一种CELL红蓝斑修复方法与流程

本发明涉及模组产品生产领域，具体为一种cell红蓝斑修复方法。

背景技术：

1、目前市场上，panel鉴于部分玻璃的不抗压特性，容易产生红蓝斑漏光不良，漏光原理：

2、侧向外力使ps柱shift，将透光区边缘配向膜聚酰亚胺pi(polyimide)划伤，失去配向液晶能力，液晶排列改变，背光透过区域增加，背光透过率增加；

3、液晶分子受外力挤压后未恢复，远离pi层液晶分子靠分子间作用力无法还原平行排列；

4、模组产品生产过程中，来料不良以及模组车间持续性高发的现象，针对减薄来料做红蓝斑水准调研，各型号来料均存在红蓝斑问题，目前堆积红蓝斑数据过多，除降低改善外，外发修复成本过高(lcd*20/fog*31)，计划降级变卖处理(lcd*10/fog*20)；ic/fpc/pol/oca均直接报废或降级变卖处理，需研究评估红蓝斑的修复可行性，针对红蓝斑修复专案立案研究突破，降低材料损耗成本，参阅图1；

5、经在行业内调查，整个模组行业对于红蓝斑不良的处理方式均为拆解报废或降级变卖，各大公司对于红蓝斑不良修复救济问题均无有效方案，综上液晶分子受外力挤压后未恢复，远离pi层液晶分子靠分子间作用力无法还原平行排列造成产品漏光是难点，为此我们提出了一种cell红蓝斑修复方法。

技术实现思路

1、(一)解决的技术问题

2、针对现有技术的不足，本发明提供了一种cell红蓝斑修复方法，解决红蓝斑不良修复工艺问题，此项新工艺通过对不良对应位置烘烤修复工艺，可完全满足客户需求，同时极大减少主材panel报废耗损或降级变卖损失成本价格。

3、(二)技术方案

4、为实现上述所述目的，本发明提供如下技术方案：一种cell红蓝斑修复方法，包括以下步骤：

5、s1：将产品状态拆解成cell状态；

6、s2：et测试检查红蓝斑不良现象，使用水性笔对不良位置进行标识；

7、s3：使用新重组改造设备治具，对局部红蓝斑不良位置放置设备治具烘烤修复；

8、s4：取出产品后使用离子风机吹拂冷却，et测试检查确认标识红蓝斑不良位置修复效果；

9、s5：确认无不良之后，重新贴片,et或fog测试检查红蓝斑不良修复位置效果，电测性能ok,检查确认外观以及感官类ok；

10、s6：使用新工艺红蓝斑不良烘烤修复样品投入测试。

11、优选的，所述s3包括两次修复救济；

12、一次修复救济，垫台温度：170±10℃；压头温度:200±10℃，时间控制在：10s/pcs；

13、二次修复救济，垫台温度：190±10℃；压头温度:220±10℃，时间控制在：10s/pcs。

14、优选的，所述s4中的离子风机吹拂冷却时间为5min，风力档位≥5。

15、优选的，所述s6中测试包括高温高湿运行、冷热冲击、高温运行、低温运行、fpc弯折测试、老化。

16、优选的，所述高温高湿运行60℃ 90％rh 240h工作；

17、冷热冲击-40℃(0.5h)/80℃(0.5h)100cycle；

18、高温运行70℃ 240h工作；

19、低温运行-20℃ 240h工作；

20、老化60℃ 72h。

21、优选的，所述fpc弯折测试包括以下步骤：

22、1.将样品固定在水平台面上,采用r角＝0.5mm,厚度为1mm的测试治具,向fpc弯折方向弯折180度(弯折区域是fpc实际需要弯折的位置)；

23、2.重复20次,点亮确认外观、电气功能及touch功能；

24、3.将fpc在同位置进行反向弯折20次确认。

25、(三)有益效果

26、与现有技术相比，本发明提供了一种cell红蓝斑修复方法，具备以下有益效果：

27、1、该cell红蓝斑修复方法，创新红蓝斑烘烤修复工艺，通过对不良对应位置进行烘烤后使液晶分子重新排列液晶分子降低产品透过率，可解决红蓝斑液晶漏光不良问题。

技术特征：

1.一种cell红蓝斑修复方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种cell红蓝斑修复方法，其特征在于：所述s3包括两次修复救济；

3.根据权利要求1所述的一种cell红蓝斑修复方法，其特征在于：所述s4中的离子风机吹拂冷却时间为5min，风力档位≥5。

4.根据权利要求1所述的一种cell红蓝斑修复方法，其特征在于：所述s6中测试包括高温高湿运行、冷热冲击、高温运行、低温运行、fpc弯折测试、老化。

5.根据权利要求4所述的一种cell红蓝斑修复方法，其特征在于：所述高温高湿运行60℃ 90％rh 240h工作；

6.根据权利要求4所述的一种cell红蓝斑修复方法，其特征在于：所述fpc弯折测试包括以下步骤：

技术总结
本发明涉及模组产品生产领域，且公开了一种CELL红蓝斑修复方法，包括以下步骤：S1：将产品状态拆解成CELL状态；S2：ET测试检查红蓝斑不良现象，使用水性笔对不良位置进行标识；S3：使用新重组改造设备治具，对局部红蓝斑不良位置放置设备治具烘烤修复；S4：取出产品后使用离子风机吹拂冷却，ET测试检查确认标识红蓝斑不良位置修复效果；S5：确认无不良之后，重新贴片,ET或FOG测试检查红蓝斑不良修复位置效果，电测性能OK,检查确认外观以及感官类OK；S6：使用新工艺红蓝斑不良烘烤修复样品投入测试。

技术研发人员：文云东,易文府,罗江南,张水霞
受保护的技术使用者：安徽帝晶光电科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15