显示装置、补偿系统和补偿数据压缩方法与流程

显示装置、补偿系统和补偿数据压缩方法
1.相关申请的交叉引用
2.本技术要求于2021年9月30日提交的韩国专利申请第10-2021-0129631号的优先权，该申请出于所有目的通过引用并入本文，如同在本文中完全阐述的一样。
技术领域
3.本公开内容的实施方式涉及显示装置、补偿系统和补偿数据压缩方法。


背景技术：

4.在当前正在开发的显示装置中，提供了一种包括能够自身发光的显示面板的自发光显示装置。这样的自发光显示装置的显示面板可以包括子像素，子像素分别包括发光装置、用于驱动该发光装置的驱动晶体管等以自身发光。
5.设置在这样的自发光显示装置的显示面板中的电路装置中的每一个诸如驱动晶体管和发光装置具有独特的特性。例如，每个驱动晶体管的独特特性包括阈值电压、迁移率等。每个发光装置的独特特性包括阈值电压等。
6.每个子像素中的电路装置可能会随着驱动时间而退化，并且因此其独特特性可能会改变。由于子像素可能具有不同的驱动时间，因此每个子像素中的电路装置的特性可能与另一子像素中的电路装置的特性具有不同程度的变化。因此，随着驱动时间，子像素之间可能会出现特性偏差，从而导致子像素之间的亮度偏差。子像素之间的亮度偏差可能是降低显示装置的亮度均匀性的主要因素，从而劣化图像的质量。
7.因此，已经开发了用于补偿子像素之间的亮度偏差的各种补偿方法。应用了补偿技术的显示装置可以通过生成和存储包括子像素的补偿值的补偿数据来补偿其子像素之间的亮度偏差，通过该补偿数据可以补偿子像素中的电路装置之间的特性偏差，并且可以基于补偿数据改变图像数据。


技术实现要素：

8.相关技术的补偿技术必须在驱动图像数据之前预先生成和存储关于子像素的补偿数据，以补偿子像素之间的亮度偏差。由于显著大量的子像素设置在显示面板中，因此关于子像素的补偿数据可能是显著大量的数据。根据响应于显示面板的分辨率的增加而增加子像素的数量，补偿数据的量将显著增加。当如上所述增加补偿数据的量时，存储装置的容量(例如，存储空间的容量)也应当增加，这可能是有问题的。因此，本技术的发明人构思了能够减少补偿数据量的显示装置、补偿系统和补偿数据压缩方法。
9.此外，本技术的发明人已经发现，当补偿数据以压缩状态存储并且通过对压缩补偿数据进行解压缩和调制图像数据来执行显示驱动时，由于补偿数据的压缩可能会出现图像异常或者可能会引起余像，并且因此构思了能够防止图像异常和余像的发生的显示装置、补偿系统和补偿数据压缩方法。
10.在本公开内容中，实施方式可以提供用于减少补偿数据量的显示装置、补偿系统
和补偿数据压缩方法。
11.实施方式可以提供用于防止由补偿数据的压缩引起的图像异常和余像的显示装置、补偿系统和补偿数据压缩方法。
12.实施方式可以提供用于以区域特定的方式不同地压缩补偿数据的显示装置、补偿系统和补偿数据压缩方法。
13.根据本公开内容，实施方式中的一个可以提供一种显示装置，包括：显示面板，该显示面板包括多个子像素；补偿模块，该补偿模块被配置成生成关于设置在正常区域、固定图案区域和不良像素区域中的多个子像素中的子像素的补偿数据；以及压缩模块，该压缩模块被配置成通过对补偿数据进行压缩来生成压缩补偿数据。
14.压缩补偿数据可以包括关于正常区域的压缩补偿数据、关于固定图案区域的压缩补偿数据和关于不良像素区域的压缩补偿数据。
15.关于正常区域的压缩补偿数据可以包括通过编码进行处理的正常补偿数据，关于固定图案区域的压缩补偿数据包括通过编码进行处理的固定补偿数据和由编码产生的误差信息，以及关于不良像素区域的压缩补偿数据包括关于不良像素区域的标志。
16.编码可以为离散余弦变换(dct)。
17.作为关于不良像素区域的压缩补偿数据的不良像素区域的标志可以包括无损压缩数据。
18.显示装置还可以包括：第一存储器，该第一存储器被配置成存储由编码产生的误差信息和不良像素区域的标志；以及第二存储器，该第二存储器被配置成存储通过编码进行处理的正常补偿数据。
19.第二存储器可以不同于第一存储器。
20.标志可以包括关于设置在不良像素区域中的至少一个子像素的坐标信息和像素信息。
21.正常区域可以是具有更多低频成分的区域，并且固定图案区域可以是具有更多高频成分的区域。
22.正常区域可以包含比第二频率的补偿数据成分更多的第一频率的补偿数据成分，第二频率高于第一频率。固定图案区域可以包含比具有第一频率的补偿数据成分更多的具有第二频率的补偿数据成分。正常区域中的低频补偿数据与高频补偿数据之间的第一比率可以不同于固定图案区域中的低频补偿数据与高频补偿数据之间的第二比率。换言之，正常区域可以是具有更多低频补偿数据成分的区域，固定图案区域可以是具有更多高频补偿数据成分的区域。也可以换言之，在正常区域中，第一频率(低频)的补偿数据的量可以大于第二频率(高频)的补偿数据的量，并且在固定图案区域中，第二频率(高频)的补偿数据的量可以大于第一频率(低频)的补偿数据的量。这里，第二频率是高频，并且可以是大于或等于预定值的频率。此外，第一频率是低频，并且可以是小于预定值的频率。
23.编码可能引起第二频率的补偿数据成分的损失。
24.包括在关于固定图案区域的补偿数据中的关于子像素的补偿值的相关系数可以低于包括在关于正常区域的补偿数据中的关于子像素的补偿值的相关系数。
25.实施方式中的一个可以提供一种补偿数据压缩方法，包括：生成关于设置在正常区域、固定图案区域和不良像素区域中的子像素的补偿数据；通过对补偿数据进行压缩来
生成压缩补偿数据；以及存储压缩补偿数据。
26.压缩补偿数据可以包括关于正常区域的压缩补偿数据、关于固定图案区域的压缩补偿数据以及关于不良像素区域的压缩补偿数据。
27.关于正常区域的压缩补偿数据包括通过编码进行处理的正常补偿数据，关于固定图案区域的压缩补偿数据可以包括通过编码进行处理的固定补偿数据和由编码产生的误差信息，以及关于不良像素区域的压缩补偿数据包括关于不良像素区域的标志。
28.编码可以是dct。
29.作为关于不良像素区域的压缩补偿数据的不良像素区域的标志可以是无损压缩数据。
30.包括在关于固定图案区域的补偿数据中的关于子像素的补偿值的相关系数可以低于包括在关于正常区域的补偿数据中的关于子像素的补偿值的相关系数。
31.实施方式可以提供一种补偿系统，包括：补偿模块，该补偿模块生成关于设置在正常区域、固定图案区域和不良像素区域中的多个子像素中的子像素的补偿数据；以及压缩模块，该压缩模块通过对补偿数据进行压缩来生成压缩补偿数据。
32.压缩补偿数据可以包括关于正常区域的压缩补偿数据、关于固定图案区域的压缩补偿数据以及关于不良像素区域的压缩补偿数据。
33.关于正常区域的压缩补偿数据可以包括通过编码进行处理的正常补偿数据，关于固定图案区域的压缩补偿数据包括通过编码进行处理的固定补偿数据和由编码产生的误差信息，以及关于不良像素区域的压缩补偿数据包括关于不良像素区域的标志。
34.作为关于不良像素区域的压缩补偿数据的不良像素区域的标志可以是无损压缩数据。
35.实施方式可以提供一种补偿系统，包括：显示面板，该显示面板包括多个子像素；补偿模块，该补偿模块生成关于设置在正常区域、固定图案区域和不良像素区域中的多个子像素中的子像素的补偿数据；以及压缩模块，该压缩模块通过对补偿数据进行压缩来生成压缩补偿数据。
36.压缩补偿数据可以包括关于正常区域的正常补偿数据、关于固定图案区域的固定补偿数据以及关于不良像素区域的标志。
37.压缩模块可以通过以不同方式对正常补偿数据、固定补偿数据和标志进行压缩来生成压缩补偿数据。
38.正常补偿数据可以通过dct压缩。
39.该标志可以以无损状态被包括在压缩补偿数据中。
40.根据实施方式，显示装置、补偿系统和补偿数据压缩方法可以减少补偿数据的量。
41.根据实施方式，显示装置、补偿系统和补偿数据压缩方法可以防止由补偿数据的压缩引起的图像异常和余像。
42.根据实施方式，显示装置、补偿系统和补偿数据压缩方法可以以区域特定的方式不同地压缩补偿数据。
附图说明
43.结合附图从以下详细描述中将更清楚地理解本公开内容的上述和其他目的、特征
和优点，在附图中：
44.图1是示出根据实施方式的显示装置的系统配置的图；
45.图2示出了根据实施方式的显示装置中的子像素sp的等效电路；
46.图3示出了根据实施方式的显示装置中的子像素中的每一个的另一等效电路；
47.图4示出了根据实施方式的显示装置的基于感测的补偿电路；
48.图5是示出根据实施方式的显示装置在慢速模式下的感测驱动的图；
49.图6是示出根据实施方式的显示装置在快速模式下的感测驱动的图；
50.图7是示出根据实施方式的显示装置中的各种感测驱动时间的时序图；
51.图8示出了根据实施方式的无感测补偿系统；
52.图9是示出根据实施方式的无感测补偿方法的图；
53.图10示出了根据实施方式的显示装置中的显示面板的显示区域中的三个区域；
54.图11示出了根据实施方式的显示装置中的显示面板的显示区域中设置在不良像素区域中的子像素的驱动；
55.图12示出了根据实施方式的显示装置的补偿系统；
56.图13是示出其中根据实施方式的显示装置通过对补偿数据进行压缩来存储和管理补偿数据并且对存储的压缩补偿数据进行解压缩以在显示驱动中使用解压缩的补偿数据的处理的流程图；
57.图14是示出其中根据实施方式的显示装置通过对补偿数据进行压缩来存储和管理补偿数据并且以区域特定的方式对存储的压缩补偿数据进行解压缩以在显示驱动中使用解压缩的补偿数据的处理的流程图；
58.图15是示出通过根据实施方式的补偿系统的补偿数据压缩处理的流程图；
59.图16示出了通过根据实施方式的补偿系统在补偿数据压缩处理中的解码；
60.图17是示出通过根据实施方式的补偿系统的补偿数据压缩处理中的采样的图；
61.图18是示出根据实施方式的补偿系统的补偿数据解压缩处理的流程图；以及
62.图19示出了根据实施方式的补偿系统的补偿数据解压缩处理中的解码。
具体实施方式
63.在本发明的示例或实施方式的以下描述中，将参照附图，在附图中通过说明的方式示出了可以实现的特定示例或实施方式，并且在附图中，相同的附图标记和符号即使在彼此不同的附图中示出也可以用于指代相同或相似的部件。此外，在对本发明的示例或实施方式的以下描述中，当确定并入本文中的公知功能和部件的详细描述可能使本发明的一些实施方式中的主题相当不清楚时，将省略该描述。本文中使用的诸如“包括”、“具有”、“包含”、“构成”、“由
……
制成”和“由
……
形成”的术语通常旨在允许添加其他部件，除非这些术语与术语“仅”一起使用。如本文中所使用的，单数形式旨在包括复数形式，除非上下文另外明确指出。
64.本文中可以使用诸如“第一”、“第二”、“a”、“b”、“(a)”或“(b)”的术语来描述本发明的元件。这些术语中的每一个不用于限定元件的本质、顺序、次序或数目等，而仅用于将对应的元件与其他元件区分开。
65.当提到第一元件“被连接或耦接至”第二元件、“与第二元件接触或交叠”等时，应
当解释的是，第一元件不仅可以“被直接连接或耦接至”第二元件或者“与第二元件直接接触或交叠”，而且还可以在第一元件与第二元件之间“插入”第三元件，或者第一元件和第二元件可以经由第四元件彼此“连接或耦接”、“接触或交叠”等。此处，第二元件可以被包括在彼此“连接或耦接”、“接触或交叠”等的两个或更多个元件中的至少一个中。
66.当诸如“之后”、“随后”、“接下来”、“之前”等时间相对术语用于描述元件或配置的过程或操作，或者操作、处理、制造方法中的流程或步骤时，这些术语可以用于描述非连续或非序列的过程或操作，除非术语“直接”或“紧接”一起使用。
67.另外，当提到任何尺寸、相对大小等时，应当认为元件或特征的数值或相应信息(例如，水平、范围等)包括可能由各种因素(例如，处理因素、内部或外部影响、噪声等)引起的容差或误差范围，即使当未指定相关描述时。此外，术语“可以”完全包含术语“能够”的所有含义。
68.图1是示出根据实施方式的显示装置100的系统配置的图。
69.参照图1，根据实施方式的显示装置100的显示驱动系统可以包括显示面板110和驱动显示面板110的显示驱动电路。
70.显示面板110可以包括在其上显示图像的显示区域da和在其上不显示图像的非显示区域nda。显示面板110可以包括设置在基板sub上的多个子像素sp。
71.例如，多个子像素sp可以设置在显示区域da中。在一些情况下，至少一个子像素sp可以设置在非显示区域nda中。设置在非显示区域nda中的至少一个子像素sp也被称为虚拟子像素。
72.显示面板110可以包括多条信号线以驱动多个子像素sp。例如，多条信号线可以包括多条数据线dl和多条栅极线gl。取决于子像素sp的结构，除了多条数据线dl和多条栅极线gl之外，信号线还可以包括其他信号线。例如，其他信号线可以包括驱动电压线(dvl)等。
73.多条数据线dl可以与多条栅极线gl相交。多条数据线dl中的每条数据线dl可以被布置成沿第一方向延伸。多条栅极线gl中的每条栅极线可以被布置成沿第二方向延伸。此处，第一方向可以是列方向，而第二方向可以是行方向。本文中使用的列方向和行方向是相对的术语。在示例中，列方向可以是垂直方向，而行方向可以是水平方向。在另一示例中，列方向可以是水平方向，而行方向可以是垂直方向。
74.显示驱动器电路可以包括用于驱动多条数据线dl的数据驱动器电路120和用于驱动多条栅极线gl的栅极驱动器电路130。显示驱动器电路还可以包括控制器140以驱动数据驱动器电路120和栅极驱动器电路130。
75.数据驱动器电路120是用于驱动多条数据线dl的电路。数据驱动器电路120可以通过多条数据线dl输出与图像信号对应的数据电压(也被称为数据信号)。
76.栅极驱动器电路130是用于驱动多条栅极线gl的电路。栅极驱动器电路130可以生成栅极信号并且通过多条栅极线gl输出栅极信号。
77.控制器140可以在为各个帧限定的时间点处开始扫描并且响应于扫描在适当的时间控制数据驱动。控制器140可以将从外部源输入的图像数据转换成具有由数据驱动器电路120可读的数据信号格式的图像数据，并且将经转换的图像数据传输至数据驱动器电路120。
78.控制器140可以从外部主机系统150接收显示驱动控制信号以及输入图像数据。例
如，显示驱动控制信号可以包括垂直同步信号vsync、水平同步信号hsync、输入数据使能信号de、时钟信号等。
79.控制器140可以基于从主机系统150输入的显示驱动控制信号(例如，vsync、hsync、de和时钟信号)生成数据驱动控制信号dcs和栅极驱动控制信号gcs。控制器140可以通过将数据驱动控制信号传输至数据驱动器电路120来控制数据驱动器电路120的驱动操作和驱动时序。此处，数据驱动控制信号dcs和栅极驱动控制信号gcs可以是包括在显示驱动控制信号中的控制信号。
80.控制器140可以通过将数据驱动控制信号传输至数据驱动器电路120来控制数据驱动器电路120的驱动操作和驱动时序。例如，数据驱动控制信号dcs可以包括源极起始脉冲(ssp)、源极采样时钟(ssc)、源极输出使能信号(soe)等。
81.控制器140可以通过将栅极驱动控制信号gcs传输至栅极驱动器电路130来控制栅极驱动器电路130的驱动操作和驱动时序。例如，栅极驱动控制信号gcs可以包括栅极起始脉冲(gsp)、栅极移位时钟(gsc)、栅极输出使能信号(goe)等。
82.数据驱动器电路120可以包括一个或更多个源极驱动器集成电路(sdic)。sdic中的每一个可以包括移位寄存器、锁存电路、数模转换器(dac)、输出缓冲器等。在一些情况下，sdic中的每一个还可以包括模数转换器(adc)。
83.例如，sdic中的每一个可以通过带式自动接合(tab)方法连接至显示面板110，通过玻璃上芯片(cog)方法或面板上芯片(cop)方法连接至显示面板110的接合焊盘，或者使用连接至显示面板110的膜上芯片(cof)结构来实现。
84.在控制器140的控制下，栅极驱动器电路130可以输出具有接通电平电压的栅极信号或具有关断电平电压的栅极信号。栅极驱动器电路130可以通过将具有接通电平电压的栅极信号顺序传输至多条栅极线gl来顺序驱动多条栅极线gl。
85.栅极驱动器电路130可以通过tab方法连接至显示面板110，通过cog方法或cop方法连接至显示面板110的接合焊盘，或者通过cof方法连接至显示面板110。替选地，栅极驱动器电路130可以通过面板内栅极(gip)方法形成在显示面板110的非显示区域nda中。栅极驱动器电路130可以设置在基板sub上或者连接至基板sub。也就是说，当栅极驱动器电路130是gip型时，栅极驱动器电路130可以设置在基板sub的非显示区域nda中。当栅极驱动器电路130是cog型、cof型等时，栅极驱动器电路130可以连接至基板sub。
86.另外，数据驱动器电路120和栅极驱动器电路130中的至少一个驱动器电路可以设置在显示区域da中。例如，数据驱动器电路120和栅极驱动器电路130中的至少一个显示驱动器电路可以被设置成不与子像素sp交叠或者与子像素sp中的一些或全部交叠。
87.当多条栅极线gl中的一条栅极线gl由栅极驱动器电路130驱动时，数据驱动器电路120可以将从控制器140接收的图像数据转换为模拟数据电压vdata并且将模拟数据电压vdata供应给多条数据线dl。
88.数据驱动器电路120可以连接至显示面板110的一个侧面(例如，顶侧面或底侧面)。取决于驱动方法、显示面板的设计等，数据驱动器电路120可以连接至显示面板110的两个侧面(例如，顶侧面和底侧面两者)或者连接至显示面板110的四个侧面中的两个或更多个侧面。
89.栅极驱动器电路130可以连接至显示面板110的一个侧面(例如，左侧面或右侧
面)。取决于驱动方法、显示面板的设计等，栅极驱动器电路130可以连接至显示面板110的两个侧面(例如，左侧面和右侧面两者)或者连接至显示面板110的四个侧面中的两个或更多个侧面。
90.控制器140可以作为与数据驱动器电路120分离的部件提供，或者可以与数据驱动器电路120组合以形成集成电路(ic)。
91.控制器140可以是通常用于显示领域的时序控制器，可以是包括时序控制器并且能够执行其他控制功能的控制装置，可以是与时序控制器不同的控制装置，或者可以是控制装置中的电路。控制器140可以被实现为各种电路或电子部件，例如集成电路(ic)、现场可编程门阵列(fpga)、专用集成电路(asic)、处理器等。
92.控制器140可以安装在印刷电路板(pcb)、柔性印刷电路(fpc)等上，并且通过pcb、fpc等电连接至数据驱动器电路120和栅极驱动器电路130。
93.控制器140可以通过至少一个预定接口向数据驱动器电路120发送信号或者从数据驱动器电路120接收信号。此处，例如，接口可以包括低电压差分信号(lvds)接口、evalid编程接口(epi)、串行外围(sp)接口等。
94.根据实施方式的显示装置100可以是其中显示面板110自身发光的自发光显示装置。当根据实施方式的显示装置100是自发光显示装置时，多个子像素sp中的每一个可以包括发光装置(ed)。
95.例如，根据实施方式的显示装置100可以是有机发光显示装置，其中发光装置被实现为有机发光二极管(oled)。在另一示例中，根据实施方式的显示装置100可以是无机发光显示装置，其中发光装置被实现为基于无机材料的oled。在另一示例中，根据实施方式的显示装置100可以是量子点显示装置，其中发光装置被实现为作为自发光半导体晶体的量子点。
96.图2示出了根据实施方式的显示装置100中的子像素sp中的每一个的等效电路，并且图3示出了根据实施方式的显示装置100中的子像素sp中的每一个的另一等效电路。
97.参照图2，在根据实施方式的显示装置100中，子像素sp中的每一个包括发光装置ed、向发光装置ed供应驱动电流以驱动发光装置ed的驱动晶体管drt、向驱动晶体管drt传输数据电压vdata的扫描晶体管sct、保持电压预定时段的存储电容器cst等。
98.发光装置ed可以包括像素电极pe、公共电极ce、以及位于像素电极pe与公共电极ce之间的发射层el。发光装置ed的像素电极pe可以是阳极或阴极。公共电极ce可以是阴极或阳极。发光装置ed可以是例如有机发光二极管(oled)、基于无机材料的发光二极管(led)、量子点发光装置等。
99.对应于公共电压的基础电压evss可以施加至发光装置ed的公共电极ce。此处，基础电压evss可以是例如接地电压或与接地电压类似的电压。
100.驱动晶体管drt可以是用于驱动发光装置ed的晶体管，并且包括第一节点n1、第二节点n2、第三节点n3等。
101.驱动晶体管drt的第一节点n1可以是对应于栅极节点的节点，并且电连接至扫描晶体管sct的源极节点或漏极节点。驱动晶体管drt的第二节点n2可以是源极节点或漏极节点，并且电连接至发光装置ed的像素电极pe。驱动晶体管drt的第三节点n3可以是漏极节点或源极节点，并且电连接至驱动电压线dvl，通过该驱动电压线dvl供应驱动电压evdd。在下
文中，为了简洁起见，驱动晶体管drt的第二节点n2将被描述为源极节点，而第三节点n3将被描述为漏极节点。
102.扫描晶体管sct可以连接至数据线dl和驱动晶体管drt的第一节点n1。
103.扫描晶体管sct可以响应于通过多条扫描信号线scl中的对应的扫描信号线scl即一种栅极线gl传输的扫描信号scan来控制驱动晶体管drt的第一节点nl与多条数据线dl中的对应的数据线dl之间的连接。
104.扫描晶体管sct的漏极节点或源极节点可以电连接至对应的数据线dl。扫描晶体管sct的源极节点或漏极节点可以电连接至驱动晶体管drt的第一节点n1。扫描晶体管sct的栅极节点可以电连接至扫描信号线scl即一种栅极线gl，以接收通过扫描信号线scl施加的扫描信号scan。
105.扫描晶体管sct可以由具有接通电平电压的扫描信号scan接通，以将通过对应的数据线dl传输的数据电压vdata传输至驱动晶体管drt的第一节点nl。
106.扫描晶体管sct由具有接通电平电压的扫描信号scan接通并且由具有关断电平电压的扫描信号scan关断。当扫描晶体管sct为n型晶体管时，接通电平电压可以为高电平电压，并且关断电平电压可以为低电平电压。当扫描晶体管sct为p型晶体管时，接通电平电压可以为低电平电压，并且关断电平电压可以为高电平电压。
107.存储电容器cst可以电连接至驱动晶体管drt的第一节点n1和第二节点n2，以在一帧时间期间保持与图像信号电压对应的数据电压vdata或与其对应的电压。
108.存储电容器cst可以是被有意设计成设置在驱动晶体管drt外部的外部电容器，而不是寄生电容器(例如cgs或cgd)，即存在于驱动晶体管drt的第一节点nl与第二节点n2之间的内部电容器。
109.由于图2中所示的子像素sp包括两个晶体管drt和sct以及一个电容器cst来驱动发光装置ed，因此子像素sp被称为具有2t1c结构(其中，t指的是晶体管，并且c指的是电容器)。
110.参照图3，在根据实施方式的显示装置100中，子像素sp中的每一个还可以包括用于初始化操作、感测操作等的感测晶体管sent。
111.在这种情况下，图3中所示的子像素sp包括三个晶体管drt、sct和sent以及一个电容器cst来驱动发光装置ed，并且因此子像素sp被称为具有3t1c结构。
112.感测晶体管sent可以连接至驱动晶体管drt的第二节点n2和参考电压线rvl。
113.感测晶体管sent可以响应于通过多条感测信号线senl中的对应的感测信号线senl即一种栅极线gl传输的感测信号sense来控制电连接至发光装置ed的像素电极pe的驱动晶体管drt的第二节点n2与多条参考电压线rvl中的对应的参考电压线rvl之间的连接。
114.感测晶体管sent的漏极节点或源极节点可以电连接至参考电压线rvl。感测晶体管sent的源极节点或漏极节点可以电连接至驱动晶体管drt的第二节点n2，并且电连接至发光装置ed的像素电极pe。感测晶体管sent的栅极节点可以电连接至感测信号线senl即一种栅极线gl，以接收通过感测信号线senl施加的感测信号sense。
115.感测晶体管sent可以被接通以将通过参考电压线rvl供应的参考电压vref施加至驱动晶体管drt的第二节点n2。
116.感测晶体管sent由具有接通电平电压的感测信号sense接通，并且由具有关断电
平电压的感测信号sense关断。当感测晶体管sent为n型晶体管时，接通电平电压可以为高电平电压，并且关断电平电压可以为低电平电压。当感测晶体管sent为p型晶体管时，接通电平电压可以为低电平电压，并且关断电平电压可以为高电平电压。
117.驱动晶体管drt、扫描晶体管sct和感测晶体管sent中的每一个可以为n型晶体管或p型晶体管。驱动晶体管drt、扫描晶体管sct和感测晶体管sent都可以为n型晶体管或p型晶体管。驱动晶体管drt、扫描晶体管sct和感测晶体管sent中的至少一个可以为n型晶体管(或p型晶体管)，并且其余晶体管可以为p型晶体管(或n型晶体管)。
118.扫描信号线scl和感测信号线senl可以是不同的栅极线gl。在这种情况下，扫描信号scan和感测信号sense可以是分离的栅极信号，并且单个子像素sp中的扫描晶体管sct的接通关断时序和感测晶体管sent的接通关断时序可以彼此独立。也就是说，单个子像素sp中的扫描晶体管sct的接通关断时序和感测晶体管sent的接通关断时序可以相同或不同。
119.替选地，扫描信号线scl和感测信号线senl可以是相同的栅极线gl。也就是说，单个子像素sp中的扫描晶体管sct的栅极节点和感测晶体管sent的栅极节点可以连接至单个栅极线gl。在这种情况下，扫描信号scan和感测信号sense可以是相同的栅极信号，并且单个子像素sp中的扫描晶体管sct的接通关断时序和感测晶体管sent的接通关断时序可以是相同的。
120.可以每单个子像素列设置参考电压线rvl。替选地，可以每两个或更多个子像素列设置参考电压线rvl。当每两个或更多个子像素列设置参考电压线rvl时，可以通过单个参考电压线rvl向两个或更多个子像素sp供应参考电压vref。例如，可以每4个子像素列设置每个参考电压线rvl。也就是说，单个参考电压线rvl可以由4个子像素列中的子像素sp共享。
121.可以每子像素列设置驱动电压线dvl。替选地，可以每两个或更多个子像素列设置驱动电压线dvl。当每两个或更多个子像素列设置驱动电压线dvl时，可以通过单个驱动电压线dvl向两个或更多个子像素sp供应驱动电压evdd。例如，可以每4个子像素列设置每个驱动电压线dvl。也就是说，单个驱动电压线dvl可以由4个子像素列中的子像素sp共享。
122.提供图3中所示的子像素sp的3t1c结构仅用于说明目的。相反，子像素结构还可以包括一个或更多个晶体管，或者在一些情况下，还可以包括一个或更多个电容器。另外，所有多个子像素可以具有相同的结构，或者多个子像素中的一些可以具有不同的结构。
123.另外，根据实施方式的显示装置100可以具有顶部发射结构或底部发射结构。
124.同时，由于设置在显示面板110中的多个子像素sp中的每一个包括发光装置ed和驱动晶体管drt中的至少一个，因此多个发光装置ed和多个驱动晶体管drt可以设置在显示面板110中。
125.多个发光装置ed中的每一个可以具有独特的特性(例如，阈值电压)。多个驱动晶体管drt中的每一个可以具有独特的特性(例如，阈值电压和迁移率)。
126.发光装置ed的特性可以随着发光装置ed的驱动时间中的特性的增加而改变。驱动晶体管drt的特性可以随着驱动晶体管drt的驱动时间的增加而改变。
127.多个子像素sp可以具有不同的驱动时间。
128.因此，多个子像素sp中的每一个中的发光装置ed的特性变化可以不同于其他子像素sp中的发光装置ed的特性变化。因此，发光装置ed之间可能出现特性偏差。
129.另外，多个子像素sp中的每一个中的驱动晶体管drt的特性变化可以不同于其他子像素sp中的驱动晶体管drt的特性变化。因此，驱动晶体管drt之间可能出现特性偏差。
130.发光装置ed或驱动晶体管drt之间的特性偏差可能导致子像素sp之间的亮度偏差。因此，显示面板110的亮度均匀性可能会降低，从而降低显示面板110的图像质量。
131.在这方面，根据实施方式的显示装置100可以提供补偿功能以减小子像素sp中的每一个的电路装置(例如，发光装置ed和驱动晶体管drt)之间的特性偏差，并且可以包括补偿系统(例如补偿电路)以提供补偿功能。在下文中，将描述补偿功能和用于提供补偿功能的补偿系统。
132.如以下将描述的，根据实施方式的显示装置100可以通过基于感测的补偿方法和基于较少感测的补偿方法中的至少一种补偿方法来执行补偿功能。
133.图4示出了根据实施方式的显示装置100的基于感测的补偿电路。
134.参照图4，补偿电路是能够对每个子像素sp中的电路装置的特性执行感测和补偿的电路。
135.补偿电路可以连接至子像素sp，并且包括电力开关spre、采样开关sam、模数转换器adc、基于感测的补偿模块400等。
136.电力开关spre可以控制参考电压线rvl与参考电压供应节点nref之间的连接。从电力供应装置输出的参考电压vref可以被供应给参考电压供应节点nref，并且供应给参考电压供应节点nref的参考电压vref可以通过电力开关spre被施加至参考电压线rvl。
137.采样开关sam可以控制模数转换器adc与参考电压线rvl之间的连接。当通过采样开关sam连接至参考电压线rvl时，模数转换器adc可以将连接的参考电压线rvl上的电压(对应于模拟值)转换成对应于数字值的感测值。
138.可以在参考电压线rvl与地gnd之间形成线电容器crvl。参考电压线rvl上的电压可以对应于线电容器crvl的充电状态。
139.模数转换器adc可以获得通过其可以反映或确定电路装置的特性的感测值，生成包括所获得的感测值的感测数据，并且响应于感测驱动将包括感测值的感测数据提供给基于感测的补偿模块400。
140.基于感测的补偿模块400实际上可以基于通过感测驱动感测的感测数据确定对应子像素sp的电路装置的特性。此处，电路装置可以包括发光装置ed和驱动晶体管drt中的至少一个。
141.基于感测的补偿模块400可以基于确定的子像素sp中的每一个中的电路装置的特性来计算补偿值，生成包括计算的补偿值的补偿数据，并且将生成的补偿数据存储在存储器410中。
142.例如，补偿数据是用于减少发光装置ed或驱动晶体管drt之间的特性偏差的信息。补偿数据可以包括用于改变数据的偏移和增益值。
143.控制器140可以使用存储在存储器410中的补偿数据(例如，补偿值)来改变图像数据，并且将改变的图像数据传输至数据驱动器电路120。
144.数据驱动器电路120可以通过使用数模转换器dac将改变的图像数据转换成数据电压vdata来输出与模拟值对应的数据电压vdata。因此，最终可以实现补偿。
145.参照图4，模数转换器adc、电力开关spre和采样开关sam可以包括在数据驱动器电
路120的源极驱动器集成电路sdic中。基于感测的补偿模块400可以包括在控制器140中。存储器410可以被实现为一个或更多个存储器。存储器410可以存在于控制器140的内部或外部。当存储器410被实现为两个或更多个存储器时，两个或更多个存储器中的一个可以是控制器140的内部存储器，而两个或更多个存储器中的另一个可以是控制器140的外部存储器。此处，外部存储器可以是双倍数据速率(ddr)存储器。
146.如上所述，根据实施方式的显示装置100可以执行补偿以减小子像素sp中的电路装置之间的特性偏差。在这方面，显示装置100可以执行感测驱动以确定子像素sp中的电路装置的特性。
147.例如，感测驱动可以包括用于确定驱动晶体管drt的特性的感测驱动和用于确定发光装置ed的特性的感测驱动中的至少一种。
148.驱动晶体管drt的阈值电压或迁移率的变化可能意味着驱动晶体管drt的劣化，并且发光装置ed的阈值电压的变化可能意味着发光装置ed的劣化。
149.因此，用于确定子像素sp中的电路装置的特性的感测驱动可以被称为用于确定子像素sp中的电路装置的劣化(例如劣化程度)的感测驱动。子像素sp中的电路装置之间的特性偏差也可以意味着子像素sp中的电路装置之间的劣化偏差(例如，劣化程度的偏差)。
150.根据实施方式的显示装置100可以以两种模式(即，快速模式和慢速模式)执行感测驱动。在下文中，将参照图5和图6来描述两种模式(即，快速模式和慢速模式)下的感测驱动。
151.图5是示出根据实施方式的显示装置100在慢速模式(在下文中，被称为“s模式”)下的感测驱动的图，并且图6是示出根据实施方式的显示装置100在快速模式(在下文中，被称为“f模式”)下的感测驱动的图。
152.参照图5，s模式是以较低速率感测驱动晶体管drt的特性(例如，阈值电压和迁移率)中需要相对长的驱动时间的特定特性(例如，阈值电压)的感测驱动模式。
153.参照图6，f模式是以较高速率感测驱动晶体管drt的特性(例如，阈值电压和迁移率)中需要相对短的驱动时间的特定特性(例如，阈值电压)的感测驱动模式。
154.参照图5和图6，s模式的感测驱动时间和f模式的感测驱动时间中的每一个可以包括初始化时间tinit、跟踪时间ttrack和采样时间tsam。在下文中，将描述s模式的感测驱动时间和f模式的感测驱动时间。
155.首先，将参照图5描述显示装置100的s模式的感测驱动时间。
156.参照图5，s模式的感测驱动时间的初始化时间tinit是驱动晶体管drt的第一节点n1和第二节点n2被初始化的时间段。
157.在初始化时间tinit期间，驱动晶体管drt的第一节点n1上的电压v1可以被初始化为感测驱动数据电压vdata_sen，并且驱动晶体管drt的第二节点n2上的电压v2可以被初始化为感测驱动参考电压vref。
158.在初始化时间tinit期间，可以接通扫描晶体管sct和感测晶体管sent，并且可以接通电力开关spre。
159.参照图5，s模式的感测驱动时间的跟踪时间ttrack是跟踪反映驱动晶体管drt的阈值电压vth或阈值电压vth的变化的驱动晶体管drt的第二节点n2上的电压v2的时间段。
160.在跟踪时间ttrack期间，电力开关spre可以被关断或者感测晶体管sent可以被关
断。
161.因此，在跟踪时间ttrack期间，驱动晶体管drt的第一节点n1可以保持具有感测驱动数据电压vdata_sen的恒定电压状态，而驱动晶体管drt的第二节点n2可以处于电浮置状态。因此，在跟踪时间ttrack期间，驱动晶体管drt的第二节点n2上的电压v2可以改变。
162.在跟踪时间ttrack期间，直到驱动晶体管drt的第二节点n2上的电压v2反映驱动晶体管drt的阈值电压vth为止，驱动晶体管drt的阈值电压vth上的电压v2可以增加。
163.在初始化时间tinit期间，第一节点n1与第二节点n2之间的电压差可以等于或高于驱动晶体管drt的阈值电压vth。因此，当跟踪时间ttrack开始时，驱动晶体管drt处于接通状态并且允许电流流过其中。因此，当跟踪时间ttrack开始时，驱动晶体管drt的第二节点n2上的电压v2可以增加。
164.在跟踪时间ttrack期间，驱动晶体管drt的第二节点n2上的电压v2不连续增加。
165.驱动晶体管drt的第二节点n2上的电压v2的增量随着跟踪时间ttrack的结束而减小。因此，驱动晶体管drt的第二节点n2上的电压v2可能饱和。
166.驱动晶体管drt的第二节点n2上的饱和电压v2可以对应于数据电压vdata_sen与阈值电压vth之间的差vdata_sen-vth或者数据电压vdata_sen与阈值电压偏差δvth之间的差vdata_sen-δvth。此处，阈值电压vth可以是负阈值电压negative vth或正阈值电压positive vth。
167.当驱动晶体管drt的第二节点n2上的电压v2饱和时，可以开始采样时间tsam。
168.参照图5，s模式的感测驱动时间的采样时间tsam是测量驱动晶体管drt的阈值电压vth或者反映阈值电压vth变化的电压vdata_sen-vth或vdata_sen-δvth的时间段。
169.s模式的感测驱动时间的采样时间tsam是模数转换器adc感测参考电压线rvl上的电压的时间段。此处，参考电压线rvl上的电压可以对应于驱动晶体管drt的第二节点n2上的电压，并且对应于形成在参考电压线rvl上的线电容器crvl上的充电电压。
170.在采样时间tsam期间，由模数转换器adc感测的电压vsen可以是通过从数据电压vdata_sen减去阈值电压vth得到的电压vdata_sen-vth，或者是通过从数据电压vdata_sen减去阈值电压偏差δvth得到的电压vdata_sen-δvth。阈值电压vth可以是正阈值电压或负阈值电压。
171.参照图5，在s模式的感测驱动时间的跟踪时间ttrack期间，驱动晶体管drt的第二节点n2上的电压v2在已经增加之后达到饱和所需的时间被称为饱和时间tsat。饱和时间tsat可以是s模式的感测驱动时间的跟踪时间ttrack的时间长度，并且是驱动晶体管drt的阈值电压vth或其变化反映在驱动晶体管drt的第二节点n2上的电压v2＝vdata_sen-vth上所需的时间。
172.饱和时间tsat可以占据s模式的感测驱动时间的整个时间长度的大部分。在s模式中，驱动晶体管drt的第二节点n2上的电压v2在已经增加之后达到饱和可能需要相当长的时间(例如，饱和时间tsat)。
173.如上所述，用于感测驱动晶体管drt的阈值电压的感测驱动方法需要相对长的饱和时间tsat，直到驱动晶体管drt的第二节点n2的电压状态呈现驱动晶体管drt的阈值电压为止，并且因此被称为慢(s)模式。
174.将参照图6描述显示装置100的f模式的感测驱动时间。
175.参照图6，f模式的感测驱动时间的初始化时间tinit是驱动晶体管drt的第一节点n1和第二节点n2被初始化的时间段。
176.在初始化时间tinit期间，可以接通扫描晶体管sct和感测晶体管sent，并且可以接通电力开关spre。
177.在初始化时间tinit期间，驱动晶体管drt的第一节点n1上的电压v1可以被初始化为感测驱动数据电压vdata_sen，并且驱动晶体管drt的第二节点n2上的电压v2可以被初始化为感测驱动参考电压vref。
178.参照图6，f模式的感测驱动时间的跟踪时间ttrack是在预定跟踪时间δt期间改变驱动晶体管drt的第二节点n2上的电压v2，直到驱动晶体管drt的第二节点n2上的电压v2处于反映驱动晶体管drt的迁移率或迁移率变化的电压状态为止的时间段。
179.在跟踪时间ttrack期间，预定跟踪时间δt可以被设置为相对较短。因此，在短跟踪时间δt期间，驱动晶体管drt的第二节点n2上的电压v2可能无法正确地反映阈值电压vth。然而，在短跟踪时间δt期间，可以改变驱动晶体管drt的第二节点n2上的电压v2，使得确定驱动晶体管drt的迁移率。
180.因此，f模式是用于感测驱动晶体管drt的迁移率的感测驱动方法。
181.在跟踪时间ttrack中，电力开关spre被关断或感测晶体管sent被关断，并且因此驱动晶体管drt的第二节点n2可以处于电浮置状态。
182.在跟踪时间ttrack期间，响应于具有关断电平电压的扫描信号scan，扫描晶体管sct可以处于关断状态，并且驱动晶体管drt的第一节点nl可以处于浮置状态。
183.在初始化时间tinit期间，被初始化的驱动晶体管drt的第一节点n1与第二节点n2之间的电压差可以等于或高于驱动晶体管drt的阈值电压vth。因此，当跟踪时间ttrack开始时，驱动晶体管drt处于接通状态并且允许电流流过其中。
184.此处，当驱动晶体管drt的第一节点n1和第二节点n2分别为栅极节点和源极节点时，驱动晶体管drt的第一节点n1与第二节点n2之间的电压差为vgs。
185.因此，在跟踪时间ttrack期间，驱动晶体管drt的第二节点n2上的电压v2可以增加。此时，驱动晶体管drt的第一节点n1上的电压v1也可以增加。
186.在跟踪时间ttrack期间，驱动晶体管drt的第二节点n2上的电压v2的增加率根据驱动晶体管drt的电流能力(即，迁移率)而变化。驱动晶体管drt的电流能力(即迁移率)越大，驱动晶体管drt的第二节点n2上的电压v2可以增加得越快。
187.在预定跟踪时间δt期间已经存在跟踪时间ttrack之后，即，在预定跟踪时间δt期间驱动晶体管drt的第二节点n2上的电压v2已经增加之后，可以开始采样时间tsam。
188.在跟踪时间ttrack期间，驱动晶体管drt的第二节点n2上的电压v2的增加率对应于在预定跟踪时间δt期间驱动晶体管drt的第二节点n2上的电压变化δv。此处，驱动晶体管drt的第二节点n2上的电压变化δv可以对应于参考电压线rvl上的电压变化。
189.参照图6，在预定跟踪时间δt期间已经存在跟踪时间ttrack之后，采样时间tsam可以开始。在采样时间tsam期间，采样开关sam可以被关断，并且参考电压线rvl和模数转换器adc可以电连接。
190.模数转换器adc可以感测参考电压线rvl上的电压。由模数转换器adc感测的电压vsen可以是在预定跟踪时间δt期间从参考电压vref增加电压变化δv的电压vref+δv。
191.由模数转换器adc感测的电压vsen可以是参考电压线rvl上的电压，并且是通过感测晶体管sent电连接至参考电压线rvl的第二节点n2上的电压。
192.参照图6，在f模式的感测驱动时间的采样时间tsam中，由模数转换器adc感测的电压vsen可以根据驱动晶体管drt的迁移率而变化。感测电压vsen随着驱动晶体管drt的迁移率的增加而增加。相比之下，感测电压vsen随着驱动晶体管drt的迁移率的降低而降低。
193.如上所述，用于感测驱动晶体管drt的迁移率的感测驱动方法仅需要在短时间δt内改变驱动晶体管drt的第二节点n2上的电压，并且因此被称为快速(f)模式。
194.参照图5，根据实施方式的显示装置100可以基于在s模式下感测的电压vsen确定对应子像素sp中的驱动晶体管drt的阈值电压vth或阈值电压vth的变化，计算通过其减小或消除驱动晶体管drt之间的阈值电压偏差的阈值电压补偿值，并且将计算的阈值电压补偿值存储在存储器410中。
195.参照图6，根据实施方式的显示装置100可以基于在f模式下感测的电压vsen确定对应子像素sp中的驱动晶体管drt的迁移率或迁移率的变化，计算通过其减小或消除驱动晶体管drt之间的迁移率偏差的迁移率补偿值，并且将计算的迁移率补偿值存储在存储器410中。
196.当用于显示驱动的数据电压vdata被供应给对应的子像素sp时，显示装置100可以供应基于阈值电压补偿值和迁移率补偿值而改变的数据电压vdata。
197.如上所述，阈值电压感测可以在s模式下执行，这是因为阈值电压感测的特性需要相对长的感测时间，并且迁移率感测可以在f模式下执行，这是因为迁移率感测的特性需要相对短的感测时间。
198.图7是示出根据实施方式的显示装置100中的各种感测驱动时间的时序图。
199.参照图7，当生成通电信号时，根据实施方式的显示装置100可以感测设置在显示面板110中的子像素sp中的每一个中的驱动晶体管drt的特性。这样的感测处理被称为“通电感测处理”。
200.参照图7，当生成断电信号时，根据实施方式的显示装置100可以在诸如断电的断电序列发生之前感测设置在显示面板110中的子像素sp中的每一个中的驱动晶体管drt的特性。这样的感测处理被称为“断电感测处理”。
201.参照图7，根据实施方式的显示装置100可以在生成通电信号之后在生成断电信号之前在显示驱动期间感测子像素sp中的每一个中的驱动晶体管drt的特性。这样的感测处理被称为“实时感测处理”。
202.在垂直同步信号vsync的情况下，可以在激活时间act之间的每个空白时间blank期间执行实时感测处理。
203.由于驱动晶体管drt的迁移率感测仅需要短的时间，因此可以在感测驱动方法期间在f模式下执行迁移率感测。
204.由于驱动晶体管drt的迁移率感测仅需要短的时间，因此可以通过通电感测处理、断电感测处理和实时感测处理中的任何一种来执行迁移率感测。
205.可以通过实时感测处理来执行比迁移率感测所需更短时间的迁移率感测。
206.相比之下，驱动晶体管drt的阈值电压感测需要长的饱和时间vsat。因此，在感测驱动方法期间可以在s模式下执行阈值电压感测。
207.驱动晶体管drt的阈值电压感测应当在不妨碍用户观看显示装置的时间执行。因此，可以在由用户输入等生成断电信号之后不执行显示驱动时(即，用户不打算观看显示装置)执行驱动晶体管drt的阈值电压感测。也就是说，驱动晶体管drt的阈值电压感测可以通过断电感测处理来执行。
208.图8示出了根据实施方式的无感测补偿系统，并且图9是示出根据实施方式的无感测补偿方法的图。
209.参照图8，根据实施方式的无感测补偿系统可以包括无感测补偿模块800和存储装置840。
210.无感测补偿模块800可以在不执行感测驱动的情况下通过子像素sp中的每一个的数据累积来生成补偿数据。
211.存储装置840可以存储由无感测补偿模块800生成的补偿数据。另外，存储装置840可以存储指示设置在子像素sp中的电路装置中的每一个(例如，发光装置和驱动晶体管)的劣化程度的信息(或数据)，并且存储包括补偿值的补偿数据，每个补偿值与根据子像素sp的劣化程度匹配。
212.无感测补偿模块800和存储装置840中的至少一个可以被包括在控制器140中。替选地，无感测补偿模块800和存储装置840中的至少一个可以位于控制器140的外部。在一些情况下，控制器140可以仅包括无感测补偿模块800的一部分部件和存储装置840的部件。
213.无感测补偿模块800可以包括数据改变部810、补偿值确定器820和劣化监视器830。
214.数据改变部810可以从外部源接收图像数据。数据改变部810可以执行数据改变处理以基于补偿数据改变图像数据，并且根据数据改变处理的结果将改变的图像数据(也被称为补偿图像数据)输出至数据驱动器电路120。
215.例如，数据改变部810可以通过例如根据子像素sp的图像数据与对应的补偿值之间的加法、减法或乘法来执行数据改变处理。
216.数据改变部810可以通过补偿值确定器820确定要添加到图像数据的补偿数据，以生成改变的图像数据。
217.补偿值确定器820可以基于存储在存储装置840中的数据来确定设置在子像素sp中的电路装置的劣化程度。补偿值确定器820可以确定与电路装置的劣化程度对应的补偿值，并且将补偿值输出至数据改变部810。
218.存储装置840可以被实现为单个存储装置，或者在一些情况下，可以被实现为两个或更多个存储装置841和842。例如，存储装置840可以包括第一存储装置841和第二存储装置842。
219.第一存储装置841可以存储根据子像素sp的驱动实时累积的关于电路装置的劣化程度的信息(或数据)。此处，关于子像素sp的劣化程度的信息可以被称为累积应力数据。
220.第二存储装置842可以存储与累积应力数据匹配的补偿数据。第二存储装置842可以例如以查找表的形式存储与累积应力数据匹配的补偿数据。
221.数据改变部810可以通过补偿值确定器820根据存储在第二存储装置842中的补偿数据确定关于子像素sp的累积应力数据的补偿值，使用确定的补偿值执行数据改变处理，并且将通过数据改变处理生成的改变的图像数据输出至数据驱动器电路120。
222.数据驱动器电路120可以基于从无感测补偿模块800接收的改变的图像数据生成模拟数据电压vdata，并且将生成的数据电压vdata供应给子像素sp。因此，可以将根据子像素sp的劣化程度反映补偿数据的数据电压vdata供应给子像素sp。
223.例如，如图9所示，当累积应力数据为第一应力值vstr1时，其中反映了与第一应力值vstr1对应的第一补偿值vcomp1的改变的图像数据可以被输入至数据驱动器电路120。当累积应力数据为第二应力值vstr2时，其中反映了与第二应力值vstr2对应的第二补偿值vcomp2的改变的图像数据可以被输入至数据驱动器电路120。
224.数据驱动器电路120可以供应其中根据子像素sp的累积应力数据的补偿数据被反映到子像素sp的数据电压vdata。可以实时补偿设置在子像素sp中的电路装置的劣化，并且可以执行子像素sp的驱动。
225.可以在驱动子像素sp的同时实时更新子像素sp的累积应力数据。
226.劣化监视器830可以接收数据改变部810输出的改变的图像数据。
227.随着根据改变的图像数据的数据电压vdata被供应给子像素sp并且子像素sp的驱动时间累积，子像素sp可能进一步劣化。
228.劣化监视器830可以根据改变的图像数据更新存储在第一存储装置841中的子像素sp的累积应力数据。
229.由于子像素sp的累积应力数据在子像素sp的驱动期间由劣化监视器830更新，因此存储在第一存储装置841中的关于子像素sp中的电路装置的劣化的信息可以作为累积应力数据进行实时更新和管理。
230.劣化监视器830可以将子像素sp的累积应力数据作为原始数据存储在第一存储装置841中。
231.替选地，劣化监视器830可以通过压缩累积应力数据的全部或一部分将子像素sp的累积应力数据存储在第一存储装置841中。在这种情况下，劣化监视器830可以对累积应力数据执行压缩功能和解压缩功能。此处，压缩功能也可以被称为编码功能，而解压缩功能也可以被称为解码功能。
232.补偿值确定器820可以基于在第一存储装置841中更新的累积应力数据来确定设置在多个子像素sp中的每一个中的电路装置的劣化程度。
233.补偿值确定器820可以基于更新的累积应力数据计算与子像素sp的改变的劣化对应的关于子像素sp的补偿值，并且利用计算的补偿值更新存储在第二存储装置842中的补偿数据。
234.图10示出了根据实施方式的显示装置100中的显示面板110的显示区域da中的三个区域na、fpa和bpa。
235.参照图10，根据实施方式的显示面板110的显示区域da可以被分为三个区域na、fpa和bpa。
236.例如，三个区域na、fpa和bpa可以包括正常区域na、固定图案区域fpa和不良像素区域bpa。
237.固定图案区域fpa可以是单个图像在其中连续显示预定时间或更多时间的区域。不良像素区域bpa可以是其中设置不良子像素bsp的像素区域。正常区域na可以是不同于固定图案区域fpa和不良像素区域bpa并且其中显示正常图像的区域。
238.在下文中，将更详细地描述三个区域na、fpa和bpa。
239.固定图案区域fpa可以是包括固定位置的区域，其中单个图像被连续显示至少预定时间。
240.固定图案区域fpa是其中即使在已经连续显示至少预定时间的单个图像消失之后也可能出现余像的区域。此处，预定时间可以意指其中连续显示能够形成余像的图像的最小时间。
241.例如，固定图案区域fpa可以是其中显示标识信息、频道信息、节目信息、其他信息等的区域。固定图案区域fpa可以是其中设置用于显示标识信息、频道信息、节目信息、其他信息等的子像素sp的区域。
242.在显示区域da中，可以存在一个或更多个固定图案区域fpa。固定图案区域fpa中的每一个可以存在于显示区域da中的各种位置。固定图案区域fpa中的每一个的位置可以在显示区域da中改变。
243.不良像素区域bpa可以包括一个或更多个像素，每个像素未被正常驱动或未正常发射光。此处，这样的未被正常驱动或未正常发射光的像素可以被称为不良像素。例如，一个像素可以包括两个或更多个子像素。
244.不良像素可以包括子像素sp，至少一个子像素sp未被正常驱动或未正常发射光。此处，这样的未被正常驱动或未正常发射光的子像素sp可以被称为不良子像素。
245.在示例中，不良子像素可以是变暗的子像素或变亮的子像素。当不良子像素为变暗的子像素时，不良子像素中的驱动晶体管drt和发光装置ed可能由于修复处理而处于电断开状态。
246.在另一示例中，不良子像素中的发光装置ed可以与不良子像素中的驱动晶体管drt电断开，同时与另一子像素(即，正常子像素)中的驱动晶体管drt电连接。也就是说，不良子像素中的发光装置ed可以被另一子像素(即，正常子像素)中的驱动晶体管drt点亮。
247.在另一示例中，不良子像素可以是由另一正常子像素正常化的子像素。在这种情况下，不良子像素可以是通过接收供应给另一正常子像素的数据电压vdata而被驱动发射光的子像素sp。
248.在显示区域da中，可能存在一个或更多个不良像素区域bpa。不良像素区域bpa中的每一个可以存在于显示区域da中的各种位置。不良像素区域bpa中的每一个的位置可以在显示区域da中改变。
249.正常区域na可以是与固定图案区域fpa和不良像素区域bpa不同的区域。正常区域na可以是其中设置正常驱动或正常发射光的子像素sp的区域。
250.图11示出了在根据实施方式的显示装置100中的显示面板110的显示区域da中设置在不良像素区域bpa中的子像素sp的驱动。
251.参照图11，根据实施方式的显示装置100可以使用正常子像素nsp来驱动不良子像素bsp。因此，不良子像素可以是由另一正常子像素正常化的子像素。
252.例如，在显示装置100的数据驱动器电路120中，供应给正常子像素nsp的第一数据电压vdatal可以同等地供应给至少一个不良子像素bsp。
253.不良子像素bsp和正常子像素nsp可以彼此相邻。正常子像素nsp可以通过第一数据线dl_nsp接收第一数据电压vdata1，并且不良子像素bsp可以通过第二数据线dl_bsp接
收相同的第一数据电压vdata1。
254.正常子像素nsp可以与不良子像素bsp直接相邻并且具有与不良子像素bsp不同的颜色。替选地，正常子像素nsp可以是与不良子像素bsp具有相同颜色的子像素sp中与不良子像素bsp最相邻的子像素sp。
255.图12示出了根据实施方式的显示装置100的补偿系统1200。
256.参照图12，根据实施方式的显示装置100可以包括补偿系统1200，该补偿系统1200生成和存储包括关于子像素sp的补偿值的补偿数据。
257.参照图12，根据实施方式的补偿系统1200可以包括生成关于子像素sp的补偿数据的补偿模块1210和存储补偿数据的存储装置1230。
258.同时，可能存在大量关于子像素sp的补偿数据。随着子像素sp的数量随着显示面板110的分辨率的增加而增加，补偿数据的量将增加。
259.以这种方式，当补偿数据的量相当大时，存储补偿数据的存储装置1230的容量(即，存储空间的容量)也应当增加。
260.因此，根据实施方式的补偿系统1200可以通过对补偿数据进行压缩来存储补偿数据。因此，根据实施方式的补偿系统1200还可以包括压缩模块1220，以通过对补偿数据进行压缩来生成压缩补偿数据。在这种情况下，存储装置1230可以存储压缩补偿数据。
261.压缩模块1220可以对存储在存储装置1230中的压缩补偿数据进行解压缩。补偿模块1210可以通过使用由压缩模块1220解压缩的补偿数据执行数据改变处理来将改变的图像数据提供给数据驱动器电路120。
262.图12中所示的补偿模块1210可以为图4中所示的基于感测的补偿模块400或图8中所示的无感测补偿模块800。图12中所示的存储装置1230可以为图4中所示的存储器410或图8中所示的存储装置840。
263.由补偿模块1210生成的补偿数据可以为基于通过感测驱动获得的感测值生成的补偿数据或通过数据累积生成的补偿数据。
264.尽管存储装置1230可以被实现为单个存储器，但是存储装置1230可以被实现为两个或更多个存储器。例如，如图12所示，存储装置1230可以包括第一存储器1231和第二存储器1232。例如，第一存储器1231和第二存储器1232可以存在于控制器140的外部。替选地，第一存储器1231和第二存储器1232中的一个可以存在于控制器140的外部，而第一存储器1231和第二存储器1232中的另一个可以存在于控制器140的内部。
265.图13是示出其中根据实施方式的显示装置100通过对补偿数据进行压缩来存储和管理补偿数据并且对存储的压缩补偿数据进行解压缩以在显示驱动中使用解压缩的补偿数据的处理的流程图。
266.参照图13，根据实施方式的显示装置100的操作方法可以包括：生成子像素sp的补偿数据的操作s1310、通过对补偿数据进行压缩来生成压缩补偿数据的操作s1320、以及存储压缩补偿数据的操作s1330。
267.在操作s1310中生成的补偿数据可以是基于感测的补偿数据。在这种情况下，在操作s1310之前，可以执行上面参照图4至图7描述的感测驱动。因此，在操作s1310中生成的补偿数据可以是根据通过感测驱动获得的感测数据生成的补偿数据。
268.在操作s1310中生成的补偿数据可以是无感测补偿数据。在这种情况下，补偿数据
可以是由图8中所示的无感测补偿模块800生成的补偿数据。
269.参照图13，根据实施方式的显示装置100的操作方法还可以包括在操作s1330之后对存储的压缩补偿数据进行解压缩的操作s1340和使用解压缩的补偿数据执行显示驱动的操作s1350。
270.由于显示区域da包括正常区域na、固定图案区域fpa和不良像素区域bpa，因此由补偿模块1210生成的补偿数据可以包括关于设置在正常区域na中的多个子像素sp中的一些子像素sp的补偿数据、关于设置在固定图案区域fpa中的多个子像素sp中的一些子像素sp的补偿数据、以及关于设置在不良像素区域bpa中的多个子像素sp中的一些子像素sp的补偿数据。
271.在下文中，为了简洁起见，关于设置在正常区域na中的子像素sp的补偿数据可以被称为关于正常区域na的补偿数据或正常补偿数据，并且可以被简称为正常补偿数据。
272.另外，在下文中，为了简洁起见，关于设置在固定图案区域fpa中的子像素sp的补偿数据可以被称为关于固定图案区域fpa的补偿数据或固定补偿数据，并且可以被简称为固定补偿数据。
273.此外，在下文中，为了简洁起见，关于设置在不良像素区域bpa中的子像素sp的补偿数据可以被称为关于不良像素区域bpa的补偿数据，或者被简称为标志。此处，标志可以包括设置在不良像素区域bpa中的至少一个不良子像素bsp的坐标信息、像素信息等。例如，像素信息可以包括不良子像素bsp的类型信息和关于用于不良子像素bsp的正常化的正常子像素nsp的信息中的至少一种。例如，不良子像素bsp的类型信息可以是关于变暗的子像素、变亮的子像素、使用正常子像素nsp正常化的子像素等的信息。
274.根据实施方式的补偿系统1200的压缩模块1220可以均匀压缩补偿数据。
275.因此，所有关于设置在正常区域na中的子像素sp的补偿数据、关于设置在固定图案区域fpa中的子像素sp的补偿数据(即，固定补偿数据)、以及关于设置在不良像素区域bpa中的子像素sp的补偿数据(即，标志)可以以相同的方式被压缩。
276.补偿功能是用于改善图像质量的功能。然而，当压缩模块1220对补偿数据进行均匀压缩时，由于没有考虑正常区域na、固定图案区域fpa和不良像素区域bpa中的每一个的特性，因此由于压缩引起的图像质量的劣化可能会增加。
277.例如，压缩模块1220可以在不考虑正常区域na、固定图案区域fpa和不良像素区域bpa的各自特性的情况下以相同方式压缩关于整个区域中的子像素sp的补偿数据。
278.然而，在这种情况下，由于补偿数据相对于固定图案区域fpa的压缩损失，出现在固定图案区域fpa中的余像可能更清晰。即使在应用余像补偿方法时，由压缩损失引起的这样的余像也是不可避免的。
279.另外，由于关于不良像素区域bpa的补偿数据(即，标志)的压缩损失，异常数据电压vdata可能被施加至不良子像素bsp，从而引起屏幕异常。
280.因此，本公开内容的实施方式提出了一种对补偿数据进行压缩和解压缩的方法，以防止图像质量由于补偿数据的压缩而劣化。
281.图14是示出其中根据实施方式的显示装置100通过对补偿数据进行压缩来存储和管理补偿数据并且以区域特定的方式对存储的压缩补偿数据进行解压缩以在显示驱动中使用解压缩的补偿数据的处理的流程图。
282.参照图14，根据实施方式的显示装置100的操作方法可以包括生成关于设置在正常区域na、固定图案区域fpa和不良像素区域bpa中的多个子像素sp中的一些子像素sp的补偿数据的操作s1410、通过对补偿数据进行压缩生成压缩补偿数据的操作s1420、存储压缩补偿数据的操作s1430等。
283.在操作s1420中，由压缩模块1220生成的压缩补偿数据可以包括关于正常区域na的压缩补偿数据、关于固定图案区域fpa的压缩补偿数据以及关于不良像素区域bpa的压缩补偿数据。
284.在操作s1420中，压缩模块1220可以以特定于区域的方式以不同的方法对补偿数据进行压缩。
285.关于正常区域na的压缩补偿数据可以包括通过编码进行处理的正常补偿数据。例如，通过压缩关于正常区域na的正常补偿数据获得的压缩补偿数据可以是由联合图像专家组(jpeg)压缩的补偿数据。当关于正常区域na的正常补偿数据被jpeg压缩时，可以通过离散余弦变换(dct)来处理数据。上述“编码”可以是dct。
286.关于固定图案区域fpa的压缩补偿数据可以包括通过编码进行处理的固定补偿数据和由编码产生的误差信息。例如，通过压缩关于固定图案区域fpa的固定补偿数据获得的压缩补偿数据可以包括由jpeg压缩固定补偿数据产生的误差信息(在下文中，也被称为差值)。上述“编码”可以是dct。
287.关于不良像素区域bpa的压缩补偿数据可以包括关于不良像素区域bpa的标志。例如，不良像素区域bpa的标志——即关于不良像素区域bpa的压缩补偿数据——可以是无损压缩数据。
288.存储装置1230可以包括第一存储器1231和第二存储器1232。
289.第一存储器1231可以包括由包括在关于固定图案区域fpa的压缩补偿数据中的编码产生的误差信息。
290.第一存储器1231可以存储不良像素区域bpa的标志。
291.第二存储器1232可以将编码的正常补偿数据存储为关于正常区域na的压缩补偿数据。
292.第二存储器1232可以存储包括在关于固定图案区域fpa的压缩补偿数据中的编码固定补偿数据。
293.第一存储器1231可以是不同于第二存储器1232的存储器。
294.例如，第一存储器1231可以位于控制显示面板110的驱动的控制器140的外部。例如，第一存储器1231可以是双倍数据速率(ddr)存储器。第二存储器1232可以是控制器140的内部存储器(例如，寄存器或缓冲器)。
295.例如，关于不良像素区域bpa的标志可以包括设置在不良像素区域bpa中的至少一个子像素sp(例如，不良子像素bsp)的坐标信息和像素信息。例如，像素信息可以包括不良子像素bsp的类型信息和关于用于不良子像素bsp的正常化的正常子像素nsp的信息中的至少一种。例如，不良子像素bsp的类型信息可以是关于变暗的子像素、变亮的子像素、使用正常子像素nsp正常化的子像素等的信息。
296.设置在不良像素区域bpa中的至少一个不良子像素bsp可以为变暗的子像素sp、变亮的子像素sp、正常化以被另一正常子像素nsp驱动以发射光的子像素sp等。
297.当至少一个不良子像素bsp是被正常化以被另一正常子像素nsp驱动以发射光的子像素sp时，供应给至少一个另一正常子像素nsp的数据电压可以被同等地供应给至少一个不良子像素bsp。
298.至少一个另一正常子像素nsp可以是具有不同颜色并且与至少一个另一正常子像素nsp相邻的至少一个子像素sp，或者是与具有与至少一个另一正常子像素nsp相同颜色的子像素sp中的至少一个最相邻的至少一个子像素sp。
299.同时，压缩模块1220在编码之前执行采样。压缩模块1220可以通过从显示面板110中的每批多个单位像素区域upa中采样一个或更多个像素或者一个或更多个子像素并且从由补偿模块1210生成的补偿数据中提取关于采样的一个或更多个像素或者子像素的补偿数据来执行采样。
300.由于压缩模块1220通过选择整个补偿数据的一部分来执行采样并且对采样补偿数据进行压缩，因此可以提高压缩的速率和效率。
301.同时，正常区域na可以是包含更多低频成分的区域，而固定图案区域fpa可以是包含更多高频成分的区域。
302.正常区域na可以包含比高于第一频率的第二频率的补偿数据成分更多的第一频率的补偿数据成分。固定图案区域fpa可以包含比第一频率的补偿数据成分更多的第二频率的补偿数据成分。
303.在补偿数据的压缩中，编码可能引起第二频率(即，高频)的数据成分的损失(或损坏)。这里，第二频率是高频，并且可以是大于或等于预定值的频率。此外，第一频率是低频，并且可以是小于预定值的频率。
304.在关于设置在固定图案区域fpa中的子像素sp的补偿数据中，相邻子像素sp的补偿值可能具有低关系(例如，相关性)。也就是说，在关于设置在固定图案区域fpa中的子像素sp的补偿数据中，相邻子像素sp的补偿值可能彼此显著不同。
305.在关于设置在正常区域na中的子像素sp的补偿数据中，相邻子像素sp的补偿值可以具有高关系(例如，相关性或相关系数)。也就是说，在关于设置在正常区域na中的子像素sp的补偿数据中，相邻子像素sp的补偿值可以具有相似的值。
306.如上所述，包括在关于固定图案区域fpa的补偿数据中的关于子像素sp的补偿值的相关系数可以低于包括在关于正常区域na的补偿数据中的关于子像素sp的补偿值的相关系数(或关系)。此处，相关系数可以是指示补偿值之间的相关程度的数值。补偿值越相似，相关系数可能越高。补偿值越不相似，相关系数可能越低。
307.在下文中，将参照图15至图17更详细地描述上面参照图14描述的以区域特定的方式对补偿数据进行压缩的操作s1420和存储压缩补偿数据的操作s1430，并且将参照图18和图19详细描述图14中所示的以区域特定的方式对压缩补偿数据进行解压缩的操作s1440。
308.图15是示出通过根据实施方式的补偿系统1200的补偿数据压缩处理的流程图。图16示出了通过根据实施方式的补偿系统1200在补偿数据压缩处理中的解码。图17是示出通过根据实施方式的补偿系统1200在补偿数据压缩处理中的采样的图。
309.参照图15，在操作s1500中，压缩模块1220接收由补偿模块1210生成的补偿数据a1+b1+c1。
310.由补偿模块1210生成的补偿数据a1+b1+c1可以包括关于正常区域na的正常补偿
数据a1、关于固定图案区域fpa的固定补偿数据b1和关于不良像素区域的标志c1。
311.在操作s1502b和操作s1502c中，压缩模块1220可以从从补偿模块1210输入的补偿数据a1+b1+c1中提取关于固定图案区域fpa的固定补偿数据b1和关于不良像素区域的标志c1。
312.在操作s1504中，压缩模块1220可以在操作s1502b和操作s1502c之前或之后或者与操作s1502b和操作s1502c一起对从补偿模块1210输入的补偿数据a1+b1+c1执行采样。
313.压缩模块1220可以从从补偿模块1210输入的补偿数据a1+b1+c1中对要进行dct处理的补偿数据a'+b'+c'进行采样。
314.采样补偿数据a'+b'+c'——即通过采样处理的补偿数据——可以是从补偿模块1210输入的补偿数据a1+b1+c1的一部分。
315.采样补偿数据a'+b'+c'可以包括正常区域的采样处理的正常补偿数据a'、固定图案区域的采样处理的固定补偿数据b'以及不良像素区域的采样处理的标志c1。
316.上述采样可能不是必要的处理并且可以为了压缩性能而省略。
317.在操作s1506中，压缩模块1220可以对通过采样获得的采样补偿数据a'+b'+c'执行dct。
318.在操作s1506中，通过dct获得的数据可以包括dct处理的固定补偿数据b2和dct处理的正常补偿数据a2。
319.在操作s1508b和操作s1508a中，压缩模块1220可以从通过dct获得的数据中提取dct处理的固定补偿数据b2和dct处理的正常补偿数据a2。
320.在操作s1508b之后，压缩模块1220可以在操作s1510中对dct处理的固定补偿数据b2执行解码并且获得解码处理的固定补偿数据b2'。
321.在操作s1510之后，压缩模块1220可以接收关于固定图案区域fpa的固定补偿数据b1，接收解码处理的固定补偿数据b2'，并且在操作s1512中计算关于固定图案区域fpa的固定补偿数据b1与解码处理的固定补偿数据b2'之间的差diff＝b1-b2'。此处，差diff可以是在关于固定图案区域fpa的补偿数据的压缩期间由编码产生的误差信息。
322.在操作s1514b_diff中，压缩模块1220可以将在操作s1512中计算的差diff存储在第一存储器1231中。
323.在操作s1514b_b2中，压缩模块1220可以将在操作s1508中提取的dct处理的固定补偿数据b2存储在第二存储器1232中。
324.在操作s1514a中，压缩模块1220可以将在操作s1508a中提取的dct处理的正常补偿数据a2存储在第二存储器1232中。
325.在操作s1514c中，压缩模块1220可以将在操作s1502c中提取的关于不良像素区域bpa的标志c1存储在第一存储器1231中。此处，存储在第一存储器1231中的关于不良像素区域bpa的标志c1可以是未经dct处理并且是无损的原始数据。
326.如上所述，压缩模块1220可以将关于固定图案区域fpa的差diff存储在第一存储器1231中，将关于固定图案区域fpa的dct处理的固定补偿数据b2存储在第二存储器1232中，将关于正常区域na的dct处理的正常补偿数据a2存储在第二存储器1232中，并且将关于不良像素区域bpa的标志c1存储在第一存储器1231中。因此，压缩模块1220可以以区域特定的方式完成压缩和存储补偿数据的处理。
327.参照图16，解码操作s1510可以包括对dct处理的固定补偿数据b2执行逆离散余弦变换(idct)的操作s1610以及对idct处理的固定补偿数据b”执行插值并且输出解码处理的固定补偿数据b2'的操作s1620。
328.idct处理的固定补偿数据b1”可以是通过采样处理的固定图案区域的有损(或损坏)的固定补偿数据。
329.参照图17，在采样操作s1504中，从从补偿模块1210输入的补偿数据a1+b1+c1中采样要进行dct处理的补偿数据a'+b'+c'。经采样处理的补偿数据a'+b'+c'可以是从补偿模块1210输入的补偿数据a1+b1+c1的一部分。
330.根据图17的说明，四个子像素sp可以构成单个像素，并且多个子像素sp可以构成多个像素。
331.其中布置有多个像素中的m行和n列像素的区域可以对应于单个单位像素区域upa。例如，其中布置有8行和8列像素(即，64个像素)的区域可以是单个单位像素区域upa。
332.在每个单位像素区域upa中，第一行和第一列中的像素可以被采样为代表单位像素区域upa的像素。
333.例如，在显示面板110中存在k数目的单位像素区域upa并且在k数目的单位像素区域upa的每一个中设置有m
×
n数目的像素的情况下，可以从k数目的单位像素区域upa的每一个中采样单个像素(例如，第一行和第一列中的像素)。也就是说，可以从整个显示面板110中采样k数目的像素(即，4
×
k数目的子像素sp)。
334.图18是示出根据实施方式的补偿系统1200的补偿数据解压缩处理的流程图。图19示出了根据实施方式的补偿系统1200的补偿数据解压缩处理中的解码。
335.参照图18，在操作s1800b_diff中，压缩模块1220可以从第一存储器1231中提取关于固定图案区域fpa的差diff＝b1-b2'。
336.在操作s1800b_b2中，压缩模块1220可以从第二存储器1232中提取关于固定图案区域fpa的dct处理的固定补偿数据b2。
337.在操作s1800a中，压缩模块1220可以从第二存储器1232中提取关于正常区域na的dct处理的正常补偿数据a2。
338.在操作s1800c中，压缩模块1220可以从第一存储器1231中提取关于不良像素区域bpa的标志c1。
339.在操作s1802中，压缩模块1220可以对在操作s1800b_diff、操作s1800b_b2以及操作s1800a中从第一存储器1231和第二存储器1232中提取的数据执行idct。
340.在操作s1800b_diff、操作s1800b_b2以及操作s1800a中从第一存储器1231和第二存储器1232中提取的数据可以包括从第一存储器1231中提取的关于固定图案区域fpa的差diff＝b1-b2'、从第二存储器1232中提取的关于固定图案区域fpa的dct处理的固定补偿数据b2、以及从第二存储器1232中提取的关于正常区域na的dct处理的正常补偿数据a2。
341.在操作s1802中，当执行idct时，压缩模块1220可以执行对关于固定图案区域fpa的dct处理的固定补偿数据b2进行解码的操作s1804以及使用作为解码结果获得的数据b2'和在操作s1800b_diff中提取的关于固定图案区域fpa的差diff＝b1-b2'计算关于固定图案区域fpa的固定补偿数据b1的操作s1806。
342.关于在操作s1806中计算的固定图案区域fpa的固定补偿数据b1可以通过将作为
解码结果获得的数据b2'与在操作s1800b_diff中提取的关于固定图案区域fpa的差diff＝b1-b2'相加来获得。
343.在操作s1806中计算的关于固定图案区域fpa的固定补偿数据b1可以为在补偿数据压缩处理中的采样之前从输入补偿数据a1+b1+c1中提取的关于固定图案区域fpa的固定补偿数据b1。
344.在操作s1802中，压缩模块1220可以通过执行idct获得在补偿数据压缩处理中采样处理的正常区域na的正常补偿数据al'。
345.在操作s1808中，压缩模块1220可以对正常区域na的采样处理的正常补偿数据a1'执行插值。因此，压缩模块1220可以获得插值处理的正常补偿数据a1”。此处，插值处理的正常补偿数据a1”可以为正常区域na的正常补偿数据，其中高频成分是有损的。
346.压缩模块1220可以执行对插值处理的正常补偿数据a1”、通过idct获得的关于固定图案区域fpa的固定补偿数据bl、以及从第一存储器1231中提取的关于不良像素区域bpa的标志c1进行合并的操作s1810，以及生成完全解压缩的补偿数据a”+b1+c1的操作s1812。
347.参照图19，解码操作s1804可以包括对dct处理的固定补偿数据执行idct的操作s1910以及通过对idct处理的固定补偿数据b1”执行插值来输出解码处理的固定补偿数据b2'的操作s1920。
348.idct处理的固定补偿数据b1”可以是通过采样处理的固定图案区域的有损固定补偿数据。
349.上面阐述的本公开内容的实施方式将简要描述如下。
350.根据本公开内容，实施方式中的一个可以提供一种显示装置，包括：显示面板，该显示面板包括多个子像素；补偿模块，该补偿模块被配置成生成关于设置在正常区域、固定图案区域和不良像素区域中的多个子像素中的子像素的补偿数据；以及压缩模块，该压缩模块被配置成通过对补偿数据进行压缩来生成压缩补偿数据。
351.压缩补偿数据可以包括关于正常区域的压缩补偿数据、关于固定图案区域的压缩补偿数据以及关于不良像素区域的压缩补偿数据。
352.关于正常区域的压缩补偿数据可以包括通过编码进行处理的正常补偿数据，关于固定图案区域的压缩补偿数据包括通过编码进行处理的固定补偿数据和由编码产生的误差信息，以及关于不良像素区域的压缩补偿数据包括关于不良像素区域的标志。
353.编码可以是dct。
354.作为关于不良像素区域的压缩补偿数据的不良像素区域的标志可以包括无损压缩数据。
355.显示装置还可以包括：第一存储器，该第一存储器被配置成存储由编码产生的误差信息和不良像素区域的标志；以及第二存储器，该第二存储器被配置成存储通过编码进行处理的正常补偿数据。
356.第二存储器可以不同于第一存储器。
357.显示器还可以包括控制显示面板的驱动的控制器。第一存储器可以位于控制器的外部，并且第二存储器可以是控制器的内部存储器。
358.标志可以包括关于设置在不良像素区域中的至少一个子像素的坐标信息和像素信息。
359.至少一个子像素可以是变暗的子像素、变亮的子像素或使用另一子像素驱动的正常化子像素。
360.可以向至少一个子像素供应与供应给另一子像素的数据电压相同的数据电压。
361.另一子像素可以与至少一个子像素邻近并且具有与至少一个子像素的颜色不同的颜色。替选地，另一子像素可以最邻近于具有与至少一个子像素的颜色相同的颜色的子像素中的至少一个子像素。
362.压缩模块可以在编码之前执行采样，其中，采样包括从显示面板中的每批多个单位像素区域中采样一个或更多个像素，以及从由补偿模块生成的补偿数据中提取关于所采样的一个或更多个像素的补偿数据。
363.正常区域可以是具有更多低频成分的区域，并且固定图案区域可以是具有更多高频成分的区域。
364.正常区域可以包含比高于第一频率的第二频率的补偿数据成分更多的第一频率的补偿数据成分。固定图案区域可以包含比具有第一频率的补偿数据成分更多的具有第二频率的补偿数据成分。
365.编码可能引起第二频率的数据成分的损失。
366.包括在关于固定图案区域的补偿数据中的关于子像素的补偿值的相关系数可以低于包括在关于正常区域的补偿数据中的关于子像素的补偿值的相关系数。
367.固定图案区域可以是单个图像在其中连续显示预定时间或更多时间的区域。
368.实施方式中的一个可以提供一种补偿数据压缩方法，包括：生成关于设置在正常区域、固定图案区域和不良像素区域中的子像素的补偿数据；通过对补偿数据进行压缩来生成压缩补偿数据；以及存储压缩补偿数据。
369.压缩补偿数据可以包括关于正常区域的压缩补偿数据、关于固定图案区域的压缩补偿数据以及关于不良像素区域的压缩补偿数据。
370.关于正常区域的压缩补偿数据包括通过编码进行处理的正常补偿数据，关于固定图案区域的压缩补偿数据可以包括通过编码进行处理的固定补偿数据和由编码产生的误差信息，以及关于不良像素区域的压缩补偿数据包括关于不良像素区域的标志。
371.编码可以是dct。
372.作为关于不良像素区域的压缩补偿数据的不良像素区域的标志可以是无损压缩数据。
373.包括在关于固定图案区域的补偿数据中的关于子像素的补偿值的相关系数可以低于包括在关于正常区域的补偿数据中的关于子像素的补偿值的相关系数。
374.实施方式可以提供一种补偿系统，包括：补偿模块，该补偿模块生成关于设置在正常区域、固定图案区域和不良像素区域中的多个子像素中的子像素的补偿数据；以及压缩模块，该压缩模块通过对补偿数据进行压缩来生成压缩补偿数据。
375.压缩补偿数据可以包括关于正常区域的压缩补偿数据、关于固定图案区域的压缩补偿数据以及关于不良像素区域的压缩补偿数据。
376.关于正常区域的压缩补偿数据可以包括通过编码进行处理的正常补偿数据，关于固定图案区域的压缩补偿数据可以包括通过编码进行处理的固定补偿数据和由编码产生的误差信息，以及关于不良像素区域的压缩补偿数据可以包括关于不良像素区域的标志。
377.作为关于不良像素区域的压缩补偿数据的不良像素区域的标志可以是无损压缩数据。
378.实施方式中的一个可以提供一种补偿系统，包括：显示面板，该显示面板包括多个子像素；补偿模块，该补偿模块被配置成生成关于设置在正常区域、固定图案区域和不良像素区域中的多个子像素中的子像素的补偿数据；以及压缩模块，该压缩模块被配置成通过对补偿数据进行压缩来生成压缩补偿数据。
379.压缩补偿数据可以包括关于正常区域的正常补偿数据、关于固定图案区域的固定补偿数据以及关于不良像素区域的标志。
380.压缩模块可以通过以不同方式对正常补偿数据、固定补偿数据和标志进行压缩来生成压缩补偿数据。
381.正常补偿数据可以由dct压缩。
382.该标志可以以无损状态被包括在压缩补偿数据中。
383.如以上所阐述的，根据实施方式，显示装置、补偿系统和补偿数据压缩方法可以减少补偿数据的量。
384.根据实施方式，补偿系统和补偿数据压缩方法可以防止由补偿数据的压缩引起的图像异常和余像。
385.根据实施方式，显示装置、补偿系统和补偿数据压缩方法可以以区域特定的方式不同地压缩补偿数据。
386.已经呈现了以上描述以使本领域的任何技术人员能够制造和使用本发明的技术构思，并且已经在特定应用及其要求的背景下提供了以上描述。对所描述的实施方式的各种修改、添加和替换对于本领域技术人员而言将是明显的，并且在不脱离本发明的精神和范围的情况下，本文中限定的一般原理可以应用于其他实施方式和应用。仅出于说明目的，上面的描述和附图提供了本发明的技术构思的示例。也就是说，所公开的实施方式旨在示出本发明的技术构思的范围。因此，本发明的范围不限于所示的实施方式，而是与与权利要求一致的最宽范围相一致。本发明的保护范围应当基于所附的权利要求来解释，并且在其等同范围内的所有技术构思都应当被解释为包括在本发明的范围内。