光学扫描设备的制作方法
【专利摘要】本发明涉及一种光学扫描设备。光学扫描设备包括配第一和第二光源，其被配置为分别发出第一和第二光束；偏转器，其具有反射第一光束和第二光束的反射面，并且被配置为在主扫描方向上偏转第一光束和第二光束；以及成像透镜，其被配置为使第一光束和第二光束通过，并且在偏转器的反射面上形成第一光束和第二光束的像。成像透镜具有：第一入射面，第一光束以直角进入第一入射面；第二入射面，第二光束以直角进入第二入射面；第一出射面，第一光束从第一出射面离开；以及第二出射面，第二光束从第二出射面离开。
【专利说明】光学扫描设备
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求2013年2月21日提交的日本专利申请N0.2013-032128的优先权，其全部内容在此引入以供参考。
【技术领域】
[0003]本发明涉及光学扫描设备，并且更具体地说，涉及能通过少量部件变得紧凑化并且具有改进的光学性能的光学扫描设备。
【背景技术】
[0004]诸如激光打印机的成像设备配备有光学扫描设备,其中,在感光体的表面(待扫描的表面)上，扫描从光源照射并且由诸如多面镜的偏转器偏转的激光，用于曝光在其上形成静电潜像的感光体。
[0005]此外，在执行彩色打印的成像设备的情况下，对应于通过多种颜色的打印，提供多个光源。如在日本专利申请公开N0.2009-69178中所公开的，为减少光学扫描设备的部件数，已知从两个光源照射的两个光束通过一个成像透镜并且进入一个偏转器的布置。在日本专利申请公开N0.2009-69178中公开的布置中，两个光束相互成一角度，并且倾斜地进入成像透镜的透镜表面。
【发明内容】
[0006]然而，当光束倾斜地进入成像透镜的入射面时，如在日本专利申请公开N0.2009-69178中公开的光学扫描设备中，像差变大并且焦深变小，由此使得不能高精度地形成像。
[0007]鉴于上述情况，已经做出了本发明，并且本发明的目的是提供能通过少量部件使得紧凑化并且具有改进的光学性能的光学扫描设备。
[0008]根据本发明的方面，提供一种光学扫描设备，包括:第一光源，其被配置为发出第一光束；第二光源，其被配置为发出第二光束；偏转器，其具有反射第一光束和第二光束的反射面，并且被配置为在主扫描方向上偏转第一光束和第二光束；以及成像透镜，其被配置为使第一光束和第二光束通过，并且在偏转器的反射面上形成第一光束和第二光束的像，其中，成像透镜具有:第一入射面，当从与主扫描方向正交的副扫描方向看时，第一光束以直角进入第一入射面；第二入射面，其相对于第一入射面在主扫描方向上并排地布置，并且当从副扫描方向看时，第二光束以直角进入第二入射面；第一出射面，第一光束从第一出射面离开；以及第二出射面，其相对于第一出射面在主扫描方向上并排地布置，并且当从副扫描方向看时，第二出射面与第一出射面成一角度，并且第二光束从第二出射面离开。
[0009]根据本发明的该方面的光学扫描设备，由于从第一光源发出的第一光束和从第二光源发出的第二光束进入一个成像透镜并且在偏转器的同一反射面上形成像，可以减少成像透镜的部件的数量。此外，由于与使用两个成像透镜的情形相比，可以使第一光束和第二光束更近，所以能够使光学扫描设备紧凑化。此外，由于第一光束以直角进入第一入射面，并且第二光束以直角进入第二入射面，可以使像差小且高精度地形成像。
[0010]第一入射面可以具有在副扫描方向上会聚第一光束的屈光力(refractivepower)，并且第二入射面可以具有在副扫描方向上会聚第二光束的屈光力。
[0011]通过将屈光力赋予光束的一个所进入的入射面的每一个，与将屈光力主要赋予出射面的每一个的情形相比，可以使像差小。
[0012]第一入射面可以是向第一光源凸出的圆柱面，并且第二入射面可以是向第二光源凸出的圆柱面。
[0013]根据这种布置，制作成像透镜变得容易。
[0014]相对于副扫描方向，第一光源和第二光源可以布置在不同的位置，并且相对于副扫描方向，第一光束进入第一入射面的位置可以不同于第二光束进入第二入射面的位置。
[0015]通过将第一光束进入第一入射面的位置和第二光束进入第二入射面的位置布置在副扫描方向上的不同位置，可以在副扫描方向上分离由偏转器偏转的光。
[0016]当从主扫描方向看时，进入第一入射面的第一光束的光轴可以平行于进入第二入射面的第二光束的光轴。
[0017]根据这种布置，易于布置光源，并且可以将第一光源的发光元件和第二光源的发光元件布置在共用电路板上。
[0018]当从副扫描方向看时，第一入射面和第二入射面可以成一角度，第一入射面可以平行于第一出射面，并且第二入射面可以平行于第二出射面。
[0019]根据这种布置，由于当从副扫描方向看时，光束的每一个以直角从出射面的一个离开，可以使像差进一步更小。
[0020]当从副扫描方向看时，第一入射面可以平行于第二入射面。
[0021]根据这种布置，由于可以将光源并排布置为指向同一方向，可以将光源并排布置为垂直于以平板状形式的电路板，并且布置变得简单。
[0022]第一入射面和第二入射面可以被配置为形成连续圆柱面。
[0023]通过以这种方式布置第一入射面和第二入射面，变得易于制作成像透镜。
[0024]第一光源和第二光源的至少一个可以被配置为发出多个光束。
[0025]根据本发明，可以通过使部件数少，使得光学扫描设备紧凑化，并且还可以实现改进的光学性能。
【专利附图】
【附图说明】
[0026]图1是根据本发明的第一实施例的光学扫描设备的平面图。
[0027]图2是沿图1中的线I1-1I所做的截面图。
[0028]图3是偏转器和图1中的入射光学系统中的一个的放大视图。
[0029]图4A是当从光入射侧看成像透镜时的透视图，并且图4B是当从光出射侧看成像透镜时的透视图。
[0030]图5是沿图4A中的成像透镜的线V-V所做的截面图。
[0031]图6A是示出第一光源、准直透镜、多面镜的布置的图，并且是沿图4A中的成像透镜的线VIA-VIA的截面图，并且图6B是示出第二光源、准直透镜、多面镜的布置的图，并且是沿图4A中的成像透镜的线VIB-VIB的截面图。
[0032]图7A是当从光入射侧看第二实施例中的成像透镜时的透视图，并且图7B是当从光出射侧看第二实施例中的成像透镜时的透视图。
[0033]图8A是第二实施例中的成像透镜的主扫描方向上的截面图，并且图8B是第二实施例中的成像透镜的副扫描方向上的截面图。
[0034]图9是示出第二实施例中的光源、准直透镜、成像透镜和偏转器的布置的平面图。
[0035]图1OA是当从光出射侧看多光束半导体激光器时的图，并且图1OB是使用多光束半导体激光器的入射光学系统的平面图。
【具体实施方式】
[0036][第一实施例]
[0037]接着，在下文中，将参考附图，详细地描述本发明的第一实施例。如图1和2所示，光学扫描设备I包括布置在壳体60中的入射光学系统Al、作为偏转器的例子的多面镜30、f Θ透镜41、柱面透镜42，以及反射镜51和52。光学扫描设备I被用在通过使用四种颜色，即青、黄、品红和黑色，来实现彩色打印的电子照相彩色打印机中，并且对应于经受通过光学扫描设备I的扫描曝光的四个感光鼓D(参见图2)，从入射光学系统Al发出四个光束，即第一光束L1、第二光束L2、第三光束L3和第四光束L4 (在下文中，“第一光束LI至第四光束L4)。多面镜30具有在与旋转中心等距的位置处提供的多个反射面31。在该实施例中，作为例子，提供六个反射面31。第一光束LI至第四光束L4入射在多面镜30的反射面31上，并且在基本上与图1的纸表面平行的平面中，在主扫描方向上偏转。
[0038]在下述描述中，“主扫描方向”是与光束的传播方向正交的方向，并且是被偏转器偏转的光束所在的方向。即使“主扫描方向”是空间上不同的方向，也将与光束一起用作参考。“副扫描方向”是与光束的传播方向和主扫描方向两者正交的方向。此外，在下述描述中，向上、向下、向前、向后、向左、向右被定义为在图1和2的每一个所示的状态中的向上、向下、向前、向后、向左、向右，与实际使用时的向上、向下、向前、向后、向左、向右无关。
[0039]当从副扫描方向看时，第一光束LI的光轴和第二光束L2的光轴相互不平行并产生一角度，使得第一光束LI和第二光束L2入射在多面镜30的同一反射面31上。此外，如图1和2所示，第一光束LI和第二光束L2在通过共用的f Θ透镜41后在分别提供的反射镜51和52上反射，并且在通过柱面透镜42后分别导向感光鼓D。
[0040]光学扫描设备I的每一光学元件布置成与作为基准的多面镜30的旋转中心两侧对称，并且通过与第一光束LI和第二光束L2两侧对称的路径，使第三光束L3和第四光束L4分别导向到感光鼓D。因此,在入射光学系统Al的下述描述中，将描述仅对应于第一光束LI和第二光束L2的部件，并且将省略对应于第三光束L3和第四光束L4的部件的描述。
[0041]如图3所不,入射光学系统Al包括发出第一光束LI的第一光源10A、发出第二光束L2的第二光源10B，以及第一光束LI和第二光束L2所通过的、并在多面镜30的同一反射面31上形成第一光束LI和第二光束L2的像的成像透镜20。第一光源IOa包括作为发光元件的半导体激光器IIA和准直透镜12A，并且第二光源IOB包括作为发光元件的半导体激光器IlB和准直透镜12B。
[0042]半导体激光器IlA是从一个点光源发出激光的元件，并且被定位并固定到用于定位的基座15。半导体激光器IlB与半导体激光器IlA相同，并且被定位并固定到用于定位的基座15。半导体激光器IlA和半导体激光器IlB被布置成相互成一角度，使得当从副扫描方向看时，所发出的光束的光轴形成一角度并且相互不平行。换句话说，基座15的定位部被布置成与使半导体激光器IlA和IlB彼此平行的状态相比，稍微未对准地支撑半导体激光器IlA和半导体激光器11B。
[0043]准直透镜12A是将从作为点光源的半导体激光器IlA发出的漫射激光转换成基本上平行的光束的透镜。将准直透镜12A布置成使得其光轴与从半导体激光器IlA发出的激光的光轴(中心线)重合。准直透镜12B与准直透镜12A相同，并且与半导体激光器IIA和准直透镜12A的位置关系类似地被布置在半导体激光器IlB的前面。
[0044]为第一光束LI和第二光束L2提供一个成像透镜20。成像透镜20是第一光束LI和第二光束L2通过的透镜。成像透镜20在副扫描方向上将第一光束LI和第二光束L2会聚在多面镜30的反射面31上，并且在反射面31上以在主扫描方向上延伸的线的方式形成像。在该实施例中，将第一光束LI和第二光束L2形成为在反射面31上的重叠位置处的像。如图4A和4B所示，成像透镜20具有第一光束LI通过的第一透镜部21A和第二光束L2通过的第二透镜部21B，第二透镜部21B相对于第一透镜部21A在主扫描方向上并排布置。第一透镜部21A和第二透镜部21B被一体化，并且提供框部25以便绕第一透镜部21A和第二透镜部2IB地与第一透镜部2IA和第二透镜部2IB —体化。通过树脂或玻璃，一体化地形成(模塑)第一透镜部21A、第二透镜部21B和框部25。
[0045]如图4A所示，第一透镜部21A具有第一光束LI进入的第一入射面22A，并且第二透镜部21B具有第二光束L2进入的第二入射面22B。在主扫描方向上，并排地布置第一入射面22A和第二入射面22B。第一入射面22A是向外侧，或换句话说，向第一光源IOA凸出，并且如图6A所示，在沿副扫描方向的截面(与主扫描方向正交的截面)中具有圆弧状的圆柱面。第二入射面22B也具有与第一入射面22A相同的曲率半径，并且是向外侧，或换句话说，向第二光源IOB凸出的圆柱面。如图6B所示，第二入射面22B在沿副扫描方向的截面中也具有圆弧状。换句话说，第一入射面22A和第二入射面22B是具有分别会聚第一光束LI和第二光束L2的屈光力的柱面透镜。此外，第一入射面22A的屈光力和第二入射面22B的屈光力相同。在图4A中，第一入射面22A是具有沿与第一光束LI的入射方向正交的主扫描方向的中心线的圆柱面，并且第二入射面22B是具有沿与第二光束L2的入射方向正交的主扫描方向的中心线的圆柱面。
[0046]此外，如图4B所示，第一透镜部2IA具有第一光束LI从其出射的第一出射面23A，并且第二透镜部2IB具有第二光束从其出射的第二出射面23B。第一出射面23A和第二出射面23B两者是平面。
[0047]如图5所示，第一入射面22A被配置成使得当看沿主扫描方向的截面时(当从副扫描方向看时)，第一光束LI以直角进入第一入射面22A。类似地，第二入射面22B被配置成当看沿主扫描方向的截面时(当从副扫描方向看时)，第二光束L2以直角进入第二反射面22B。换句话说，第一入射面22A和第二入射面22B在沿主扫描方向的截面中(当从副扫描方向看时)不是平行的，并且相互稍微成一角度。
[0048]第一出射面23A在沿主扫描方向的截面中(当从副扫描方向看时)平行于第一入射面22A，并且被配置成使得第一光束LI以直角离开。类似地，第二出射面23B在沿主扫描方向的截面中(当从副扫描方向看时)平行于第二入射面22B，并且被配置成使得第二光束L2以直角离开。换句话说，第二出射面23A和第二出射面23B在沿主扫描方向的截面中(当从副扫描方向看时)不平行，并且相互稍微成一角度。
[0049]如图6A和6B所示，在副扫描方向上，第一光源IOA的位置和第二光源IOB的位置彼此不同。具体地，第一光源IOA被布置成使得第一光束LI的光轴CA相对于在通过第一入射面22k的圆柱面的顶点(最接近图6A的第一光源IOA的部分)的、在光轴方向上的中心线Cl向上偏移。然而，第二光源IOB被布置成使得第二光束L2的光轴CB在通过第二入射面22B的圆柱面的顶点(最接近图6B中的第二光源IOB的部分)的、在光轴方向上相对于中心线C2向下偏移。第一入射面22A在光轴方向上的中心线Cl和第二入射面22B在光轴方向上的中心线C2在垂直方向(副扫描方向)上处于相同位置。
[0050]此外，当从主扫描方向看时，在进入第一入射面22A和第二入射面22B前，第一光束LI的光轴CA和第二光束L2的光轴CB相互平行。因此，第一光束LI在光轴方向上的中心线Cl的上侧的位置进入，并且第二光束L2在光轴方向上的中心线C2的下侧上的位置进入。换句话说，第一光束LI和第二光束L2在夹着成像透镜20的光学中心的彼此相反侧上的位置进入。布置成从成像透镜20离开的第一光束LI略向下倾斜离开，并且从成像透镜20离开的第二光束L2略向上倾斜离开，并且第一光束LI和第二光束L2在多面镜30的反射面31的基本上相同高度的位置入射。此外，由于第一光束LI和第二光束L2相对于成像透镜20的光学中心略倾斜入射地入射，所以通过多面镜30，第一光束LI和第二光束L2在不同方向上反射。
[0051]通过第一光源IOA和第二光源IOB的上述布置，当从副扫描方向看时(见图3)，相互略倾斜半导体激光器IlA和半导体激光器11B。然而，由于当从主扫描方向看时，半导体激光器IlA和半导体激光器IlB相对于垂直方向不倾斜，可以将半导体激光器IlA和IlB布置在一个共用的电路板18上。
[0052]根据如上所述布置的光学扫描设备1，由于从第一光源IOA发出的第一光束LI和从第二光源IOB发出的第二光束L2进入一个成像透镜20，并且形成为多面镜30的同一反射面31上的像，因此，与对每一光束提供单独的成像透镜的情形相比，可以减少成像透镜20的数量。此外，由于与使用单独的成像透镜的情形相比，可以通过使第一透镜部21A和第二透镜部21B更近，来使第一光束LI和第二光束L2更近，因此，可以使光学扫描设备I紧凑化。此外，由于第一光束LI以直角进入第一入射面22A，并且第二光束L2以直角进入第二入射面22B，可以使像差小，并且在反射面31和感光鼓D的表面上高精度地形成像。
[0053]此外，通过屈光力赋予第一光束LI和第二光束L2进入的成像透镜20的表面，与将屈光力主要赋予出射侧的情形相比，可以使像差更小。
[0054]此外，由于第一入射面22A和第二入射面22B是具有向外侧凸出的圆柱面的柱面透镜，因此，制作第一和第二入射面22A和22B是容易的。
[0055]此外，第一光源IOA的位置和第二光源IOB的位置在副扫描方向上不同，并且第一光束LI和第二光束L2进入成像透镜20的位置在副扫描方向上也不同。当从主扫描方向看时，从成像透镜20离开的第一光束LI和第二光束L2相互成一角度地入射在多面镜30的反射面31上。因此，由于可以在副扫描方向上分离在多面镜30上偏转的第一光束LI和第二光束L2,与在主扫描方向上分离光束的情形相比,可以使第一光源IOA和第二光源IOB布置得更近，并且使光学扫描设备I紧凑化。
[0056]此外，通过使第一光束LI的光轴CA和第二光束L2的光轴CB当从主扫描方向看时平行，可以将半导体激光器IlA和半导体激光器IlB布置在共用电路板18上，由此使得易于组装半导体激光器IlA和11B，并且可以利于成本缩减。
[0057]此外，在本实施例的光学扫描设备I中，由于第一入射面22A和第一出射面23A在沿主扫描方向的截面中是平行的，并且第二入射面22B和第二出射面23B在沿主扫描方向的截面中是平行的，可以使像差特别小。
[0058][第二实施例]
[0059]接着，在下文中，将描述本发明的第二实施例。将在第二实施例中，仅描述不同于第一实施例的点。将相同的参考数字指定给与第一实施例中相同的部件，并且将省略这些部件的描述。
[0060]在根据第二实施例的光学扫描设备中，成像透镜的结构和半导体激光器的布置不同于第一实施例中的结构和布置，如图7A和7B所不,在第二实施例中,对第一光束LI和第二光束L2提供一个成像透镜120。成像透镜120具有第一光束LI通过的第一透镜部121A和第二光束L2通过第二透镜部121B，第二透镜部121B相对于第一透镜部121A在主扫描方向上并排布置。第一透镜部121A和第二透镜部121B被一体化，此外，提供框部125以便绕第一透镜部121A和第二透镜部121B地与第一透镜部121A和第二透镜部121B —体化。通过树脂或玻璃，一体化地形成(模塑)第一透镜部121A、第二透镜部121B和框部125。
[0061]如图7A和图8B所示，第一透镜部121A的第一入射面122A和第二透镜部121B的第二入射面122B是向外侧突出的圆柱面(具有作为中心的在主扫描方向上延伸的线的圆柱面)，并且形成为一个连续的圆柱面。因此，第一入射面122A和第二入射面122B具有分别在副扫描方向上会聚第一光束LI和第二光束L2的屈光力。当从副扫描方向看时，第一入射面122A和第二入射面122B具有相同的屈光力并相互平行。
[0062]另一方面，如图7B、图8A和图8B所示，第一透镜部121A的第一出射面123A和第二透镜部121B的第二出射面123B均是平面。此外，如图8A所示，第一出射面123A和第二出射面123B在沿主扫描方向的截面中不平行，而是相互稍微成一角度。因此，第一出射面123A在沿主扫描方向的截面中与第一入射面122A不平行，类似地，第二出射面123B在沿主扫描方向的截面中与第二入射面122B不平行。此外，第一出射面123A在主扫描方向上折射第一光束LI，并且第二出射面123B在主扫描方向上折射第二光束L2。当从主扫描方向和副扫描方向的任何一个看时，在第一光束LI和第二光束L2分别进入第一入射面122A和第二入射面122B前，第一光束LI的光轴和第二光束L2的光轴是平行的。
[0063]如图9所示，第二实施例中的入射光学系统A2包括四个光源，S卩，第一光源10A、第二光源10B、第三光源IOC和第四光源IOD (在下文中，也称为“第一光源IOA至第四光源10D”)。将入射光学系统A2布置成使得分别从第一光源IOA和第二光源IOB发出的第一光束LI和第二光束L2进入一个成像透镜120，并且分别从第三光源IOC和第四光源IOD发出的第三光束L3和第四光束L4进入另一成透镜120。第一光源IOA至第四光源IOD分别具有半导体激光器11A、11B、11C和IlD (在下文中，“半导体激光器IlA至11D”)和准直透镜12A、12B、12C和12D (在下文中，“准直透镜12A至12D”)。
[0064]将两个成像透镜120在主扫描方向上并排地布置为指向同一方向。将第一光源IOA至第四光源IOD布置成使得第一光束L1、第二光束L2、第三光束L3和第四光束L4 (在下文中，“第一光束LI至第四光束L4”)以直角进入两个成像透镜120的入射面。将半导体激光器IlA至IlD在主扫描方向上并排地布置为指向同一方向，并且还将准直透镜12A至12D在主扫描方向上并排地布置为指向同一方向。此外,将四个半导体激光器IlA至IlD提供给以板状形式的一个电路板118。
[0065]根据具有上述布置的光学扫描设备，由于成像透镜120的第一入射面122A和第二入射面122B是连续圆柱面，制作是容易的。此外，由于可以将第一光源IOA和第二光源IOB布置成指向同一方向，可以在一个电路板118上垂直地布置半导体激光器IlA和11B,由此使得易于布置第一光源IOA和第二光源10B，以及使得制作容易。
[0066]上文已经描述了本发明的实施例。然而，本发明不限于上述实施例，并且可以进行适当的改进。
[0067]例如，在实施例中，具有一个发光点的半导体激光器已经被示例为半导体激光器IlA至IlD的每一个。然而，作为图1OA所示的半导体激光器311，可以使用具有多个发光点，诸如两个发光点319A和319B的多光束激光器。在这种情况下，如图1OB所示，已经从一个半导体激光器31IA发出并通过准直透镜12A的第一光束LI和第三光束Lll通过第一透镜部121A，并且从另一半导体激光器311B发出并通过准直透镜12B的第二光束L2和第四光束L21通过第二透镜部121B。其中，由于第一光束LI的光轴和第三光束Lll的光轴基本上平行，可以使两个光束LI和Lll在沿主扫描方向的截面中，以直角进入第一入射面122A，并且由于第二光束L2的光轴和第四光束L21的光轴基本上平行，可以使两个光束L2和L21在沿主扫描方向的截面中，以直角进入第二入射面122B。换句话说，本发明还能适用于将至少一个光源布置成发出多个光束的情形。
[0068]此外，在实施例中，已经将成像透镜形成为组合两个透镜部的一个透镜。然而，可以将成像透镜形成为组合三个或更多透镜部的一个透镜。即使在这种情况下，优选地进行布置，使得当看沿主扫描方向的截面时，三个或以上光束的每一个以直角进入透镜部的入射面的一个，并且出射面在沿主扫描方向的截面中相互成一角度。
[0069]在实施例中，已经将成像透镜形成为使得入射面是向外侧突出的凸出的曲面并且出射面是平面。然而，入射面和出射面可以均是曲面，或入射面可以是平面并且出射面可以是曲面。此外，也可以将衍射透镜用作成像透镜。
【权利要求】
1.一种光学扫描设备，包括: 第一光源，所述第一光源被配置为发出第一光束； 第二光源，所述第二光源被配置为发出第二光束； 偏转器，所述偏转器具有反射所述第一光束和所述第二光束的反射面，并且被配置为在主扫描方向上偏转所述第一光束和所述第二光束；以及 成像透镜，所述成像透镜被配置为使所述第一光束和所述第二光束通过，并且在所述偏转器的所述反射面上形成所述第一光束和所述第二光束的像， 其中，所述成像透镜具有: 第一入射面，当从与所述主扫描方向正交的副扫描方向看时，所述第一光束以直角进入所述第一入射面； 第二入射面，所述第二入射面相对于所述第一入射面在所述主扫描方向上并排地布置，并且当从所述副扫描方向看时，所述第二光束以直角进入所述第二入射面； 第一出射面，所述第一光束从所述第一出射面离开；以及 第二出射面，所述第二出射面相对于所述第一出射面在所述主扫描方向上并排地布置，并且当从所述副扫描方向看时，所述第二出射面与所述第一出射面成一角度，并且所述第二光束从所述第二出射面离开。
2.根据权利要求1所述的光学扫描设备， 其中，所述第一入射面具有在所述副扫描方向上会聚所述第一光束的屈光力，并且 所述第二入射面具有在所述副扫描方向上会聚所述第二光束的屈光力。
3.根据权利要求2所述的光学扫描设备， 其中，所述第一入射面是向所述第一光源凸出的圆柱面，并且 所述第二入射面是向所述第二光源凸出的圆柱面。
4.根据权利要求1所述的光学扫描设备， 其中，相对于所述副扫描方向，所述第一光源和所述第二光源被布置在不同的位置，并且 相对于所述副扫描方向，所述第一光束进入所述第一入射面的位置不同于所述第二光束进入所述第二入射面的位置。
5.根据权利要求4所述的光学扫描设备， 其中，当从所述主扫描方向看时，进入所述第一入射面的所述第一光束的光轴平行于进入所述第二入射面的所述第二光束的光轴。
6.根据权利要求1所述的光学扫描设备， 其中，当从所述副扫描方向看时，所述第一入射面和所述第二入射面成一角度，所述第一入射面平行于所述第一出射面，并且所述第二入射面平行于所述第二出射面。
7.根据权利要求1所述的光学扫描设备， 其中，当从所述副扫描方向看时，所述第一入射面平行于所述第二入射面。
8.根据权利要求7所述的光学扫描设备， 其中，所述第一入射面和所述第二入射面被配置为形成连续圆柱面。
9.根据权利要求1所述的光学扫描设备， 其中，所述第一光源和所述第二光源中的至少一个被配置为发出多个光束。
【文档编号】G03G15/04GK104007551SQ201410060059
【公开日】2014年8月27日 申请日期:2014年2月21日 优先权日:2013年2月21日
【发明者】杉山洋祐 申请人:兄弟工业株式会社