显示基板及其测试方法和显示装置与流程

文档序号:34634263发布日期:2023-06-29 15:27阅读:38来源:国知局
显示基板及其测试方法和显示装置与流程

本公开涉及显示,尤其涉及一种显示基板及其测试方法和显示装置。


背景技术:

1、随着显示技术和芯片技术的发展与提升,tddi(触控与显示驱动器集成,touchand display driver integration)显示技术成为许多电子产品的选择。tddi显示面板在制作过程中需要多次检测其性能,以确定显示面板是否存在异常,以避免存在异常显示面板流入后续工序,而造成人工和原材料资源浪费。


技术实现思路

1、在其中一些方面,本公开实施例提供了一种显示基板,包括衬底、触控检测电路层和像素驱动电路层;

2、所述显示基板包括显示区和环绕所述显示区的非显示区;

3、所述触控检测电路包括驱动信号线和虚设电极线,所述驱动信号线和所述虚设电极线在所述显示区并列排布,所述驱动信号线与所述虚设电极线之间相互绝缘,所述驱动信号线和所述虚设电极线均由所述显示区延伸至所述非显示区;

4、所述非显示区设置有多个测试接线端,所述多个测试接线端包括第一接线端和第二接线端,所述第一接线端与所述驱动信号线电连接,所述第二接线端与所述虚设电极线电连接。

5、在一些实施例中,所述显示基板还包括公共信号线,所述公共信号线设置于所述非显示区,且所述公共信号线环绕所述显示区,所述虚设电极线在所述非显示区与所述公共信号线电连接,所述驱动信号线与所述公共信号线之间相互绝缘。

6、在一些实施例中,所述显示基板还包括驱动芯片,所述驱动芯片设置于所述非显示区,所述驱动信号线与所述驱动芯片在第一连接点电连接,所述第一接线端通过第一控制开关与所述第一连接点电连接,所述第一控制开关用于控制所述第一连接点和所述第一接线端之间电连接的导通或断开。

7、在一些实施例中,所述像素驱动电路层包括沿远离所述衬底方向依次层叠设置的第一透明电极、绝缘层和第二透明电极,所述第二接线端与所述虚设电极线通过连接走线电连接,所述连接走线与所述第一透明电极或所述第二透明电极同层同材料设置。

8、在一些实施例中,所述虚设电极线与所述驱动芯片在第二连接点电连接,所述第二接线端通过第二控制开关与所述第二连接点连接,所述第二控制开关用于控制所述第二连接点和所述第二接线端之间电连接的导通或断开。

9、在一些实施例中,所述第一控制开关包括控制端、第一端和第二端,所述第一控制开关的控制端与控制信号线电连接,所述第一控制开关的第一端与所述第一接线端电连接,所述第一控制开关的第二端与所述第一连接点电连接;

10、所述第二控制开关包括控制端、第一端和第二端,所述第二控制开关的控制端与所述控制信号线电连接,所述第二控制开关的第一端与所述第二接线端电连接,所述第二控制开关的第二端与所述第二连接点电连接;

11、所述控制信号线与所述多个测试接线端中的第三接线端连接。

12、在一些实施例中,所述第三接线端与所述显示基板的低电平信号端电连接。

13、在一些实施例中,所述第一接线端和所述第二接线端为相同的测试接线端;

14、或者,所述第一接线端和所述第二接线端电连接,所述多个测试接线端中相邻的测试接线端之间设置有静电环。

15、在一些实施例中,所述第一接线端和所述第二接线端为不同的测试接线端,所述多个测试接线端中相邻的测试接线端之间设置有静电环。

16、在一些实施例中,所述多个测试接线端按照包括依次排布的至少两排测试接线端,相邻两排测试接线端中的测试接线端交错设置。

17、在一些实施例中,所述静电环包括至少一个或多个相互串联的防静电单元,每一所述防静电单元包括第一开关管和第二开关管,

18、所述第一开关管包括控制端、第一端和第二端,所述第二开关管包括控制端、第一端和第二端;

19、所述第一开关管的控制端和第一端均与第一节点电连接,所述第一开关管的第二端与第二节点电连接;

20、所述第二开关管的控制端和第一端均与所述第二节点电连接,所述第二开关管的第二端与所述第一节点电连接。

21、在其中一些方面,本公开实施例提供了一种显示装置,包括本公开一些方面提供的显示基板。

22、在其中一些方面,本公开实施例提供了一种显示基板的测试方法,应用于本公开一些方面提供的显示基板,包括以下步骤:

23、控制第一测试信号端与所述第一接线端连接,并通过所述第一测试信号端向所述第一接线端提供第一测试信号;

24、控制第二测试信号端与所述第二接线端连接,并通过所述第二测试信号端向所述第二接线端提供第二测试信号;

25、其中,所述第一测试信号和所述第二测试信号相同。



技术特征:

1.一种显示基板,包括衬底、触控检测电路层和像素驱动电路层;

2.如权利要求1所述的显示基板,其中,所述显示基板还包括公共信号线,所述公共信号线设置于所述非显示区,且所述公共信号线环绕所述显示区,所述虚设电极线在所述非显示区与所述公共信号线电连接,所述驱动信号线与所述公共信号线之间相互绝缘。

3.如权利要求2所述的显示基板,其中,所述显示基板还包括驱动芯片,所述驱动芯片设置于所述非显示区,所述驱动信号线与所述驱动芯片在第一连接点电连接,所述第一接线端通过第一控制开关与所述第一连接点电连接,所述第一控制开关用于控制所述第一连接点和所述第一接线端之间电连接的导通或断开。

4.如权利要求3所述的显示基板,其中,所述像素驱动电路层包括沿远离所述衬底方向依次层叠设置的第一透明电极、绝缘层和第二透明电极,所述第二接线端与所述虚设电极线通过连接走线电连接,所述连接走线与所述第一透明电极或所述第二透明电极同层同材料设置。

5.如权利要求3所述的显示基板,其中,所述虚设电极线与所述驱动芯片在第二连接点电连接,所述第二接线端通过第二控制开关与所述第二连接点连接,所述第二控制开关用于控制所述第二连接点和所述第二接线端之间电连接的导通或断开。

6.如权利要求5所述的显示基板,其中,所述第一控制开关包括控制端、第一端和第二端,所述第一控制开关的控制端与控制信号线电连接,所述第一控制开关的第一端与所述第一接线端电连接,所述第一控制开关的第二端与所述第一连接点电连接;

7.如权利要求6所述的显示基板,其中,所述第三接线端与所述显示基板的低电平信号端电连接。

8.如权利要求1至7中任一项所述的显示基板,其中,所述第一接线端和所述第二接线端为相同的测试接线端;

9.如权利要求1至4中任一项所述的显示基板,其中,所述第一接线端和所述第二接线端为不同的测试接线端,所述多个测试接线端中相邻的测试接线端之间设置有静电环。

10.如权利要求9所述的显示基板,其中,所述多个测试接线端按照包括依次排布的至少两排测试接线端,相邻两排测试接线端中的测试接线端交错设置。

11.如权利要求9所述的显示基板,其中,所述静电环包括至少一个或多个相互串联的防静电单元,每一所述防静电单元包括第一开关管和第二开关管,

12.一种显示装置,包括权利要求1至11中任一项所述的显示基板。

13.一种显示基板的测试方法,应用于权利要求1至11中任一项所述的显示基板,包括以下步骤:


技术总结
本公开提供一种显示基板及其测试方法和显示装置。显示基板,包括衬底、触控检测电路层和像素驱动电路层;显示基板包括显示区和环绕显示区的非显示区;触控检测电路包括驱动信号线和虚设电极线,驱动信号线和虚设电极线在显示区并列排布,驱动信号线与虚设电极线之间相互绝缘,驱动信号线和虚设电极线均由显示区延伸至非显示区;非显示区设置有多个测试接线端,多个测试接线端包括第一接线端和第二接线端,第一接线端与驱动信号线电连接,第二接线端与虚设电极线电连接。本公开实施例能够降低显示异常而导致部分显示基板上的缺陷未被发现的可能性。

技术研发人员:刘国冬,吴鹏,周纪登,钱勇
受保护的技术使用者:合肥鑫晟光电科技有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/1/13
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