专利名称：提高成像质量的刑侦痕迹鉴定专用线光源的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种刑侦痕迹鉴定工具，具体地说是一种提高成像质量的刑侦痕迹鉴定专用线光源。
背景技术：
刑侦痕迹鉴定通常是对数个具有特征痕迹的检材，分析确定是否属于同一主体所为。刑侦痕迹中有很多属于线条状痕迹如钳剪痕迹、擦划痕迹及子弹的来复线痕迹等，对其鉴定普遍使用定向的点状光源作为照明设备来显现痕迹特征。点状光源具有两个明显的缺点调节困难和照明难以实现标准化。
点状光源属于定向光，其光线方向对于痕迹的成像效果影响很大，为了获得理想的痕迹图像，需要反复仔细调节，由于三维空间的方向有两个自由度，其调节工作量大，一旦改变检材或显微镜的放大倍数、移动设备等，需要重新调节光源的方向。
不同检材进行鉴定时要求光源的照明方向相同，这样两者的痕迹图像才具有可比性，照明方向偏差大小直接影响鉴定结果，但由于线条状痕迹方向与点光源方向间的关系难以定量确定，因而两个检材的痕迹图像的照明条件难以做到相同，也就是难以实现痕迹照明的标准化。
发明内容本实用新型的目的是针对以上不足之处，提供一种结构简单、成像稳定，调节简单方便的提高成像质量的刑侦痕迹鉴定专用线光源。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是将线光源设置在光源位置调节架上。使用时，只需稍微调整光源位置调节架就能获得高质量的成像。
本实用新型的提高成像质量的刑侦痕迹鉴定专用线光源和现有技术相比，具有调节容易，痕迹特征显现效果好的特点，也容易做到两个检材的照明条件相同从而实现痕迹照明的标准化。不存在方向的凋节问题，容易实现光源位置的定量化，大大减轻了调节的工作量，并且成像稳定，光源位置对图像特征显现的差异减小，由于痕迹线条方向与线光源方向一致，其痕迹显现图像效果明显优于点光源照明。
以下结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。
附图1为提高成像质量的刑侦痕迹鉴定专用线光源的结构示意图；附图2为图1的俯视图。
具体实施方式
参照说明书附图对本实用新型的提高成像质量的刑侦痕迹鉴定专用线光源作以下详细地说明。
本实用新型的提高成像质量的刑侦痕迹鉴定专用线光源，其结构是由光源位置调节架1和线光源2构成，光源位置调节架1上设置有线光源2。
本实用新型的提高成像质量的刑侦痕迹鉴定专用线光源其加工制作非常简单方便，按说明书附图所示加工制作即可。
除说明书所述的技术特征外，均为本专业技术人员的已知技术。
权利要求1.提高成像质量的刑侦痕迹鉴定专用线光源，包括光源位置调节架和线光源，其特征在于光源位置调节架上设置有线光源。
专利摘要本实用新型提供一种提高成像质量的刑侦痕迹鉴定专用线光源，属于刑侦痕迹鉴定工具，其结构是由光源位置调节架和线光源构成，光源位置调节架上设置有线光源。本实用新型的提高成像质量的刑侦痕迹鉴定专用线光源和现有技术相比，具有设计合理、结构简单、使用方便、提高成像质量、成像稳定等特点，因而，具有很好的推广使用价值。
文档编号G03F7/20GK2638055SQ0327153
公开日2004年9月1日 申请日期2003年8月19日 优先权日2003年8月19日
发明者司书春, 王蕴珊, 李健 申请人:李宇兵