一种干涉仪测量用光路爬升调整架的制作方法

本技术涉及测量，尤其涉及一种干涉仪测量用光路爬升调整架。

背景技术：

1、激光具有高强度、高度方向性、空间同调性、窄带宽和高度单色性等优点。目前常用来测量长度的干涉仪，主要是以迈克尔逊干涉仪为主，并以稳频氦氖激光为光源，构成一个具有干涉作用的测量系统。

2、公开号为cn213481238u的中国专利公开激光干涉仪，本实用新型涉及一种激光干涉仪，其包括激光头、三脚架，还包括设置在三脚架上的底座，底座的顶壁上滑动设置有第一滑动盘，第一滑动盘的顶壁上滑动设置有第二滑动盘，激光头设置在第二滑动盘的顶壁上，第一滑动盘和第二滑动盘的滑动方向相互垂直，底座上设置有用于限制第一滑动盘滑动的第一限位组件，第一滑动盘上设置有用于限制第二滑动盘滑动的第二限位组件，滑动第一滑动盘和第二滑动盘，激光头的位置调整好后，利用第一限位组件限制第一滑动盘滑动，利用第二限位组件限制第二滑动盘滑动，实现在一定范围内任意微调激光头的位置，调整精度相对较高，降低测量数据的误差。本申请具有提高激光干涉仪的测量精度的效果。

3、然而上述装置，通过设置多个滑动盘和限位组件，使得可以对干涉仪进行调整，但是在接收光路时，干涉仪上的反射镜对光路的反射角度得不到调整，导致干涉仪的使用调整范围较窄。

4、有鉴于此特提出本实用新型。

技术实现思路

1、本实用新型要解决的技术问题在于克服现有技术中现有的干涉仪在接收光路时，干涉仪上的反射镜对光路的反射角度得不到调整，导致干涉仪的使用调整范围较窄的问题，提供一种干涉仪测量用光路爬升调整架。

2、为解决上述技术问题，本实用新型采用技术方案的基本构思是：

3、一种干涉仪测量用光路爬升调整架，包括框架本体，所述框架本体的两侧内壁均固定有侧板，两个所述侧板的相对一侧之间转动连接有第一反射镜架，所述框架本体的顶部靠近前后两侧边缘处均固定有支撑板，两个所述支撑板的相对一侧之间设置有第二反射镜架，所述第一反射镜架和第二反射镜架的内部之间均设置有反射镜本体，通过第一反射镜架和第二反射镜架将反射镜本体进行安装固定，并且将第一反射镜架和第二反射镜架垂直排列，使得可以将光进行折射。

4、可选的，所述第一反射镜架和第二反射镜架的顶部均开设有卡合反射镜本体的安装槽，所述第一反射镜架和第二反射镜架的顶部均设置有手柄，所述第一反射镜架和第二反射镜架的顶部均设置有压块，通过设置手柄方便对第一反射镜架和第二反射镜架转向，通过设置压块方便将反射镜本体进行安装固定。

5、可选的，所述第一反射镜架和第二反射镜架的两侧均转动连接有转轴，所述第一反射镜架和第二反射镜架相互垂直排列，所述第一反射镜架和第二反射镜架的底部均设置有推动气缸，通过在第一反射镜架和第二反射镜架的底部均设置有推动气缸，使得可以将第一反射镜架和第二反射镜架转动改变方向，进而使得改变对光线的折射角度。

6、可选的，所述第一反射镜架的一侧设置有进光路，两个所述支撑板的一侧均固定有加强筋，通过设置加强筋，使得可以增加支撑板的强度。

7、采用上述技术方案后，本实用新型与现有技术相比具有以下有益效果，当然，实施本实用新型的任一产品并不一定需要同时达到以下所述的所有优点：

8、1、本实用新型中，在使用本装置时，通过第一反射镜架4和第二反射镜架5将反射镜本体10进行安装固定，并且将第一反射镜架4和第二反射镜架5垂直排列，使得可以将光进行折射。

9、2、本实用新型中，在第一反射镜架4和第二反射镜架5的底部均设置有推动气缸8，使得可以将第一反射镜架4和第二反射镜架5转动改变方向，进而使得改变对光线的折射角度。

技术特征：

1.一种干涉仪测量用光路爬升调整架，包括框架本体(1)，其特征在于：所述框架本体(1)的两侧内壁均固定有侧板(2)，两个所述侧板(2)的相对一侧之间转动连接有第一反射镜架(4)，所述框架本体(1)的顶部靠近前后两侧边缘处均固定有支撑板(6)，两个所述支撑板(6)的相对一侧之间设置有第二反射镜架(5)，所述第一反射镜架(4)和第二反射镜架(5)的内部之间均设置有反射镜本体(10)。

2.根据权利要求1所述的一种干涉仪测量用光路爬升调整架，其特征在于：所述第一反射镜架(4)和第二反射镜架(5)的顶部均开设有卡合反射镜本体(10)的安装槽(11)。

3.根据权利要求1所述的一种干涉仪测量用光路爬升调整架，其特征在于：所述第一反射镜架(4)和第二反射镜架(5)的顶部均设置有手柄(12)，所述第一反射镜架(4)和第二反射镜架(5)的顶部均设置有压块(13)。

4.根据权利要求1所述的一种干涉仪测量用光路爬升调整架，其特征在于：所述第一反射镜架(4)和第二反射镜架(5)的两侧均转动连接有转轴(9)，所述第一反射镜架(4)和第二反射镜架(5)相互垂直排列。

5.根据权利要求1所述的一种干涉仪测量用光路爬升调整架，其特征在于：所述第一反射镜架(4)和第二反射镜架(5)的底部均设置有推动气缸(8)。

6.根据权利要求1所述的一种干涉仪测量用光路爬升调整架，其特征在于：所述第一反射镜架(4)的一侧设置有进光路(3)，两个所述支撑板(6)的一侧均固定有加强筋(7)。

技术总结
本技术提供一种干涉仪测量用光路爬升调整架，涉及测量技术领域，包括框架本体，所述框架本体的两侧内壁均固定有侧板，两个所述侧板的相对一侧之间转动连接有第一反射镜架，所述框架本体的顶部靠近前后两侧边缘处均固定有支撑板，两个所述支撑板的相对一侧之间设置有第二反射镜架，所述第一反射镜架和第二反射镜架的内部之间均设置有反射镜本体，本技术，通过第一反射镜架和第二反射镜架将反射镜本体进行安装固定，并且将第一反射镜架和第二反射镜架垂直排列，使得可以将光进行折射。

技术研发人员：陈晓云,熊杰,瞿新龙,周正平
受保护的技术使用者：上海联谊光纤激光器械有限公司
技术研发日：20221230
技术公布日：2024/1/12