控制单元311的工作过程。在时刻t11，第一控制端s1提供高电平有效信号，第一晶体管t1打开，将高电平信号提供给第一节点n1，第一节点n1的高电平信号控制第二晶体管t2打开，将第一电压端v1的高电平信号提供给输出端out1。在时刻t11，由于第一电容c1的作用，第一节点n1维持高电位，则第二晶体管t2持续打开，输出端out1持续输出高电平信号。当与发光控制线20电连接的发光开关113在高电平信号的控制下打开时，则在时刻t11和时刻t12，输出端out1持续输出有效电平信号，与该发光控制单元对应的子像素列能够发光。
87.在时刻t21，第二控制端s2提供高电平有效信号，第三晶体管t3和第四晶体管t4打开，第三晶体管t3打开后将第二电压端v2的低电平信号提供给第一节点n1。第四晶体管t4打开后将第二电压端v2的低电平信号提供给输出端out1。在时刻t22，第二晶体管t2和第四晶体管t4均关闭，第一节点n1维持低电位，由于第一电容c1的作用，输出端out1持续输出低电平信号。当与发光控制线20电连接的发光开关113在高电平信号的控制下打开时，则在时刻t21和时刻t22，输出端out1持续输出非有效电平信号，与该发光控制单元对应的子像素列关闭不发光。
88.具体的，图9为本技术实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图。如图9所示，开关单元322包括一个晶体管，晶体管的控制端与主控制线321电连接，晶体管的第一端与移位单元323的输出端电连接，晶体管的第二端与发光控制单元311的第二控制端电连接。图9中发光控制单元311采用上述图7实施例中的发光控制单，则晶体管的第二端与发光控制单元311中第三晶体管t3的控制端和第四晶体管t4的控制端电连接。
89.图10为图9中缺陷修复模块的一种时序图。如图10中示意，第一电压端v1提供高电平信号，第二电压端v2提供低电平信号，在时刻p1，第一控制端s1提供有效电平信号。根据图8实施例中对于发光控制单元的工作过程的说明，可知，在时刻p1发光控制单元311的输出端out1输出第一电压端v1提供的高电平信号，则发光控制线20-a、发光控制线20-b和发光控制线20-c上都是高电平信号，相应的发光开关113打开，像素驱动电路112与发光器件111电连接。在时刻p2，与发光控制线20-a、发光控制线20-b和发光控制线20-c分别连接的发光控制单元311持续输出高电平信号。
90.级联的移位单元323能够依次输出有效电平信号，如图10中示出了移位单元323-a的输出端out、移位单元323-b的输出端out、移位单元323-c的输出端out依次输出有效电平信号。在时刻p3，移位单元323-a的输出端out输出高电平信号，此时主控制线321提供低电平信号，则与移位单元323-a电连接的开关单元322关闭，移位单元323-a不能将高电平信号提供给发光控制单元311的第二控制端，则发光控制单元311的输出端out1继续向发光控制线20-a提供高电平信号。同样的，在时刻p5，移位单元323-c的输出端out输出高电平信号，此时主控制线321提供低电平信号，相应的发光控制单元311的输出端out1继续向发光控制线20-c提供高电平信号。而在时刻p4，移位单元323-b的输出端out输出高电平信号，主控制线321提供高电平信号，则与移位单元323-b电连接的开关单元322打开，移位单元323-b的输出端out将高电平信号提供给发光控制单元311的第二控制端。根据图8实施例中对于发光控制单元的工作过程的说明，可知，在时刻p4，与移位单元323-b电连接的发光控制单元311的输出端out1向发光控制线20-b提供低电平的非有效电平信号，从而能够控制与发光
控制线20-b电连接的发光开关113关闭，则与发光控制线20-b对应的第一子像素列关闭不发光。
91.根据上述工作过程可知通过主控制线的信号和多个移位单元的输出端的信号相互配合，能够实现通过移位单元向发光控制单元提供控制信号，以控制发光控制单元向与其电连接的发光控制线提供非有效电平信号，进而能够实现控制存在显示缺陷的第一子像素列关闭，避免显示亮线。
92.具体的，芯片还用于根据存在显示缺陷的第一子像素列在像素列组中的位置，生成主控制信号。参考上述图9和图10实施例进行理解，当确定发光控制线20-b对应的子像素列为存在显示缺陷的第一子像素列时，则根据存在显示缺陷的第一子像素列的位置，生成主控制信号。比如，存在显示缺陷的第一子像素列与发光控制线20-b相对应，则相应的生成的主控制信号在图10时序图中时刻p4提供有效电平信号，从而控制开关单元322打开，则移位单元323-b将有效电平信号提供给发光控制单元311的第二控制端，发光控制单元311向发光控制线20-b提供非有效电平信号，控制存在显示缺陷的第一子像素列关闭不发光。
93.本技术实施例中对于移位单元的具体结构不做限定，移位单元可以为现有技术中任意一种能够实现移位功能的结构。下面仅以一种移位单元的结构和工作过程进行举例说明。
94.图11为本技术实施例中移位单元的一种结构示意图。如图11所示，移位单元323包括输出子单元3231、复位子单元3232、以及第二节点n2；其中，输出子单元3231用于在移位单元的输入端in的信号、时钟信号端ck的信号、以及第二节点n2电位的控制下，控制移位单元的输出端out输出有效电平信号；复位子单元3232用于在移位单元的复位端reset的信号、参考电压端v3的信号、以及第二节点n2电位的控制下，控制移位单元的输出端out输出非有效电平信号。也即输入子单元3231用于控制移位单元的输出端out输出有效电平信号，复位子单元3232用于对移位单元进行复位。
95.具体的，继续参考图11所示的，输出子单元3231包括第五晶体管t5的和第六晶体管t6，第五晶体管t5的控制端和第五晶体管t5的第一端均与移位单元的输入端in电连接，第五晶体管t5的第二端与第二节点n2电连接；第六晶体管t6的控制端与第二节点n2电连接，第六晶体管t6的第一端与时钟信号端ck电连接，第六晶体管t6的第二端与移位单元的输出端out电连接；复位子单元3232包括第七晶体管t7和第八晶体管t8；第七晶体管t7的控制端和第八晶体管t8的控制端均与移位单元的复位端reset电连接，第七晶体管t7的第一端和第八晶体管t8的第一端均与第三电压端v3电连接；第七晶体管t7的第二端与第二节点n2电连接，第八晶体管t8的第二端与移位单元的输出端out电连接；移位单元包括第二电容c2，第二电容c2的第一极板与第二节点n2电连接，第二电容c2的第二极板与移位单元的输出端out电连接。图11中移位单元的晶体管也均以n型晶体管进行示意。在另一种实施例中，移位单元的晶体为p型晶体管。
96.图12为图11实施例提供的移位单元的一种时序图。如图12所示，示意出了移位单元的三个工作阶段。在时刻q1，输入端in提供高电平有效电平信号，第五晶体管t5打开，则将高电平信号写入第二节点n2。第二节点n2为高电平，则控制第六晶体管t6打开，时钟信号端ck将低电平信号提供给移位单元的输出端out，此时输出端out示出低电平的非有效电平信号。在时刻q2，由于第二电容c2的作用第二节点n2维持高电平电位，第二节点n2控制第六
晶体管t6打开，时钟信号端ck将高电平信号提供给移位单元的输出端out，此时输出端out示出高电平的有效电平信号。在时刻q3，复位端reset提供高电平有效信号，则第七晶体管t7和第八晶体管t8打开，第七晶体管t7将参考电压端v3的低电平信号提供给第二节点n2，第八晶体管t8将参考电压端v3的低电平信号提供给输出端out，此时输出端out输出低电平的非有效电平信号。也即在时刻q2，移位单元输出有效电平信号，在时刻q3，移位单元复位。
97.图13为本技术实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图，图13中示意出了缺陷修复模块30中多个移位单元323的级联方式，其中，移位单元323采用上述图11提供的移位单元。移位单元323包括输入端in、输出端out、复位端reset、参考电压端v3和时钟信号端ck。其中，第1级移位单元323的输入端in与起始信号端电连接；除第1级移位单元323外，其余的移位单元323的输入端in均与其上一级移位单元323的输出端out电连接，且移位单元的复位端reset与其下一级移位单元323的输出端out电连接。图13中示出了级联的移位单元323_m、323_m+1、323_m+2、323_m+3、323_m+4和323_m+5，其中，m为正整数。
98.显示面板中还设置有第一时钟信号线41、第二时钟信号线42和参考电压信号线43，其中，第一时钟信号线41为移位单元323_m、323_m+2、323_m+4的时钟信号端ck提供时钟信号，第二时钟信号线42为移位单元323_m+1、323_m+3、323_m+5的时钟信号端ck提供时钟信号，参考电压信号线43为所有移位单元323的参考电压端v3提供电压信号。
99.图14为图13中缺陷修复模块的时序图。对于单个移位单元的工作过程可参考上述图11和图12实施例进行理解。如图14所示，给级联的移位单元提供一个起始信号stv、通过起始信号stv与第一时钟信号线41、第二时钟信号线42和参考电压信号线43相互配合，能够实现多个移位单元的输出端out依次输出有效电平信号。如图14中示意的，在时刻w1，移位单元323_m+3的输出端out输出有效电平信号，且主控制线321提供有效电平信号，则与移位单元323_m+3电连接的开关单元322打开，移位单元323_m+3的输出端out将有效电平信号提供给发光控制单元311，相应的发光控制单元311向发光控制线20-d提供低电平的非有效电平信号。从而能够控制与发光控制线20-d对应的子像素列10-d关闭不发光。
100.在一种实施例中，本技术实施例提供的显示装置中还包括缺陷检测模块，具体的，图15为本技术实施例提供的显示装置另一种可选实施方式示意图，如图15所示，显示装置还包括缺陷检测模块80和缺陷修复模块30，其中，缺陷检测模块80用于对与像素驱动电路112连电接的信号线81进行线缺陷检测，其中，信号线81可以为数据线。其中，缺陷检测模块用于检测显示装置中的线缺陷，在应用中，显示装置的工作过程包括缺陷检测阶段和缺陷修复阶段。其中，在缺陷检测阶段通过缺陷检测模块对线缺陷进行检测，从而确定存在显示缺陷的第一子像素列，然后在缺陷修复阶段通过缺陷修复模块对线缺陷造成的第一子像素列的显示亮线进行修复。当显示装置出现线缺陷时，能够实现对显示装置的自动检测和自动修复，而无需返厂检测和修复，降低了修复成本，提升用户体验。
101.图16为本技术实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图，图17为本技术实施例提供的显示装置的另一种可选实施方式示意图，图16和图17中均示出了显示装置001的显示区aa和非显示区bb，显示装置001包括多条数据线dl和多条发光控制线20，多条数据线dl分别与缺陷检测模块80电连接，多条发光控制线20分别与缺陷修复模块30电连接。缺陷检测模块80和缺陷修复模块30均位于非显示区bb。
102.在图16实施方式中，显示驱动芯片70绑定在显示装置001的非显示区bb，多条数据
线dl通过多路分配电路60与显示驱动芯片70电连接，显示驱动芯片70通过多路分配电路60向数据线dl提供数据信号。在第二方向y上缺陷修复模块30和显示驱动芯片70分别设置在显示区aa的两侧，，缺陷检测模块80和缺陷修复模块30位于同一侧，缺陷检测模块80通过设置在非显示区bb的绕线62与显示驱动芯片70电连接。缺陷修复模块30通过设置在非显示区bb的绕线61与显示驱动芯片70电连接。在应用中，显示驱动芯片70通过柔性电路板002与系统板003电连接。
103.在图17实施方式中，与图16实施方式不同的是，显示驱动芯片70固定在柔性线路板004上形成覆晶薄膜(chip on film，cof)，柔性线路板004与显示装置001绑定连接。在应用中，显示驱动芯片70通过柔性线路板004中的走线与柔性电路板005电连接，显示驱动芯片70通过柔性电路板005与系统板003电连接。其中系统板003中包括应用处理器芯片。
104.本技术实施例还提供一种显示装置的修复方法，用于对本技术任意实施例提供的显示装置进行缺陷修复，图18为本技术实施例提供的修复方法一种流程图，如图18所示，缺陷修复方法包括：
105.步骤s101：在确定像素列组中的第一子像素列存在显示缺陷时，控制缺陷修复模块向第一发光控制线提供非有效电平信号，以使得第一子像素列不发光，其中，第一发光控制线为与第一子像素列相对应的发光控制线。在第一子像素列存在显示缺陷时，则通过缺陷修复模块控制第一子像素列不发光，以防止第一子像素列的显示异常而影响整体的显示效果，从而保证用户视觉体验。
106.进一步的，控制缺陷修复模块向第一发光控制线提供非有效电平信号，以使得第一子像素列不发光，包括：在亮屏显示画面之前，控制缺陷修复模块向第一发光控制线提供非有效电平信号，以使得第一子像素列不发光。
107.进一步的，图19为本技术实施例提供的修复方法另一种流程图，如图19所示，缺陷修复方法包括：
108.步骤s201：在确定像素列组中的第一子像素列存在显示缺陷时，控制缺陷修复模块向第一发光控制线提供非有效电平信号，以使得第一子像素列不发光。
109.步骤s202：将待显示图像数据进行调整得到调整后图像数据，以匹配修复阵列，修复阵列为第一子像素列存在显示缺陷时子像素阵列中能够用于显示的部分阵列；根据调整后图像数据，控制修复阵列以显示指定的内容。
110.该实施方式提供的修复方法，向与存在显示缺陷的第一子像素列对应的发光控制线提供非有效电平信号，从而发光控制线控制相应的发光开关关闭，则像素驱动电路与发光器件断开连接。在显示时，存在显示缺陷的第一子像素列不发光，从而避免显示异常影响显示效果。进一步的，根据修复阵列调整图像数据的输出，保证图像显示的完整性，避免关闭第一子像素列后导致图像数据的丢失影响显示效果。
111.进一步的，图20为本技术实施例提供的修复方法另一种流程图，如图20所示，缺陷修复方法包括：
112.步骤s301：在确定像素列组中的第一子像素列存在显示缺陷时，控制缺陷修复模块向第一发光控制线提供非有效电平信号，以使得第一子像素列不发光；控制缺陷修复模块向第二发光控制线提供非有效电平信号，以使得第二子像素列不发光，其中，位于第一子像素列和第一非显示区之间的子像素列均为第二子像素列，第二发光控制线为与第二子像
素列相对应的发光控制线。
113.步骤s302：将待显示图像数据进行调整得到调整后图像数据，以匹配修复阵列，修复阵列为第一子像素列存在显示缺陷时子像素阵列中能够用于显示的部分阵列；根据调整后图像数据，控制修复阵列以显示指定的内容。
114.该实施方式中，当存在缺陷的第一子像素列在第一方向上与第一非显示区不相邻时，则控制第一子像素列和第一非显示区之间子像素列也不发光。该修复方法适用于上述图3、图4实施例提供的显示装置，在显示装置中在第一方向上，像素列组与第一非显示区相邻。将像素列组设置在子像素阵列的边缘，当存在显示缺陷的第一子像素列与第一非显示不相邻时，控制将存在显示缺陷的第一子像素列、以及存在显示缺陷的第一子像素列和与其距离较近的非显示区之间的子像素列均关闭不发光，避免显示画面的边缘出现显示异常。进一步的再将子像素阵列中剩余能够用于显示的部分记为修复阵列，根据修复阵列调整图像数据的输出，保证画面显示的完整性。
115.本技术实施例还提供一种存储介质，可读存储介质包括计算机程序，其中，计算机程序可被处理器执行以完成本技术上述实施例中的修复方法。
116.本技术实施例还提供一种显示驱动芯片，用于对本技术实施例提供的显示面板进行缺陷修复的控制，图21为本技术实施例提供的显示驱动芯片的一种结构示意图。如图21所示，显示驱动芯片包括控制单元400和输入输出单元500。控制单元400用于在确定进入显示阶段时，指示输入输出单元500向多条信号线提供信号，以控制与显示驱动芯片连接的子像素阵列显示指定的内容。
117.控制单元400还用于在确定像素列组中的第一子像素列存在显示缺陷时，指示输入输出单元500向与显示驱动芯片连接的缺陷修复模块提供控制信号，以控制缺陷修复模块控制向第一发光控制线提供非有效电平信号，其中，第一发光控制线传输非有效电平信号时，与其对应的第一子像素列不发光，第一子像素列为子像素阵列中存在显示缺陷的子像素列。
118.进一步的，控制单元400还用于将待显示图像数据进行调整得到调整后图像数据，以匹配修复阵列，修复阵列为第一子像素列存在显示缺陷时子像素阵列中能够用于显示的部分阵列；并指示输入输出单元500提供信号，以控制与显示驱动芯片连接的子像素阵列显示指定的内容，包括：提供调整后图像数据，以控制修复阵列显示指定的内容。
119.本技术实施例还提供一种设备，图22为本技术实施例提供的设备示意图。如图22所示，设备包括本技术任意实施例提供的显示装置001。其中，显示装置001的具体结构已经在上述实施例中进行了详细说明，此处不再赘述。当然，图22所示的设备仅仅为示意说明，例如可以是手机、平板计算机、笔记本电脑、电纸书、电视机、智能手表等任何具有显示功能的电子设备。
120.以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。
121.最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术
方案的范围。