一种显示屏Array多通道实现通断性测量的系统的制作方法

本技术实施例涉及电子测量仪器领域，尤其涉及一种显示屏array多通道实现通断性测量的系统。

背景技术：

1、随着新型显示屏各个器件技术的进步，对显示屏器件的研发和生产过程中的测试设备也在不断提出新的需求，以满足新型显示屏器件的品质。其中的一项就是“针对array的巨量通道进行通断性测量”，该项测量要求实现4000+个以上的被测通道数量，在5ms以内的单笔测量时间以及小于5秒的总测量时间，电阻测量范围要求500欧姆～10m欧姆，测量精度要求达到量程范围的0.5％。除以上指标外，还需要能够对被测array端子任意编程进行选通测量，以实现不同通道之间的绝缘性测试。

2、请参考图1，图1为传统的多通道电阻测量系统结构。这种四线开尔文结构技术成熟，精度高，可以运用在一到数十个通道的测量，但是并不适合上千个通道的快速测量。首先是对于上千个通道的开关矩阵和连接端子，很难在一个pcba中完全集成实现，必须采用多个卡槽的方案。而针对要求被测端任意组合的场合，需要在不同卡槽之间建立测试连接关系，不同卡槽间的地线干扰就会对测试精度带来影响。其次，对于高速测量要求，还需要采用多个表头并联测试才能够达到速度目标，这样一来卡槽间的连接关系就更加复杂，更复杂的设计一方面带来成本的增加，同时也会降低系统的可靠性，进而降低系统在新一代显示array的通道通断性测量的效率。

技术实现思路

1、本技术公开了一种显示屏array多通道实现通断性测量的系统，用于提高在新一代显示array的通道通断性测量的效率。

2、本技术提供了一种显示屏array多通道实现通断性测量的系统，包括：

3、背板单元和测卡单元；

4、背板单元包括处理器单元和供电单元；

5、背板单元上设置有测卡卡槽；

6、测卡单元安装在测卡卡槽上；

7、测卡单元包括测量端子、驱动采样及选通阵列、前置放大阵列和adc阵列；

8、测量端子与驱动采样及选通阵列连接，测量端子用于测量信号；

9、驱动采样及选通阵列与前置放大阵列连接；

10、前置放大阵列与adc阵列连接，adc阵列用于将信号传输到背板单元的处理器单元上。

11、可选地，测卡单元的测量端子包括第一端子do-a和第一电阻；

12、测卡单元的驱动采样及选通阵列包括采样选通-a模块；

13、测卡单元的前置放大阵列包括第一放大器；

14、测卡单元的adc阵列包括第一adc模块；

15、第一端子do-a与待测负载rx_ab的第一端连接；

16、第一端子do-a分别与采样选通-a模块的spn-接口、第一电阻的第一端和第一放大器的负极接口连接；

17、第一电阻的第二端分别与采样选通-a模块的spn+接口和第一放大器的输出接口连接；

18、第一adc模块的out接口与第一放大器的正极接口连接；

19、第一adc模块的int1接口、int2接口、int3接口和a_slt接口与背板单元上的处理器单元连接，第一adc模块的int4接口接地；

20、可选地，测卡单元的测量端子还包括第二端子do-b和第二电阻；

21、测卡单元的驱动采样及选通阵列还包括采样选通-b模块；

22、测卡单元的前置放大阵列还包括第二放大器；

23、测卡单元的adc阵列还包括第二adc模块；

24、第而端子do-b与待测负载rx_ab的第二端连接；

25、第二端子do-b分别与采样选通-b模块的spn-接口、第二电阻的第一端和第二放大器的负极接口连接；

26、第二电阻的第二端分别与采样选通-b模块的spn+接口和第二放大器的输出接口连接；

27、第二adc模块的out接口与第二放大器的正极接口连接；

28、第二adc模块的int1接口、int2接口、int3接口和b_slt接口与背板单元上的处理器单元连接，第二adc模块的int4接口接地。

29、可选地，测卡单元的驱动采样及选通阵列包括mux64 to 2-a模块和mux64to 2-b模块；

30、测卡单元的前置放大阵列包括da-a放大器和da-b放大器；

31、测卡单元的adc阵列包括adc-a模块和adc-b模块；

32、mux64 to 2-a模块上有64个spn+接口，64个spn+接口对应驱动运放的输出；

33、mux64 to 2-b模块上有64个spn-接口，64个spn-接口对应输出端子；

34、da-a放大器的第一输入口与mux64 to 2-a模块的spa+输出口连接；

35、da-a放大器的第二输入口与mux64 to 2-b模块的spa-输出口连接；

36、da-b放大器的第一输入口与mux64 to 2-a模块的spb+输出口连接；

37、da-b放大器的第二输入口与mux64 to 2-b模块的spb-输出口连接；

38、da-a放大器的第一输出口和第二输出口与adc-a模块连接；

39、da-b放大器的第一输出口和第二输出口与adc-b模块连接。

40、可选地，da-a放大器和da-b放大器为差分放大器。

41、可选地，背板单元包括还包括通信接口单元。

42、可选地，通信接口单元为以太网口。

43、可选地，通信接口单元为iic接口。

44、可选地，通信接口单元为串行接口。

45、可选地，背板单元上设置有至少两个测卡卡槽，系统包括至少两个测卡单元。

46、从以上技术方案可以看出，本技术实施例具有以下优点：

47、本技术中，显示屏array多通道实现通断性测量的系统具体包括背板单元和测卡单元。其中，背板单元包括处理器单元和供电单元。背板单元上设置有测卡卡槽。测卡单元安装在测卡卡槽上。测卡单元包括测量端子、驱动采样及选通阵列、前置放大阵列和adc阵列。测量端子与驱动采样及选通阵列连接，测量端子用于测量信号。驱动采样及选通阵列与前置放大阵列连接。前置放大阵列与adc阵列连接，adc阵列用于将信号传输到背板单元的处理器单元上。

48、通过处理器单元处理整个测试过程的调度管理以及与上位机的通讯。以及供电单元负责整个系统的电源和高精度的参考电压共给，通过测卡卡槽，提供给各个测卡单元安装位置，使得测卡单元受到处理器单元的控制。

49、而测量端子、驱动采样及选通阵列、前置放大阵列和adc阵列这几个部分，则是用于测量信号以及采集信号。其中测量端子是测量信号的引出插座。驱动采样及选通阵列是本技术的核心，负责每个端子的电压测量信号的选择与驱动输出、电流信号的采样、以及每路采样信号对前置放大阵列的选通等功能；前置放大阵列负责选通后的每路电流信号采样输出的隔离及放大，并将放大后的信号传输给adc阵列。最后通过adc阵列中包含了多个高精度的adc单元，可以并行操作，提高了系统在新一代显示array的通道通断性测量的效率。