专利名称：偏转线圈调整机的静会聚延迟量校对方法
技术领域：
本发明涉及显像管生产过程中的一种方法，尤其涉及显像管生产中相关设备的静会聚校对方法。
背景技术：
在显像管生产过程中，尤其是在显像管与用户机芯装配过程中，会遇到静会聚不理想的问题。所谓静会聚，是指红(R)、绿(G)、蓝(B)三个电子枪发射的三个电子束在未受偏转磁场的影响下交汇于显像管屏的中心点。在实际生产中，受显像管本身和/或用户机芯的影响，常会出现静会聚不理想的现象，即电子束无法交汇于屏幕中心点。因此，需要在显像管与用户机芯装配过程中，进行静会聚的调整。
在理想状态下，调整好的静会聚在不同的用户机芯上应该是一致的。但在实际应用过程中，由于不同机芯中元件、参数、电压、电流之间的差异，会产生静会聚的差异。因此，对不同的用户机芯，尤其是不同型号或不同系列的用户机芯，需分别对其进行静会聚调整。
在实际生产过程中，在ITC管调整时静会聚调整只是一个方面，需要调整的还包括着屏、动会聚、失真及屏质检验等各个环节，以及偏转阻抗的不同，大量的工序都需要用到大量的用户机芯，但受到用户机芯使用功能及稳定性的限制。所以通常会在一些工序中使用偏转线圈调整机(YAM机)来代替用户机芯。由于上述静会聚问题的存在，故对YAM机也需要进行静会聚校对。又由于不同系列用户机芯的静会聚差异，故对应不同系列用户机芯的YAM机也需要分别进行静会聚校对。
现有的对YAM机的静会聚校对方法一般是将一显像管用作标准管先后装配在用户机芯和YAM机中，实际是以该标准管为中介将YAM机的静会聚调整至与对应的用户机芯一致。请参见图1，图1示出了现有技术校对YAM机静会聚延迟量的方法流程。下面结合图1对该方法进行说明。
S11将一显像管与一用户机芯匹配，将该显像管在该用户机芯上的静会聚调整为零，然后将该显像管用作静会聚标准管供后续步骤使用。这里所说的静会聚调整是一种现有的技术手段，一般通过调整该显像管上的磁环来调整电子束，使得电子束在不发生磁场偏转的情况下交汇于屏幕中心点(也就是静会聚为零)。因为在此之前说明了不同系列用户机芯的静会聚各不相同，所以针对每一个系列的用户机芯，都有不同的静会聚标准管与之对应。
S12复制该静会聚标准管。复制品称为静会聚副标准管。因为在实际生产中，需要大量的对应各种系列用户机芯的YAM机，而即使同一系列YAM机的数量也是相当巨大的，所以需要复制大量的静会聚副标准管以用于下一步骤中。
S13将这些静会聚标准管和/或静会聚副标准管与对应的YAM机匹配，并对这些YAM机的静会聚进行校对。通过旋转YAM机上延迟单元的延迟旋钮来调整YAM机的静会聚。此时静会聚是否为零可通过肉眼或者一检测仪器来获知。经校对调整后的YAM机在生产过程中可替代用户机芯。由此看出，这里的静会聚标准管和静会聚副标准管实际上起到了中介的作用。因此在这一步骤中，不同系列的YAM机以及同一系列下的多个YAM机都在对应的静会聚标准管/副标准管的匹配下，其静会聚被调整为零。
上述的现有技术存在以下两个弊端(1)发射变化、SE、打火、弥散、会聚突变等显像管特性不稳定，会使静会聚产生偏差，会聚漂移也会使静会聚产生偏差。这些管子本身在使用过程中产生的偏差造成了YAM机与对应的用户机芯静会聚不一致。(2)由于不同的用户机芯具有不同的静会聚标准管，且生产线设备多，显像管损坏频繁，故制作副标准管的需求量较大。而制作副标准管的工作量也相当大，因此造成了生产成本的大幅提高。
发明内容
本发明的目的在于解决上述问题，提供了一种YAM机的静会聚延迟量校对方法，它提高了YAM机的稳定性和准确性，并降低了生产成本。
本发明的技术方案为一种偏转线圈调整机的静会聚延迟量校对方法，其中包含(1)将一显像管与一用户机芯匹配，将所述显像管在所述用户机芯上的静会聚调整为零，此时的显像管即为所述用户机芯的静会聚标准管；
(2)用步骤(1)的静会聚标准管对一偏转线圈调整机进行校正，通过调节所述偏转线圈调整机上的延迟旋钮使所述静会聚标准管在调整机上的静会聚为零；(3)使用一信号观测设备测出经步骤(2)调整的偏转线圈调整机的R、G、B信号之间的相位差，作为与步骤(1)中所述用户机芯对应的调整机延迟量标准；(4)对于所有与步骤(1)中用户机芯对应的偏转线圈调整机，分别连上一信号观测设备，通过调节这些调整机上的延迟旋钮，各自将这些调整机上R、G、B信号之间的相位差调整至步骤(3)的延迟量标准。
上述的静会聚延迟量校对方法，其中，所述步骤(1)中，通过调整所述显像管的磁环来调整电子束，以完成显像管的静会聚调整。
上述的静会聚延迟量校对方法，其中，所述步骤(3)中，所述信号观测设备是示波器。
上述的静会聚延迟量校对方法，其中，所述示波器的输入端与所述偏转线圈调整机的视频阴极输出端连接。
上述的静会聚延迟量校对方法，其中，以G信号为基准，所述R、G、B信号之间的相位差是R-G与B-G信号的相位差。
上述的静会聚延迟量校对方法，其中，以R信号为基准，所述R、G、B信号之间的相位差是G-R与B-R信号的相位差。
上述的静会聚延迟量校对方法，其中，以B信号为基准，所述R、G、B信号之间的相位差是R-B与G-B信号的相位差。
本发明静会聚延迟量的校对方法对比现有技术有如下的有益效果本发明使用一静会聚标准管先后匹配在用户机芯和YAM机上，并分别调整至静会聚为零。然后利用示波器测出YAM机在静会聚为零时R、G、B脉冲信号之间的相位差。以此相位差作为延迟量标准，不同系列的机芯有不同的延迟量标准。以各种不同的延迟量标准对YAM机进行静会聚校对。对比现有技术，省去了复制大量的静会聚副标准管并用副标准管校对大量YAM机这一步骤。使用本发明的方法，YAM机不会因静会聚标准管/副标准管的变化而出现偏差，提高了YAM机的稳定性和准确性。
图1是现有技术的YAM机静会聚延迟量校对方法的流程图。
图2是本发明的YAM机静会聚延迟量校对方法的流程图。
图3是图2所示方法中设备的连接示意图。
图4是图2所示方法中示波器显示屏上的图像示意图。
具体实施例方式
下面结合附图和实施例，对本发明作进一步的描述。
请参见图2，图2示出了本发明中YAM机静会聚延迟量校对方法的流程。下面结合图2对本发明的流程作详细的描述。
S21将一显像管与一用户机芯匹配，将该显像管在该用户机芯上的静会聚调整为零，然后将该显像管用作静会聚标准管供后续步骤使用。因为不同系列用户机芯的静会聚各不相同，所以针对每一个系列的用户机芯，都有不同的静会聚标准管与之对应。静会聚调整的方法是现有技术且已在背景技术部分交待，在此不再重复描述。
S22用S21中的静会聚标准管对一YAM机进行静会聚校对。通过旋转YAM机上延迟单元的延迟旋钮来调整YAM机的静会聚。此时静会聚是否为零可通过肉眼或者一检测仪器来获知。这一步骤也已经在背景技术部分交待。
S23使用一信号观测设备测出经S22静会聚调整完成的YAM机的R、G、B信号之间的相位差，并以此作为S21中这一系列用户机芯的YAM机静会聚延迟量标准。这里所指的信号观测设备可以是示波器或具有类似功能的仪器，结合图3，示波器的输入端连接YAM机的视频阴极输出端，YAM机面板上具有R、G、B电子枪的延迟量调节旋钮。结合图4，这里所指的R、G、B信号之间的相位差可以是以G信号为基准的R-G信号与B-G信号之间的相位差。R枪波形42和G枪波形41在水平方向上的相位差即为R-G延迟量。当然，也可以是以R信号为基准的G-R信号与B-R信号之间的相位差或者以B信号为基准的G-B信号与R-B信号之间的相位差等。信号相位差的具体表达方式并不影响本发明的保护范围。
S24将生产线上所有与S21中这一系列的用户机芯相对应的YAM机连接信号观测设备，通过调节YAM机上延迟单元的延迟旋钮，同时注意观察信号观测设备上的信号显示图像，将这些YAM机上R、G、B信号之间的相位差调整至S23的静会聚延迟量标准。当然，实际生产中有多种系列的用户机芯，需要对应所有的YAM机，对于不同系列的用户机芯，同样以上述S21-S24的步骤操作。
上述实施例是提供给本领域普通技术人员来实现或使用本发明的，本领域普通技术人员可在不脱离本发明的发明思想的情况下，对上述实施例做出种种修改或变化，因而本发明的保护范围并不被上述实施例所限，而应该是符合权利要求书提到的创新性特征的最大范围。
权利要求
1 一种偏转线圈调整机的静会聚延迟量校对方法，其特征在于，包含(1)将一显像管与一用户机芯匹配，将所述显像管在所述用户机芯上的静会聚调整为零，此时的显像管即为所述用户机芯的静会聚标准管；(2)用步骤(1)的静会聚标准管对一偏转线圈调整机进行校正，通过调节所述偏转线圈调整机上的延迟旋钮使所述静会聚标准管在调整机上的静会聚为零；(3)使用一信号观测设备测出经步骤(2)调整的偏转线圈调整机的R、G、B信号之间的相位差，作为与步骤(1)中所述用户机芯对应的调整机延迟量标准；(4)对于所有与步骤(1)中用户机芯对应的偏转线圈调整机，分别连上一信号观测设备，通过调节这些调整机上的延迟旋钮，各自将这些调整机上R、G、B信号之间的相位差调整至步骤(3)的延迟量标准。
2 根据权利要求1所述的静会聚延迟量校对方法，其特征在于，所述步骤(1)中，通过调整所述显像管的磁环来调整电子束，以完成显像管的静会聚调整。
3 根据权利要求1所述的静会聚延迟量校对方法，其特征在于，所述步骤(3)中，所述信号观测设备是示波器。
4 根据权利要求3所述的静会聚延迟量校对方法，其特征在于，所述示波器的输入端与所述偏转线圈调整机的视频阴极输出端连接。
5 根据权利要求1所述的静会聚延迟量校对方法，其特征在于，以G信号为基准，所述R、G、B信号之间的相位差是R-G与B-G信号的相位差。
6 根据权利要求1所述的静会聚延迟量校对方法，其特征在于，以R信号为基准，所述R、G、B信号之间的相位差是G-R与B-R信号的相位差。
7 根据权利要求1所述的静会聚延迟量校对方法，其特征在于，以B信号为基准，所述R、G、B信号之间的相位差是R-B与G-B信号的相位差。
全文摘要
本发明公开了一种YAM机的静会聚延迟量校对方法，它提高了YAM机的稳定性和准确性，并降低了生产成本。其技术方案为(1)将一显像管与一用户机芯匹配，将显像管静会聚调整为零，即为用户机芯的静会聚标准管；(2)用步骤(1)的静会聚标准管对一YAM机进行校正，通过调节YAM机上的延迟旋钮使静会聚标准管在YAM机上的静会聚为零；(3)测出经步骤(2)调整的YAM机的R、G、B信号相位差，作为与步骤(1)中用户机芯对应的YAM机延迟量标准；(4)对所有的YAM机，分别连上一信号观测设备，通过调节延迟旋钮，各自将YAM机上R、G、B信号相位差调整至步骤(3)的延迟量标准。本发明应用于显像管生产中相关设备的静会聚校对领域。
文档编号H01J9/236GK101064230SQ20061002600
公开日2007年10月31日 申请日期2006年4月25日 优先权日2006年4月25日
发明者毛民杰 申请人:上海永新彩色显像管股份有限公司