一种基于聚类处理的Demura方法及显示装置与流程

本申请涉及图像处理领域，特别是涉及基于聚类处理的demura方法及显示装置。

背景技术：

1、显示不均匀，即mura现象是如今显示面板制造工艺的一个潜在副效应。显示面板通常由粘合在一起的多个材料和基底层组成。几乎不可能每次都以绝对的精度将所有这些层粘合起来；各种接缝、迁移物、污染物、气泡或其他瑕疵可能会悄悄潜入；再者，同一部件的不同体质也会造成mura现象；举例来说，oled显示面板具有高对比度、超轻薄、可弯曲等诸多优点，但是，亮度均匀性是它目前需要面临的两个主要难题，例如不同位置的tft(thinfilm transistor，薄膜晶体管)在诸如阈值电压、迁移率等电学参数上具有非均匀性，这种非均匀性会转化为oled显示器件的电流差异和亮度差异，即出现通常所说的mura现象。为了改善mura现象，通常需要对显示面板的像素驱动过程进行补偿。其中，demura方法是通过计算得到mura补偿值，其被广泛地用于消除显示面板的mura现象，例如在常用的demura方法是将显示面板的有效显示区域分割为多个模块，例如分割为2*2、4*4、8*8或者16*16等像素大小的模块，计算得到每个模块的mura补偿值并存储于外部闪存中，在显示阶段，从闪存中读取各个模块的mura补偿值，进行像素补偿。对此，由于模块数量较多，计算得到所有模块的补偿数据的运算量较大，则对闪存等存储空间的要求较大，也不利于改善像素补偿的实时性。例如专利cn 113963663 a是基于宏块的概念对显示面板进行划分，并用区域内的像素色度平均值作为该区域的所有像素的色度值。这种方法虽然在空间上节省了空间，但损失了像素mura补偿值的精度，从而一定程度上降低了补偿的效果。其它已有算法亦有对于聚类在demura存储上的尝试，例如专利cn 109672451 a，但由于基于pca主成分分析法对mura补偿值进行降级，因此仍存在丧失精度，降低补偿效果的问题。

技术实现思路

1、为了解决以上技术问题，本发明提供了一种基于聚类处理的demura方法，包括：s10：将显示面板的一像素单元作为起始像素单元，从起始像素单元向外辐射，由近及远依次计算外围像素单元与起始像素单元的mura补偿值差值；s20：将与起始像素单元的mura补偿值差值小于或等于预设mura补偿值阈值的像素单元划分为同一类目区域，分配该类目区域的id，并获得该类目区域的外围边界像素单元的位置信息、类目区域的mura补偿值和预设mura补偿值阈值；s30：从显示面板的未划分类目区域的像素单元中选择一像素单元作为起始像素单元继续进行上述步骤s10至s20操作，直至所有像素单元均划分类目区域完毕；s40：存储各类目区域的外围边界像素单元的位置信息及对应类目区域的mura补偿值。

2、本发明还提供了一种上述demura方法进行mura补偿值计算及显示的显示装置。

3、本发明的基于聚类处理的demura方法无损节省空间，由于对一类目区域只记录了类目区域id和边缘点位置信息，就囊括了该类目区域范围内所有点所需要的mura补偿值。预设mura补偿值阈值=0时，该算法记录的就是无精度损失的mura补偿值，在保留完整图像信息的同时，节省了mura补偿值的存储空间。

4、进一步的，同时获取类目区域的mura补偿值与边缘像素单元位置信息，本方法在进行类别区域标记的同时，对类目区域边缘的点进行了判断标记。从而使得该算法区别于传统的图像分割或图像聚类算法。

5、进一步的，可调整性与灵活性，由于存储空间与精度可以通过调整起始像素单元与周边像素单元的允许的预设mura补偿值阈值，即冗余差异值β，进行调节。从而在允许的精度范围内进一步大量地减少了需要的存储空间。这种可调节性具有非常强的实用性。即该方法在(1)针对不同的mura补偿值精度需求时，可以对存储进行相应的调节，以实现最高的精度/存储比。(2)当mura补偿值的存储空间一定时，可通过β的自适应调节来获取满足存储条件的mura补偿值划分区域信息（id，mura补偿值、边缘点位置信息）、从而使得本方法在实际应用时更加地灵活，在针对固定存储flash生产时，使得存储成本更加可控。

技术特征：

1.一种基于聚类处理的demura方法，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的demura方法，其特征在于，所述类目区域的mura补偿值为根据该类目区域内像素单元的mura补偿值加权得到的mura补偿值。

3.如权利要求2所述的demura方法，其特征在于，还包括步骤：调整预设mura补偿值阈值，继续进行步骤s10至s40。

4.如权利要求1所述的demura方法，其特征在于，所述从起始像素单元向外辐射的方法为：

5.如权利要求1所述的demura方法，其特征在于，所述从起始像素单元向外辐射的方法为：

6.如权利要求1所述的demura方法，其特征在于，

7.如权利要求1所述的demura方法，其特征在于，还包括步骤：根据显示面板的显示精度调整预设mura补偿值阈值或根据存储空间进行阈值自适应调整，调整到符合存储容量的最小值，继续进行步骤s10至s40。

8.如权利要求1所述的demura方法，其特征在于，还包括：

9.一种利用权利要求1至8任意一项所述的demura方法进行mura补偿值计算及显示的显示装置。

技术总结
本发明提供了一种基于聚类处理的Demura方法及显示装置，包括：S10：将显示面板的一像素单元作为起始像素单元，从起始像素单元向外辐射，由近及远依次计算外围像素单元与起始像素单元的Mura补偿值差值；S20：将与起始像素单元的Mura补偿值差值小于或等于预设Mura补偿值阈值的像素单元划分为同一类目区域，分配该类目区域的ID，并获得该类目区域的外围边界像素单元的位置信息、类目区域的Mura补偿值和预设Mura补偿值阈值，该算法记录无精度损失的Mura补偿值，在保留完整图像信息的同时，节省了Mura补偿值存储的空间。

技术研发人员：高蓉,覃正才,李洋
受保护的技术使用者：欣瑞华微电子（上海）有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/4/7