液晶模组光学检测装置以及液晶模组检测设备的制作方法

文档序号:34088561发布日期:2023-05-07 01:58阅读:26来源:国知局
液晶模组光学检测装置以及液晶模组检测设备的制作方法

本技术涉及液晶,特别是涉及一种液晶模组光学检测装置以及液晶模组检测设备。


背景技术:

1、有鉴于近年来液晶显示器和液晶电视的迅速发展,消费者对液晶模组屏幕显示品质提出更高的要求,现有技术中对于屏幕的检测采用多步骤的人工检测,例如,上下料的人工搬运、人工扫码以及光学检测人工操作等,导致对液晶模组的检测效率低下,从而导致液晶模组的生产效率低下,而且,多个工位采用人工方式进行,也导致液晶模组的生产成本过高。


技术实现思路

1、本实用新型的目的是克服现有技术中的不足之处,提供一种有效提高生产效率的液晶模组光学检测装置以及液晶模组检测设备。

2、本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的:

3、一种液晶模组光学检测装置,包括:上料组件、检测组件以及下料组件;所述上料组件包括上料传输带以及上料机械臂,所述上料传输带用于液晶模组的上料输送,所述上料机械臂邻近所述上料传输带设置,所述上料机械臂用于抓取所述液晶模组;所述检测组件包括检测基台、检测分度盘、模组纠偏器以及光学检测器,所述检测分度盘转动设置于所述检测基台上,所述检测分度盘用于放置所述上料机械臂抓取的液晶模组,所述模组纠偏器以及所述光学检测器均设置于所述检测基台上,所述模组纠偏器的检测端以及所述光学检测器的检测端均朝向所述检测分度盘,所述模组纠偏器用于所述液晶模组与所述检测分度盘的位偏检测,所述光学检测器用于所述液晶模组的光学透光检测;所述下料组件包括下料传输带以及下料机械臂,所述下料机械臂设置于所述检测基台上,所述下料机械臂用于将所述检测分度盘上的液晶模组抓取至所述下料传输带上,所述下料传输带用于传输经过光学透光检测的液晶模组。

4、在其中一个实施例中,所述上料组件还包括上料捕捉件,所述上料捕捉件的图像捕捉端朝向所述上料传输带,所述上料捕捉件用于捕捉所述液晶模组的坐标图像。

5、在其中一个实施例中,所述上料捕捉件包括相互连接的固定杆以及第一图像捕捉器,所述固定杆还与所述上料传输带连接,所述第一图像捕捉器朝向所述上料传输带设置。

6、在其中一个实施例中,所述检测组件还包括主体捕捉件,所述主体捕捉件设置于所述检测基台上,所述主体捕捉件的图像捕捉端朝向所述上料机械臂设置,所述主体捕捉件用于捕捉所述上料机械臂抓取的液晶模组的主体中心图像。

7、在其中一个实施例中,所述主体捕捉件包括捕捉架以及第二图像捕捉器,所述捕捉架设置于所述检测基台上,所述第二图像捕捉器与所述捕捉架活动连接,所述第二图像捕捉器朝向所述上料机械臂设置。

8、在其中一个实施例中,所述第二图像捕捉器的数量为多个,多个所述第二图像捕捉器均滑动设置于所述捕捉架上。

9、在其中一个实施例中,相邻两个所述第二图像捕捉器之间的间距相等。

10、在其中一个实施例中,所述检测分度盘具有多个检测工位,多个所述检测工位均匀分布于所述检测分度盘上。

11、在其中一个实施例中,所述下料传输带包括第一下料带以及第二下料带,所述第一下料带用于传输光学透光检测正常的液晶模组,所述第二下料带用于传输光学透光检测异常的液晶模组。

12、一种液晶模组检测设备,包括上述任一实施例所述的液晶模组光学检测装置。

13、与现有技术相比,本实用新型至少具有以下优点:

14、液晶模组通过上料机械臂输送至检测分度盘上,检测分度盘依次经过模组纠偏器以及光学检测器,以便于对液晶模组进行位置纠偏矫正以及光学自动检测,最后再由上料机械臂放置于下料传输带上,使得液晶模组的整个缺陷检测过程自动化程度提升,无需人工进行手动检测,有效地提高了对液晶模组的检测效率,从而有效地降低了液晶模组的生产成本。



技术特征:

1.一种液晶模组光学检测装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的液晶模组光学检测装置,其特征在于,所述上料组件还包括上料捕捉件,所述上料捕捉件的图像捕捉端朝向所述上料传输带,所述上料捕捉件用于捕捉所述液晶模组的坐标图像。

3.根据权利要求2所述的液晶模组光学检测装置,其特征在于,所述上料捕捉件包括相互连接的固定杆以及第一图像捕捉器,所述固定杆还与所述上料传输带连接,所述第一图像捕捉器朝向所述上料传输带设置。

4.根据权利要求1所述的液晶模组光学检测装置,其特征在于,所述检测组件还包括主体捕捉件,所述主体捕捉件设置于所述检测基台上,所述主体捕捉件的图像捕捉端朝向所述上料机械臂设置,所述主体捕捉件用于捕捉所述上料机械臂抓取的液晶模组的主体中心图像。

5.根据权利要求4所述的液晶模组光学检测装置,其特征在于,所述主体捕捉件包括捕捉架以及第二图像捕捉器,所述捕捉架设置于所述检测基台上,所述第二图像捕捉器与所述捕捉架活动连接,所述第二图像捕捉器朝向所述上料机械臂设置。

6.根据权利要求5所述的液晶模组光学检测装置,其特征在于,所述第二图像捕捉器的数量为多个,多个所述第二图像捕捉器均滑动设置于所述捕捉架上。

7.根据权利要求6所述的液晶模组光学检测装置,其特征在于,相邻两个所述第二图像捕捉器之间的间距相等。

8.根据权利要求1所述的液晶模组光学检测装置,其特征在于,所述检测分度盘具有多个检测工位,多个所述检测工位均匀分布于所述检测分度盘上。

9.根据权利要求1所述的液晶模组光学检测装置,其特征在于,所述下料传输带包括第一下料带以及第二下料带,所述第一下料带用于传输光学透光检测正常的液晶模组,所述第二下料带用于传输光学透光检测异常的液晶模组。

10.一种液晶模组检测设备,其特征在于,包括如权利要求1至9中任一项所述的液晶模组光学检测装置。


技术总结
本申请提供一种液晶模组光学检测装置以及液晶模组检测设备。上述装置包括上料组件、检测组件以及下料组件;上料组件包括上料传输带以及上料机械臂;检测组件包括检测基台、检测分度盘、模组纠偏器以及光学检测器,模组纠偏器以及光学检测器均设置于检测基台上;下料组件包括下料传输带以及下料机械臂,下料机械臂设置于检测基台上,下料机械臂用于将检测分度盘上的液晶模组抓取至下料传输带上。液晶模组通过上料机械臂输送至检测分度盘上,检测分度盘依次经过模组纠偏器以及光学检测器,以便于对液晶模组进行位置纠偏矫正以及光学自动检测,无需人工进行手动检测,有效地提高了对液晶模组的检测效率,从而有效地降低了液晶模组的生产成本。

技术研发人员:华成,王远胜,黄挽,杨春城,易文涛,杨波
受保护的技术使用者:深圳旭鑫智能视觉技术有限公司
技术研发日:20221122
技术公布日:2024/1/12
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