扫描光学装置的制作方法

文档序号:34576488发布日期:2023-06-28 13:12阅读:24来源:国知局
扫描光学装置的制作方法

本发明涉及一种具备耦合透镜和偏转器的扫描光学装置。


背景技术:

1、以往,作为扫描光学装置,已知一种装置,具备:耦合透镜,该耦合透镜将来自半导体激光器的光转换为光束;偏转器,该偏转器具有使来自耦合透镜的光束偏转的多面镜;扫描光学系统,该扫描光学系统使被偏转器偏转的光束在像面成像;以及框架,该框架保持耦合透镜、偏转器和扫描光学系统(参照专利文献1)。在该技术中,框架具有第一凹部和第二凹部,该第一凹部朝向多面镜的旋转轴线方向的一方开口,该第二凹部朝向旋转轴线方向的另一方开口。耦合透镜和偏转器配置于第一凹部内,扫描光学系统配置于第二凹部内。

2、现有技术文献

3、专利文献

4、专利文献1:日本特开2015-206910号公报

5、发明要解决的技术问题

6、然而,在现有技术中,由于耦合透镜和偏转器在相同空间而没有被分离,因此,有耦合透镜附近的尘埃向多面镜移动而附着于多面镜的担忧。


技术实现思路

1、于是,本发明的目的在于,抑制耦合透镜附近的尘埃向多面镜移动而附着于多面镜。

2、用于解决技术问题的技术手段

3、为了解决上述技术问题,本发明涉及的光扫描光学装置具备:半导体激光器,该半导体激光器射出光;耦合透镜,该耦合透镜将来自所述半导体激光器的光转换为光束;聚光透镜,该聚光透镜将来自所述耦合透镜的光束向副扫描方向聚光;偏转器,该偏转器具有使来自所述聚光透镜的光束向主扫描方向偏转的多面镜;扫描光学系统,该扫描光学系统使来自所述偏转器的光在像面成像;框架,该框架固定有所述偏转器和所述扫描光学系统;以及罩,该罩覆盖所述框架中的至少配置有所述偏转器的部分,

4、所述框架具有第一壁,该第一壁具有供朝向所述多面镜的光束通过的第一开口。

5、所述聚光透镜堵塞所述第一开口。

6、根据该构成,由于通过聚光透镜堵塞供从耦合透镜朝向多面镜的光束通过的第一开口,因此,能够抑制耦合透镜附近的尘埃向多面镜移动而附着于多面镜。

7、另外,也可以是,所述罩具有第一肋,从射入所述聚光透镜的光束的行进方向观察时,该第一肋与所述第一壁重叠。

8、根据该构成,能够提高第一壁与罩之间的密闭性。

9、另外,也可以是,所述框架具有光圈版,该光圈板位于所述耦合透镜与所述聚光透镜之间,并且具有供所述光束通过的开口光圈,所述聚光透镜夹在所述第一壁与所述光圈板之间。

10、根据该构成,通过在第一壁与光圈板之间夹着聚光透镜,能够使聚光透镜紧贴于第一壁,能够提高密闭性。

11、另外,也可以是,所述框架具有第二壁,该第二壁具有供被所述多面镜反射的光束通过的第二开口,所述扫描光学系统中最接近所述多面镜的扫描透镜堵塞所述第二开口。

12、根据该构成,能够抑制扫描光学系统附近的尘埃向多面镜移动而附着于多面镜。

13、另外,也可以是,所述扫描光学装置还具备位于所述扫描透镜与所述罩之间的密封部件。

14、根据该构成,能够提高扫描透镜与罩之间的密闭性。

15、另外,也可以是,所述罩具有第二肋,从射入所述扫描透镜的光束的行进方向观察时,该第二肋与所述第二壁重叠。

16、根据该构成,能够提高罩与第二壁之间的密闭性。

17、另外,也可以是,在与沿着所述多面镜的旋转轴线的第一方向正交的第二方向上,所述扫描光学系统配置于所述多面镜的一方侧,向与所述第一方向和所述第二方向正交的所述主扫描方向偏转的光束射入所述扫描光学系统,所述扫描光学装置还具备将所述罩固定至所述框架的第一螺钉和第二螺钉,在所述主扫描方向上,所述旋转轴线位于所述第一螺钉与所述第二螺钉之间。

18、根据该构成,能够提高框架中的配置有偏转器的部分的密闭性。

19、另外,也可以是,具有多个所述半导体激光器和多个所述耦合透镜,从多个所述耦合透镜射出的光束中的两个光束在所述第二方向上分离,所述第一螺钉位于所述两个光束的光路之间。

20、另外,也可以是,所述罩覆盖所述扫描光学系统的至少一部分和所述偏转器。

21、根据该构成,能够通过覆盖偏转器的罩将扫描光学系统一起封闭。

22、另外,也可以是,所述框架具有:第一底壁,该第一底壁与沿着所述多面镜的旋转轴线的第一方向交叉,并且所述偏转器安装于该第一底壁;以及第二底壁,该第二底壁与所述第一方向交叉,并且相对于所述第一底壁位于向所述第一方向的一方侧偏移的位置,所述偏转器相对于所述第一底壁位于所述第一方向的一方侧,所述耦合透镜相对于所述第二底壁位于所述第一方向的另一方侧。

23、另外,也可以是,所述半导体激光器包含第一半导体激光器和第二半导体激光器,该第二半导体激光器配置于在所述副扫描方向上与所述第一半导体激光器空开间隔的位置,所述耦合透镜包含第一耦合透镜和第二耦合透镜,该第一耦合透镜将来自所述第一半导体激光器的光转换为光束,该第二耦合透镜将来自所述第二半导体激光器的光转换为光束,所述聚光透镜将来自所述第一耦合透镜的光束和来自所述第二耦合透镜的光束向所述副扫描方向聚光。

24、根据该构成,能够通过一个聚光透镜堵塞供多个光束通过的第一开口。

25、另外,也可以是,所述半导体激光器包含第一半导体激光器和第三半导体激光器,该第三半导体激光器配置于在与所述副扫描方向和射入所述聚光透镜的光束的行进方向正交的方向上与所述第一半导体激光器空开间隔的位置,所述耦合透镜包含第一耦合透镜和第三耦合透镜,该第一耦合透镜将来自所述第一半导体激光器的光转换为光束,该第三耦合透镜将来自所述第三半导体激光器的光转换为光束,所述聚光透镜将来自所述第一耦合透镜的光束和来自所述第三耦合透镜的光束向所述副扫描方向聚光。

26、根据该构成,能够通过一个聚光透镜堵塞供多个光束通过的第一开口。

27、另外,也可以是,所述聚光透镜具有透镜肋,该透镜肋向射入所述聚光透镜的光束的行进方向突出,并且与所述第一壁接触。

28、根据该构成,能够通过聚光透镜封闭第一开口而不使聚光透镜的光学面与第一壁接触。

29、发明效果

30、根据本发明,能够抑制耦合透镜附近的尘埃向多面镜移动而附着于多面镜。



技术特征:

1.一种扫描光学装置,其特征在于,具备:

2.根据权利要求1所述的扫描光学装置,其特征在于,

3.根据权利要求1所述的扫描光学装置,其特征在于,

4.根据权利要求1所述的扫描光学装置,其特征在于,

5.根据权利要求4所述的扫描光学装置,其特征在于,

6.根据权利要求4所述的扫描光学装置,其特征在于,

7.根据权利要求1所述的扫描光学装置,其特征在于,

8.根据权利要求7所述的扫描光学装置,其特征在于,

9.根据权利要求1所述的扫描光学装置,其特征在于,

10.根据权利要求1所述的扫描光学装置,其特征在于,

11.根据权利要求1所述的扫描光学装置,其特征在于,

12.根据权利要求1所述的扫描光学装置,其特征在于,

13.根据权利要求1所述的扫描光学装置,其特征在于,


技术总结
本发明的目的在于抑制耦合透镜附近的尘埃向多面镜移动而附着于多面镜。扫描光学装置(1)具备:射出光的半导体激光器(10);将来自半导体激光器(10)的光转换为光束的耦合透镜(20);将来自耦合透镜20的光向副扫描方向聚光的聚光透镜(40);具有使来自聚光透镜(40)的光束向主扫描方向偏转的多面镜(51)的偏转器(50);使来自偏转器(50)的光在像面成像的扫描光学系统(Lo);固定有偏转器(50)和扫描光学系统(Lo)的框架(F);及覆盖框架(F)中的至少配置有偏转器(50)的部分的罩。框架(F)具有第一壁(F1),该第一壁具有供朝向多面镜(51)的光束通过的第一开口。聚光透镜(40)堵塞第一开口。

技术研发人员:阿部晃治,横井淳一
受保护的技术使用者:兄弟工业株式会社
技术研发日:
技术公布日:2024/1/13
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