用于监控工件的激光加工过程的方法与流程

文档序号:27977234发布日期:2021-12-15 01:04阅读:来源:国知局

技术特征:
1.一种用于监控用于加工工件的激光加工过程的方法,所述方法包括:对于多个同类型的加工步骤,在一个加工步骤期间针对至少一个测量参量检测测量信号(501);在调设阶段(101)中,基于在所述调设阶段中检测的测量信号确定(203)用于至少一个监控参数的极限值;并且在监控阶段(102)中,基于在所述监控阶段中执行的加工步骤的测量信号求取(301)用于所述加工步骤的监控参数值,将所求取的监控参数值与所确定的极限值进行比较(302),用以识别错误的加工步骤,并且基于至少一个加工步骤的测量信号求取(303)是否满足过程变化条件,其中,在预给定的调设间隔之后或在预给定数量的、在所述调设阶段期间实施的加工步骤之后,从所述调设阶段更换(103)至所述监控阶段,其中,当满足所述过程变化条件时,从所述监控阶段更换回(104)所述调设阶段。2.根据权利要求1所述的方法,所述方法此外还包括,在所述调设阶段(101)中,基于在所述调设阶段(101)期间针对所述测量参量检测的测量信号,确定(201)针对所述测量参量的平均值曲线(401),并且基于所述平均值曲线(401)确定(202)针对所述测量参量的包络曲线(402,403),其中,所述包络曲线(402,403)包括上包络曲线(402)和下包络曲线(403),所述平均值曲线(401)位于所述上包络曲线(402)与所述下包络曲线(403)之间。3.根据权利要求2所述的方法,其中,在所述调设阶段(101)中,基于所述平均值曲线(401)和/或基于所述包络曲线(402,403)确定用于所述至少一个监控参数的极限值。4.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中,基于单个测量参量的在单个加工步骤中检测的测量信号,或基于单个测量参量的在多个加工步骤中检测的测量信号,或基于多个测量参量的在单个加工步骤中检测的测量信号,或基于多个测量参量的在多个加工步骤中检测的测量信号,求取(303)是否满足过程变化条件。5.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中,当高于用于异常值频率的预给定的最大值时,满足所述过程变化条件,其中,将所述异常值频率定义为:相对于在一个加工步骤期间检测的测量信号的测量值的总数,在所述加工步骤期间检测的测量信号的位于针对所述测量信号的包络曲线(402,403)之外的测量值的数量。6.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述至少一个监控参数包括以下之一:最大异常值间距(503),其中,将所述异常值间距定义为在一个加工步骤期间检测的测量信号的位于所述包络曲线(402,403)之外的测量值与最接近的包络曲线(402,403)之间的最大间距,在一个加工步骤的测量信号的位于所述包络曲线(402,403)之外的至少一个区域上的积分,一个加工步骤的测量信号的位于所述包络曲线(402,403)之外的区域与所述最接近的包络曲线(402,403)之间的面积,一个加工步骤的测量信号的积分,一个加工步骤的测量信号与所述平均值曲线(401)的均方差,和
异常值频率。7.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中,当所求取的监控参数值高于对应的极限值时,加工步骤被识别为错误。8.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中,在所述监控阶段(102)中,此外还匹配用于所述至少一个监控参数的极限值。9.根据权利要求8所述的方法,其中,在预给定数量的加工步骤之后或在经过预给定的时间间隔之后,周期性地匹配用于所述至少一个监控参数的极限值。10.根据权利要求8或9所述的方法,其中,当预给定数量的彼此相继的加工步骤被识别为错误时,或当高于预给定的错误率时,进行用于所述至少一个监控参数的极限值的匹配。11.根据权利要求8至10中任一项所述的方法,其中,用于所述至少一个监控参数的极限值的匹配包括缩小所述极限值或增大所述极限值。12.根据权利要求8至11中任一项所述的方法,其中,基于针对预给定数量的在前发生的加工步骤分别求取的监控参数值,进行用于所述至少一个监控参数的极限值的匹配。13.根据权利要求7至12中任一项所述的方法,所述方法此外还包括,当加工步骤被识别为错误时,输出错误。14.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述至少一个测量参量包括以下之一:温度、热辐射和至少一个工艺放射的强度,其中,所述工艺放射尤其包括由所述工件反射的激光、通过所述加工产生的等离子体辐射、通过所述加工产生的在可见光谱范围中的光、和通过所述加工产生的在红外光谱范围中的光。15.根据上述权利要求中任一项所述的方法,其中,所述激光加工过程是激光熔焊过程或激光切割过程,或所述激光加工过程包括激光熔焊过程或激光切割过程。

技术总结
本发明涉及一种用于监控用于加工工件的激光加工过程的方法,所述方法包括:对于多个同类型的加工步骤,在一个加工步骤期间针对至少一个测量参量检测测量信号;在调设阶段中,基于在调设阶段期间检测的测量信号分别确定用于至少一个监控参数的极限值;并且在监控阶段中,基于每个加工步骤的测量信号求取用于该加工步骤的监控参数值,将所求取的监控参数值与极限值进行比较,用以识别错误的加工步骤,并且基于至少一个加工步骤的测量信号求取是否满足过程变化条件,其中,在预给定的调设间隔之后或者在预给定数量的在调设阶段期间实施的加工步骤之后,从调设阶段更换至监控阶段,并且其中,当满足过程变化条件时,从监控阶段更换回调设阶段。段更换回调设阶段。段更换回调设阶段。


技术研发人员:E
受保护的技术使用者:普雷茨特两合公司
技术研发日:2020.10.06
技术公布日:2021/12/14
当前第2页1 2 
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1