一种具备NFC测试的屏幕测试装置的制作方法

文档序号:36076515发布日期:2023-11-18 00:16阅读:50来源:国知局
一种具备NFC测试的屏幕测试装置的制作方法

本技术涉及屏幕测试,尤其涉及一种具备nfc测试的屏幕测试装置。


背景技术:

1、nfc是“near field communication”的简写,即“近场通信”,是一种短距离无线通信技术,有效传输距离不超过10厘米。近些年随着移动设备nfc技术普及,nfc技术广泛应用于电子支付/交通卡/门禁/eid领域。nfc电子支付的原理是通过移动设备nfc功能模拟银行卡、绑定支付宝微信等功能实现支付功能。nfc电子支付对比现有的扫描支付的优点在于不依赖网络,支付过程仅仅通过nfc轻轻接触即可。nfc交通卡的原理是模拟实体交通卡。

2、随着nfc技术的迭代以及屏幕制造成本的考虑,移动设备的nfc模块逐渐集成在显示模组里面,特别是手表屏,nfc线圈就贴在屏幕的背面。传统的屏幕测试设备根本就没有办法测试屏幕nfc功能,假如屏幕里面集成的nfc线圈不测试就直接装机出货就会出现某些nfc功能异常的终端移动设备。因此,模组生产商急需具备nfc测试的屏幕测试设备。

3、因此,现有技术存在缺陷,需要改进。


技术实现思路

1、本实用新型要解决的技术问题是:提供一种具备nfc测试的屏幕测试装置,在对屏幕进行测试的同时对nfc线圈进行测试,节约测试时间,提升测试效率。

2、本实用新型的技术方案如下:提供一种具备nfc测试的屏幕测试装置,其特征在于,包括:mcu,分别与所述mcu连接的dc-dc电路、ldo电路、nfc检测电路、fpga、电流&电压检测电路;所述nfc检测电路包括:adc芯片,与所述adc芯片连接的输出电路;所述输出电路用于与被测屏幕的nfc模块连接实现nfc测试。所述dc-dc电路用于提供屏幕所需的电压(可调),从而可适应不同的屏幕;所述ldo电路提供屏幕所需的固定电压(不可调),如1.8v、3.3v等;所述nfc检测电路用于检测集成在屏幕中的nfc线圈的开断路情况;所述电流&电压检测电路用于实时监测屏幕的电流和电压;所述fpga用于提供点亮屏幕所需的rgb信号/mipi信号波形。

3、进一步地,所述具备nfc测试的屏幕测试装置,还包括:与所述mcu连接的spi接口和/或i2c接口。所述spi接口和/或i2c接口用于提供屏幕触摸功能通信所需的spi/i2c接口,另外,提供spi或qspi接口的屏幕点亮所需的图片数据波形。

4、进一步地,所述adc芯片的型号为:ad5941。

5、进一步地,所述mcu的型号为:stm32f446rct6。

6、进一步地,所述具备nfc测试的屏幕测试装置,还包括:分别与所述mcu连接的按键、设备显示屏。所述按键用于给mcu输入控制指令,所述设备显示屏用于显示具备nfc测试的屏幕测试装置检测到的信息。

7、采用上述方案,本实用新型提供一种具备nfc测试的屏幕测试装置,具有以下技术效果:具备传统屏幕测试功能,显示测试功能、触摸划线功能等。同时具备检测nfc开路、短路功能,无需另外费时费力再多一道检测工序专门检测nfc功能,有效提升总成屏幕生产效率。内置显示屏幕以及电流电压检测模块,与nfc检测电路构成一个完美的测试平台。



技术特征:

1.一种具备nfc测试的屏幕测试装置,其特征在于,包括:mcu,分别与所述mcu连接的dc-dc电路、ldo电路、nfc检测电路、fpga、电流&电压检测电路;所述nfc检测电路包括:adc芯片,与所述adc芯片连接的输出电路;所述输出电路用于与被测屏幕的nfc模块连接实现nfc测试。

2.根据权利要求1所述的一种具备nfc测试的屏幕测试装置,其特征在于,还包括:与所述mcu连接的spi接口和/或i2c接口。

3.根据权利要求1所述的一种具备nfc测试的屏幕测试装置,其特征在于,所述adc芯片的型号为:ad5941。

4.根据权利要求1所述的一种具备nfc测试的屏幕测试装置,其特征在于,所述mcu的型号为:stm32f446rct6。

5.根据权利要求1所述的一种具备nfc测试的屏幕测试装置,其特征在于,还包括:分别与所述mcu连接的按键、设备显示屏。


技术总结
本技术公开一种具备NFC测试的屏幕测试装置,包括:MCU,分别与所述MCU连接的DC‑DC电路、LDO电路、NFC检测电路、FPGA、电流&电压检测电路;所述NFC检测电路包括:ADC芯片,与所述ADC芯片连接的输出电路;所述输出电路用于与被测屏幕的NFC模块连接实现NFC测试。本技术具备传统屏幕测试功能,显示测试功能、触摸划线功能等。同时具备检测NFC开路、短路功能,无需另外费时费力再多一道检测工序专门检测NFC功能,有效提升总成屏幕生产效率。内置显示屏幕以及电流电压检测模块,与NFC检测电路构成一个完美的测试平台。

技术研发人员:韦文勇,齐斌斌,何海生,何栢根
受保护的技术使用者:深圳市创元微电子科技有限公司
技术研发日:20230512
技术公布日:2024/1/15
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1