显示设备和用于检查显示设备的方法与流程

本公开涉及显示设备和用于检查显示设备的方法。

背景技术：

1、使用薄膜晶体管的液晶显示器适用于车载显示设备。某种类型的车载显示设备需要一种检测线路缺陷，即布线异常的功能。实现这种功能的电路容易出现增加设备尺寸、增加制造和检查成本等问题。

2、国际公开no.wo2018/079636公开了一种故障检查电路，其连接到源极线和栅极线。图29示出了国际公开no.wo 2018/079636中公开的有源矩阵基板的电路配置。图29中的有源矩阵基板a1具有故障检查电路a100。该故障检查电路a100包括判定电路a105和a114以及期望值比较电路a106和a115。

3、通过监测输出信号线a104向判定电路a105输入来自源极线a11的监测输出信号。在期望值比较电路a106中将判定电路a105检测到的监测输出信号的电压电平与期望值进行比较。通过监测输出信号线a112向判定电路a114输入来自栅极线a12的监测输出信号。在期望值比较电路a115中将判定电路a114检测到的监测输出信号的电压电平与期望值进行比较。

4、未审查的日本特开no.2019-113710公开了一种异常检测电路，其检测作为扫描信号的栅极信号的异常。图30示出了未审查的日本特开no.2019-113710中公开的液晶显示设备的配置。在图30中的液晶显示设备b10中，包括扫描信号异常检测电路b400和异常判定电路b800的异常检测电路单元被设置在液晶显示单元b100的外部。当栅极信号gl被顺序供应时，扫描信号异常检测电路b400对开始信号stv进行移位。移位后的脉冲被发送到异常判定电路b800。异常判定电路b800锁存移位后的脉冲。基于锁存的数据输出来判定异常的存在或不存在。

5、图31示出了未审查的日本特开no.2019-113710中公开的异常判定电路的电路示例。在图31所示的异常判定电路b800中，比较器b810将扫描信号异常检测电路b400的输出值与预定的基准电压值vref进行比较。

6、美国专利申请公开no.2006/0226866公开了一种用于检测栅极线和数据线中的短路的测试电路。图32示出了美国专利申请公开no.2006/0226866中公开的液晶显示设备的配置。在图32中的液晶显示设备c1a中，栅极线测试电路c10a和数据线测试电路c20a分别被设置在栅极线驱动电路c2a和数据线驱动电路c3a侧，并且分别连接到栅极线gm和数据线dn，以便检测栅极线gm和数据线dn中的短路。

7、图33是美国专利申请公开no.2006/0226866中公开的数据线测试电路的示意图。图34是示出图33中的数据线测试电路c20a的等效电路的电路图。图34中的数据线电位vd是通过基于短路电阻rs的电源电位vdd的电阻分压而确定的。检测器逻辑电路c21根据输入的数据线电位vd来输出数据线dn中是否存在短路。图35是示出包括反相器电路c22n的检测器逻辑电路c21的电路图。

8、美国专利申请公开no.2014/0204199公开了一种用于定位短路的布线检查装置。图36示出了美国专利申请公开no.2014/0204199中公开的布线检查装置的配置。图36中的布线检查装置d1包括图像捕获部件d6和图像处理部件d7。图像捕获部件d6捕获基板构件d2的红外图像。红外图像的图像数据被提供给图像处理部件d7。图像处理部件d7生成红外图像和二值图像，并根据二值图像来定位短路位置。

9、美国专利no.5309108公开了一种用于薄膜晶体管液晶基板的检查装置。图37示出了美国专利no.5309108中公开的检查装置的配置。在图37中，探针e36a和e36b与基板e30的布线图案接触。扫描线和信号线之间的电位差被红外图像检测器e5检测为红外图像。差分图像检测电路e55和坐标检测电路e56通过图像处理来定位短路缺陷。

10、在国际公开no.wo2018/079636中描述的故障检查电路中，从多条栅极线中选择的一条栅极线处的第一监测输出信号gout被输入到第一判定电路，并且从多条源极线中选择的一条源极线处的第二监测信号sout被输入到第二判定电路。在这种配置中，布线和电路的连接变得复杂，增加了电路的尺寸。此外，当比较器被用作用于期望值比较电路的模拟电路时，电路的尺寸增加。此外，当大量薄膜晶体管的特性不同时，难以设置期望值。因此，国际公开no.wo2018/079636中描述的技术难以使用小型电路执行稳定的检查。

11、未审查的日本特开no.2019-113710中描述的异常判定电路使用比较器作为模拟电路，这增加了电路的尺寸。此外，当大量薄膜晶体管的特性不同时，难以设置基准电压值。因此，未审查的日本特开no.2019-113710中描述的技术难以使用小型电路执行稳定的检查。电路尺寸的增加增大了显示设备的周边(被称为“画框”)的面积。此外，为了实现稳定的检查，制造和检查的成本可能会增加。

12、在美国专利申请公开no.2006/0226866中描述的测试电路中，电源电位和接地电位通过串联电阻器连接。这些串联电阻器产生直通电流。直通电流的产生增加了设备的功耗。提供用于抑制功耗的配置增加了检查成本。

13、美国专利申请公开no.2014/0204199和美国专利no.5309108中描述的装置需要特殊的图像处理。这增加了装置的尺寸并增加了制造和检查的成本。此外，虽然这些装置可以定位短路，但它们不能检查断线，这使得它们难以执行各种检查。

14、本公开是鉴于上述情况作出的，并且旨在通过小型的简单配置来降低检查成本并能进行稳定和多样的检查。

技术实现思路

1、为了实现上述目的，根据本公开的显示设备包括：像素部分；布线和电极，其连接到像素部分；以及检查电路，其被配置为检查布线中的异常，其中，检查电路在第一时段中向布线和电极中的一者或两者供应第一电压，在第一时段之后的第二时段中向布线和电极中的一者供应第二电压，并且被配置为基于第二电压的供应并根据布线的电压电平来检测异常的发生。

2、根据本公开的用于检查显示设备的方法包括：通过用于连接到显示设备的像素部分的布线和电极的检查电路，在第一时段中向布线和电极中的一者或两者供应第一电压；通过检查电路，在第一时段之后的第二时段中向布线和电极中的一者供应第二电压；以及通过检查电路，基于第二电压的供应并根据布线的电压电平来检测异常的发生。

3、应当理解，上面的一般描述和下面的详细描述都是示例性和解释性的，并且不限制本公开。

4、根据本公开，可以通过根据第一时段中的第一电压和第二时段中的第二电压获取布线的电压电平来检测异常的发生。这可以减小电路的尺寸并实现稳定的广泛范围的检查。此外，可以在检查期间消除电流流动，从而降低检查成本。

技术特征：

1.一种显示设备，其包括：

2.根据权利要求1所述的显示设备，其中

3.根据权利要求1所述的显示设备，其中

4.根据权利要求1所述的显示设备，其中

5.根据权利要求1所述的显示设备，其中

6.根据权利要求1所述的显示设备，其中

7.根据权利要求1所述的显示设备，其中

8.根据权利要求1所述的显示设备，其中

9.根据权利要求1所述的显示设备，其中

10.根据权利要求1所述的显示设备，其中

11.根据权利要求1所述的显示设备，其中，所述检查电路与所述像素部分安装在同一基板上。

12.根据权利要求11所述的显示设备，其中，所述检查电路包括开关电路的类型，其选自cmos传输门、pmos晶体管和nmos晶体管，该选择取决于形成在所述同一基板上的薄膜晶体管。

13.一种用于检查显示设备的方法，其包括：

14.根据权利要求13所述的方法，其进一步包括：

15.根据权利要求13所述的方法，其进一步包括：

16.根据权利要求13所述的方法，其进一步包括：

17.根据权利要求13所述的方法，进一步包括：

18.根据权利要求13所述的方法，其进一步包括：

19.根据权利要求13所述的方法，其进一步包括：

20.根据权利要求13所述的方法，其进一步包括：

技术总结
公开了一种显示设备和用于检查显示设备的方法，所述显示设备包括像素部分；布线和电极，其连接到所述像素部分；以及检查电路，其被配置为检查所述布线中的异常，其中，所述检查电路：在第一时段中向所述布线和所述电极中的一者或两者供应第一电压，在所述第一时段之后的第二时段中向所述布线和所述电极中的一者供应第二电压，并且被配置为基于所述第二电压的供应并根据所述布线的电压电平来检测异常的发生。

技术研发人员：音濑智彦
受保护的技术使用者：上海天马微电子有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13