一种光刻胶去膜液的制作方法

文档序号:28858374发布日期:2022-02-11 22:51阅读:320来源:国知局
一种光刻胶去膜液的制作方法

1.本发明属于半导体清洗技术和硅片再生技术领域,具体涉及一种光刻胶去膜液。


背景技术:

2.随着电子信息技术的日新月异,在5g技术和人工智能的带动下游终端电子产品的更新换代速度越来越快,为平板显示、半导体芯片、触控、电路板等电子元器件相关行业带来巨大的市场空间。其中光刻工艺是半导体制程中,图形转让的核心技术,随着图案的精细化趋势,及制程良率的考量,需要在光刻过程中增加监控频率,用测试级硅片来管控光刻设备制程能力是否稳定,机台的工艺是否符合标准,生产产品是否合格。
3.因此在光刻工艺中,测试片需要大量的被使用。为了节约成本,平均每家半导体厂商每年需送大几千甚至上万张wafer到日本进行研磨再生,但研磨的片子寿命短,只能使用2-3次,且运费和研磨费用高。目前针对出口再生价格昂贵,有的半导体厂商用硫酸浸泡方式来去除测试硅片上的光刻胶,但是由于硫酸的碳化作用,会使wafer表面的颗粒数超标,因此急需配置一款能够替代硫酸的有效刻胶去膜液。
4.现有用于去除光刻胶的剝膜液中,主要由极性有机溶剂,碱、氟化物和水组成。如cn107589637a公开了一种含氟化物、有机醇胺、有机溶剂及去离子水的光刻胶清洗液,其对经过高温固化的光刻胶的去除能力差。又如cn 108008606 a公开了一种包含无机碱、有机碱、溶剂、添加剂和水的剝膜液,其中无机碱氢氧化物对测试片硅寸底有极强的腐蚀性。又如cn102540776a公开了一种含有多甲基磷酰胺、链烷醇胺、有机硅聚醚类化合物、炔醇、羟胺和去离子水的剥离液,该剥离液能够快速剥离固化后的光刻胶,但是被剥离的光刻胶大分子不能溶解其中,这便会堵塞机台或管路,因此需要定期清理残留的光刻胶。


技术实现要素:

5.本发明目的之一在于提供了一种光刻胶去膜液,能够用于有效去除固化温度和能量高、固化时间长的测试硅片上的光刻胶,以便再次使用。
6.本发明目的之二在于提供一种光刻胶去膜液,能够将被剥离的高分子凝胶物溶解于去膜液中,从而减小清理机台的负担。
7.为实现上述目的,本发明技术方案提供一种光刻胶去膜液,其含有机碱、碱性氨基酸、有机溶剂、非离子表面活性剂和去离子水。有机碱的含量为5%~20%、碱性氨基酸的含量为1%~5%、有机溶剂的含量为20%-50%、非离子表面活性剂的含量为0.1%-1%,余量为去离子水。
8.其中,所述的有机碱为乙胺、三乙胺、乙二胺、单乙醇胺、二乙醇胺、三乙醇胺、异丙醇胺中的至少一种。
9.所述的碱性氨基酸为2-氨基-5-胍基戊酸,2,6-二氨基己酸、组氨酸中的至少一种。
10.所述的有机溶剂为环丁砜、二甲基亚砜、二乙基亚砜、nmp、pgme、pgmea中的至少一
种。
11.所述的非离子表面活性剂为xp80、xp90、xp100中的至少一种。
12.本发明的技术方案中,有机碱与碱性氨基酸协同作用,浸透入光刻胶与膜之间的界面层,使得光阻皱缩,有机溶剂使光阻膨胀泡发剥离,非离子表面活性剂的加入增强了溶液的浸润性,同时使得去膜液渗透到光刻胶的高分子基质中,从而破坏了分子间的引力,使被剥落的光刻胶迅速的溶解成细微的单分子物质。所述的光刻胶去膜液,用于去除生产测试硅片上的光刻胶,尤其能够去除高温固化后的光刻胶,以便硅片再次使用。所述的光刻胶去膜液,用于去除生产测试硅片上的光刻胶,尤其能够去除高温固化后的光刻胶,以便硅片再次使用。
13.本发明的优点和有益效果在于:在本发明中,光刻胶去膜液通过引入碱性氨基酸与非离子表面活性剂,增强了药液的渗透性和浸润性,从而使其能够剥离高温固化的难溶光刻胶,且能够将被剥离的高分子凝胶物溶解其中。
附图说明
14.图1为实施例中光刻胶溶解的效果图,a为全溶,b为不溶解的情况。
具体实施方式
15.为了更好地理解本发明,下面结合图表和实施例对本发明做进一步地详细说明,但是本发明要求保护的范围并不局限于下面的实施例。
16.本发明的去膜液由表1所述成分简单均匀混合即可制得。
17.表1为实施例1至30及对比例1至12去膜液的组分与含量。
18.19.[0020][0021]
将表面覆盖一层经过高温固化后的光刻胶薄膜的测试片切割成1.6*1.6cm2大小的碎片,分别浸渍在实施例及对比例中所述的光刻胶去膜液中,剥离温度为25-65℃,根据去除效果,每次增加10℃,剥离时间不超过30min,直到去除完全为止,记录清洗时间,进行剥离处理后,用超纯水冲洗干净,用氮气吹干,然后根据标准对去除效果进行评价。实施例和对比例的结果汇总在表2中。
[0022]
表2为实施例1至30及对比例1至12的测试片上光刻胶的去除情况。
[0023]
[0024][0025]
以上a-f及溶解情况如下表所示:
[0026]
[0027][0028]
根据上述实施例实验结果可以看出,本发明所提供的光刻胶去膜液,能够在常温条件下很好的去除测试片表面高温固化的难溶光刻胶,且能够将被剥离的高分子凝胶物溶解其中。


技术特征:
1.一种光刻胶去膜液,其特征在于,所述的光刻胶去膜液含有机碱、碱性氨基酸、有机溶剂、非离子表面活性剂和去离子水;有机碱的含量为5%~20%、碱性氨基酸的含量为1%~5%、有机溶剂的含量为20%-50%、非离子表面活性剂的含量为0.1%-1%,余量为去离子水。2.根据权利要求1所述的光刻胶去膜液,其特征在于,所述的有机碱为乙胺、三乙胺、乙二胺、单乙醇胺、二乙醇胺、三乙醇胺、异丙醇胺中的至少一种。3.根据权利要求1所述的光刻胶去膜液,其特征在于,所述的碱性氨基酸为2-氨基-5-胍基戊酸,2,6-二氨基己酸、组氨酸中的至少一种。4.根据权利要求1所述的光刻胶去膜液,其特征在于,所述的有机溶剂为环丁砜、二甲基亚砜、二乙基亚砜、nmp、pgme、pgmea中的至少一种。5.根据权利要求1所述的光刻胶去膜液,其特征在于,所述的非离子表面活性剂为xp80、 xp90、xp100中的至少一种。

技术总结
本发明涉及一种光刻胶去膜液。该去膜液由有机碱、碱性氨基酸、有机溶剂、非离子表面活性剂和去离子水组成。有机碱为乙胺、三乙胺、乙二胺、单乙醇胺、二乙醇胺、三乙醇胺、异丙醇胺中的至少一种。碱性氨基酸为2-氨基-5-胍基戊酸,2,6-二氨基己酸、组氨酸中的至少一种。有机溶剂为环丁砜、二甲基亚砜、二乙基亚砜、NMP、PGME、PGMEA中的至少一种。非离子表面活性剂为XP80、XP90、XP100中的至少一种。其中有机碱与碱性氨基酸协同作用,浸透入光刻胶与膜之间的界面层,使得光阻皱缩,有机溶剂使光阻膨胀泡发剥离,非离子表面活性剂的加入增强了溶液的浸润性,使被剥落的光刻胶迅速的溶解。使被剥落的光刻胶迅速的溶解。


技术研发人员:万杨阳 尹印 贺兆波 张庭 冯凯 王书萍 李鑫 李金航 钟昌东
受保护的技术使用者:湖北兴福电子材料有限公司
技术研发日:2021.10.19
技术公布日:2022/2/10
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