测试电路、测试系统及测试方法与流程

本申请涉及测试，具体而言，涉及一种测试电路、测试系统及测试方法。

背景技术：

1、在调光液晶膜(pdlc，polymer dispersed liquid crystal)膜的研发与使用中，需要进行严格的测试。在测试过程中，需要进行周期以秒计的通断电循环，或者长时间的连续通电等测试，以保证调光液晶膜在使用过程中的稳定性。

2、目前，对调光液晶膜的测试多采用继电器，并基于设定的周期控制电路通断。在需要以不同的周期或时长控制电路通断的情况下，通常需要工作人员对继电器进行反复的设置。这样的方式一般会增加人力成本。

技术实现思路

1、本申请的目的在于提供一种测试电路、测试系统及测试方法，通过由控制器对开关元件进行控制，以降低人力成本。

2、第一方面，本申请提供了一种测试电路，所述测试电路用于对待测试调光液晶膜进行测试；所述测试电路包括控制器、开关元件以及电源；所述开关元件具有第一电路控制端、第二电路控制端以及受控端；所述电源的第一输出端用于与所述待测试调光液晶膜的第一输入端连接，所述电源的第二输出端与所述第一电路控制端连接；所述第二电路控制端用于与所述待测试调光液晶膜的第二输入端连接；所述受控端与所述控制器的电连接；所述控制器配置为通过执行电路控制程序对所述开关元件的通或断进行控制，以实现对所述待测试调光液晶膜的测试。

3、上述测试电路，通过控制器对开关元件的通或断进行控制，相较于通过人工手动控制等方式，降低了人力成本。此外，也提高了控制的精确度。

4、结合第一方面，可选地，其中，所述待测试调光液晶膜上划分有若干液晶膜区域；所述若干液晶膜区域均具有各自的第一子输入端和第二子输入端；所述开关元件包括与所述若干液晶膜区域数量对应的若干开关子元件；所述若干开关子元件均具有各自的第一电路子控制端、第二电路子控制端以及子受控端；所述电源的第一输出端用于分别与每一所述液晶膜区域的第一子输入端连接；每一所述开关子元件的第二电路子控制端与所述电源的第二输出端连接；每一所述开关子元件的第一电路子控制端用于与对应的所述液晶膜区域的第二子输入端连接。

5、上述测试电路，在待测试调光液晶膜上划分有若干液晶膜区域，且各液晶膜区域通过开关子元件并联的情况下，由控制器对多个开关子元件的通或断进行控制，提高了测试电路的便利性，进而进一步地降低了人力成本。同时也提高了对调光液晶膜进行测试的效率。

6、结合第一方面，可选地，所述开关子元件包括继电器。

7、上述测试电路，由于继电器响应快动作快、工作稳定、触点额定电流小、体积小，因此采用继电器作为开关子元件对测试电路中的各支路进行通或断的控制，提高了控制精度和测试电路运行稳定性，降低了测试电路的能耗和整体的空间占用。

8、结合第一方面，可选地，所述电路还包括与所述若干液晶膜区域的数量对应的耗能元件；每一所述耗能元件的一端连接于所述电源的第一输出端，另一端连接于对应的所述开关子元件的第二电子控制端。

9、上述测试电路，通过为每一液晶膜区域均可以并联能耗元件，在液晶膜区域所在支路的开关元件断开的情况下，提高了该液晶膜区域由透明状变为雾状的速率。

10、结合第一方面，可选地，所述耗能元件包括电阻器。

11、上述测试电路，由于电阻器是较为简单和便宜的能耗元件，因此采用电阻器作为能耗元件，降低了测试电路的成本，并实现了对测试电路的简化。

12、结合第一方面，可选地，所述控制器包括单片机；所述单片机配置为控制所有所述开关子元件依次分时闭合持续t1时长并断开持续t2时长；和/或控制所有所述开关子元件同时持续闭合t3时长；和/或控制所有所述开关子元件同时断开。

13、上述测试电路，由于单片机的功耗较低，价格便宜，以及指令系统条件丰富，因此进一步地降低了测试电路的制造成本与使用成本，并使得测试电路具有更多的测试功能。

14、结合第一方面，可选地，所述电源包括可调压电源；所述可调压电源配置为根据所述目标元件的属性输出与其波形、频率以及电压值相匹配的电压。

15、上述测试电路，通过为测试电路中配置，在电压需求不同的调光液晶膜进行测试的过程中，无需更换电源，而直接通过对可调压电源进行调整，便能够实现所输出电压的调整，进一步提高了测试电路的便利性，进而提高了测试效率。

16、第二方面，本申请提供了一种测试系统，用于通过对目标元件通电的控制实现对目标元件的测试，所述系统包括前面第一方面任意一种可选的方式所描述的测试电路。

17、上述测试系统，上述测试系统具有与前面所描述测试电路相同的有益效果，此处不再赘述。

18、第三方面，本申请提供了一种测试方法，用于对待测试调光液晶膜进行测试；所述待测试调光液晶膜上划分有若干液晶膜区域，每一所述液晶膜区域通过其所对应的开关子元件与电源连接；所述方法包括：控制所有所述开关子元件依次分时闭合持续t1时长并断开持续t2时长；和/或控制所有所述开关子元件同时持续闭合t3时长；和/或控制所有所述开关子元件同时断开。

19、上述测试方法，实现了对待测试调光液晶膜上各液晶膜区域所对应的开关子元件分时闭合和/或同时闭合，提高了对待测试调光液晶膜进行测试的准确性。

20、结合第三方面，可选地，所述控制所有所述开关子元件依次分时闭合持续t1时长并断开持续t2时长，包括：控制所有所述开关子元件中的每一者闭合持续t11时长，断开持续t22时长，并循环n次；其中，t11×n＝t1，t22×n＝t2。

21、上述测试方法，实现了另一种对所有开关子元件的循环控制。

22、综上所述，本申请所提供的测试电路、测试系统及测试方法，通过控制器对开关元件的通或断进行控制，相较于通过人工手动控制等方式，降低了人力成本。此外，也提高了控制的精确度。在待测试调光液晶膜上划分有若干液晶膜区域，且各液晶膜区域通过开关子元件并联的情况下，由控制器对多个开关子元件的通或断进行控制，提高了测试电路的便利性，进而进一步地降低了人力成本。同时也提高了对调光液晶膜进行测试的效率。此外，通过为每一液晶膜区域均可以并联电阻等能耗元件，在液晶膜区域所在支路的开关元件断开的情况下，提高了该液晶膜区域由透明状变为雾状的速率。

技术特征：

1.一种测试电路，其特征在于，所述测试电路用于对待测试调光液晶膜进行测试；所述测试电路包括控制器、开关元件以及电源；

2.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，其中，所述待测试调光液晶膜上划分有若干液晶膜区域；所述若干液晶膜区域均具有各自的第一子输入端和第二子输入端；

3.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述开关子元件包括继电器。

4.根据权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述电路还包括与所述若干液晶膜区域的数量对应的耗能元件；

5.根据权利要求4所述的测试电路，其特征在于，所述耗能元件包括电阻器。

6.根据权利要求2至5中任一项所述的测试电路，其特征在于，所述控制器包括单片机；

7.根据权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述电源包括可调压电源；

8.一种测试系统，其特征在于，用于通过对目标元件通电的控制实现对目标元件的测试，所述系统包括如权利要求1至7中任一项所述的测试电路。

9.一种测试方法，其特征在于，用于对待测试调光液晶膜进行测试；所述待测试调光液晶膜上划分有若干液晶膜区域，每一所述液晶膜区域通过其所对应的开关子元件与电源连接；所述方法包括：

10.根据权利要求9所述的测试电路，其特征在于，所述控制所有所述开关子元件依次分时闭合持续t1时长并断开持续t2时长，包括：

技术总结
本申请涉及测试技术领域，具体地，涉及一种测试电路、测试系统及测试方法。该测试电路用于对待测试调光液晶膜进行测试；其包括控制器、开关元件以及电源；开关元件具有第一电路控制端、第二电路控制端以及受控端；电源的第一输出端用于与待测试调光液晶膜的第一输入端连接，电源的第二输出端与第一电路控制端连接；第二电路控制端用于与待测试调光液晶膜的第二输入端连接；受控端与控制器的电连接；控制器配置为通过执行电路控制程序对开关元件的通或断进行控制，以实现对待测试调光液晶膜的测试。该测试电路通过控制器对开关元件的通或断进行控制，相较于通过人工手动控制等方式，降低了人力成本。此外，也提高了控制的精确度。

技术研发人员：吴永隆,孙瑞,何文基,朱铭
受保护的技术使用者：上海隆昇光电新材料有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/3/4